PL57883B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano: 30.VIII.1969 57883 KI. 42 k, 45/02 MKP G 01 1 HlM UKD Wspóltwórcy wynalazku: mgr inz. Ewa Kochan, mgr inz. Marian Sta¬ chowicz Wlasciciel patentu: Akademia Górniczo-Hutnicza (Katedra Maszyn Hut¬ niczych), Kraków (Polska) Model do badan elastooptycznych Przedmiotem wynalazku jest model do badan elastooptycznych, sluzacy do okreslania metoda siatki odksztalcen, wartosci i kierunków naprezen, oraz linii plyniecia materialów modelowych, o nis¬ kiej wartosci modulu sprezystosci Younga.Znana metoda siatki odksztalcen polega na okreslaniu wartosci i kierunków naprezen, wy¬ stepujacych w odksztalcanym materiale modelo¬ wym na podstawie odksztalcen siatki wykonanej na jego powierzchni. Metoda ta ma szerokie za¬ stosowanie przy badaniach modelowych na ma¬ terialach o wyzszych wartosciach modulu spre¬ zystosci, na przyklad na pleksiglasie lub utwardzo¬ nych zywicach epoksydowych, na których siatke rysuje sie bezposredno na ich powierzchni. Ma¬ terialy takie nie sa dostatecznie plastyczne, by mozna bylo przy ich uzyciu modelowac procesy przeróbki plastycznej.Badania modelowe procesów przeróbki plastycz¬ nej metali przeprowadza sie przy uzyciu elasto¬ optycznych materialów o niskiej wartosci modulu Younga takich jak zele, mydla glicerynowe, zy¬ wice epoksydowe i inne. Wlasnosci tych materia¬ lów uniemozliwiaja naniesienie na ich powierzch¬ nie siatki odksztalcen stosowanymi dotychczas me¬ todami. Poniewaz badania elastooptyczne sa nie¬ wystarczajace do okreslenia calkowitego stanu na¬ prezen w modelu obciazanym na calej powierzch¬ ni, jak to ma miejsce na przyklad podczas walco¬ wania w kalibrach, istnieje potrzeba uzupelnienia obrazu stanu naprezen w badanych materiale mo¬ delowym, przez zastosowanie metody siatki od- 5 ksztalcen.Zadanie to rozwiazuje model do badan elasto¬ optycznych wedlug wynalazku, wykonany z ma¬ terialu o niskiej wartosci modulu m sprezystosci, który na powierzchni ma naniesiona metoda kse- 10 rograficzna siatke odksztalcen dowolnego typu.Model do badan elastooptycznych wedlug wy¬ nalazku, sporzadza sie w ten sposób, ze z ma¬ terialu modelowego, na przyklad zelu zelatynowo- -glicerynowego wykonuje sie wykrój dowolnego ksztaltu. Na wykroju umieszcza sie kserograficzna matryce, zaopatrzona w rysunek siatki odksztalcen.Nastepnie uzyskany rysunek siatki utrwala sie przez dzialanie na model parami trójchloroetylenu 20 technicznego przez 1—3 minut. Model z utrwalo¬ nym rysunkiem poddaje sie dzialaniu obciazen, w wyniku których siatka doznaje odksztalcen, identycznych jak material modelowy.Model do badan elastooptycznych wedlug wy¬ nalazku jest wygodny w uzyciu i umozliwia za¬ stosowanie metody siatki odksztalcen do badan modelowych na materialach, o malej sprezystosci, a przez to okreslenie calkowitego stanu naprezen ,0 w odksztalcanym modelu. 15 25 5788357883 3 4 PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe z materialu o malej wartosci modulu sprezystosci, Model do badan elastooptycznych metoda siat- a siatke odksztalcen dowolnego typu na pó¬ ki odksztalcen, znamienny tym, ze jest wykonany wierzchni ma naniesiona metoda kserograficzna. WDA-l. Zam. 2890. naklad 220 egz. PL