PL58741B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL58741B1
PL58741B1 PL116060A PL11606066A PL58741B1 PL 58741 B1 PL58741 B1 PL 58741B1 PL 116060 A PL116060 A PL 116060A PL 11606066 A PL11606066 A PL 11606066A PL 58741 B1 PL58741 B1 PL 58741B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
thermocouples
sample
voltage
power supply
recorder
Prior art date
Application number
PL116060A
Other languages
English (en)
Inventor
inz. Stanislaw Banel mgr
inz. AndrzejKolaczkowski mgr
Original Assignee
Politechnika Wroclawska
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Wroclawska filed Critical Politechnika Wroclawska
Publication of PL58741B1 publication Critical patent/PL58741B1/pl

Links

Description

Pierwszenstwo: Opublikowano: 1Ó.XII.1969 58741 KI. 42 1,3/07 MKP G01n; 267-2^ UKD Wspóltwórcy wynalazku: mgr inz. Stanislaw Banel, mgr inz. Andrzej Kolaczkowski Wlasciciel patentu: Politechnika Wroclawska, Wroclaw (Polska) Urzadzenie do przeprowadzania termicznych analiz róznicowych Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do prze¬ prowadzania szybkich termicznych analiz rózni¬ cowych malych ilosci substancji.Dotychczas znane urzadzenia do termicznych analiz róznicowych posiadaja szereg wad, do któ¬ rych nalezy zaliczyc koniecznosc stosowania du¬ zych próbek badanej substancji, dlugi czas trwa¬ nia pomiaru, duze gabaryty urzadzenia, utrudnio¬ na obserwacje mikroskopowa próbki podczas ana¬ lizy oraz duza moc urzadzen zasilajacych. Wady te wynikaja stad, ze celem ogrzania próbki umieszcza sie ja w tyglu zainstalowanym wew¬ natrz pieca ogrzewanego energia elektryczna.Temperature próbki mierzy sie przy pomocy termopary umieszczonej w tyglu. Metoda, która pozwala na szybkie ogrzewanie i pomiar tempe¬ ratury malych ilosci substancji jest wykorzysta¬ nie termopary pomiarowej do równoczesnego ogrzewania umieszczonej na niej próbki. Termo- pare ogrzewa sie przepuszczajac przez nia prad elektryczny. Znane jest urzadzenie do mikrosko¬ powego badania zjawisk wysokotemperaturowych oparte na tej metodzie, nie znane jest natomiast urzadzenie do termicznej analizy róznicowej gdzie przeprowadza sie pomiar temperatury próbki i róznicy temperatur miedzy próbka badana a ukladem odniesienia z wykorzystaniem dwu ter- mopar polaczonych róznicowo.Celem wynalazku jest zbudowanie urzadzenia do termicznej analizy róznicowej umozliwiajacego przeprowadzenie szybkich analiz malych ilosci substancji pozbawionego wad posiadanych przez dotychczas znane urzadzenia.Cel ten zostal osiagniety przez wykorzystanie 5 róznicowo polaczonych termopar sluzacych do po¬ miaru temperatury próbki, róznicy temperatur a równiez do podgrzewania umieszczonych na nich substancji przez przepuszczanie pradu elektrycz¬ nego przez róznicowo polaczone termopary. io Tak zbudowane urzadzenie pozwala na wykony¬ wanie termicznych analiz róznicowych bardzo ma¬ lych ilosci substancji w krótkim czasie ograniczo¬ nym pojemnoscia cieplna termopar pomiarowych.Niewielkie gabaryty pojemnika z termoparami 15 pomiarowymi pozwalaja na dogodna obserwacje mikroskopowa badanej próbki w czasie analizy oraz ulatwiaja wykonywanie analiz zarówno w prózni jak i dowolnej atmosferze gazowej. Krótki czas trwania analizy umozliwia badanie substancji, 20 których ze wzgledu na latwosc ich rozpadu nie mozna badac przy pomocy dotychczas znanych urzadzen. Mala moc zasilania oraz niewielkie ga¬ baryty nadaja temu urzadzeniu cechy aparatu przenosnego, czego nie mozna powiedziec o do¬ tychczas znanych urzadzeniach.Wynalazek zostanie blizej objasniony na przy¬ kladach wykonania przedstawionych na, rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat ideowy urzadzenia wedlug wynalazku w przypadku uzy- 30 cia do podgrzewania termopar pradu elektryczne- 25 5874158741 3 go o czestotliwosci sieci energetycznej, a fig. 2 przedstawia schemat ideowy urzadzenia w przy¬ padku wykorzystania pradu o podwyzszonej cze¬ stotliwosci.Urzadzenie do przeprowadzania analiz róznico¬ wych, którego przyklad wykonania przedstawiono na fig. 1 sklada sie z ukladu programowego 1 za¬ silania termopar pomiarowych 3 i 4 umieszczo¬ nych w pojemniku 2, przekazników polaryzowa¬ nych 5, 6, 7, (L, M, K) których zestyki 1 i m slu¬ za do wlaczania termopar 3 i 4 na wejsciu re¬ jestratora 10, a zestyk k sluzy do zwierania pra¬ du diody 9 plynacego w kierunku zaporowym, diod 8 i 9 wlaczonych w obwód zasilania termo¬ par 3 i 4 oraz rejestratora 10. Do zasilania uzwo¬ jen przekazników polaryzowanych sluzy zasi¬ lacz 11.Urzadzenie do przeprowadzania analiz róznico¬ wych, którego przyklad wykonania przedstawiono na fig. 1 dziala w nastepujacy sposób: W wyni¬ ku podania napiecia z sieci na wejsciu ukladu programowego 1 zasilania termopar pradem elek¬ trycznym, na jego wyjsciu, miedzy punktami A i B pojawia sie napiecie U o ksztalcie w przy¬ blizeniu sinusoidalnie zmiennym.Przebieg amplitudy tego napiecia w czasie jest zadany wedlug programu, którego realizacja od¬ bywa sie jednym ze znanych sposobów. Pojawie¬ nie sie sinusoidalnie zmiennego napiecia U mie¬ dzy punktami A i B powoduje przeplyw pradu elektrycznego w obwodzie: dioda 8, termopary 3 i 4, dioda 9 dla dodatniego pólokresu napiecia U.Prad plynacy w dodatnim pólokresie napiecia U nagrzewajac róznicowo polaczone termopary 3 i 4 podgrzewa umieszczone na nich substancje. Zesty¬ ki k, 1, m przekazników polaryzowanych 5, 6, 7 sa wtedy rozwarte.W ujemnym pólokresie napiecia U zestyki prze¬ kazników polaryzowanych 5, 6, 7 zmieniaja swój stan na przeciwny, w wyniku czego prad diody 9 poplynie w kierunku zaporowym przez zestyk k, a na wejscie rejestratora 10 zostanie podana przez zestyk 1 SEM termopary 3 i przez zestyk m róz¬ nica SEM termopar 3 i 4. Dzieki zastosowaniu przekaznika polaryzowanego 7, którego zestyk k jest zwierany w ujemnych pólokresach napiecia U, prad wsteczny diody 9 nie zaklóca pomiaru SEM termopar.Dioda 9 w chwili pomiaru SEM przedstawia so¬ ba opornosc rzeczywista polaczona równolegle z róznicowo polaczonymi termoparami. Wlasciwe momenty wlaczania sie styków przekazników 5, 6, 7 zapewnia zasilacz 11 wytwarzajacy napiecie zmienne do zasilania glównych uzwojen przekaz¬ ników i napiecie stale na uzwojenia polaryzacyj¬ ne. 4 Zamiast przekazników polaryzowanych mozna zastosowac klucze tranzystorowe sterowane napie¬ ciem zasilania. Zadany programowo wzrost ampli¬ tudy napiecia U w czasie powoduje nagrzewanie 5 sie termopar z umieszczonymi na nich substancja¬ mi. Powstajace przy tym termiczne efekty rózni¬ cowe rejestrowane sa przez rejestrator 10 którym moze byc dwukanalowy rejestrator typu Y, t lub X, Y. io Urzadzenie do przeprowadzania analiz róznico¬ wych, którego przyklad wykonania przedstawio¬ no na fig. 2 sklada sie z generatora pradu 12 o podwyzszonej czestotliwosci i amplitudzie drgan programowo zmieniajacej sie w czasie, zasilaja- 15 cego róznicowo polaczone termopary pomiarowe 3 i 4 umieszczone w pojemniku 2, oraz rejestra¬ tora 10 z filtrem dolnoprzepustowym 13, polaczo¬ nego z termoparami 3 i 4.Urzadzenie do przeprowadzania termicznych 20 analiz róznicowych, którego przyklad wykonania przedstawiono na fig. 2 