PL59145B1 - - Google Patents

Description

Wada ukladów z selektywnym niskoomowym woltomierzem jest to, ze stosowanie czwórnika biernego laczy sie z tlumieniem napiecia, natomiast wzmacniacz o podstawie anodowej nie zapewnia stabilnej pra- 20 cy przy impedancji wewnetrznej zródla o charak¬ terze indywidualnym.Celem wynalazku jest uklad do pomiaru napie¬ cia wielkiej czestotliwosci zródel o duzej impedan¬ cji wewnetrznej i o dowolnym jej charakterze, zas 25 zadaniem wynalazku jest opracowanie ukladu elek¬ trycznego do osiagniecia tego celu.Cel ten zostal osiagniety w ten sposób, ze na wejsciu ukladu zastosowano wzmacniacz o duzej impedancji wejsciowej obciazony bezposrednio 30 opornoscia wejsciowa niskoomowego woltomierza poprzez kabel koncentryczny o dowolnej dlugosci.Zasadnicza korzyscia techniczna wynikajaca ze stosowania ukladu wedlug wynalazku jest umozli¬ wienie pomiaru malych napiec wielkiej czestotli¬ wosci zródel o duzej impedancji wewnetrznej i o dowolnym jej charakterze indukcyjnym. Na¬ stepna krzyscia jest to, ze uklad wedlug wynalaz¬ ku moze byc wykonany w postaci sondy polaczo¬ nej z selektywnym woltomierzem o wejsciu nisko¬ omowym za pomoca kabla koncentrycznego o do¬ wolnej dlugosci.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przy¬ kladzie wykonania na rysunku.Uklad do pomiaru napiecia wielkiej czestotli¬ wosci zródel, zwlaszcza o duzej impedancji we¬ wnetrznej, stanowi wzmacniacz I o duzej opornosci wejsciowej polaczony poprzez koncentryczny kabel II z niskoomowym woltomierzem III, stanowiacym selektywny miernik zaklócen. Wzmacniacz I jest wykonany na pentodzie 2, pracujacej o podstawie katodowej. Obciazenie pentody 2 dla wielkiej cze¬ stotliwosci stanowi opornosc wejsciowa 3 miernika zaklócen III.Dzialanie ukladu do pomiaru napiecia wielkiej czestotliwosci wedlug wynalazku jest nastepujace.Mierzone na równoleglym obwodzie rezonanso¬ wym 1 napiecie jest podawane na wejscie wzmac¬ niacza I. Przy dopasowaniu opornosci wejsciowej 3 miernika zaklócen III do opornosci falowej kon- 5914559145 centrycznego kabla II, obciazenie wzmacniacza I stanowi bezposrednio opornosc wejsciowa 3 mier¬ nika zaklócen III.Mechanicznie wzmacniacz I jest wykonany jako sonda polaczona kablem koncetrycznym II z mier¬ nikiem zaklócen III. Przy zastosowaniu pentody 2 o duzym nachyleniu wzmocnienie napieciowe wzmacniacza I jest wieksze od jednosci. Dzieki wzmocnieniu napieciowemu wzmacniacza I uklad pozwala mierzyc male napiecie wielkiej czestotli¬ wosci. Impedancja wejsciowa wzmacniacza I jest duza, bowiem sklada sie na nia równolegle po¬ laczenie opornika siatkowego i pojemnosc wejscio¬ wa lampy 2. Duza impedancja wejsciowa wzmac¬ niacza I umozliwia pomiar napiec zródel o duzej impedancji wewnetrznej.Dzieki malej opornosci obciazenia, pasmo prze¬ noszenia czestotliwosci wzmacniacza I jest bardzo 10 15 szerokie, przy czym wzmacniacz I pracuje stabilnie równiez przy indukcyjnym charakterze impedancji wewnetrznej zródla napiecia wielkiej czestotliwos¬ ci. Wzmacniacz I sluzy przede wszystkim do tran¬ sformacji opornosci, bowiem jego impedancja wej¬ sciowa jest duza, natomiast opornosc wyjsciowa obciazajacego wzmacniacza jest mala. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Uklad do pomiaru napiecia wielkiej czestotli¬ wosci zródel, zwlaszcza o duzej impedancji we¬ wnetrznej, znamienny tym, ze na wejsciu ukladu ma wzmacniacz (I) o duzej opornosci wejsciowej obciazony bezposrednio opornoscia wejsciowa nis- koomowego woltomierza (III) poprzez koncentrycz¬ ny kabel (II) o dowolnej dlugosci. PZG w Pab., zam. 1492-69, nakl. 230 egz. PL