PL64299B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL64299B1 PL64299B1 PL135148A PL13514869A PL64299B1 PL 64299 B1 PL64299 B1 PL 64299B1 PL 135148 A PL135148 A PL 135148A PL 13514869 A PL13514869 A PL 13514869A PL 64299 B1 PL64299 B1 PL 64299B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- waveguide
- type
- wave
- measuring line
- circular
- Prior art date
Links
Description
Pierwszenstwo: Opublikowano: 30.VII.1969 (P 135 148) 15.1.1972 64299 KI. 21 e, 27/26 MKP G 01 r, 27/26 Twórca wynalazku: Jerzy Zagrodzinski Wlasciciel patentu: Polska Akademia Nauk (Instytut Fizyki), Warszawa (Polska) Falowodowa linia pomiarowa do badania wlasnosci materialów o duzej przenikalnosci elektrycznej Przedmiotem wynalazku jest falowodowa linia pomia¬ rowa do badania wlasnosci materialów o duzej przeni¬ kalnosci elektrycznej, a zwlaszcza do pomiaru w za¬ kresie czestotliwosci mikrofalowych duzych stalych di¬ elektrycznych lub katów stratnosci materialów.Znane sposoby pomiaru duzych stalych dielektrycz¬ nych lub katów stratnosci materialów polegaja na po¬ miarze wspólczynnika odbicia od próbki badanego ma¬ terialu umieszczonej w falowodzie o rodzaju TEoi, a przy duzych stalych dielektrycznych wymagaja stosowa¬ nia transformatorów podwyzszajacych impedancje dla uzyskania rozsadnych wartosci mierzonego wspólczyn¬ nika odbicia. Inne sposoby opieraja sie na pomiarze parametrów wneki rezonansowej, w której umieszczono próbke badanego materialu o okreslonym ksztalcie.Powyzsze sposoby maja te wade, ze dokladnosc po¬ miaru gwaltownie obniza sie ze wzrostem stalej dielek¬ trycznej. Wynika to stad, ze w sposobach falowodo¬ wych z zastosowaniem fali na przyklad TEio sa trud¬ nosci w przeprowadzeniu dokladnego pomiaru wspól¬ czynnika odbicia, zas w sposobach rezonansowych w estymacji otrzymanych wyników.Celem wynalazku jest zrealizowanie ukladu pomiaro¬ wego, pozwalajacego na dokladne okreslenie wartosci duzych stalych dielektrycznych lub katów stratnosci ma¬ terialów. Cel ten osiagnieto przez skonstruowanie falo¬ wodowej linii pomiarowej w której umieszcza sie prób¬ ke wykonana z badanego materialu.Istota wynalazku jest to, ze linia pomiarowa jest fa¬ lowód o przekroju kolowym, w którym umieszcza sie 10 15 20 25 30 próbke z badanego materialu w poblizu jednego konca tej linii, pracujacy z rodzajem fali elektromagnetycznej TMoi w poblizu jego czestotliwosci krytycznej, z czesto¬ tliwoscia w zakresie od 101% do 120% czestotliwosci granicznej rodzaju TMoi falowodu kolowego. Dlugosc szczeliny, w której porusza sie sonda pomiarowa w fa¬ lowodzie jest wieksza czterokrotnie od dlugosci fali gra¬ nicznej rodzaju fali TMio- W falowodzie zastosowane sa filtry rodzaju podsta¬ wowego fali TEn. Filtrami tymi sa równolegle do osi falowodu szczeliny lub rowki wykonane w scianie falo¬ wodu. Jednoczesnie zastosowano przejscie z rodzaju fa¬ li TEio w falowodzie prostokatnym na TMio w falo¬ wodzie kolowym, wyposazone w odcinek falowodu, w którym moze rozchodzic sie jedynie rodzaj podstawowy i zaopatrzone w ruchomy zwierak umieszczony w nim dla odfiltrowania tegoz rodzaju.Linia pomiarowa wedlug wynalazku nie narzuca ko¬ niecznosci stosowania transformatorów podwyzszaja¬ cych impedancje. W falowodzie z fala rodzaju TM mozna uzyskac dowolnie mala wartosc impedancji cha¬ rakterystycznej pustego falowodu, co przy malych im- pedancjach charakterystycznych materialów o duzych stalych dielektrycznych daje dobrze mierzalne wspól¬ czynniki odbicia. Jest to konsekwencja faktu, iz próbka w tej sytuacji jest lepiej dopasowana do falowodu, a fa¬ le elektromagnetyczne rodzaju TM lepiej wnikaja do obszaru próbki.Zaleta rozwiazania wedlug wynalazku jest to, ze po¬ wiekszona jest, w stosunku do dotychczasowych sposo- 6429964299 bów pomiaru, dokladnosc pomiaru wspólnej przenikal- nosci elektrycznej materialów o stalej dielektrycznej rzedu kilkuset i wiecej oraz skrócenie procedury po¬ miarowej.Istota falowodowej linii pomiarowej wedlug wyna¬ lazku zostanie blizej objasniona w oparciu o przyklad wykonania schematycznie przedstawiony na rysunku.Rysunek przedstawia falowód o przekroju kolowym A z rodzajem pola TMoi wraz z przejsciem B z falowodu prostokatnego 3 o rodzaju TEio na falowód kolowy A z rodzajem pola TMoi- Falowód o przekroju kolowym A ma szczeline ro¬ bocza 1, w której porusza sie sonda pomiarowa polaczo¬ na zjy^clem^clejefaji^i wskaznikiem. Na obwodzie fa- llwjCKjiff^Eo^Ai^hrJ^t szereg dodatkowych szczelin 2, zykladowo, trzy, zariewniajacych odfiltrowanie szkod- vego rodzaju podstawowego TEn. Dodatkowe szczeli- ^4WNrttfele^S!" tiofosi falowodu i wraz ze szczelina rlfiffi$lil*jf*ffi*^ffi^^ j«y rozchodzenie sie w nim fali rodzaju podstawowego TEn. ^ala rodzaju TMoi wpro¬ wadzana do falowodu tworzona jest w przejsciu B z fali rodzaju TEio w falowodzie prostokatnym 3 polaczonym z falowodem kolowym A. Czesc falowodu kolowego A ma zmniejszona srednice i w tym odcinku rozchodzi sie jedynie fala rodzaju