PL65196B3 - - Google Patents

Description

Przedmiotem niniejszego wynalazku jest mikro¬ skop zaopatrzony w urzadzenia stereometryczne udoskonalajace mikroskop fazowo-kontrastowy ste¬ reoskopowy wedlug patentu nr 58723. Mikroskop stereometryczny, wedlug wynalazku, umozliwia do¬ kladny pomiar glebokosci w preparatach i odleglo¬ sci miedzy mikroobiektami w kierunku osi w czasie bezposredniej mikroskopowej obserwacji stereosko¬ powej. Pomiar glebokosci w preparatach mikrosko¬ powych i odleglosci miedzy poszczególnymi jego ele¬ mentami w kierunku osi obiektywu mikroskopowego 5 dotychczas nie zostal rozwiazany w sposób zadawa¬ lajacy. Na ogól przeprowadza sie go metoda nasta¬ wiania mikroskopu na maksymalna ostrosc szczegó¬ lów znajdujacych sie na róznych glebokosciach od¬ czytujac dokonywane przy tym przeogniskowanie io mikroskopu. Dokladnosc tej metody ograniczona jest glebia ostrosci obiektywu mikroskopowego, tzn. nie mozna zmierzyc róznicy w glebokosci dwóch szcze¬ gólów, które jednakowo ostro widziane sa w mi¬ kroskopie. Wykonanie pomiaru z dokladnoscia wiek- 15 sza od glebi ostrosci obiektywu mikroskopowego jest mozliwe przy obserwacji stereoskopowej. Moz¬ liwosc ta jednak, jak do tej pory, nie zostala w pel¬ ni praktycznie wykorzystana, a to glównie z po¬ wodu braku mikroskopów stereoskopowych o wy- 20 sokiej zdolnosci rozdzielczej i duzych powieksze¬ niach obiektywów. W badaniach mikroskopowych wymagany jest pomiar wzajemnych odleglosci róz¬ nych szczególów w kierunku osi obiektywu, roz¬ mieszczonych w bardzo cienkiej warstwie preparatu, 25 mieszczacej sie w granicach glebi ostrosci obiek¬ tywu.Postawiono wiec sobie za cel zrealizowanie mikro¬ skopu stereometrycznego jednoobiektywowego umoz¬ liwiajacego przeprowadzenie pomiaru glebokosci 30 metoda stereoskopowa zarówno przy obserwacji pre- 65 19665 196 3 ."..;... 4 paratów mikroskopowych metoda kontrastu fazo¬ wego jak i metoda jasnego tla lub kontrastu ampli¬ tudowego, oraz urzadzenia do stereoskopowego po¬ miaru glebokosci za pomoca powszechnie znanych mikroskopów stereoskopowych dwuobiektywowych.Cel ten osiagnieto dzieki zastosowaniu nasadki okularowej dwuocznej zaopatrzonej w urzadzenie do stereoskopowego pomiaru glebokosci realizowane: 1) przez umieszczenie w okularach siatek z prze¬ strzenna skala glebokosci, podobnych do skal od¬ leglosci w znanych powszechnie dalmierzach stereo¬ skopowych, 2) przez umieszczenie w okularach ply¬ tek ogniskowych ze znaczkami stereometrycznymi, przy czym w jednym okularze plytka ogniskowa przesuwa sie-w^kie«inku prostopadlym do ruchu plytki umieszczonej w* drugim okularze, 3) przez za¬ stosowanie w okularach siatek stereoskopowych przesuwnych w wyzej[podanych kierunkach, 4) przez umieszczenie ,w . okularach nieruchomych plytek ogniskowych ^e znaczkami stereometrycznymi oraz plaskorównoleglych plytek szklanych, przy czym jedna z nich jest nieruchoma a druga obrotowa wokól osi prostopadlej do plaszczyzny