PL56945B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL56945B1
PL56945B1 PL107987A PL10798765A PL56945B1 PL 56945 B1 PL56945 B1 PL 56945B1 PL 107987 A PL107987 A PL 107987A PL 10798765 A PL10798765 A PL 10798765A PL 56945 B1 PL56945 B1 PL 56945B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
amplifier
transistor
contact
indicating device
contact probe
Prior art date
Application number
PL107987A
Other languages
English (en)
Inventor
Neugebauer Georg
Lehmann Gunter
AlfredReissmann
Original Assignee
Veb Messapparatewerk Schlotheim
Filing date
Publication date
Application filed by Veb Messapparatewerk Schlotheim filed Critical Veb Messapparatewerk Schlotheim
Publication of PL56945B1 publication Critical patent/PL56945B1/pl

Links

Description

Pierwszenstwo: 19.111.1964 Niemiecka Republika Demokratyczna Opublikowana: 5.II.1969 56945 &e *9U MKP G01rig|l( Wspóltwórcy wynalazku: Georg Neugebauer, Gunter Lehmann, Alfred Reissmann Wlasciciel patentu: VEB Messapparatewerk Schlotheim, Schlotheim (Nie¬ miecka Republika Demokratyczna) Bezdotykowy próbnik wysokiego napiecia Przedmiotem wynalazku jest bezdotykowy prób¬ nik wysokiego napiecia, który wskazuje stan na¬ pieciowy urzadzen znajdujacych sie pod napieciem, poza obszarem zagrozenia. Próbnik ten zawiera pojemnosciowa sonde, wzmacniacz na tranzysto¬ rach oraz urzadzenie wskazujace.Znane próbniki, które sa zamocowane na gór¬ nym koncu izolacyjnego preta i których sonda tworzy pojemnosc z przewodem elektrycznym, wytwarzaja za pomoca dolaczonego do niej wzmac¬ niacza i generatora akustycznego, sygnal akustycz¬ ny rózniacy sie od czestotliwosci sieci i którego czestotliwosc moze sie zmieniac odpowiednio do wysokosci stwierdzonego napiecia; Inne próbniki wykorzystuja prad uplywowy powstajacy przy bezposrednim zetknieciu z prze¬ wodzacymi prad elementami w celu uruchomienia elementu wskazujacego. Poza tym w próbniku wy¬ mienionego rodzaju sygnal akustyczny mozna za¬ stapic wskazaniem przyrzadu wskazówkowego, któ¬ ry przy uruchomieniu jeszcze bez sygnalu wejscio¬ wego, pokazuje pelne wychylenie wskazówki i w którym, odpowiednio do mocy sygnalu wejsciowe¬ go, nastepuje cofniecie sie tej wskazówki. Oprócz próbników wskazówkowych stosowane sa równiez próbniki wskazujace za pomoca lampy swietlacej.Wada próbników z sygnalizacja akustyczna jest to, ze sygnal, który powinien byc niezawodnie wy¬ kryty musi sie znacznie róznic od poziomu szu¬ mów otoczenia. Szczególnie wazne jest to wów- 10 15 25 czas, gdy czestotliwosc szumu zaklócajacego jest bliska czestotliwosci próbnika wskazujacego. Wska¬ zania za pomoca próbnika wskazówkowego, wy¬ chodzace z pelnego odchylenia wskazówki, pozwa¬ laja na latwe wyciaganie, blednych wniosków, po¬ legajacych na tym, ze pelne wychylenie wskazów¬ ki oznacza istnienie napiecia, a cofniecie sie jej oznacza zmniejszenie pola zagrozenia. Jednak kon¬ strukcja taka oparta na pelnym wychyleniu wska¬ zówki jest konieczna, poniewaz wychylenie to po¬ kazuje gotowosc próbnika do pracy.Poza tym próbniki wskazówkowe sa wrazliwe na uszkodzenia, moga latwo ulegac uszkodzeniom, zwlaszcza gdy sa stosowane w urzadzeniach prze¬ nosnych. Ponadto istnieje mozliwosc zaklinowania sie wskazówki, co ujemnie wplywa zwlaszcza przy wskazywaniu dolnych zakresów wysokich na¬ piec, przy wystepujacych wówczas malych odchy¬ leniach wskazówki. Wskazania za pomoca lampy swietlacej sa slabo widoczne przy swietle dzien¬ nym, zwlaszcza gdy na próbnik padaja promienie slonca, z uwagi na to, ze maja one mala sile swiatla.Wskazania te sa równiez zawodne, poniewaz lampy swietlace starzeja sie i moze wystapic znaczne