dziala w nastepujacy spo¬ sób. Prad elektryczny o podwyzszonej czestotli¬ wosci wytwarzany przez generator 12 przeplywa¬ jac przez róznicowo polaczone termopary 3 i 4 25 powoduje ich nagrzewanie sie i powstawanie SEM.Termopary 3 i 4 polaczone sa z rejestratorem 10 za posrednictwem filtru dolnoprzepustowego 13, który przepuszcza jedynie wolnozmienne sygnaly pomiarowe w postaci SEM termopary 3 i róznf- 30 cy SEM termopar 3 i 4, a odcina droge dla pradu zasilajacego termopary. Termiczne efekty róznico¬ we rejestrowane sa przez rejestrator 10. 35 PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Urzadzenie do przeprowadzania termicznych analiz róznicowych, znamienne tym, ze termo¬ pary pomiarowe (3) i (4) polaczone sa z ukla- 40 dem zasilania (1) bezposrednio lub poprzez ele¬ menty prostownicze (8) i (9) a pomiar tempe¬ ratury badanej próbki i róznicy temperatur pomiedzy próbka a ukladem odniesienia odby¬ wa sie przy pomocy rejestratora (10) polaczo- 45 nego z ukladem termopar poprzez filtr dolno- przepustowy (13) lub poprzez zestyki (1) i (m) przekazników polaryzowanych, badz inne ele¬ menty kluczujace przy czym uklad zasilania (1) polaczony jest z zasilaczem (11) sluzacym do 50 sterowania (przekazników (1), (m) i (k) badz elementów kluczujacych.
  2. 2. Urzadzenie wedlug zastrz. 1 znamienne tym, ze pomiedzy diodami (8) i (9) wlaczony jest ele¬ ment kluczujacy, który ma zastosowany prze- 55 kaznik polaryzowany lub tranzystor.KI. 42 1, 3/07 58741 MKP G 01 n O 9 H X- w A/ K < c. . TT ML ± 12 f/a 1 < o s X /J ^ fig. 2 PL
PL116060A 1966-08-11 PL58741B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL58741B1 true PL58741B1 (pl) 1969-08-25

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Buist Methodology for testing thermoelectric materials and devices
GB1534280A (en) Method and apparatus for testing thermocouples
KR900013305A (ko) 가스의 열전도도 측정 방법 및 장치
Bill Jr et al. The transition of plane plumes
PL58741B1 (pl)
US2342029A (en) Method of and means for testing conducting materials by comparison
CN114894320A (zh) 热电堆红外传感器热学参数自测试方法、装置及系统
US1291409A (en) Method of determining melting-points.
Green et al. Measurement of thermal diffusivity of semiconductors by Ångström's method
CN104375015B (zh) 一种交流磁电输运测量系统
Abouellail et al. Research of thermocouple electrical characteristics
Sasaki et al. Transient thermoelectric effects in intercalation compounds M x TiS2 (M= 3d transition metals)
Haucke et al. Phase space analysis of convection in a 3He-superfluid 4He solution
Abou El Ela et al. Dielectric relaxation and AC conduction of an AgTlSe2 semiconductor in the solid and liquid states
RU2716875C1 (ru) Ячейка для исследования высокотемпературной проводимости твердых веществ
SU129698A1 (ru) Аппарат дл испытани контактных материалов на приваривание
Bogod et al. Nonlinear properties of bismuth whisker crystals under phonon generation conditions
CEZAIRLIYAN Measurement of the heat capacity of graphite in the range 1500 to 3000 K by a pulse heating method
JPS5458493A (en) Phase transition temperature measuring apparatus
SU911277A1 (ru) Устройство дл измерени теплопроводности и температуропроводности материалов
SU120022A1 (ru) Способ определени количества теплоты, выдел емой при многократном раст гивании нити, например, корда и прибор дл осуществлени этого способа
Miyazaki et al. DC current distribution mapping system of the solar panels using a HTS-SQUID gradiometer
JP2002131260A (ja) 半導体材料の熱電特性評価方法および評価装置
Vargas et al. First-order behavior of the 209 K phase transition of RbAg4I5
US1726182A (en) Manfred j