PL60765B1 - - Google Patents

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 10.X.1970 60765 KI. 21 e, 19/04 MKP G Ol r, 19/04 CZYTELNIA rzedu Polentoli^ego Twórca wynalazku: Jacek Bialkowski Wlasciciel patentu: Instytut Badan Jadrowych, Warszawa (Polska) Wysokostabilny, jednokanalowy analizator amplitudy ze sprzeze¬ niem bezposrednim oraz ze skokowa regulacja czasu martwego Przedmiotem zgloszenia jest wysokostabilny, jed¬ nokanalowy analizator ze^ sprzezeniem bezposred* nim oraz ze skokowa regulacja czasu martwego.Jednokanalowe analizatory sa glównie stosowane do precyzyjnego wyboru czesci widma amplitudo¬ wego wyznaczonej wielkoscia dolnego progu i okna, okreslonego róznica dolnego i górnego progu, przy dowolnym natezeniu impulsów wejsciowych. W tym zakresie zastosowania analizatory jednokanalowe wykazuja jednak szereg niekorzystnych efektów prowadzacych do znieksztalconego odczytu widma amplitudowego, jak zmiana napiecia progu ze wzro¬ stem natezenia impulsów wejsciowych spowodowa¬ na istnieniem kondensatorowych sprzezen miedzy zespolami funkcjonalnymi w jednokanalowym ana¬ lizatorze, nieustalony, niekontrolowany czas martwy* urzadzenia powodujacy, ze analizator amplitudy reaguje w mniejszym stopniu, albo wogóle nie rea¬ guje na drugi impuls z pary impulsów wejsciowych, czego efektem jest niedokladne. wycinanie czesci widma okreslonej wielkoscia dolnego i górnego progu i zarejestrowanie pewnej ilosci blednych zliczen ponizej i powyzej szerokosci okna w zalez¬ nosci od ksztaltu impulsu wejsciowego. ** Znane jest równiez zjawisko wystepowania wiek¬ szego czasu martwego kanalu górnego od dolnego powodujace, ze po wprowadzeniu na wejscie znacznej ilosci impulsów, analizator przepuszcza niewielki procent widma powyzej górnego progu proporcjonalnie do ksztaltu widma i impulsów 2 wejsciowych, oraz zjawisko zmiany szerokosci okna w funkcji poziomu progu uniemozliwiajace zasto¬ sowanie analizatora jednokanalowego przy malych szerokosciach okien. 5 Celem wynalazku jest wyeliminowanie w jedno¬ kanalowym analizatorze amplitudy wyzej wymie¬ nionych wad.Cel ten zostal osiagniety przez zastosowanie dyskryminatorów dolnego i górnego progu pracu- io jacych w ukladach dwustabilnych polaczonych miedzy soba ukladem regulacji poziomów dyskry¬ minacji dostarczajacym precyzyjnie regulowanego napiecia progu dla dyskryminatora dolnego progu i sumy napiec progu i okna dla dyskryminatora 15 górnego progu. Przy czym po wprowadzeniu pierw¬ szego impulsu z pary impulsów wejsciowych dy- skryminator dolnego progu steruje dodatkowo uklad regulacji czasu martwego, który wysyla jed¬ noczesnie dwa impulsy sprowadzajace oba dyskry- 20 minatory dolnego i górnego progu do poczatkowego stanu dyskryminacji. Wyjscia glówne dyskrymina^ torów dolnego i górnego progu steruja uklady for¬ mowania impulsów standartowych oraz uklad antykoincydencji zakonczony ukladem formowania 25 impulsów wyjsciowych.Wysokostabilny jednokanalowy analizator ampli¬ tudy zostal uwidoczniony w przykladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat blokowy urzadzenia, fig. 2 schemat ideowy dyskry- 30 minatora progu dolnego i dyskryminatora progu. 