PL60588B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL60588B1
PL60588B1 PL128928A PL12892868A PL60588B1 PL 60588 B1 PL60588 B1 PL 60588B1 PL 128928 A PL128928 A PL 128928A PL 12892868 A PL12892868 A PL 12892868A PL 60588 B1 PL60588 B1 PL 60588B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
layer
thin
metal
dielectric
insulating substrate
Prior art date
Application number
PL128928A
Other languages
English (en)
Inventor
Baranska Elzbieta
Licznerski Benedykt
Original Assignee
Politechnika Wroclawska
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Wroclawska filed Critical Politechnika Wroclawska
Publication of PL60588B1 publication Critical patent/PL60588B1/pl

Links

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 15.X.1970. 60588 KI. 21 g, 11/02 MKP H 011,19/00 Wspóltwórcy wynalazku: Elzbieta Baranska, Benedykt Licznerski Wlasciciel patentu: Politechnika Wroclawska, Wroclaw (Polska) Sposób wytwarzania cienkowarstwowych nieliniowych struktur oporowo-pojemnosciowych Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwarzania cienkowarstwowych nieliniowych struktur oporowo- pojemnosciowych majacych zastosowanie zwlaszcza przy realizacji cienkowarstwowych ukladów scalo¬ nych. 5 Dotychczas znany jest sposób wytwarzania cienko¬ warstwowych elementów dyskretnych. Opornikiem jest cienka warstwa metalu lub stopu metali nalozo¬ nych droga naparowywania lub napylania na pod¬ loze izolacyjne. Kondensatorem jest trójwarstwowa io -struktura otrzymana przez kolejne nakladanie war¬ stwy metalicznej, dielektrycznej i metalicznej. Zna¬ ne sa tez liniowe struktury oporowe — pojemnoscio¬ we, w których elektrody maja dobrana opornosc Stosowane sa one przede wszystkim jako filtry. Od- 15 czuwa sie brak elementów nieliniowych, które mo¬ zna zastosowac do stabilizacji lub regulacji napiec i pradów w obwodach elektrycznych wykonanych technika cienkowarstwowa.Celem wynalazku jest wytwarzanie cienkowar- 20 jstwowych elementów lub podzespolów elektrycz¬ nych, których opornosc i pojemnosc zmieniaja swo¬ ja wartosc zaleznie od wartosci przylozonego napie¬ cia stalego i zmiennego, zas zadaniem wynalazku jest opracowanie sposobu wytwarzania tych elemen- 25 tów i podzespolów.Zadanie to zostalo rozwiazane przez nalozenie dro¬ ga naparowywania lub napylania w prózni na pod¬ loze izolacyjne cienkiej warstwy oporowej, na która nalozono nastepnie cienka warstwe izolujaca zawie- 30 rajaca mniej niz 20% metalu (lub mieszaniny meta¬ li) dobieranego wagowo. Warstwe taka otrzymano przez naparowanie lub napylenie mieszaniny lub spieków proszków metali i dielektryka. Wreszcie na¬ klada sie trzecia warstwe o okreslonej przewodnos¬ ci.Przedmiot wynalazku jest wyjasniony na przy¬ kladzie wykonania. Na podloze izolacyjne ze szkla nalozono droga prózniowego naparowywania, przez odpowiednie maskownice cienka warstwe alumi¬ nium o grubosci okolo 2000A. Nastepnie na te warst¬ we naniesiono warstwe izolacyjna przez eksplozyj¬ ne odparowanie mieszaniny proszków jednotlenku krzemu SiO i chromu Cr (5°/o wagowo). Grubosc warstwy izolacyjnej wynosi okolo 4000 A. Pózniej naparowano jeszcze raz cienka warstwa aluminium o grubosci okolo 1000 A. Dla umozliwienia wykona¬ nia doprowadzen (lutowanych lub zgrzewnych) do elektrod aluminiowych, naparowuje sie warstwa kontaktowe — warstwe zlota o grubosci okolo 3000 A na podlozowa warstwe chromu o grubosci okolo 100 A.Wynalazek jest dodatkowo objasniony na rysun¬ ku, na którym fig. 1 przedstawia w sposób schema¬ tyczny budowe tak otrzymanej struktury trójwar¬ stwowej, fig. 2 charakterystyke pradowo-napiecio- wa a fig. 3 charakterystyke pojemnosciowa.Przedstawiona budowa trójwarstwowej struktury sklada sie z izolacyjnego podloza 1, cienkiej war¬ stwy aluminium 2, cienkiej warstwy izolacyjnej 6058860588 (SiO + 5°/o Cr) 3 oraz cienkiej warstwy alumi¬ nium 4.Charakterystyka pradowo-napieciowa przedsta¬ wia zmiane pradu stalego I_wyrazonego w miliam- perach (mA) plynacego przez strukture pod wply¬ wem napiecia stalego U_wyrazonego w voltach (V) Dodatnie wartosci napiecia U_oznaczaja dodatnia polaryzacje elektrody górnej, ujemne wartosci na¬ piecia U__ oznaczaja dodatnia polaryzacje elektrody dolnej. Charakterystyka pojemnosciowa przedsta¬ wia zmiane pojemnosci C wyrazonej w nanofara- dach (nF)przy stalym napieciu polaryzacyjnym U_ i malym napieciu zmiennym. Charakterystyka jest symetryczna, pojemnosc nie zalezy od polaryzacji elektrod.Drugim przykladem wykonania jest czwórnik o. wlasnosciach stabilizujacych napiecie stale. Na podloze izolacyjne ze szkla naparowano cienka warstwe chromu o grubosci okolo 200 A. Nastepnie na warstwe te naniesiono warstwe izolacyjna przez eksplozywne odparowanie mieszaniny proszków jednotlenku krzemu i chromu (5°/o wagowo). Gru¬ bosc warstwy izolacyjnej wynosi okolo 4000 A. Póz¬ niej naparowano cienka warstwe aluminium o gru¬ bosci okolo 1000 A. Dla umozliwienia wykonania wyprowadzen naparowano na konce elektrod war¬ stwy kontaktowe, najpierw chrom a nastepnie zlo- 5 to o grubosciach odpowiednio 100 A, i 3000 A.Zasadnicza korzyscia techniczna wynikajaca ze stosowania sposobu wedlug wynalazku jest otrzy¬ mywanie elementów o nieliniowej charakterystyce I (U) technika cienkowarstwowa. * 10 PL PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób wytwarzania cienkowarstwowych nieli- 15 niowych struktur oporowo-pojemnosciowych, zna¬ mienny tym, ze na izolacyjne podloze (1) naklada sie kolejno cienka warstwe (2) o dobranej oporno¬ sci, warstwa izolujaca (3) zawierajaca mniej niz 20% wagowo metalu lub mieszaniny metali otrzy- 20 manyeh przez naparowanie mieszaniny lub spieków proszków metali i dielektryka, lub równoczesne napylenie metali i dielektryka a nastepnie naklada sie cienka warstwe (4) o dobranej opornosci.KI. 21 g, 11/02 60588 MKP H 01 1, 19/00 K^^S^^S^^^ \/I//},»»lJ»/// » T7777A H y l fi tl fi " // F,9.1 U Lvi fy 2 ¦ Fi9.3 PL PL
PL128928A 1968-09-05 PL60588B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL60588B1 true PL60588B1 (pl) 1970-06-25