wyznaczonej przez osie okularów.Przedmiot wynalazku w przykladowym wykona¬ niu przedstawiono na rysunkach, na których fig. 1 przedstawia schemat jednego z mozliwych rozwia¬ zan mikroskopu do obserwacji stereoskopowej w kontrascie fazowym i jasnym polu oraz stereosko¬ powych pomiarów glebokosci zgodnie z niniejszym wynalazkiem, fig. 2 — pierscieniowa przyslone kon- densorowa powyzszego mikroskopu w widoku z gó¬ ry, fig. 3 — zrenice wyjsciowa obiektywu tego mi¬ kroskopu widziana przez lewy okular dwuocznej na¬ sadki okularowej w przypadku prostej stereoskopii, fig. 4 — zrenice- wyjsciowa obiektywu widziana przez prawy okular, fig. 5 — obraz tej samej zre¬ nicy, widziany przez lewy okular w przypadku stereoskopii odwróconej (pseudoskopii), fig. 6 — obraz tejze zrenicy widziany przez prawy okular, fig. 7 — plytke ogniskowa z pojedynczym okraglym znaczkiem stereometrycznym umieszczona w lewym okularze, fig. 8 — taka sama plytke umieszczona w prawym okularze, fig. 9 — plytke ogniskowa z wielo¬ krotnymi znaczkami stereometrycznymi w postaci kwadratów, umieszczona w lewym okularze, fig. 10 — taka sama plytke umieszczona w prawym okularze, fig. 11 — plytke ogniskowa z przestrzenna skala znaczków trójkatnych przykladowo rozmieszczonych w formie litery Z i umieszczona w lewym okularze, fig. 12 — taka sama plytke umieszczona w prawym okularze, fig. 13 — odmiane nasadki okularowej do stereoskopowych pomiarów glebokosci mikro¬ skopu przedstawionego na fig. 1, fig. 14 — mi¬ kroskop przystosowany do wykonywania stereopar zdjec preparatów mikroskopowych, fig. 15 — sche¬ mat przykladowego mikroskopu stereoskopowego dwuobiektywowego z urzadzeniem stereometrycz¬ nym do pomiaru glebokosci wedlug niniejszego wy¬ nalazku.Mikroskop wedlug wynalazku przedstawiony na fig. 1 zawiera znany uklad elementów z patentu nr 58723, a mianowicie: przyslone pierscieniowa D podzielona na dwie równe czesci przez doklejone do niej pólkoliste filtry polaryzacyjne Px i P2, kon¬ densor K, obiektyw Ob z pierscieniem fazowym F, plytke pólfalowa PF, soczewke Bartranda B, uklad pryzmatów N, polaryzatory Ax iA2 oraz okulary "Ei i E2. W mikroskopie tym zgodnie z niniejszym wy- 5 nalazkiem w okularowej dwuocznej nasadce zasto¬ sowano ruchome plytki ogniskowe Sx i S2 ze znacz- czkami Z1 i Z2 sluzacymi do stereoskopowego po¬ miaru glebokosci oraz plytki cwiercfalowe Ci i C2 przeznaczone do przywracania wiazkom swietlnym polaryzacji liniowej, która w pewnym stopniu utra¬ cily na skutek odbic w ukladzie pryzmatycznym N nasadki okularowTej.Uklad przedstawiony na fig. 1 pozwala na prze1- prowadzanie obserwacji stereoskopowych zarówno w jasnym polu jak i w kontrascie fazowym oraz na równoczesny pomiar glebokosci i wzajemnych odleg¬ losci miedzy róznymi szczególami preparatu w kie¬ runku osi obiektywu Ob. W przypadku obserwacji w jasnym polu zamiast obiektywu fazowego Ob sto¬ suje sie obiektyw zwykly.Ogólna zasada mikroskopu przedstawionego na fig. 1 jest