zwiekszenie sie ich napiecia zaplonu, tak ze moze nawet nie powstac efefct swietlny. O ile stosowane przy bezdotykowym sprawdzaniu napie¬ cia próbniki pracuja z sonda, to sonda ta jest gal¬ wanicznie polaczona z uziemiona Obudowa, poprzez 56 9453 opornosc wejsciowa ukladu polaczen. Przy kilku przewodzacych prad przewodach, które sa. ulozone obok siebie i skladaja sie z bedacych pod napie¬ ciem i z niebedacych pod napieciem czesci, selek¬ tywnosc procesu sprawdzania przy próbnikach z uziemiona sonda jako antena nie jest wystarcza¬ jaca i trzeba przeprowadzac bezposrednie sondo¬ wanie, co zwieksza zagrozenie personelu obslu¬ gujacego.Celem wynalazku jest umozliwienie wskazywania stanu napieciowego elektrycznych przewodów wy- isowiego napiecia, poza strefa zagrozenia wysokim napieciem, bez galwanicznego polaczenia z ziemia elektrody jako sondy pojemnosciowej, przy jedno¬ czesnym zaopatrzeniu próbnika we wskaznik, który dodatkowo pokazuje gotowosc do piracy urzadzenia.Zadaniem niniejszego wynalazku jest zbudowa¬ nie próbnika do bezdotykowego sprawdzania wy¬ sokiego napiecia, pracujacego niezawodnie, które¬ go wskazania sa wyraznie wykrywalne za pomoca elementu wskazujacego i który nie jest wrazliwy na uszkodzenia i pracuje bez zaklócen.Zadanie to zostalo wykonane przez zbudowanie próbnika skladajacego sie z sondy pojemnoscio¬ wej, zawierajacej dwie elektrody galwanicznie od¬ dzielone od ziemi, a miedzy soba wzajemnie sprzegniete galwanicznie poprzez opornosc, która jest jednoczesnie opornoscia wejsciowa wzmacnia-* cza, na którego wyjsciu jest wlaczony monostabil- ny przerzutnik i urzadzenie wskazujace. Jeden element urzadzenia wskazujacego, na przyklad za¬ rówka, jest wlaczony do obwodu kolektora tego przerzutnika.Drugi element urzadzenia wskazujacego, na przyklad elektromagnetyczny wskaznik optyczny, jest przeznaczony do sprawdzania gotowosci do pracy ukladu polaczen i zdolnosci dzialania pierw¬ szego elementu urzadzenia wskazujacego, ha przy¬ klad zarówki, przy czym wskaznik optyczny jest wlaczony w szereg z zarówka i znajduje sie po¬ miedzy kolektorem i emiterem drugiego tranzy¬ stora, przerzutnika, podczas gdy zarówka wlaczo¬ na jest w obwód kolektora tego stopnia. Do stabi¬ lizacji temperatury wzmacniacza w obwodzie emi¬ tera jednego tranzystora, wlaczonego jako transfor¬ mator impedancji, oraz w obwodzie kolektora sprzezonego z nim galwanicznie drugiego tranzy¬ stora wlaczony jest opór o ujemnym wspólczyn¬ niku temperaturowym.Przy takim ukladzie polaczen czestotliwosc ciagu impulsów monostabilnego przerzutnika jest znacz¬ nie mniejsza niz czestotliwosc sieci, przy czym za¬ stosowanie monostabilnego przerzutnika, wyposa¬ zonego w kondensator, diode i zarówke powoduje, ze zwiekszenie natezenia pola elektrycznego spraw¬ dzanego przewodu pradu zmiennego zwieksza sko¬ kowo czestotliwosc ciagu impulsów. Do sprawdza¬ nia malych wartosci napiec zastosowano ostrze sprawdzajace, przeznaczone do bezposredniego stykania z przewodem przewodzacym prad. Ostrze to jest polaczone poprzez opornik szeregowy z baza tranzystora, wlaczonego jako transformator impe¬ dancji. W celu dostosowywania czulosci ukladu po¬ laczen do kazdorazowego poziomu napiecia, rów- 56 945 4 nolegle do elektrod sondy pojemnosciowej sa wla¬ czane odpowiednie kondensatory.Korpus obudowy próbnika, wedlug wynalazku, który zawiera opisany wyzej uklad polaczen skla- 5 da sie z izolacyjnego uchwytu oraz dwóch galwa¬ nicznie rozdzielonych elektrod, uksztaltowanych w postaci tulei, przy czym jedna elektroda zawiera wzmacniacz, przerzutnik monostabilny oraz urza¬ dzenie wskazujace, natomiast druga elektroda 10 