PL61829B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano: 20.XI.1970 61829 KI. 21 e, 31/22 MKP G 01 r, 31/22 UKD 82.001:621.385.1 Wspóltwórcy wynalazku: Ryszard Grzegorz Strazak, Wlodzimierz Staw¬ ski Wlasciciel patentu: Instytut Lacznosci, Warszawa (Polska) Sposób kontroli lamp fluorescencyjnych i urzadzenie do stosowania tego sposobu i Przedmiotem wynalazku jest sposób kontroli i pomiaru parametrów elektrycznych lamp fluores* cencyjmych oraz urzadzanie do stosowania tego spo¬ sobu ZWlaSiZ*iZa*WTCylfc ;v:.V<'l^ Znane sposoby kontroli i pomiarów oswietlenio¬ wych (lamp .fluoirescencyjnyich metodami elektrycz¬ nymi wymagaja polaczenia galwanicznego miedzy obwodem pomiarowym '(kontrolnym) i obwodem ba¬ danej lampy fluorescencyjnej, albo tez obejmowania lampy specjalna sonda kontrolna. W przypadku konitroli lub segregacji duzej ilosci lamp, np. pod¬ czas produkcji albo tez przy kontroli lamp pod¬ czas ich eksploatacji jesit to istotna niedogodnoscia, powiekszajaca znacznie pracochlonnosc kontroli.Sposób bedacy przedmiotem wynalazku eliminu¬ je te niedogodnosc. Polega on na pomiarze w pew¬ nej odleglosci od lampy natezenia pola magnetycz¬ nego lub elektrycznego, wytworzonego przez kon¬ trolowana lampe.Wspomniane pole magnetyczne lub elektryczne jest skojarzone z procesami elektrycznymi przebie¬ gajacymi w zjonizowanym gazie wewnatrz lampy.Pnocesy te scisle zaleza w szczególnosci od domie¬ szek i zanieczyszczen gazu oraz od calej techno¬ logii produkcji lamp. A zatem mierzac naltezenia tych pól mozna wnioskowac o prawidlowosci cyklu technologicznego oraz eliminowac lampy wadlirwe.Stosujac selektywny miernik naltezenia pola i do¬ bierajac odpowiednio czestotJMwoslci pomiarowe mo¬ zna oddzielnie komtrolowac rozmaite procesy ffizycz- 10 ne zachodzace w lampie. Wybierajajc czes*oflliwos- ci pomiarowe w zakresach fal radiowych mozna tym sposobem mierzyc i kontrolowac zaklócenia ^^VBadioeJektrycBatie powod6**aa$e-tfrzez te lampy w 5 odbiorze radiowym i telewizyjnymi oraz eliminowac lampy wytwarzajace zaklócenia niedopusz¬ czalne. Mozna takze segregowac lampy w oddziel-, ne grupy, rózniace sie intensywnoscia wytwarza¬ nych zaklócen. Przy zastosowaniu sposobu wedlug wynalazku zbedne staja sie polaczenia galwanicz¬ ne miedzy obwodem konltrolnyni i obwodem elek¬ trycznym lampy lub obejmowanie lampy sonda kontrolna. Jest to szczególnie istotne przy kontroli w cyklu produkcyjnym lamp lub podczas ich eks¬ ploatacji.Na rysunku przedstawiano schematycznie przy¬ klady urzadzen przeznaczonych do stasowania wy¬ zej opisanego sposobu, przy czym na fiig. 1 — poka¬ zano urzadzenie z sonda do pomiaru pola magne¬ tycznego, a na fig. 2 -^ nego. Na obu figurach Atapku: T oznacza kontro¬ lowana lampe, O — obwody elektryczne wymagane dla dzialania lampy, M — odpowiedni wzmacniacz, a W — organ wykonawczy.Na fig. 1 pokazano sonde magnetyczna, umiesz¬ czona w odleglosci D od lampy T, skladajaca sie z cewki L na rdzeniu R. Sonda ta jest polaczona przewodami N ze wzmacniaczem M, na którego wyjsciu zalaczony jest organ wykonawczy W, po¬ kazujacy natezenie pola magnetycznego, sygaiizu- 15 20 25 6182961829 3 jacy osiagniecie przezen wartosci wzglednie w in¬ ny sposób reagujacy na wartosc poda magnetycz¬ nego lampy.W przykladzie przedstawionym na fig. 2 w miej¬ sce sondy magnetycznej zastosowany jesit system 5 dwu przewodzacych sond elektrycznych P i Q. Dla zwiekszenia czulosci uirzadizenia równolegle do cew¬ ki L sondy magnetycznej, miedzy punktami A i B, moze byc dolaczony kondensator, tworzacy z cew¬ ka L obwód rezonansowy. Podobnie w przypadku 10 sondy elektrycznej zwiekszenie czulosci urzadzenia mozna uzyskac przez dolaczenie miedzy punktami C i D na fig. 2 odpowiedniej cewki. PL PL

Claims (6)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób kontroli lamp fluorescencyjnych, zna¬ mienny tym, ze w pewnej odleglosci (D) od lampy (T) umieszcza sie sonde, lub sondy (L, P, Q) kon¬ trolne, reaguijace na natezenie pola magnetycznego lub elektrycznego, skojarzone z procesami elektrycz¬ nymi wewnatrz lampy (T).

2. Urzadzenie do stosowania sposobu wedlug zastrz. 1, zawierajace sonde w postaci cewki, wzmacniacz i organ wykonawczy, znamienne tym, 4 ze cewka (L) jest polaczona ze wzmacniaczem (M), którego wyjscie jest z kolei polaczone z organem wykonawczym (W), wskultek czego organ tan rea¬ guje na wartosc natezenia pola magnetycznego.

3. Odmiana urzadzenia wedlug zastrz. 2, zna¬ mienna tym, ze w miejisce cewki (L) zastosowana jest przewodzaca elektroda lub system takich elek¬ trod (P i Q), wskutek czego organ wykonawczy (W) reaguje na wartosc natezenia pola elektrycz¬ nego, skojarzonego z procesami elektrycznymi wewnatrz lampy (T).

4. Urzadzenie wedlug zastrz. 2, znamienne tym, ze równolegle do cewki (L) lub do jej czesci jest dolaczony kondensator, tworzacy wraz z ta cewka lub jej czescia obwód rezonansowy, dzieki czemu wzrasta czulosc urzadzenia dla czestotliwosci re¬ zonansowej.

5. Urzadzenie wedlug zastrz. 3, znamienne tym, ze do sytemu elektrod (P i Q) jest dolaczona cew¬ ka, tworzaca z pojemnoscia miedzy elektrodami ob¬ wód rezonansowy, dzieki czemu wzrasta czulosc urzadzenia dla czestotliwosci rezonansowej.

6. Urzadzenie wedlug zastrz. 3, znamienne tym, ze cewka (L) obejmuje rdzen magnetyczny. L829 5 10 15 20KI. 21 e, 31/22 61829 MKP G 01 r, 31/22 LLGI £1GZ PL PL