nastepujaca. Filtry polaryzacyjne Pi i P2 sa tak zestawione, aby drgania przechodzacego przez nie swiatla zachodzily w kierunkach wzajemnie pro¬ stopadlych, jak to zaznaczono na fig. 2 za pomoca strzalek. W przypadku obserwacji w kontrascie fa¬ zowym obraz bezposredni przezroczystego pierscie¬ nia R przyslony kondensorowej D tworzy sie na pierscieniu fazowym F. Pierscien ten w znany spo¬ sób zmienia faze przechodzacego przezen swiatla 0 + 90° lub—90°, dzieki czemu moga byc uwidocz¬ nione szczególy preparatu calkowicie przezroczyste i w stosunku do otaczajacego je srodowiska nie wy¬ kazujace zadnych róznic w pochlanianiu swiatla a tylko rózniace sie pod wzgledem wspólczynnika zalamania.Polaryzatory Ai i A2 znajdujace sie w tubusach nasadki okularowej dwuocznej sluza do wygaszania swiatla wychodzacego z lewej i prawej polówki przyslony pierscieniowej R (fig. 1) jak to pokazano na fig. 3 i 4 oraz 5 i 6, które przedstawiaja obrazy pierscienia R' zrenicy wyjsciowej obiektywu Ob. wi¬ dziane odpowiednio przez okular Ex i E2 przy róz¬ nych ustawieniach polaryzatorów A1 i A2. Jezeli po- laryzator Ax ustawi sie tak, ze wygasza prawa po¬ lówke obrazu R' pierscieniowej przyslony R, a po¬ laryzator A2 tak, ze wygasza lewa polówke obra¬ zu R' tejze przyslony, to wówczas do lewego oka Ox obserwatora dociera tylko swiatlo wpadajace do obiektywu Ob z lewej strony (fig. 1), a do oka pra¬ wego 02 — tylko swiatlo wpadajace do obiektywu z prawej strony. Badany przedmiot B jest obserwo¬ wany niezaleznie prawym i lewym okiem pod pe¬ wnym katem a, co daje efekt widzenia stereosko¬ powego. Jezeli natomiast polaryzator Ai bedzie tak ustawiony, ze wygasza lewa polówke obrazu R' pierscieniowej przyslony R (fig. 5), a polaryzator A2 tak, ze wygasza prawa polówke obrazu R' tejze przyslony (fig. 6) to wówczas do lewego oka Oi (fig. 1) bedzie docierac swiatlo wpadajace do obiek¬ tywu Ob z prawej strony, a do prawego oka 02 — tylko swiatlo wpadajace do obiektywu z lewej stro¬ ny. Wówczas badany przedmiot B widziany jest pseudoskopowo, tzn. szczególy lezace dalej od obiek¬ tywu widziane sa blizej, a szczególy blizsze — dalej. 15 20 23 30 35 40 45 50 55 6065196 Przejscie od stereoskopii do pseudoskopii moze byc równiez realizowane nie przez obrót polaryzatorów Ai i A2, ale przez wlaczanie pólfalówki PF, ustawio¬ nej w taki sposób, ze jej glówne osie drgan swiatla tworza z plaszczyznami polaryzacji polaryzatorów Pi i P2 kat 45°. Do obserwacji zrenicy wyjsciowej obiektywu Ob i wygaszania pozadanych polówek obrazu R' przyslony kondensorowej R sluzy soczew¬ ka Bertranda SB, która wlaczona w uklad optyczny mikroskopu stanowi wraz z okularami Elf E2 pewnego rodzaju lunetke pomocnicza.Swiatlo liniowe spolaryzowane przez polaryzato- ry ?! i P2 ulega na powierzchniach odbijajacych pryzmatów N nasadki okularowej depolaryzacji, sta¬ jac sie mniej lub bardziej spolaryzowane eliptycz¬ nie. Na depolaryzacje swiatla maja równiez wplyw ewentualne naprezenia