elementy dostarczajace prad, na przyklad bateria.Pomiedzy dwiema tulejowymi elektrodami umiesz¬ czone sa elektryczne laczniki, które znajduja sie w obrebie tarcz izolacyjnych i sa przelaczane za pomoca obracania jednej elektrody wzgledem dru- 15 giej. W celu zwiekszenia czulosci próbnika, we¬ wnatrz izolacyjnego uchwytu, umieszczona jest metalowa okladzina.Urzadzenie wedlug wynalazku umozliwia wska¬ zywanie wysokiego napiecia niezaleznie od wa- 20 runków atmosferycznych. Dzieki bezdotykowemu uzyskiwaniu wskazan poza obszarem zagrozenia wysokim napieciem, zbedne sa wszystkie zabiegi techniczne zwiazane z izolowaniem w celu zapew¬ nienia bezpieczenstwa pracy. 25 . Próbnik wedlug wynalazku zostal przedstawiony w przykladowym wykonaniu na rysunku, na któ¬ rym fig. 1 przedstawia rzut boczny zmontowane¬ go próbnika, a fig. 2 — uklad jego polaczen.Obydwie elektrody El, E2 (fig. 1) sa tulejami 30 wykonanymi z rurki aluminiowej. Pierwsza elek¬ troda El zawiera urzadzenie sprawdzajace na tran¬ zystorach lacznie z elementami wskazujacymi, a mianowicie wskaznikiem optycznym Al i zarów¬ ka A2, które widoczne sa poprzez okienko 2. W 3B drugiej elektrodzie E2 sa umieszczone baterie B przeznaczone do zasilania pradem próbnika.Pomiedzy elektrodami El, E2 znajduja sie dwie wzajemnie obracane tarcze izolacyjne 3, 4, które sa na stale przyklejone do elektrod. Tarcze izo- 40 lacyjne zawieraja laczniki elektryczne SI, S2, któ¬ re sa przelaczane za pomoca obracania tarcz izo¬ lacyjnych 3, 4. Elektrody Elr E2 sa tak szczelnie zamkniete, ze umieszczone w nich elementy funk¬ cjonalne, nawet przy najniekorzystniejszych wa- 45 runkach atmosferycznych, pozostaja zawsze zdol¬ ne dor pracy.Na wierzcholku uksztaltowanego w postaci draz¬ ka ukladu elektrod, w tarczy izolacyjnej 1, znaj¬ duje sie ostrze sprawdzajace Sp, które moze byc 50 wprowadzane do gniazda wtykowego sieciowego lub innego zródla napiecia w celu sprawdzenia dzialania przyrzadu. Caly drazkowy uklad elektrod jest umocowany na izolowanym uchwycie 6 w postaci rurki z wlókien szklanych, w celu stwo- 55 rzenia gwintowanego zamkniecia 5 przeznaczone¬ go do wymieniania baterii. Uchwyt izolacyjny 6 zawiera metalowa wykladzine 7, która w taki spo¬ sób przyczynia sie do zwiekszenia czulosci próbni¬ ka, ze zwieksza sie pojemnosc elektrody E2 wzgle/- 60 dem ziemi.W ukladzie polaczen przedstawionym na fig. 2 prad ladowania powstajacy w elektrycznym polu pomiedzy bedacymi pod napieciem przewodami i ziemia powoduje spadek napiecia miedzy elek- 65 trodami El i E2. Równolegle do tych elektrod5 jest wlaczony kondensator C3. Wielkosc pradu la¬ dowania zalezy od natezenia pola w obszarze prze¬ wodów pod napieciem. Pierwszy tranzystor Tl wzmacniacza V jest wlaczony jako transformator impedancji. W obwód emitera tego tranzystora jest wlaczony opornik R4 o ujemnym wspólczynniku temperatury. Baza tranzystora T2 jest polaczona z emiterem tranzystora Tl.Opory dzielnika bazy napiecia R2, Rs sa wzgle¬ dem oporu wejsciowego wlaczone równolegle i two¬ rza wejsciowy opór tranzystora Tl. Przerzutnik monostabilny M zbudowany na tranzystorach T3, T4 dolaczony jest przez skladajacy sie z konden¬ satorów Cl, C2 pojemnosciowy dzielnik napiecia, do kolektora tranzystora T2, w którego obwód wlaczony jest opornik R5, którego opornosc robo¬ cza zalezna jest od temperatury. Dzielnik napiecia z oporami R6 i R7 i dioda Dl sluzy do nastawia¬ nia punktu pracy, przy jednoczesnej stabilizacji temperatury uzyskanej za pomoca plaskiej diody Dl, tranzystora T3 monostabilnego przerzutnika M.W stanie spoczynku monostabilnego przerzutni¬ ka tranzystor T3 jest otwarty, a