PL63677B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL63677B1
PL63677B1 PL134421A PL13442169A PL63677B1 PL 63677 B1 PL63677 B1 PL 63677B1 PL 134421 A PL134421 A PL 134421A PL 13442169 A PL13442169 A PL 13442169A PL 63677 B1 PL63677 B1 PL 63677B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
sample
sparking
sparks
testing
materials
Prior art date
Application number
PL134421A
Other languages
English (en)
Inventor
Birkenfeld Janusz
Zajac Wiktor
Original Assignee
Wlasciciel Wynalazku Politechnika Szczecinska
Filing date
Publication date
Application filed by Wlasciciel Wynalazku Politechnika Szczecinska filed Critical Wlasciciel Wynalazku Politechnika Szczecinska
Publication of PL63677B1 publication Critical patent/PL63677B1/pl

Links

Description

Opublikowano: 2.III.1972 63 677 K1.42 k, 34/02 MKP G 01 n, 19/06 Wspóltwórcy wynalazku: Janusz Birkenfeld, Wiktor Zajac Wlasciciel wynalazku: Politechnika Szczecinska, Szczecin (Polska) Urzadzenie do badania iskrownosci materialów, zwlaszcza metali i ich stopów Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do ba¬ dania iskrownosci materialów zwlaszcza metali i ich stopów.Dotychczas badania stopnia iskrzenia metali i ich stopów przeprowadza sie najczesciej w zaciemnio¬ nej szczelnej komorze, w której jest ustawiona pod zadanym katem plyta stalowa. O plyte uderza próbka badanego materialu opuszczana z okreslo¬ nej wysokosci. Efekt iskrzenia i ilosci iskier pow¬ stalych na skutek uderzenia badanego iskrzacego materialu o stalowa plyte, rejestrowany jest przy pomocy kliszy swiatloczulej, kamery filmowej i moze byc obserwowany wzrokowo. Celem zba¬ dania zdolnosci powstajacych iskier do inicjowania wybuchów wprowadza sie do komory rózne mie¬ szanki gazów latwopalnych.Znane urzadzenia uniemozliwiaja badanie stop¬ nia iskrzenia materialów podczas tarcia w dowol¬ nie zadanym czasie, bowiem uderzenia i tarcie prób¬ ki o stalowa plyte powodowane sa wylacznie sila równa ciezarowi próbki. Niedogodnoscia opisanego wyzej urzadzenia jest niedoskonalosc wykrywal¬ nosci iskier o bardzo malym swieceniu i niemozli¬ wosc dokladnego okreslenia wielkosci fizycznej charakteryzujacej intensywnosc iskrzenia. Ponadto brak jest mechanizmu do badania iskier wywola¬ nych przez tarcie przy naciskach wiejkszych od cie¬ zaru próbki oraz w dowolnym czasie.Celem wynalazku jest usuniecie powyzszych nie¬ dogodnosci. Cel ten zostal osiagniety przez opraco- 30 wanie urzadzenia pozwalajacego na szybkie i do¬ kladne rejestrowanie wszystkich iskier wywolanych przez regulowane tarcie lub uderzenie jednego ma¬ terialu o drugi i okreslenie ich intensywnosci swie¬ cenia.Wedlug wynalazku, urzadzenie do badania iskrownosci materialów zwlaszcza metali i ich sto¬ pów w ciemnej i szczelnej komorze sklada sie z krzywki obrotowej podnoszacej dzwignie, do której zamocowana jest badana próbka materialu. Do dzwigni zamocowana jest wymienna sprezyna o za¬ danej mocy, pozwalajaca na regulowanie sily ude¬ rzenia i tarcia próbki o tarcze obrotowa. Do re¬ gulacji czestotliwosci uderzen próbki o tarcze urza¬ dzenie posiada dowolne przekladnie z których jed¬ na ustala szybkosc obrotów tarczy, druga zas umo¬ zliwia zmiane obrotów krzywki podnoszacej dzwig¬ nie z zamocowana próbka.Poza opisana czescia mechaniczna, zastosowano do okreslenia stopnia iskrzenia badanych materia¬ lów aparature elektronowa wyposazona w