w pryzmatach nasadki N.W takich przypadkach polaryzatory Ax i A2 nie sa w stanie dostatecznie dobrze wygasic swiatla ida¬ cego od jednej i drugiej polówki otworu pierscie¬ niowego R przyslony D (fig. 1). Dla przeciwdziala¬ nia temu szkodliwemu zjawisku zastosowano przed polaryzatorami Ax i A2 plytki cwiercfalowe C^ i C2, które przy odpowiednim ustawieniu sa w stanie zamienic eliptyczna polaryzacje swiatla z powrotem na polaryzacje liniowa.Pomiar odleglosci róznych szczególów w badanym preparacie w kierunku osi obiektywu przeprowadza sie zgodnie z niniejszym wynalazkiem za pomoca szklanych plytek Si i S2 zaopatrzonych w znaczki stereometryczne Z1 i Z2 np. w postaci malych kraz¬ ków (fig. 7 i 8). Plytki te umieszczone sa w plasz¬ czyznach ogniskowych okularów Ej i E2. Plytka S2 przesuwna jest w kierunku osi x prostopadlym do osi okulara E2 i równoleglym do plaszczyzny wy¬ znaczonej przez osie obydwu okularów, natomiast plytka Si przesuwna jest w kierunku osi y (zazna¬ czonej na fig. 1 w postaci kropki z kólkiem), pro¬ stopadlym do poprzedniego. Ruch ten sluzy do usta¬ wiania znaczków Zi i Z2 dokladnie wzdluz linii po¬ ziomej przebiegajacej przez srodki zrenic wyjscio¬ wych okularów Ex i E2. Ruch plytki S2 wzdluz osi x równoleglej do powyzej okreslonej linii poziomej sluzy do pomiaru glebokosci w preparacie. Jesli mianowicie obydwoma oczyma Oi i 02 patrzy sie w mikroskop (fig. 1) i za pomoca sruby mikrome- trycznej SM przesuwa sie plytke S2 w kierunku osi x, to przy odpowiednio przecwiczonym i przy¬ stosowanym do widzenia stereoskopowego wzroku, zauwazy sie pojedynczy obraz znaczków, który w za¬ leznosci od tego czy odleglosc miedzy znaczkami Zi i Z2 w kierunku osi x zwieksza sie czy tez zmniejsza, oddala sie wzglednie zbliza do oczu obserwatora.Obraz znaczków widziany jest równoczesnie z obra¬ zem obserwowanego preparatu B. Przy dokladnym nastawieniu znaczków Zi i Z2 na ostrosc widzenia (dokonuje sie to przez zmiane odleglosci miedzy oku¬ larami E! i E2, a plytkami Sx i S2), a z kolei calego mikroskopu na ostrosc widzenia preparatu B, widzi sie na tle przestrzennego obrazu tego preparatu po¬ jedynczy obraz znaczków Zj i Z2, przy czym mozna zaobserwowac, ze pewne szczególy preparatu znaj¬ duja sie dalej od obrazu znaczków a inne blizej.Pokrecajac srube SM mozna nastepnie zgrywac polozenie obrazu znaczków z róznymi obiektami pre¬ paratu w ramach glebi ostrosci obiektywu. Odczy¬ tujac na srubie mikrometrycznej róznice polozen plytki S2, przy których widziany jest obraz znacz¬ ków na tej samej glebokosci co interesujace nas 5 obiekty, mozna okreslic wzajemna odleglosc tych obiektów w kierunku osi obiektywu, jesli przedtem odpowiednio wywzorcuje sie podzialke sruby mikro¬ metrycznej, tzn. okresli sie jaka zmiana glebokosci odpowiada jednej dzialce sruby mikrometrycznej. 