PL57102B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL57102B1 PL57102B1 PL122507A PL12250767A PL57102B1 PL 57102 B1 PL57102 B1 PL 57102B1 PL 122507 A PL122507 A PL 122507A PL 12250767 A PL12250767 A PL 12250767A PL 57102 B1 PL57102 B1 PL 57102B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- connectors
- regions
- area
- minority carriers
- diffusion length
- Prior art date
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 11
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims description 7
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 4
- 230000004927 fusion Effects 0.000 description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
Description
Opublikowano: 30.VI.1969 57102 KI. 21 g, 11/02 MKP HM1 S/ft UKD Twórca wynalazku: dr inz. Jerzy Pultorak Wlasciciel patentu: Polska Akademia Nauk (Instytut Technologii Elektro¬ nowej), Warszawa (Polska) Przyrzad pólprzewodnikowy Wynalazek dotyczy przyrzadu pólprzewodnikowe¬ go, którego dzialanie opiera sie na wykorzystaniu elektrycznych wlasnosci zlacza 1 — h.W znanych konstrukcjach przyrzadów pólprze¬ wodnikowych zlacze 1 — h stanowi element wspól¬ pracujacy ze zlaczem p — n. Na tej zasadzie kon¬ struowane sa diody o logarytmicznej charaktery¬ styce bedace przedmiotem patentu polskiego nr 48976 lub potegowej zaleznosci pradu przewodzenia od napiecia, jak równiez fotodioda wielkiej cze¬ stotliwosci.W znanych konstrukcjach fotoelektrycznych przy¬ rzadów pólprzewodnikowych kontakty sa wyko¬ nywane jako kontakty powierzchniowe typu p+, p lub n+, n uzyskane np. przez napylenie. Sa to kontakty typu metal-pólprzewodnik charakteryzu¬ jace sie bardzo duza szybkoscia rekombinacji nos¬ ników mniejszosciowych. Nie sa to zlacza typu 1 — h, bo nie maja obszaru h.W przeciwienstwie do tego zlacze 1 — h ma silnie domieszkowana warstwe pólprzewodnika (obszar h).Celem wynalazku jest stworzenie przyrzadu pól¬ przewodnikowego o duzej czulosci i latwego do wy¬ konania.Wynalazek dotyczy przyrzadu pólprzewodnikowe¬ go, którego dzialanie opiera sie wlasnie na wyko¬ rzystaniu elektrycznych wlasnosci dwóch zlacz 1 — h. Istote wynalazku stanowia dwa zlacza 1 — h, a zawarty miedzy nimi obszar ma grubosc mniejsza od dlugosci dyfuzyjnej nosników mniej- 10 20 30 szosciowych w nim, natomiast obydwa obszary ty¬ pu „h" maja grubosci wieksze od dlugosci dyfu¬ zyjnej nosników mniejszosciowych w tych obsza¬ rach.Przyrzad wedlug wynalazku przedstawiony jest na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia jego sche¬ matyczny rysunek, fig. 2 — charakterystyke pra- dowo-napieciowa, fig. 3 — jego charakterystyke po- jemnosciowo-napieciowa.Obszar 1 pólprzewodnika o duzej opornosci wla- sciowej i grubosci W mniejszej niz dlugosc dyfu¬ zyjna nosników mniejszosciowych w tym obszarze, znajduje sie pomiedzy dwoma obszarami h silnie do¬ mieszkowanego pólprzewodnika o tym samym ty¬ pie przewodnictwa. W ten sposób powstaje przy¬ rzad o dwóch zlaczach 1 — h. Obszary h maja gru¬ bosci wieksze od odpowiadajacych im dlugosci dy¬ fuzyjnych nosników mniejszosciowych i zaopa¬ trzone sa w niskoomowe odprowadzenia C.Przyrzad pólprzewodnikowy z dwoma zlaczami 1 — h ma symetryczna, nieliniowa charakterysty¬ ke pradowo-napieciowa. Na fig. 2 przedstawione sa charakterystyki przy róznych wartosciach stru¬ mienia swietlnego cp. Nachylenie tej charakterysty¬ ki w zakresie bardzo malych napiec polaryzacji wynika z opornosci wlasciwej obszaru 1 i wymiarów geometrycznych przyrzadu i maleje w miare