fotopo- wielacz elektronowy do detekcji swiecenia iskier polaczony elektrycznie przez wzmacniacz impulsów z przelicznikiem lub analizatorem amplitudy.Zaleta urzadzenia bedacego przedmiotem wyna¬ lazku jest wysoka czulosc i duza dokladnosc po¬ miaru oraz mozliwosc okreslania ilosciowej wiel¬ kosci fizycznej charakteryzujacej iskrownosc ma¬ terialu. Przy pomocy urzadzenia dzieki zastosowa¬ niu analizatora amplitudy mozna analizowac pro- 63 6773 63 677 4 cesy i" mechanizm iskrzenia. Ponadto urzadzenie ma charakter uniwersalny, mozna na nim badac dowolne materialy metalowe i niemetalowe, przy uzyciu róznych sil uderzenia i tarcia w róznych srodowiskach.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przy¬ kladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia przekrój pionowy czesci mechanicznej urzadzenia do badania iskrownosci materialów, a fig. 2 — schemat ogólny tego urzadzenia lacznie z aparatura elektronowa. Czesc mechaniczna sklada sie z hermetycznej zaciemnionej komory 1 wyko¬ nanej ze stali, dzwigni 2, lozysk 3 i 4 w których znajduja sie walki 5 i 6 przekladni pasowej wie¬ lostopniowej 7 napedzanej silnikiem elektrycznym 8 i przekladni lancuchowej 17.Komora 1 posiada dwa otwory 9 i 10 i zawór 11.Otwór 9 sluzy do zainstalowania w nim fotopo- wielacza 18, a otwór 10 zamykany folia aluminiowa spelnia role bezpiecznika w przypadku badania iskrownosci w atmosferze gazów wybuchowych.Zawór 11 sluzy do wypelniania komory gazem wybuchowym i przedmuchiwania komory tlenem po wybuchu gazów. Na walku 5 zamocowana jest stalowa moletowana tarcza 12, o która uderza lub trze badana próbka 13 umocowana w przesuwnym uchwycie na dzwigni 2. Na walku 6 znajduje sie krzywka 15, która powoduje podnoszenie dzwigni 2. W przypadku badania iskrownosci materialu podczas tarcia, krzywka 15 zostaje przesunieta na walku 4 tak, aby nie unosila dzwigni 2. Przed uru¬ chomieniem urzadzenia próbke 13 badanego ma¬ terialu mocuje sie w przesuwnym uchwycie 14 ustalajac zadany kat jej padania na okragla obro¬ towa tarcze 12. Ustala sie sile uderzenia próbki 13 o tarcze 12. Sila uderzenia lub tarcia próbki 13 o tarcze 12 regulowana je&t przy pomocy sprezy¬ ny 16. Za pomoca wielostopniowej przekladni pa¬ sowej 7 napedzanej silnikiem elektrycznym 8 oraz przekladni lancuchowej 17, okresla sie szybkosc obrotów tarczy 12 i krzywki 15.Wysokosc unoszenia dzwigni 2 oraz czas tarcia próbki 13 po uderzeniu o tarcze 12 regulowana jest przez zmiane konstrukcji krzywki 15, zamocowa¬ nej na walku 6. Aparatura do pomiaru ilosci i in¬ tensywnosci iskier pracuje na zasadzie fotoelek- trycznej. Impulsy swietlne padajace na powierzch¬ nie czynna fotopowielacza elektronowego 18 prze¬ ksztalcane sa w impulsy napieciowe, które po wzmocnieniu liczone sa przez przelicznik impul- 5 sów 20 lub rejestrowane przez analizator amplitu¬ dy 21. W sklad aparatury pomiarowej wchodza: fo¬ topowielacz elektronowy 18, wzmacniacz impulsów 19, przelicznik impulsów 20 lub analizator ampli¬ tudy 21. Fotopowielacz 18 umieszczony jest w 10 szczelnej rurze metalowej, w której znajduje sie ponadto dzielnik napiecia oraz tranzystorowa prze¬ twornica wysokiego napiecia i emiterowy wtórnik tranzystorowy. Impulsy napiecia z wyjscia foto¬ powielacza podawane sa na wejscie tranzystoro- 15 wego wtórnika emiterowego.Uklad przetwornicy wysokiego napiecia jest kon¬ wencjonalny, zbudowany na