10 Dla danej róznicy glebokosci dwóch szczególów za¬ kres przesuwu plytki S2 jest tym wiekszy im wiek¬ sze bedzie powiekszenie obiektywu OB i jest wprost proporcjonalny do powiekszenia obiektywu.Dla dobrej oceny polozenia obrazu znaczków na 15 takiej samej glebokosci co obraz obserwowanego przedmiotu nalezy obydwa obrazy zblizyc do siebie równiez w plaszczyznie prostopadlej do osi obiek¬ tywu. Chcac mierzyc glebokosc róznych szczególów rozmieszczonych na róznych glebokosciach w calym 20 polu widzenia nalezaloby preparat przesuwac i obra¬ zy poszczególnych szczególów sprowadzac w sasiedz¬ two obrazu znaczków Zi i Z2.Jest to niewygodne i poza tym moze prowadzic do bledów, poniewaz przy przesuwie preparatu moze 25 ulegac zmianie ostrosc jego obrazu, co z kolei pro¬ wadzi do przemieszczenia sie obrazu stereoskopo¬ wego w kierunku osi obiektywu. Dlatego tez zamiast plytek ogniskowych Si i S2 z pojedynczymi znacz¬ kami (fig. 7 i 8) lepiej jest stosowac plytki z wie- 30 lokrotnymi znaczkami rozmieszczonymi np. wzdluz zano na fig 9 i 10. Plytki te musza byc ustawione dwóch wzajemnie prostopadlych osi, jak to poka- w plaszczyznach ogniskowych okularów Ei i E2 (fig. 1) w taki sposób, aby nie wystepowalo roz- 35 dwajanie sie obrazów znaczków w kierunku pio¬ nowym. W tym celu plytka Sx (fig. 9) jest prze¬ suwna w kierunku osi y. Druga plytka S2 przesuwa sie jak poprzednio w kierunku osi x, co powoduje oddalanie i zblizanie sie obrazów znaczków Zi 40 i Z2 w polu widzenia mikroskopu. Obrazy wszyst¬ kich znaczków przemieszczaja sie w sposób jed¬ nakowy.Jezeli w obrazie stereoskopowym badanego preparatu znajdowac sie beda interesujace nas szczególy w róznych punktach pola widzenia, to 45 mozna dla pomiaru ich glebokosci wybierac rózne, najblizej nich znajdujace sie obrazy znaczków bez potrzeby przesuwania preparatu.Oczywiscie mozna stosowac inny ksztalt i uklad znaczków niz to przykladowo pokazano na fig. 9 i 10. 50 W szczególnosci mozna stosowac uklad znaczków w postaci przestrzennych podzialek, jakie stosowane sa w powszechnie znanych dalmierzach stereosko¬ powych.. Przyklad takiej podzialki pokazuje fig. 11 i 12. Ma ona te zalete, ze mozna wedlug niej równo- 5& czesnie odczytywac glebokosc wielu szczególów.Poza tym pozwala na dokladniejszy pomiar glebo¬ kosci, mozna bowiem lepiej oszacowac polozenie danego szczególu w stosunku np. do dwóch znacz¬ ków, których obrazy stereoskopowe znajduja sie 60 na dwóch nieznacznie od siebie rózniacych sie glebokosciach. W celu wprowadzania ^ calej skali znaczków lub jej fragmentu w obszar badanego preparatu, jedna z plytek np. S2 (fig. 12) przesuwna jest w kierunku osi x. Dla eliminowania dwojenia w sie obrazów znaczków w kierunku pionowym, dru-r 65196 8 ga plytka Si (fig. 11) jest przesuwna w kierunku osi y.Pomiar glebokosci za pomoca opisanego rozwia¬ zania polegal na tym, ze obraz stereoskopowy pary (fig. 7 i 8) lub odpowiednich par znaczków (fig. 9 i 10 lub 11 i 12) zgrywano w przestrzeni z obra¬ zem obiektu. Stosujac odmiane urzadzenia wedlug wynalazku, pomiaru dokonuje sie w ten sposób, ze stereoskopowy