PL61389B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL61389B1
PL61389B1 PL125213A PL12521368A PL61389B1 PL 61389 B1 PL61389 B1 PL 61389B1 PL 125213 A PL125213 A PL 125213A PL 12521368 A PL12521368 A PL 12521368A PL 61389 B1 PL61389 B1 PL 61389B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
lens
receiver
diaphragm
light
optical system
Prior art date
Application number
PL125213A
Other languages
Polish (pl)
Original Assignee
Centralny Instytut Ochrdny Pracy
Filing date
Publication date
Application filed by Centralny Instytut Ochrdny Pracy filed Critical Centralny Instytut Ochrdny Pracy
Publication of PL61389B1 publication Critical patent/PL61389B1/pl

Links

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 13,11.1968 (P 125 213) 20.11.1971 KI. 42 h, 6/10 MKP G 02 b, 27/00 czytelnia; Twórca wynalazku: Antoni Mank Wlasciciel patentu: Centralny Instytut Ochrdny Pracy, Warszawa (Pol¬ ska) Uklad optyczny fotoelektrycznych przyrzadów pomiarowych Przedmiotem wynalazku jest uklad optyczny fo- toelektrycznych przyrzadów pomiarowych, stosowa¬ nych w fotometrii, kolorymetrii i .spektrofotometrii.W dotychczasowych rozwiazaniach ukladów op¬ tycznych przyrzadów fotoelektrycznych, przeslona z otworem ograniczajacym kat widzenia przyrzadu umieszczona byla w stalej lodleglosci od odbiornika promieniowania, a ositry obraz badanego zródla na przeslanie uzyskiwano przez przesuwanie obiek¬ tywu wzgledem przeslony.Rozwiazainia taikie maja mastepujace wady: kazdy przekrój poprzeczny strumienia swietlnego za plaszczyzna obrazowa ukladu optycznego zmie¬ nia swoja powierzchniie przy zmianie odleglosci zródla swiatla od przyrzadu, a przy inierównomier- nym rozkladzie luminancji zródla swiatla przekroje poprzeczne strumienia iswietlnego za plaszczyzna obrazowa maja takze nierównomierny rozklad luminancji.W wyniku tych wad pomiar moze byc obarczony znacznym bledem wynikajacym z nierównomier¬ nego oswietlenia odbiornika promieniowania, ogra¬ niczone jest stosowanie szeregowo równoleglych i równoleglych zestawów filtrów korekcyjnych umo¬ zliwiajacych dokladne dopasowanie czulosci wid¬ mowej odbiornika promiieniowandia do zadanej krzywej 'oraz ograniczone jest ze wzgledu na bledy pomiaru stosowanie interferencyjnych filtrów kli¬ fowych bardzo dogodnych do stosowania w prze¬ nosnych spektrofotometrach. 15 30 Stosowany dotychczas sposób usuniecia tych wad polegajacy na umieszczeniu plytki rozpraszajacej swiatlo lulb kulki Ulbrichta miedzy plaszczyzna obrazowa ukladu optycznego a odbiornik promie¬ niowania powodowal 10—30-krotne zmniejszenie 'ilosci swiatla dochodzacego do odbiornika.Uklad bedacy przedmiotem wynalazku usuwa wyzej wymienione wady i bledy i pozwala na uzyskanie oswietlenia odbiornika promieniowania w sposób równomierny, Ibez zasadniczych strat swiatla i na stalej powierzchni, bez wzgledu na nierównomiernosc rozkladu luminancji i na odle¬ glosc badanego zródla swiatla od przyrzadu pomia¬ rowego, dzieki zastosowaniu przeslony zamocowa¬ nej przesuwnie wzgledem obiektywu i odbiornika promieniowania oraz dodatkowej soczewki miedzy przeslona a odbiornikiem.W ukladzie optycznym wedlug wynalazku zasto¬ sowano urzadzenie przesuwajace przeslone oraz dodatkowa soczewke, tworzaca idbraz zrenicy wej¬ sciowej obiektywu nia powierzchni odbiornika pro¬ mieniowania lub innej, która ma byc oswietlona równomiernie i na stalej powierzchni.Przedmiot wynalazku jest objasniony na podsta¬ wie przykladowego rozwiazania przedstawionego schematycznie na rysunku. Uklad optyczny sklada sie z czterech zasadniczych czlonów: obiektywu 5, urzadzenia 1 przesuwajacego przeslone 2, soczewki 7 i odbiornika 8. 