tranzystorach. Pod¬ wyzszenie napiecia uzyskuje sie na transformato¬ rze oraz prostowniku z powielaniem, zbudowanym 20 w ukladzie diodowopojemnosciowym. Wzmacniacz impulsów 19 zbudowany jest na lampach elektro¬ nowych trójelektrodowych, pracujacych jako kas¬ kady. Pierwsze dwie kaskady objete sa ujemnym sprzezeniem zwrotnym, wielkoscia którego mozna 25 zmieniac wzmocnienie tych stopni. Trzeci stopien kaskadowy pracuje w ukladzie wtórnika katodo¬ wego, wyjscie którego polaczone jest z gniazdem wyjsciowym wzmacniacza 19. Uklad calego wzmac¬ niacza 19 zrealizowano w ten sposób, by w zalez- 30 nosci od potrzeb istniala mozliwosc zmiany wzmoc¬ nienia w szerokich granicach. PL PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe 35 Urzadzenie do badania iskrownosci materialów, zwlaszcza metali i ich stopów w ciemnej i szczel¬ nej komorze, znamienne tym, ze ma obrotowa krzywke (15) podnoszaca dzwignie (2), do której zamocowana jest wymienna sprezyna (16) o zada- 40 nej mocy, a poza tym dowolne przekladnie (7 i 17) sluzace do regulacji czestotliwosci uderzen próbki (13) o obrotowa tarcze (12), zas do rejestracji swie¬ cenia iskier ma fotopowielacz elektronowy (18), po¬ laczony elektrycznie przez wzmacniacz impulsów 45 (19) z przelicznikiem (20) lub analizatorem ampli¬ tudy (21).KI. 42 k, 34/02 63 677 MKP G 01 n, 19/06 f? 2 15 8 14 13 W 16 8 PL PL
PL134421A 1969-06-26 PL63677B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL63677B1 true PL63677B1 (pl) 1971-08-31

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3662882A (en) Method and apparatus for quality control of explosive primers by characteristic x-ray emission
Leeb Dynamic hardness testing of metallic materials
Ma et al. A pulsed electron beam time of flight apparatus for measuring absolute electron impact ionization and dissociative ionization cross sections
DK164334C (da) Moentproeveapparat og fremgangsmaade til kontrol af driften af dette
CH396235A (fr) Installation comprenant un dispositif de mesure destiné à être utilisé avec un faisceau de particules d'énergie élevée
US4154672A (en) Standardization of penetrating radiation testing system
PL63677B1 (pl)
Fehér et al. A new thermoluminescent dosimeter system for space research
Jaklevic et al. Energy dispersive X-ray fluorescence spectrometry using pulsed X-ray excitation
US3200254A (en) Photosensitive detector for airborne particles
US2944146A (en) Mass spectrometer
US3544218A (en) Apparatus for testing smoke from a specimen of material
Milbourn et al. Quantitative spectrographic analysis by spark excitation of metallic oxides
CN211652619U (zh) 一种便携式使用x射线发生器的煤灰分仪
JPS5774664A (en) Automatic measuring device
US3538327A (en) Fixed geometry test source assembly for gas flow proportional counters
CN113030428A (zh) 可用于测量含能材料释能能力的装置及系统
CN108120738A (zh) 一种快速半定量检测烟花爆竹用烟火药盲样中镉含量的方法
JPS5492388A (en) Chromatograph mass spectrographic apparatus
Blair et al. A measurement of the capture rate of negative muons in various elements
SU132723A1 (ru) Устройство дл измерени быстрых изменений температуры катода газоразр дных приборов
SU868524A1 (ru) Емкостный датчик
Coxell et al. Optical measurements on neon flash-tubes
US3024363A (en) Device for supervising the internal structure of solid bodies and the content thereof
SU1513155A1 (ru) Способ испытаний на искробезопасность электрических цепей в контрольной взрывчатой смеси