obraz pary znaczków jest nie¬ ruchomy a zbliza lub oddala sie w kierunku osi obiektywu obraz stereoskopowy calego preparatu.W tym celu zostala odpowiednio zmodyfikowana nasadka okularowa z ukladu mikroskopowego przed¬ stawionego na fig. 1. Rózni sie ona tym od po¬ przedniej, ze miedzy polaryzatorami Aif A2 i plyt¬ kami ogniskowymi ^i, S2 zawiera plaskorównolegle plytki Li i L2, przy czym pierwsza jest nierucho¬ ma a druga jest pochylona wokól osi prostopadlej do plaszczyzny wyznaczonej przez osie okularów Ei i E2. Plytki ogniskowe Si i S2 ze znaczkami po¬ jedynczymi lub wielokrotnymi sa w tym rozwia¬ zaniu nieruchome i tak ustawione, aby nie wy¬ stepowalo dwojenie obrazów w zadnym z kierun¬ ków. Pochylajac piytke Lz, przesuwa sie obraz pre¬ paratu obserwowanego prawym okiem O2, co w sko¬ jarzeniu z obrazem obserwowanym lewym okiem objawia sie jako przemieszczanie sie obrazu ste¬ reoskopowego w kierunku równoleglym do obiek¬ tywu. Mozna wiec przez obracanie plytki L2 spro¬ wadzac obrazy róznych szczególów badanego pre¬ paratu do glebokosci okreslonej przez obraz pary (lub odpowiednich par) znaczków Zi, Z2 i tym sa¬ mym okreslac róznice glebokosci tych szczególów na podzialce sruby obracajacej plytke L2.Pomiary glebokosci szczególów w preparacie moz¬ na takze przeprowadzac na dwóch zdjeciach pre¬ paratu, stanowiacych tzw. stereopare, przez wyko¬ rzystanie do tego celu stereoskopu i stereomikro- metru, podobnie jak to sie czyni przy opracowy¬ waniu wyników fotogrametrycznych. Mikroskop w odmianie wykonania przystosowany do wyko¬ nywania pary zdjec stereoskopowychf przedstawio¬ ny jest schematycznie na fig. 14. Rózni sie on tym od poprzedniego, ze nasadka okularowa dwuoczna zastapiona jest przez nasadke fotograficzna. Obraz fotografowanego preparatu rzutowany jest na blo¬ ne fotograficzna BF za pomoca okulara projekcyj¬ nego OP. Ponadto pod przyslona pierscieniowa D umieszczony jest dodatkowy polaryzator P, za po¬ moca którego wygasza sie prawa polówke obra¬ zu tC przyslony pierscieniowej (fig 3), a nastepnie lewa polówke (fig. 4). Stereopare zdjec badanego preparatu stanowia dwie mikrofotografie wykona¬ ne w tych samych warunkach przy wygaszonej prawej a nastepnie lewej polówce obrazu pierscie¬ niowej przyslony.Dotychczas przedstawione byly rozwiazania po¬ miaru glebokosci stereoskopowej za pomoca przy¬ kladowego mikroskopu jedno-obiektywowego z po¬ dzialem otworu kondensora za pomoca dwóch skrzyzowanych polaryzatorów. Oczywiscie rozwia¬ zania te, zgodnie z niniejszym wynalazkiem, moga byc stosowane takze z innymi typami jednoobiekty- wowych mikroskopów stereoskopowych jak rów¬ niez z powszechnie znanymi mikroskopami stereo¬ skopowymi dwuobiektywowymi.Schemat najprostszego tego rodzaju mikroskopu, skladajacego sie z obiektywów Obi i Ob2, z ukladu 5 pryzmatów odwracajacych Ni i N2 i z okularów Ei i E2 zaopatrzonych w przesuwne plytki ognisko¬ we Si i S2 z pojedynczymi lub wielokrotnymi znacz¬ kami Zi i Z2 do pomiaru glebokosci zgodnie z ni¬ niejszym wynalazkiem przedstawiono na fig. 15. 