PL61523B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano: 25. I. 1971 61523 KI. 42 b, 3 MKP G 01 b, 11/00 Twórca wynalazku: Stefan Szwaj Wlasciciel patentu: Instytut Organizacji Warszawa (Polska) Mechanizacj i Budownictwa, Przymiar do wielozakresowego odczytywania wartosci z tasm pomiarowych Przedmiotem wynalazku jest przymiar do wie- loizakresowego odczytywania wartosci z tasm po- mizJarowych w .postaci sikali uzupelniajacej paten¬ tu rur. 55686, p. t, „Wieloizakresowy przymiar do odczytywania wartosci na tasmach pomiarowych" uzywanej przy odczytywaniu rejestrowanych wska¬ zan naprezenia sily przemieszczen luib innych wiel¬ kosci z tasm pomiarowych.W patencie glównym na przyklad przy odczyciie wyników z pomiarów naprezen metoda tensome- tryczna trzeiba bylo, w niektórych [przypadkach w zaleznosci od wielkosci modulu Iumga E i staleij teinsometrycznej K, przemnozenia wyników przez stosunek K-106 w wypadku gdy ten stosunek byl rózny od 1. Skala wedlug wynalazku K-106 daje mozliwosc, ¦zamiast wyzej E wspoimniamego dokonania na mnozenia przez stosunek K-106 niej odczytu szukanych wyników.Istota wynalazku polega na tym, ze na wykona¬ nej siatce przymiaru wedlug patentu glównego nanosi sie druga siatke zaznaczona przerywanymi liniami zbudowaina wedlug zasady tegoz patentu, a uwzgledniajaca w zaleznosci od wzoru popraw¬ in ka na mnozeniie na przyklad przez stosunek 10 w wypadku pomiarów teinisoimetrycznych.Przedmiot wynalazku pokazany jest przyklado¬ wo ma rysunku na którym fig. 1 prizedstawia przy- miiiair z naniesioinymii skailairrii, i zaznaczona linia przerywana z punktami odpowiadajaca cesze, filg. 3 — dobór miejsca odczytu na skali pomiaru uwzglednienieni poprawki, fig. 4 — odczyt wykre¬ su pomiairu na tasmie z uwzglednieniietm poprawki.Na fig. 1 pokazany jest prizymiar wykonany na sztywnym przezroczystym materiale z naniesiony¬ mi liniami prostymi 1 oddalonymi od silelbie o je¬ dnakowe odleglosci mierzac wzdluz linii prosto¬ padlej ido lim iii zerowej, wychodzacymi z jednego punktu umieszczonego na linii zerowej 3 szeregu prostopadlych a, .b, c, d do linii zerowej, wybrana cecha zaznaczona linia przerywana z punktami 2 wedlug patentu glównego oiraz szeregu przerywa¬ nych linii 4 wychodzacych ,z tego samego punktu co linie proste 1 i oddalonych od liniil reprezentu¬ jacej ceche 2 na skali o wielkosc równa odleglosci linii zerowej 3 od liniil cechy 2 pomnozonej przez 25 stosunek E w wypadku pomiarów tensome- K-106 K-106 trycznych.W odmianie przymiaru przerywane linie moga byc zastapione przez listwe z naniesiiona kreska luib prosta krawedzia obracana, wokól punktu e którego wychodza linie proste 1, do polozenia od¬ powiadajacego linii odpowiedniej wartosci e. 61 5233 Powstaly w ten sposób przymiiar cechuje to, ze na jednej siatce naniesiona jest druga siatka spo¬ rzadzona wedlug wspomnianego opisu i moze byc obserwowana przy pomocy optycznych ukladów powiekszajacych.Poslugiwanie sie przymiarem polega na tym, ze na tasme pomiarowa (fig. 2) z zaznaczona cecha wzorcowa 6 ii z zarejestrowanym nie wiadomym wynikiem pomiaru w postaci wykresu 7 naklada sie proponowany przymiiar (fig. 3) w ten sposóib, ze linia zerowa 3 jest równolegla do linii zerowej 5 na -tasmie a wielkosc wzorcowej cechy 6 na wy¬ kresie jest zawarta miedzy linia odpowiadajacej cesze 2 na sikali o odpowienia linia przerywana 4.Nastepnie po zapamietaniu miejsca w którym wzorcowa cecha na wykresie jest zawarta miedzy wyzej wymienionymi liniami, lezy na przyklad na pionowej linii c, przesuwa' sie przymiar do miej¬ sca odczynu zarejestrowanej wielkosci na wykre¬ sie, przy czym linia zerowa 5 na wykresie musi 01 523 4 pokrywac sie z linia zerowa 3 na przymiarze fig. 4.po czym odczytuje sie wyniki pomiaru. PL PL

Claims (2)

1. Zastrzezenia patentowe g 1. Przymiar do wielozakresowego odczytywania wartosci z -tasm pomiarowych z pierwotna siatka wykonana wedlug patentu 55686 znamienny tym, ze posiada dodatkowa siatke z przerywanych linii (4) wychodzacych z punktu lezacego na linii zero- 1Q wej (3) z którego tez wyprowadzone sa linie (1), (2) pierwotnej siatki i, posiadaja odleglosc równa odleglosci cechy (2) od linii zerowej (3) mierzonej wzdluz prostopadlej (c) pomnozonej przez stosu- 1. E nek : w wypadku pomiarów teinsometrycz- 15 K • ]C- nych, przy czym litera E oznacza modul Junga a litera K stala tensometryczna.

2. Odmiana przymiaru wedlug .zastrz. 1 znamien¬ na tym, ze zamiast drugiej siatki posiada listwe 20 z naniesiona kreska lub prosta krawedzia obracana wokól lezacego na linii zerowej (3) punktu z któ¬ rego wychodza linie (1) i (2).KI. 42 b, 3 61523 MKP G 01 b, 11/00 FLg.-l 5 6 7 Fig. 2 PL PL