6138961389 3 Urzadzanie 1 przesuwa przeslone 2 z otworem 3 ograniczajacym kat widzenia do plaszczyzny obra¬ zowej 4 obiektywu 5, w której znajduje sie obraz badanego zródla swiatla 6. Przez otwór 3 przecho¬ dza wiazka swiatla z wybranego do badania ele¬ mentu powierzchni zródla i skupiona jest przez soczewke 7 ina powierzchni odbiornika promienio¬ wania 8. Wzajemne rozmieszczenie obiektywu 5, soczewki 7 i odbiornika 8 jest takie, ze soczewka tworzy obraz zrenicy wejsciowej obiektywu na powierzchni odbiornika, Poniewaz odleglosci w jakich umieszczone jest zródlo swiatla od obiektywu przyrzadu przy prze¬ prowadzeniu pomiarów sa zawsze wielokrotnie wieksze od wymiarów badanego elementu zródla swiatla,-to badany element zródla jest praktycznie zródlem punktowym. Wobec tego zrenica wejscio- 10 15 wa obiektywu wypelniona jest równomiernie swiat¬ lem badanego elementu powierzchni, a tym samym powierzchnia, na której utworzony jest obraz zreni¬ cy wejsciowej obiektywu jest oswietlona w sposób równomierny. Straty swiatla wynikle z ustawienia soczewki na drodze wiazki swietlnej sa rzedu 20°/o. PL PLPriority: Published: 13.11.1968 (P 125 213) 20.11.1971 KI. 42 h, 6/10 MKP G 02 b, 27/00 reading room; Inventor: Antoni Mank. Patent owner: Central Institute for Work Protection, Warsaw (Poland). Optical system of photoelectric measuring devices The subject of the invention is the optical system of photometric measuring devices used in photometry, colorimetry and spectrophotometry. optical photoelectric devices, the diaphragm with an opening limiting the angle of view of the device was placed at a constant distance from the radiation receiver, and the sharp image of the examined source on the transmission was obtained by moving the lens relative to the diaphragm. the image plane of the optical system changes its surface when the distance of the light source from the device changes, and when the luminance distribution of the light source is unevenly distributed, the cross-sections of the light beam behind the image plane also have an uneven distribution ad luminance. As a result of these disadvantages, the measurement may be burdened with a significant error resulting from uneven illumination of the radiation receiver, the use of series-parallel and parallel sets of correction filters is limited, allowing for an exact adjustment of the spectral sensitivity of the radiation receiver to the given curve, and due to measurement errors, the use of interference filter filters very suitable for use in portable spectrophotometers is limited. The previously used method of eliminating these drawbacks, consisting in placing the plate diffusing the light or the Ulbricht ball between the image plane of the optical system and the radiation receiver, caused a 10-30-fold reduction in the amount of light reaching the receiver. The system being the subject of the invention eliminates the above-mentioned drawbacks and errors and allows to obtain the illumination of the radiation receiver in a uniform manner, with no significant losses of light and on a solid surface, regardless of the uneven luminance distribution and the distance of the tested light source from the measuring device, thanks to the use of a diaphragm mounted slidably relative to the lens and a radiation receiver, and an additional lens between the shutter and the receiver. The optical system according to the invention uses a device for shifting the shutter and an additional lens, creating and imaging the input difference of the objective of the surface of the radiation receiver or another that is to be c illuminated uniformly and on a solid surface. The optical system consists of four main components: the lens 5, the device 1 shifting the diaphragms 2, the lenses 7 and the receiver 8. 