6076560765 górnego, a fig. 3 schemat blokowy ukladu regulacji czasu martwego.Jednokanalowy analizator amplitudy wedlug wy¬ nalazku sklada sie z dyskryminatorów 4 dolnego i dyskryminatora 2 górnego progu, ukladu regulacji 3 poziomów dyskryminacji, ukladów 1, 5 formowa¬ nia impulsów standartowych, ukladu regulacji 6 czasu martwego, ukladu 7 antykoincydencji, ukladu 8 formowania impulsów wyjsciowych. Impulsy wejsciowe sa doprowadzone wejsciem bezposrednim lub kondensatorowym do dyskryminatorów 4 dol¬ nego i 2 górnego progu. Dyskryminacja odbywa sie na zlaczu emiter-baza tranzystora 10, przy czym baza tranzystora 10 jest polaczona na mase przez opornik 9, a potencjal emitera jest ustalany przez polaczenie go z emiterem tranzystora 13 pracuja¬ cego w ukladzie wtórnika emiterowego.Jako element progowy zastosowano diode 12 tune¬ lowa, która spolaryzowana przepustowo przez opornik 11 i zalaczona w kolektor tranzystora 10 pracuje w rezimie ukladu dwustabilnego. Przy wprowadzeniu na baze tranzystora 10 impulsu wejsciowego przekraczajacego potencjal emitera tranzystora 13 wtórnika emiterowego, w kolektorze tranzystora 10 pojawia sie ujemny impuls odtyka- jacy, który przelacza diode 12 tunelowa z poczatko¬ wego stanu dyskryminacji w drugi stan.Standartowy impuls wyjsciowy z dyskryminato¬ ra 4 dolnego progu jest podawany na wejscie wyzwalajace ukladu regulacji 6 czasu martwego, zakonczone ukladem separujacym 14, z którego im¬ pulsy sa podawane na linie opózniajaca w postaci conajmniej dwu odcinków 15, 16 zalaczanych prze¬ miennie przelacznikiem 17. Opóznione proporcjo¬ nalnie do dlugosci linii opózniajacej impulsy sa podawane równolegle na uklady przelaczajace 18, 19, a nastepnie jednoczesnie na wejscia stanów dyskryminacji obu dyskryminatorów 4 górnego i 2 dolnego progu, doprowadzajac diode 12 tunelowa do poczatkowego stanu dyskryminacji, co zapewnia jednoczesne przygotowanie dyskryminatorów do przyjecia nastepnego impulsu z pary impulsów wejsciowych.Ustalenie czasu martwego na wartosc wieksza od pelnej dlugosci impulsu wejsciowego pozwala na unikniecia efektu zsumowania impulsów wejscio¬ wych i likwiduje bledne zliczenia powyzej i ponizej szerokosci okna. Dyskryminatory 2 górnego i 4 dol¬ nego progu sa polaczone miedzy soba ukladem re¬ gulacji 3 poziomów dyskryminacji dostarczajacym precyzyjnie ustalonego napiecia na baze tranzystora 13 wtórnika emiterowego w dwu stopniach dyskry¬ minatorów, przy czym dostarczane jest stale napie¬ cie progu do dyskryminatora 4 dolnego progu i na¬ piecie sumy progu i okna do dyskryminatora 2 gór¬ nego progu.Impulsy z wyjsc glównych obu dyskryminatorów sa podawane bezposrednio do ukladu antykoincy¬ dencji 7, który daje impuls wyjsciowy w przypadku podania na jego wejscie tylko impulsy z dyskry¬ minatora 4 dolnego progu, a nie daje impulsu wyjsciowego w przypadku jednoczesnego podania na wejscie impulsów z obu dyskryminatorów.W jednokanalowym analizatorze amplitudy wedlug5 wynalazku zostal wyeliminowany efekt zmiany progów dolnego i górnego w funkcji natezenia im¬ pulsów wejsciowych przez zastosowanie galwanicz- 5 nych sprzezen miedzystopniowych, zjawisko reago¬ wania analizatora z wieksza czuloscia na pierwszy impuls z pary impulsów wejsciowych, przez zasta¬ pienie jednostabilnych ukladów dyskryminacji ukladami dwustabilnymi. 