drugi tranzystor T4 zablokowany na skutek niskiego napiecia ko¬ lektora tranzystora T3. Elementem wskazujacym jest wskaznik optyczny Al, który pokazuje stan roboczy ukladu polaczen; sluzy on jednoczesnie do kontrolowania zarówki A2. Jezeli napiecie zmien¬ ne na bazie pierwszego tranzystora T3 monosta¬ bilnego przerzutnika M osiagnie okreslona wartosc progowa, to przerzutnik przechyli sie do stanu niestabilnego, tranzystor T4 zacznie przewodzic i zapali sie zarówka A2, a wskaznik optyczny przejdzie do stanu spoczynkowego.Wartosc progowa napiecia monostabilnego prze¬ rzutnika M zalezy od temperatury. Zalezna od tem¬ peratury wartosc opornosci roboczej opornika R5 umieszczonego w obwodzie kolektora drugiego tran¬ zystora T2 wzmacniacza V, wyrównuje zwieksze¬ nie wartosci progowej napiecia monostabilnego przerzutnika przez zwiekszenie wzmocnienia, tak ze wartosc progowa napiecia wspomnianego ukla¬ du polaczen pozostaje w waskich granicach w sze¬ rokim zakresie temperatur. Czas trwania stanu niestabilnego monostabilnego przerzutnika M jest wyznaczany przez stala czasu, która wynika z po¬ jemnosci kondensatora C2 i opornosci wejscio¬ wego monostabilnego przerzutnika M. Wartosc na¬ piecia zmiennego wplywa poza tym na czestotli¬ wosc relaksacji monostabilnego przerzutnika M.Wyzsze napiecie zmienne powoduje wyzsza cze¬ stotliwosc relaksacji, która maksymalnie wynosi 25 Hz przy czestotliwosci sieciowej 50 Hz. Stala czesc ukladu w obwodzie tranzystora T3 dla utrzy¬ mywania monostabilnego przerzutnika M w poloze¬ niu niestabilnym moze byc tak dobrana, ze zarów¬ ka A2 przy wiekszym natezeniu pola praktycznie daje stale swiecenie.Dzialanie próbnika wedlug wynalazku moze byc sprawdzone za pomoca ostrza sprawdzajacego Sp, na przyklad na sieci oswietleniowej. Indukowany prad rzedu kilku /uA, który poprzez opornik sze¬ regowy Rl i opornosc wejsciowa wzmacniacza V dochodzi do elektrody E2, a poprzez koncówki sprawdzajace do ziemi, ma wartosc wystarczaja- 6945 6 ca do zadzialania próbnika, to znaczy do uzyska¬ nia wskazania. PL

Claims (1)

  1. Zastrzezenia patentowe 5 1. Bezdotykowy próbnik wysokiego napiecia do sprawdzania wysokiego napiecia na przewodach pradu zmiennego poza strefa zagrozenia, zawie¬ rajacy sonde pojemnosciowa, wzmacniacz na io tranzystorach oraz urzadzenie wskazujace, zna¬ mienny tym, ze pojemnosciowa sonda sklada sie z dwóch elektrod (El, E2), które sa galwanicznie oddzielone od ziemi i które sa wzajemnie polaczone galwanicznie poprzez opor- 15 nosc wejsciowa wzmacniacza (V), która stano¬ wia oporniki (R2, R3) polaczone równolegle z opornoscia wejsciowa bazy pierwszego tranzy¬ stora (Tl), wzmacniacza (V), przy czym za wzmacniaczem (V), wlaczony jest monostabilny przerzutnik (M) i urzadzenie wskazujace (Al, 2. A2), którego jeden element zwlaszcza zarówka 3. (A2), znajduje sie w obwodzie kolektora drugie¬ go tranzystora (T4) monostabilnego przerzutni¬ ka (M). 25 2. Bezdotykowy próbnik wedlug zastrz. 1 znamien¬ ny tym, ze elektromagnetyczny wskaznik optycz¬ ny (Al) urzadzenia wskazujacego jest wlaczony w szereg z elementem (A2) urzadzenia wskazu¬ jacego i znajduje sie pomiedzy kolektorem i emiterem drugiego tranzystora (T4) monosta¬ bilnego przerzutnika (M), przy czym jest on przeznaczony do sprawdzania gotowosci do pra¬ cy ukladu polaczen i zdolnosci dzialania pierw¬ szego elementu (A2) ukladu wskazujacego. 35 3. Bezdotykowy próbnik wedlug zastrz. 1—2, zna¬ mienny tym, ze do temperaturowego stabilizo¬ wania wzmacniacza (V) w obwodzie emitera pierwszego tranzystora (Tl), wlaczonego jako transformator impedancji, oraz w obwodzie ko- 40 lektora galwanicznie z nim polaczonego drugie¬ go tranzystora (T2) wzmacniacza (V) wlaczone sa oporniki (R4, R5) o ujemnym wspólczynniku temperaturowym. 