PL64299B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL64299B1
PL64299B1 PL135148A PL13514869A PL64299B1 PL 64299 B1 PL64299 B1 PL 64299B1 PL 135148 A PL135148 A PL 135148A PL 13514869 A PL13514869 A PL 13514869A PL 64299 B1 PL64299 B1 PL 64299B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
waveguide
type
wave
measuring line
circular
Prior art date
Application number
PL135148A
Other languages
English (en)
Inventor
Zagrodzinski Jerzy
Original Assignee
Polska Akademia Nauk
Filing date
Publication date
Application filed by Polska Akademia Nauk filed Critical Polska Akademia Nauk
Publication of PL64299B1 publication Critical patent/PL64299B1/pl

Links

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 30.VII.1969 (P 135 148) 15.1.1972 64299 KI. 21 e, 27/26 MKP G 01 r, 27/26 Twórca wynalazku: Jerzy Zagrodzinski Wlasciciel patentu: Polska Akademia Nauk (Instytut Fizyki), Warszawa (Polska) Falowodowa linia pomiarowa do badania wlasnosci materialów o duzej przenikalnosci elektrycznej Przedmiotem wynalazku jest falowodowa linia pomia¬ rowa do badania wlasnosci materialów o duzej przeni¬ kalnosci elektrycznej, a zwlaszcza do pomiaru w za¬ kresie czestotliwosci mikrofalowych duzych stalych di¬ elektrycznych lub katów stratnosci materialów.Znane sposoby pomiaru duzych stalych dielektrycz¬ nych lub katów stratnosci materialów polegaja na po¬ miarze wspólczynnika odbicia od próbki badanego ma¬ terialu umieszczonej w falowodzie o rodzaju TEoi, a przy duzych stalych dielektrycznych wymagaja stosowa¬ nia transformatorów podwyzszajacych impedancje dla uzyskania rozsadnych wartosci mierzonego wspólczyn¬ nika odbicia. Inne sposoby opieraja sie na pomiarze parametrów wneki rezonansowej, w której umieszczono próbke badanego materialu o okreslonym ksztalcie.Powyzsze sposoby maja te wade, ze dokladnosc po¬ miaru gwaltownie obniza sie ze wzrostem stalej dielek¬ trycznej. Wynika to stad, ze w sposobach falowodo¬ wych z zastosowaniem fali na przyklad TEio sa trud¬ nosci w przeprowadzeniu dokladnego pomiaru wspól¬ czynnika odbicia, zas w sposobach rezonansowych w estymacji otrzymanych wyników.Celem wynalazku jest zrealizowanie ukladu pomiaro¬ wego, pozwalajacego na dokladne okreslenie wartosci duzych stalych dielektrycznych lub katów stratnosci ma¬ terialów. Cel ten osiagnieto przez skonstruowanie falo¬ wodowej linii pomiarowej w której umieszcza sie prób¬ ke wykonana z badanego materialu.Istota wynalazku jest to, ze linia pomiarowa jest fa¬ lowód o przekroju kolowym, w którym umieszcza sie 10 15 20 25 30 próbke z badanego materialu w poblizu jednego konca tej linii, pracujacy z rodzajem fali elektromagnetycznej TMoi w poblizu jego czestotliwosci krytycznej, z czesto¬ tliwoscia w zakresie od 101% do 120% czestotliwosci granicznej rodzaju TMoi falowodu kolowego. Dlugosc szczeliny, w której porusza sie sonda pomiarowa w fa¬ lowodzie jest wieksza czterokrotnie od dlugosci fali gra¬ nicznej rodzaju fali TMio- W falowodzie zastosowane sa filtry rodzaju podsta¬ wowego fali TEn. Filtrami tymi sa równolegle do osi falowodu szczeliny lub rowki wykonane w scianie falo¬ wodu. Jednoczesnie zastosowano przejscie z rodzaju fa¬ li TEio w falowodzie prostokatnym na TMio w falo¬ wodzie kolowym, wyposazone w odcinek falowodu, w którym moze rozchodzic sie jedynie rodzaj podstawowy i zaopatrzone w ruchomy zwierak umieszczony w nim dla odfiltrowania tegoz rodzaju.Linia pomiarowa wedlug wynalazku nie narzuca ko¬ niecznosci stosowania transformatorów podwyzszaja¬ cych impedancje. W falowodzie z fala rodzaju TM mozna uzyskac dowolnie mala wartosc impedancji cha¬ rakterystycznej pustego falowodu, co przy malych im- pedancjach charakterystycznych materialów o duzych stalych dielektrycznych daje dobrze mierzalne wspól¬ czynniki odbicia. Jest to konsekwencja faktu, iz próbka w tej sytuacji jest lepiej dopasowana do falowodu, a fa¬ le elektromagnetyczne rodzaju TM lepiej wnikaja do obszaru próbki.Zaleta rozwiazania wedlug wynalazku jest to, ze po¬ wiekszona jest, w stosunku do dotychczasowych sposo- 6429964299 bów pomiaru, dokladnosc pomiaru wspólnej przenikal- nosci elektrycznej materialów o stalej dielektrycznej rzedu kilkuset i wiecej oraz skrócenie procedury po¬ miarowej.Istota falowodowej linii pomiarowej wedlug wyna¬ lazku zostanie blizej objasniona w oparciu o przyklad wykonania schematycznie przedstawiony na rysunku.Rysunek przedstawia falowód o przekroju kolowym A z rodzajem pola TMoi wraz z przejsciem B z falowodu prostokatnego 3 o rodzaju TEio na falowód kolowy A z rodzajem pola TMoi- Falowód o przekroju kolowym A ma szczeline ro¬ bocza 1, w której porusza sie sonda pomiarowa polaczo¬ na zjy^clem^clejefaji^i wskaznikiem. Na obwodzie fa- llwjCKjiff^Eo^Ai^hrJ^t szereg dodatkowych szczelin 2, zykladowo, trzy, zariewniajacych odfiltrowanie szkod- vego rodzaju podstawowego TEn. Dodatkowe szczeli- ^4WNrttfele^S!" tiofosi falowodu i wraz ze szczelina rlfiffi$lil*jf*ffi*^ffi^^ j«y rozchodzenie sie w nim fali rodzaju podstawowego TEn. ^ala rodzaju TMoi wpro¬ wadzana do falowodu tworzona jest w przejsciu B z fali rodzaju TEio w falowodzie prostokatnym 3 polaczonym z falowodem kolowym A. Czesc falowodu kolowego A ma zmniejszona srednice i w tym odcinku rozchodzi sie jedynie fala rodzaju podstawowego, stanowiac filtr za¬ porowy dla tego rodzaju. W tej to czesci umieszczony jest zwierak 4. Poprzez odpowiednie ustawienie zwiera- ka 4 mozna zapobiec propagacji fali rodzaju TEn w czesci roboczej falowodu kolowego A.Badanie wlasnosci materialów dla czestotliwosci mi¬ krofalowych przeprowadza sie przy czestotliwosci mniej¬ szej zaledwie o 2% od czestotliwosci granicznej falowo¬ du linii pomiarowej. Dzieki temu, impedancja charak- 10 15 20~ 30 terystyczna falowodu linii pomiarowej moze byc dowol¬ nie bliska impedancji charakterystycznej materialu prób¬ ki umieszczonej w jednym z konców falowodu linii po¬ miarowej. Wówczas to wartosc bezwzgledna wspólczyn¬ nika odbicia, nawet przy materialach o bardzo duzych stalych clielektrycznych lub stratach, moze nawet znacz¬ nie róznic sie od jednosci umozliwiajac pomiar tychze wielkosci poprzez pomiar wspólczynnika odbicia z do¬ kladnoscia lepsza niz w dotychczas stosowanych meto¬ dach. Obliczenia prowadzi sie metodami konwencjonal¬ nymi. PL PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Falowodowa linia pomiarowa do badania wlasno¬ sci materialów o duzej przenikalnosci elektrycznej w za¬ kresie czestotliwosci mikrofalowych, znamienna tym, ze linia pomiarowa jest falowód o przekroju kolowym (A) pracujacy z rodzajem fali elektromagnetycznej TMoi i * .czestotliwoscia w zakresie od 101% do 120% czestotli¬ wosci granicznej rodzaju TMoi falowodu kolowego li¬ nii pomiarowej, majacy szczeline robocza (1) wieksza czterokrotnie od dlugosci fali granicznej rodzaju TMio * i wyposazony w filtry fali rodzaju podstawowego TEn, najkorzystniej w postaci szczelin (2) lub rowków w scia¬ nie falowodu równoleglych do osi falowodu oraz w przejscie (B) z fali rodzaju TEio w falowodzie prosto¬ katnym (3) na fale TMio w falowodzie kolowym (A).
2. Falowodowa linia pomiarowa wedlug zastrz. 1 znamienna tym, ze przejscie (B) wyposazone jest w od¬ cinek falowodu wewnatrz którego umieszczony jest ru¬ chomy zwierak (4) i w tymze odcinku rozchodzi sie je¬ dynie rodzaj podstawowy fali TEn. 1 a Z WDA-l. Zam. 2190. Naklad 250 egz. PL PL
PL135148A 1969-07-30 PL64299B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL64299B1 true PL64299B1 (pl) 1971-12-31