10 Sposoby pomiaru glebokosci w tym przypadku sa takie same jak poprzednio.Przedstawione sposoby pomiaru glebokosci w pre¬ paratach mikroskopowych, zgodnie z niniejszym wy¬ nalazkiem, pozwalaja na uzyskiwanie dokladnosci 15 pomiaru nie mniejszej niz 1/10 glebi ostrosci obiekt tywu (w ramach tej glebi) a zatem 10 razy doklad¬ niejszej niz to bylo mozliwe za pomoca znanych dotychczas metod polegajacych na nastawianiu mi¬ kroskopu na ostrosc obrazu przedmiotów znajdu- 20 jacych sie w róznych odleglosciach od obiektywu. PL PL

Claims (5)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Mikroskop fazowo-kontrastowy stereoskopowy wedlug patentu nr 58723 zawierajacy pierscieniowa 25 przyslone aperturowa w kondensorze, podzielona na dwie równe polówki za pomoca dwóch fil¬ trów polaryzacyjnych, z dwuoczna nasadka oku¬ larowa, której tubusy zawieraja dwa polaryzato- ry, umozliwiajace wygaszenie swiatla wychodza- 30 cego z przeciwstawnych polówek pierscieniowej przyslony kondensorowej; oraz mikroskop stereo¬ skopowy jednoobiektywowy z podzialem jego zre¬ nicy na dwie czesci, lewa i prawa, z których swiatlo wpada odpowiednio do lewego i prawego oka, jak 35 równiez mikroskop stereoskopowy dwuobiektywo¬ wy, znamienny tym, ze nasadki okularowe dwuoczne zawieraja nieruchome lub poprzecznie przesuwne plytki ogniskowe (Si i S2) ze znaczkami stereometry- cznymi (Zx i Z2) tak zestawionymi, ze ich pojedynczy 40 obraz tworzy sie w przestrzeni obrazowej mikroskopu.

2. Mikroskop wedlug zastrz. 1 znamienny tym, ze jedna z plytek ogniskowych (Si) przesuwna jest w kierunku osi (y), a druga (S2) w kierunku osi (x), przy czym os (y) jest prostopadla do plaszczyzny 45 wyznaczonej przez osie okularów (Ei i E2) a os (x) jest równolegla do tej plaszczyzny i prostopadla do osi okularu (E2).

3. Odmiana mikroskopu wedlug zastrz. 1 zna¬ mienna tym, ze w tubusie nasadki dwuocznej przed 50 okularami umieszczone sa plytki szklane (Li i L2), przy czym plytka (Li) jest nieruchoma i sluzy do kompensacji drogi optycznej, a plytka (L2) jest obrotowa wokól osi prostopadlej do plaszczyzny wy¬ znaczonej przez osie okularów (Ex i E2) i sluzy do 55 przemieszczania obrazu stereoskopowego badanego preparatu wzgledem nieruchomego obrazu, znacz¬ ków stereometrycznych (Zx i Z2).

4. Mikroskop wedlug zastrz. 1, 2 i 3 znamienny tym, ze plytki ogniskowe (Si i S2) posiadaja po- 60 jedyncze lub zwielokrotnione znaczki (Zx i Z2), przy czym stereoskopowe obrazy odpowiednich par zna¬ czków stanowia podzialke glebi stereoskopowej.

5. Mikroskop wedlug zastrz. 1 i 2 znamienny tym, ze plytka ogniskowa (S2) sprzezona jest ze sruba fl* mikrometryczna (SM).KI. 42h,14/02 65196 MKP G02b 27/26 f,1 El b'^ c Al E C/ cz cb j St Si^j lF=(D 5^ ¦F N FigeKI. 42h,14/02 65 196 MKP G02b 27/26 ^ Oi Ai E ^ qjg5 52 CD 3 Ai N Fig 13KI. 42h,14/02 65 196 MKP G02b 27/26 3 BF Fig. M Fig 15 PL PL