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Spear et al. Investigation of the localised state distribution in amorphous Si films
Anderson The work function of copper
US4454495A (en) Layered ultra-thin coherent structures used as electrical resistors having low temperature coefficient of resistivity
Tiller et al. The electrostatic contribution in heterogeneous nucleation theory: pure liquids
Celasco et al. Electrical conduction and current noise mechanism in discontinuous metal films. I. Theoretical
US3607384A (en) Thin-film resistors having positive resistivity profiles
Schumacher et al. Electrical conduction in superimposed metal films
US2899345A (en) Method of making titanium dioxide capacitors
EP0210033A1 (en) Dielectric thin films
Jonscher et al. Poole-Frenkel conduction in high alternating electric fields
PL60588B1 (pl)
Hughes et al. Electrical conduction in reactively sputtered tantalum oxide thin films
Hebard et al. Interface contribution to the capacitance of thin‐film Al‐Al2O3‐Al trilayer structures
US2558172A (en) High-voltage electrolytic charge storing cell
Morris Structure and electrical properties of Au-SiO thin film cermets
Nishikawa et al. Field emission and field ion microscope study of Ga, In and Sn on W: Structure, work function, diffusion and binding energy
GB1010575A (en) Thin film structures
US3809627A (en) Anodized cermet film components and their manufacture
Agarwal et al. Thickness dependent studies of dielectric breakdown in Langmuir thin molecular films
US3293085A (en) Electrically resistive barrier films and elements embodying the same
US3786323A (en) Capacitor with anodized electrode of tantalum silicon alloy
Mangalaraj et al. Electrical conduction and breakdown properties of silicon nitride films
Gupta et al. Measurement of the work function of some metals using internal voltage in MIM structures
US3585414A (en) Continuously tunable varactor
De Wilde et al. Study of low-frequency relaxation phenomena in thin-film capacitors