10 Wprowadzenie ustalonego skokowego czasu mart¬ wego analizatora wyeliminowalo mozliwosc bled¬ nych zliczen powyzej i ponizej szerokosci okna jednokanalowego analizatora, przy czym wiekszy czas martwy górnego progu od dolnego jest nie- 15 mozliwy, poniewaz obydwa uklady dyskryminacji sa przygotowane jednoczesnie do przyjecia pary im¬ pulsów. Utrzymanie stalej szerokosci okna w funk¬ cji zmiany progu analizatora zostalo zrealizowane przez dostarczenie precyzyjnie ustalonych poziomów 20 dyskryminacji t.j. napiecia progu, do dyskrymina¬ tora dolnego progu i sumy napiec progu i okna dyskryminatora górnego progu. 25 PL PL

Claims (3)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Wysokostabilny, jednokanalowy analizator am¬ plitudy ze sprzezeniem bezposrednim oraz ze sko¬ kowa regulacja czasu martwego znamienny lym, ze dyskryminator (4) dolnego progu i dyskryminator 30 (2) górnego progu sa polaczone miedzy soba ukla¬ dami regulacji (3) poziomów dyskryminacji i sa wyposazone w bezposrednie wejscie dla pradu stalego impulsów wejsciowych oraz w wejscia sta¬ nów dyskryminacji, które sa polaczone bezposred- 35 nio z wyjsciami opózniajacymi ukladu regulacji (6) czasu martwego, przy czym dodatkowe wyjscie dyskryminatora (4) progu dolnego jest polaczone z wejsciem wyzwalajacym ukladu regulacji (6) cza¬ su martwego, a wyjscia glówne dyskryminatora (4 40 dolnego progu i dyskryminatora (2) górnego progu sa polaczone bezposrednio z wejsciem ukladu anty¬ koincydencji (7) oraz z ukladami formowania (1 i (5) impulsów standartowych.

2. Wysokostabilny, jednokanalowy analizator am- 45 plitudy wedlug zastrz. 1 znamienny tym, ze w dy- skryminatorach górnego i dolnego progu wejscie na baze tranzystora (10) dyskryminujacego, jest polaczone na mase przez opornik (9), a emiter tran¬ zystora (10) jest polaczony z emiterem tranzystora 50 (13) wtórnika emiterowego, przy czym kolektor tranzystora (10) dyskryminujacego jest polaczony z katoda diody (12) tunelowej, zalaczonej w obwód wyjsciowy dodatniego napiecia zasilania przez opornik (11). 55

3. Wysokostabilny, jednokanalowy analizator am¬ plitudy wedlug zastrz. 1, 2 znamienny tym, ze w ukladzie regulacji (6) czasu martwego opornosc obciazenia separatora (14) stanowi Unia* opózniajaca w postaci conajmniej dwu odcinków (15) i (16) za- 60 laczonych przemiennie przelacznikiem (17) na wejs¬ cia ukladów (18), (19) przelaczajacych, zakonczonych wyjsciami opózniajacymi na dyskryminatory (4) dolnego i (2) górnego progu.KI. 21 e, 19/04 60765 MKP G 01 r, 19/04 tif II 1 * II T sf 1 WE 1 Z i L 3 1 r 1 * ^ i wy ^JL —•- i i i ? f 5 L 6 W 7 -+— a Ljl % 7 *(£* -*+ W£ /* *—I- 10 13 0 M — H9- 2KI. 21 e, 19/04 60765 MKP G 01 r, 19/04 od bloku A 1S_ 17 2ZSZZL do bloku 4 16 do bloku 2 1*9 3 1747 - LDA - 26.5.70 - 230 egz. PL PL