PL61590B1 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 5.1.1971 61590 KI. 42 k, 51 MKP G 01 n, 33/44 UKD Wspóltwórcy wynalazku: Zbigniew Rydz, Stefan Pogruszewski, Zofia Kocon Wlasciciel patentu: Instytut Techniki Budowlanej, Warszawa (Polska) Aparat do pomiaru wielkosci skurczu materialów Przedmiotem wynalazku jest aparat do pomiaru wielkosci skurczu zachodzacego podczas procesu wiazania, utwardzania lub wysychania zywic, mas zywicznych i innych materialów.Dotychczas stosowane w pomiarach laboratoryj¬ nych aparaty nie nadaja sie do okreslania wiel¬ kosci skurczu zywic i mas zywicznych. Uzyski¬ wane na tych aparatach wyniki sa niedokladne i na ogól nieporównywalne.Wada tych urzadzen pomiarowych jest to, ze ' nie uwzgledniaja poczatkowego skurczu materialu, poniewaz badanie prowadzi sie na próbkach wy¬ jetych z formy po wstepnym okresie wiazania lub utwardzania. Wada tych aparatów jest równiez to, ze nie pozwalaja na uwzglednienie wplywu grubosci próbek na wielkosc skurczu. Jest to szczególnie istotne przy badaniu materialów, któ- Tych proces utwardzania lub wiazania przebiega z wydzieleniem ciepla.. Celem wynalazku bylo opracowanie przyrzadu dla dokladnego pomiaru skurczu próbek o róznej grubosci wykonanych z zywic, mas zywicznych i innych cieklych materialów, zas zadaniem bylo opracowanie przenosnego aparatu dostosowanego do róznej grubosci próbek i rejestrujacego W spo¬ sób ciagly ich skurcz.Zadanie zostalo rozwiazane przez opracowanie aparatu, który wyposazony w dwa czujniki za¬ pewnil znacznie wieksza niezawodnosc i doklad¬ nosc pomiarów. 10 15 20 25 30 Istota wynalazku polega na umieszczeniu na podstawie dwóch listew ograniczajacych badana próbke z tym, ze bezposrednio z nia stykaja sie suwaki polaczone z czujnikami, które rejestruja zmiany zachodzace w badanej próbce.Przedmiot wynalazku przedstawiony jest w przy¬ kladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia widok z góry aparatu, a na fig. 2 — widok z boku i przekrój aparatu.Przyrzad sklada sie z podstawy 1 z polerowana górna plaszczyzna, na której umieszcza sie badana próbke materialu. Do podstawy przymocowane sa dwie listewki boczne 3, ograniczajace szerokosc badanego materialu oraz przymocowane sa opra¬ wy 2 czujników, w których dowolnie mozna prze¬ suwac wzdluz osi czujniki zegarowe 7. Szerokosc badanej próbki materialowej moze byc rózna i re¬ gulowana przez rózne rozstawienie otworów w li¬ stewkach, dzieki czemu mozna za pomoca srub 11 przesuwac listewki w góre lub w dól w sto¬ sunku do podstawy.Miedzy listewkami bocznymi umieszczono dopa¬ sowane suwliwie z dokladnoscia w klasie 5 dwa suwaki 4, które ograniczaja dlugosc badanej prób¬ ki, dotykajac scisle podstawy dzieki zastosowanym od góry nakladkom 5, zmocowanym wkretami z listewkami bocznymi. Na trzpieniach pomiaro¬ wych czujników nalozone sa sprezyny 8, zapew¬ niajace staly kontakt czujnika z suwakiem. Czuj¬ niki zamocowane sa w oprawie zaciskami 6. «159061590 \. 3 Dla zwiekszenia dokladnosci pomiaru aparat ma umocowana na podstawie poziomnice 12, która pozwala kontrolowac ustawienie badanej próbki przy pomocy zmocowanych z podstawa dwóch ru¬ chomych nózek 10 i jednej stalej nózki 9.Dla dokonania pomiarów badanej próbki apa¬ ratem nalezy poslugiwac sie w sposób nastepujacy.Przy pomocy srub 11 ustawia sie listewki bocz¬ ne na wysokosc zalozonej grubosci próbek do ba¬ dan. Wnetrze aparatu smaruje sie cienka warstwa srodka antyadhezyjnego, suwaki 4 ustawia sie w lewym i prawym skrajnym polozeniu, a na¬ stepnie naklada sie lub nalewa badany material do górnego poziomu listewek bocznych. Wskazów¬ ki czujników nastawia sie na zero i nastepnie lekko zwalnia sie nakladki 5 dla umozliwienia ruchu suwaków.Wielkosc skurczu odczytuje sie na czujnikach zegarowych w przyjetych okresach czasu. Przy zastosowaniu znanych urzadzen samopiszacych wyniki badan rejestruje sie na tasmie milime¬ trowej.Zaleta aparatu jest mozliwosc zastosowania po¬ dobnych metod prowadzenia badan i pomiarów nowo wprowadzanych materialów i opracowania znormalizowanego pomiaru skurczu. Przez zasto¬ sowanie dwóch czujników uzyskuje sie wysoka, dokladnosc, a dzieki przyjeciu próbki o dlugosci 5 1000 mm wyniki otrzymuje sie w procentach. PL PL

Claims (3)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Aparat do pomiaru wielkosci skurczu mate¬ rialów, zachodzacego podczas procesu wiazania io lub wysychania zywic, mas zywicznych i innych cieklych materialów, znamienny tym, ze ma na podstawie (1) umocowane dwie listewki (3) o sta¬ lym rozstawie i zmiennej wysokosci w stosunku do podstawy (1) regulowanej srubami (11), przjr 15 czym miedzy listewkami umieszczone sa dopaso¬ wane suwliwie, suwaki (4) stykajace sie z bada¬ nym materialem i polaczone z czujnikami (7).

2. Aparat wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze czujnik (7) zamocowany jest w oprawie (2) zacis- 20 kiem (6), przy czym na trzpien pomiarowy czujni¬ ka zalozona jest sprezyna (8).

3. Aparat wedlug zastrz. 1 i 2, znamienny tym^. ze na podstawie (1) zamocowana jest poziom- nica (12). Figi 1/ iy Fig,2 PZG w Pab., zam. 1254-70, nakl. 230 egz. PL PL