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Anderson et al. Dielectric measurements using a rational function model
Krupka et al. A dielectric resonator for measurements of complex permittivity of low loss dielectric materials as a function of temperature
Cohn Microwave coupling by large apertures
Cohn et al. Microwave measurement of high-dielectric-constant materials
Hakki et al. A dielectric resonator method of measuring inductive capacities in the millimeter range
Hoefer et al. Evaluation of the equivalent circuit parameters of microstrip discontiuuities through perturbation of a resonant ring (short papers)
Cheung et al. Experimental development of simulated biomaterials for dosimetry studies of hazardous microwave radiation (short papers)
Ocera et al. A novel technique for complex permittivity measurement based on a planar four-port device
Li et al. Composite hole conditions on complex permittivity measurements using microwave cavity perturbation techniques
PL64299B1 (pl)
Karim et al. Scattering analysis of rectangular cavity with input and output waveguides and its application to material characterization
Shu et al. Computation of cutoff wavenumbers for partially filled waveguide of arbitrary cross section using surface integral formulations and the method of moments
Pospieszalski On the theory and application of the dielectric post resonator (Short Papers)
Bowie et al. Rapid measurement of dielectric constant and loss tangent
Hajian et al. Measurements of complex permittivity with waveguide resonator using perturbation technique
Liping et al. Improvement in dielectric measurement technique of open-ended coaxial line resonator method
Thompson et al. Analysis and design of a re-entrant microwave cavity for the characterisation of single wheat grain kernels
Craven et al. Design of microwave filters with quarter-wave couplings
Gaebler et al. Triple-mode cavity perturbation method for the characterization of anisotropic media
Tobar et al. High-Q whispering modes in spherical cavity resonators
Chatterjee Microwave cavity resonators. Some perturbation effects and their applications
Mazierska et al. Loss tangent measurements of dielectric substrates from 15K to 300K with two resonators: Investigation into accuracy issues
Boifot Broadband method for measuring dielectric constant of liquids using an automatic network analyser
RU2830823C1 (ru) Способ измерения собственной добротности диэлектрического резонатора
Özkal Numerical and experimental investigations for improving dielectric measurements with microwave cavities