6138961389 3 The device 1 shifts the diaphragms 2 with an opening 3 limiting the angle of view to the image plane 4 of the lens 5 in which it is located image of the tested light source 6. A beam of light passes through the opening 3 from the selected surface element of the source for examination and is focused by the lens 7 and on the surface of the radiation receiver 8. The mutual arrangement of the lens 5, lens 7 and receiver 8 is such that that the lens creates an image of the input difference of the lens on the receiver surface. Since the distances at which the light source is placed from the instrument's lens are always many times larger than the dimensions of the tested light source element, the tested source element is practically a point source. Thus, the lens entrance difference is uniformly filled with the light of the surface element to be tested, and thus the surface on which the entrance image of the lens is formed is uniformly illuminated. The light losses resulting from the positioning of the lens in the path of the light beam are in the order of 20 ° / o. PL PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie p a t entowe Uklad optyczny fotoelektrycznych przyrzadów pomiarowych zawierajacy obiektyw i przeslone ograniczajaca kat widzenia obiektywu znamienny tym, ze przeslona (2) ¦zamocowania jest przesuwnie wzgledem obiektywu (5) i odbiornika promienio¬ wania (8), przy czym pomiedzy przeslona (2) a odbiornikiem (8) umieszczona jes,t soczewka sku¬ piajaca (7). &^~~ LZGraf. Zam. 2059. 3.VIII.70. 220 PL PL1. Patent claim Optical system of photoelectric measuring instruments comprising a lens and a diaphragm limiting the angle of view of the lens, characterized in that the diaphragm (2) of the mount is movable with respect to the lens (5) and the radiation receiver (8), with the diaphragm (2 ) and the receiver (8) is placed this focusing lens (7). & ^ ~~ LZGraf. Order 2059. 3.VIII.70. 220 PL PL
PL125213A 1968-02-13 PL61389B1 (en)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL61389B1 true PL61389B1 (en) 1970-08-25

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3874799A (en) Method and apparatus for color spectrophotometry
CN102419473A (en) Imaging method and microscope device
ATE290686T1 (en) MULTIFOCAL HARTMAN PLATE WAVE FRONT SENSOR AND USE OF IT IN A LENS MEASURING DEVICE OR AN ACTIVE OPTICAL REFLECTION TELESCOPE
HK1045187A1 (en) System and method for calibrating a reflection imaging spectrophotometer
Dopita et al. Southern emission-line flux standards
GB1298658A (en) Photometer for measuring total radiant energy at selected angles
Beckers et al. High resolution spectroscopy of the disk chromosphere: I. Observing procedures
TW202426879A (en) Device and method for determining an image quality of at least one image for a subject
DE102007061213A1 (en) Arrangement for determining the reflectance of a sample
PL61389B1 (en)
RU2082952C1 (en) Device to calibrate optical radiometric instrument with use of light source
RU2570055C1 (en) Infrared catadioptric lens
Kuusk et al. Implication of illumination beam geometry on stray light and bandpass characteristics of diode array spectrometer
US1877501A (en) Trations
RU2282170C2 (en) Device for test of lenses
DE2719214A1 (en) Automatic camera focusing system - measures light received from object illuminated at two distances from illumination source
Shukla et al. A smartphone-based 3D printed prototype for polarized fluorescence collection from human cervix
SU1668922A1 (en) Determining transmission coefficient of objective
SU1191865A1 (en) Method of determining defocusing degree of optical system
US3246561A (en) Catoptric illumination means
SU1758447A1 (en) Method of measuring brightness of artificial extensive luminous formations in ionosphere
DE4405895C2 (en) Procedure for the calibration of non-imaging optical wide-angle probes
PL149381B2 (en) Measuring system for light transmittance measurements
SU1010525A1 (en) Photon photoelectric counter spectral sensitivity measuring method
Borra et al. Narrow-Band Photometry of Comet Bennett (1969 i)