Pierwszenstwo: Opublikowano: 30. VIII. 1969 57876 m, 5Ja KI. •#er»*« MKP_-tTTFTr \im *») ty\A UKD Twórca wynalazku: mgr inz. Antoni Sitek Wlasciciel patentu: Wroclawskie Zaklady Elektroniczne „Elwro", Wro¬ claw (Polska) Sposób laboratoryjnego pomiaru znieksztalcen obrazu telewizyjnego wywolanych przez zespól cewek odchylajacych Przedmiotem wynalazku jest sposób laborato¬ ryjnego pomiaru znieksztalcen obrazu telewizyjne¬ go, wywolanych przez zespól cewek odchylaja¬ cych na ekranie kineskopu wzorcowego polegaja¬ cy na tworzeniu kolejnych elementów obrysu obrazu.Dotychczasowe metody pomiaru znieksztalcen obrazu wywolanych przez zespól cewek odchyla¬ jacych polegaly na wyznaczeniu przy pomocy ka- tetometru obrysu obrazu na rzucie obrazu kon¬ trolnego na plaszczyzne prostopadla do osi optycz¬ nej powierzchni odtwarzajacej lub na fotogra¬ fowaniu obrazu kontrolnego oraz wykresleniu na otrzymanym rysunku iub fotografii czworoboku pomiarowego zgodnie z wymaganiami odnosnych norm, a nastepnie na zmierzeniu wymiarów czwo¬ roboku i odchylen obrysu obrazu od boków tego czworoboku.Opisane metody pomiaru sa pracochlonne i nie¬ dokladne ze wzgledu na bledy odwzorowania i odczytu, a w przypadku wykonywania fotogra¬ fii drogie i równiez niedokladne, na skutek ble¬ dów wprowadzanych przez proces fotograficzny i odczyt.Sposób wedlug wynalazku eliminuje w duzym stopniu wady poprzednich metod wprowadzajac zamiast pomiarów rzutu obrazu lub fotografii obrazu kontrolnego pomiar elementów jego obry¬ su rzutowanych na matówke kamery pomiarowej.Sposób wedlug wynalazku polega na wytworze¬ niu na ekranie kineskopu wzorcowego przy po¬ mocy regulowanych i przelaczanych pradów zmiennych oraz regulowanych, stabilizowanych i przelaczanych pradów stalych przepuszczanych przez cewki odchylania poziomego i pionowego punktów obrysu obrazu i utrwaleniu ich na ma- tówce a nastepnie wytworzeniu kolejno linii konturowych obrazu poziomych i pionowych.Sposób wedlug wynalazku zostanie blizej obja¬ sniony przy pomocy rysunku, na którym fig. 1 przedstawia obrys obrazu kontrolnego wraz z oznaczeniem punktów obrysu obrazu i odchylek konturów obrazu od linii prostych, fig. 2 przed¬ stawia linial sluzacy do pomiaru wszystkich wiel¬ kosci koniecznych do obliczenia znieksztalcen, na¬ tomiast fig. 3 ilustruje uproszczony schemat sta¬ nowiska pomiarowego.W sposobie wedlug wynalazku zamiast calego obrazu tworzy sie kolejno jedynie elementy jego obrysu pokazane na fig. 1 i oznaczone jako punkty A, B, C, D oraz linie konturowe obrazu AB, BC, CD i DA. Sposób polega na kolejnym tworzeniu najpierw punktów obrysu obrazu A, B, C, D, wykresleniu ich na matówce urzadzenia 25 pomiarowego, zmierzeniu wymiarów wyznaczonego przez te punkty czworoboku ABCD, a nastepnie kolejnym tworzeniu poziomych linii konturowych obrazu AB, CD oraz pionowych BC, DA i pomia¬ rze maksymalnych odchylek ai, a2, b1} b2, Ci, c2, 30 di,d2 tych linii od prostych wyznaczonych przez 10 15 20 57876punkty obrysu obrazu A, B, C, t. Pomiaru wiel¬ kosci odchylek ai, a2, blt b2, ci, c2, di, d2 i dlu¬ gosci laczacych punkty obrysu obrazu odcinków AB, BC, CD, DA dokonuje sie przy pomocy linialu wykonanego z przezroczystego materialu i zaopa¬ trzonego w podzialki umozliwiajace bezposredni pomiar dlugosci liniowej, oraz wielkosci odchylek dwustronnych, bez koniecznosci kreslenia odcin¬ ków stanowiacych boki czworoboku.Punkty obrysu obrazu A, B, C, D uzyskuje sie przepuszczajac przez cewki odchylania poziomego i pionowego odpowiednio dobrane i przelaczane prady stale. W celu wytworzenia poziomych linii konturowych obrazu AB i CD przez cewki odchy¬ lania poziomego przepuszcza sie prad zmienny, 0 czestotliwosci rzedu 50 c/s i o takiej wartosci aby kreslona linia byla nie mniejsza od odcinka laczacego punkty obrysu obrazu AB, lub CD, zas przez cewki odchylania pionowego przepuszcza sie - odpowiednio spolaryzowany prad staly o wartosci identycznej jak przy tworzeniu punktów obrysu obrazu A, B, C, D.Pionowe linie konturowe obrazu BC i DA uzy¬ skuje sie przepuszczajac przez cewki odchylania pionowego prad zmienny o takiej wartosci, aby kreslona linia byla nie mniejsza od odcinka la¬ czacego punkty obrysu obrazu BC lub DA, zas przez cewki odchylania poziomego przepuszcza sie odpowiednio spolaryzowany prad staly o war¬ tosci identycznej jak przy tworzeniu punktów obrysu obrazu A, B, C, D.Obraz wytworzony na ekranie kineskopu wzor¬ cowego rzutuje sie na matówke kamery pomiaro¬ wej, gdzie dokonuje sie za pomoca linialu bezpo¬ sredniego odczytu wymiarów koniecznych do obli¬ czenia wskazników znieksztalcen. Schemat ukladu pomiarowego pokazano na fig. 3 gdzie obraz wy¬ tworzony na ekranie kineskopu wzorcowego 1 rzu¬ towany jest przez obiektyw 2 na matówke 3, przez która przy pomocy zarówek 4 podswietla sie skale linialu uzytego do pomiaru. Odleglosc 1 kineskopu 1 od obiektywu 2 powinna byc zgod¬ na z wymaganiami norm dotyczacych tego rodzaju pomiarów, zas ogniskowa obiektywu powinna umozliwiac uzyskanie ostrego rzutu o wymiarach pozwalajacych na dokladny bezposredni pomiar.W celu uzyskania jednakowych warunków oswie¬ tlenia w czasie pomiaru wskazane jest umieszcze- 7 876 4 nie stanowiska pomiarowego w zaciemnionym po¬ mieszczeniu. PL