podstawowego, stanowiac filtr za¬ porowy dla tego rodzaju. W tej to czesci umieszczony jest zwierak 4. Poprzez odpowiednie ustawienie zwiera- ka 4 mozna zapobiec propagacji fali rodzaju TEn w czesci roboczej falowodu kolowego A.Badanie wlasnosci materialów dla czestotliwosci mi¬ krofalowych przeprowadza sie przy czestotliwosci mniej¬ szej zaledwie o 2% od czestotliwosci granicznej falowo¬ du linii pomiarowej. Dzieki temu, impedancja charak- 10 15 20~ 30 terystyczna falowodu linii pomiarowej moze byc dowol¬ nie bliska impedancji charakterystycznej materialu prób¬ ki umieszczonej w jednym z konców falowodu linii po¬ miarowej. Wówczas to wartosc bezwzgledna wspólczyn¬ nika odbicia, nawet przy materialach o bardzo duzych stalych clielektrycznych lub stratach, moze nawet znacz¬ nie róznic sie od jednosci umozliwiajac pomiar tychze wielkosci poprzez pomiar wspólczynnika odbicia z do¬ kladnoscia lepsza niz w dotychczas stosowanych meto¬ dach. Obliczenia prowadzi sie metodami konwencjonal¬ nymi. PL PL
Claims (2)
1. Zastrzezenia patentowe 1. Falowodowa linia pomiarowa do badania wlasno¬ sci materialów o duzej przenikalnosci elektrycznej w za¬ kresie czestotliwosci mikrofalowych, znamienna tym, ze linia pomiarowa jest falowód o przekroju kolowym (A) pracujacy z rodzajem fali elektromagnetycznej TMoi i * .czestotliwoscia w zakresie od 101% do 120% czestotli¬ wosci granicznej rodzaju TMoi falowodu kolowego li¬ nii pomiarowej, majacy szczeline robocza (1) wieksza czterokrotnie od dlugosci fali granicznej rodzaju TMio * i wyposazony w filtry fali rodzaju podstawowego TEn, najkorzystniej w postaci szczelin (2) lub rowków w scia¬ nie falowodu równoleglych do osi falowodu oraz w przejscie (B) z fali rodzaju TEio w falowodzie prosto¬ katnym (3) na fale TMio w falowodzie kolowym (A).
2. Falowodowa linia pomiarowa wedlug zastrz. 1 znamienna tym, ze przejscie (B) wyposazone jest w od¬ cinek falowodu wewnatrz którego umieszczony jest ru¬ chomy zwierak (4) i w tymze odcinku rozchodzi sie je¬ dynie rodzaj podstawowy fali TEn. 1 a Z WDA-l. Zam. 2190. Naklad 250 egz. PL PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL64299B1 true PL64299B1 (pl) | 1971-12-31 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Anderson et al. | Dielectric measurements using a rational function model | |
| Krupka et al. | A dielectric resonator for measurements of complex permittivity of low loss dielectric materials as a function of temperature | |
| Cohn | Microwave coupling by large apertures | |
| Cohn et al. | Microwave measurement of high-dielectric-constant materials | |
| Hakki et al. | A dielectric resonator method of measuring inductive capacities in the millimeter range | |
| Hoefer et al. | Evaluation of the equivalent circuit parameters of microstrip discontiuuities through perturbation of a resonant ring (short papers) | |
| Cheung et al. | Experimental development of simulated biomaterials for dosimetry studies of hazardous microwave radiation (short papers) | |
| Ocera et al. | A novel technique for complex permittivity measurement based on a planar four-port device | |
| Li et al. | Composite hole conditions on complex permittivity measurements using microwave cavity perturbation techniques | |
| PL64299B1 (pl) | ||
| Karim et al. | Scattering analysis of rectangular cavity with input and output waveguides and its application to material characterization | |
| Shu et al. | Computation of cutoff wavenumbers for partially filled waveguide of arbitrary cross section using surface integral formulations and the method of moments | |
| Pospieszalski | On the theory and application of the dielectric post resonator (Short Papers) | |
| Bowie et al. | Rapid measurement of dielectric constant and loss tangent | |
| Hajian et al. | Measurements of complex permittivity with waveguide resonator using perturbation technique | |
| Liping et al. | Improvement in dielectric measurement technique of open-ended coaxial line resonator method | |
| Thompson et al. | Analysis and design of a re-entrant microwave cavity for the characterisation of single wheat grain kernels | |
| Craven et al. | Design of microwave filters with quarter-wave couplings | |
| Gaebler et al. | Triple-mode cavity perturbation method for the characterization of anisotropic media | |
| Tobar et al. | High-Q whispering modes in spherical cavity resonators | |
| Chatterjee | Microwave cavity resonators. Some perturbation effects and their applications | |
| Mazierska et al. | Loss tangent measurements of dielectric substrates from 15K to 300K with two resonators: Investigation into accuracy issues | |
| Boifot | Broadband method for measuring dielectric constant of liquids using an automatic network analyser | |
| RU2830823C1 (ru) | Способ измерения собственной добротности диэлектрического резонатора | |
| Özkal | Numerical and experimental investigations for improving dielectric measurements with microwave cavities |