wzro¬ stu napiecia polaryzacji. Ponadto ma symetryczna, nieliniowa charakterystyke pojemnosciowo-napie- ciowa (fig. 3), przy czym wartosc pojemnosci ma- 57 10257 102 leje w miare wzrostu napiecia polaryzacji. Charak¬ teryzuje sie równiez bardzo duza czuloscia foto- elektryczna. PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Przyrzad pólprzewodnikowy znamienny tym, ze stanowia go dwa zlacza (1 — h) o zblizonych wy¬ miarach, przy czym grubosc zawartego pomiedzy nimi obszaru (1) jest mniejsza niz dlugosc dyfu¬ zyjna nosników mniejszosciowych w tym obszarze, natomiast obydwa obszary silniej domieszkowane (h) maja grubosci wieksze od dlugosci dyfuzyjnych nos¬ ników mniejszosciowych w tych obszarach i sa zaopatrzone w niskoomowe odprowadzenia (C). ngJKi 21 g, 11/02 57 102 MKP H 01 1 MA 200 900 13 ^^"^ * a -aoO^ f 4 2 « ^ ^ ^S ' 4 #* B (J[VJ ? f#.2 -51/ frO 0.5 l n —' ' ' < 1 -/ 0 ..) +5y Fig. 3 PL
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US757606A US3582830A (en) | 1967-09-08 | 1968-09-05 | Semiconductor device intended especially for microwave photodetectors |
| BE720464D BE720464A (pl) | 1967-09-08 | 1968-09-05 | |
| FR1603745D FR1603745A (pl) | 1967-09-08 | 1968-09-06 | |
| AT871868A AT287808B (de) | 1967-09-08 | 1968-09-06 | Halbleiterbauelement |
| NL6812739A NL6812739A (pl) | 1967-09-08 | 1968-09-06 | |
| GB42760/68A GB1190526A (en) | 1967-09-08 | 1968-09-09 | Semiconductor Device Intended Especially for Microwave Photodetectors. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL57102B1 true PL57102B1 (pl) | 1969-02-26 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Hawkins et al. | High gain-bandwidth-product silicon heterointerface photodetector | |
| US6362495B1 (en) | Dual-metal-trench silicon carbide Schottky pinch rectifier | |
| US3476993A (en) | Five layer and junction bridging terminal switching device | |
| CN109075214A (zh) | 沟槽mos型肖特基二极管 | |
| US9368650B1 (en) | SiC junction barrier controlled schottky rectifier | |
| US3018423A (en) | Semiconductor device | |
| US3159780A (en) | Semiconductor bridge rectifier | |
| Balagurov et al. | Electrical properties of metal/porous silicon/p-Si structures with thin porous silicon layer | |
| DE102014113557A1 (de) | Halbleitervorrichtung mit variablem resistivem element | |
| US3176147A (en) | Parallel connected two-terminal semiconductor devices of different negative resistance characteristics | |
| Weiss et al. | Tungsten, nickel, and molybdenum Schottky diodes with different edge termination | |
| US3078196A (en) | Semiconductive switch | |
| RU2406181C2 (ru) | Детекторные устройства и матрицы с высокой чувствительностью и высокой разрешающей способностью | |
| Tanikawa et al. | Evaluation of dark-current nonuniformity in a charge-coupled device | |
| PL57102B1 (pl) | ||
| SHARMA et al. | Solid State Electronics | |
| GB1012049A (en) | Semiconductive devices | |
| JPH01138754A (ja) | ショットキダイオード | |
| Sevgili et al. | Impact of rectifier metal-semiconductor contact geometry on electrical properties of Schottky diodes with Mg3N2 interfacial layer | |
| Munakata | On the voltage induced by an electron beam in a bulk semiconductor crystal | |
| JP2016535944A5 (ja) | 光起電力セル、回路、及び方法 | |
| CN207834305U (zh) | 瞬态电压抑制器 | |
| KR102793473B1 (ko) | 탄화규소 기반 온도 탐지 소자 | |
| US3176203A (en) | Negative-resistance tecnetron | |
| US3979767A (en) | Multilayer P-N junction semiconductor switching device having a low resistance path across said P-N junction |