4. Bezdotykowy próbnik wedlug zastrz. 1—3 zna- 45 mienny tym, ze monostabilny przerzutnik (fltf) posiada kondensator (C2) i diode (Dl), która po¬ laczona jest z pierwszym elementem ukladu, na przyklad z zarówka (A2). 5. Bezdotykowy próbnik wedlug zastrz. 1—4, zn»- 50 mienny tym, ze posiada ostrze sprawdzajace (Sp), przeznaczone do bezposredniego stykania sie z przewodzacym prad przewodem dla spraw¬ dzania malych wartosci napiec, które to ostrze jest polaczone przez opornik szeregowy (Rl) z 55 baza pierwszego tranzystora (Tl) wzmacniacza M wlaczonego jako transformator impedancji. 6. Bezdotykowy próbnik wedlug zastrz. 1—5, zna¬ mienny tym, ze równolegle do elektrod (El, E2) pojemnosciowej sondy sa dolaczone kondensa- 60 tory (C3). 7. Bezdotykowy próbnik wedlug zastrz. 1—6, zna¬ mienny tym, ze korpus obudowy sklada sie z izolacyjnego uchwytu (6), oraz dwóch galwanicz¬ nie rozdzielonych elektrod (El, E2), uksztalto- 65 wanych w postaci tulei.56 945 9. Bezdotykowy próbnik wedlug zastrz. 1—7, zna¬ mienny tym, ze uksztaltowana w postaci tulei elektroda (El) zawiera wzmacniacz (V), mono- stabilny przerzutnik (M) oraz urzadzenie wska¬ zujace (Al, A2), a druga elektroda (E2) baterie (B). Bezdotykowy próbnik, wedlug zastrz. 1—8, zna¬ mienny tym, ze pomiedzy obydwiema elektro- 10 darni (El, E2) umieszczone sa elektryczne lacz¬ niki (SI, S2), które znajduja sie w obrebie tarcz izolacyjnych (3, 4), i które sa przelaczane za pomoca obracania jednej elektrody (El) wzgle¬ dem drugiej elektrody (E2). Bezdotykowy próbnik wedlug zastrz. 7—9, zna¬ mienny tym, ze w obrebie izolacyjnego uchwy¬ tu (6) umieszczona jest metalowa okladzina (7). ZG „Ruch" W-wa, zam. 1687-63 nakl. 280 egz. PL
PL107987A 1965-03-18 PL56945B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL56945B1 true PL56945B1 (pl) 1968-12-27

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3826981A (en) Solid-state high impedance meter system
US3919631A (en) Leadless probe
US3831089A (en) Continuity tester
US4205264A (en) High impedance electrical testing instrument for AC and DC voltage detection and continuity testing
US3204183A (en) Hot line indicator using a capacitive probe whose output controls switching circuit mans for an oscillator output circuit
US3437928A (en) Self-contained test probe with indicator lamp responsive to continuous or pulsed voltages
US4066953A (en) Combination high impedance continuity and voltage indicating instrument
US5262728A (en) Combination flashlight/lantern electric continuity tester
KR20190041688A (ko) 검전기능을 갖춘 방전장치
US3660757A (en) Flash tube potential indicator
KR920701828A (ko) 캐패시터 브레이크다운 전압을 자동적으로 탐지하기 위한 장치
US4536705A (en) Probe search test light and continuity tester
US3063006A (en) Circuit continuity tester
US3354387A (en) Portable ignition coil tester having a transistor oscillator power supply
ES342635A1 (es) Procedimiento para la comprobacion selectiva de tensiones electricas y su correspondiente dispositivo.
US2540471A (en) Flashlight with testing attachment
US2366991A (en) Pocket current tester
US2790144A (en) A. c.-d. c. testing device
PL56945B1 (pl)
US2128019A (en) Phase sequence and voltage indicating means
US3836852A (en) Solid-state high input impedance meter system
GB587036A (en) Improvements relating to testing devices for electric circuits
US2575279A (en) Glow-tube voltage indicator
US3553572A (en) Portable electric circuit tester having a pair of resistance indicating lamps
US2213973A (en) Electrical circuit tester