PL56476B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL56476B1 PL56476B1 PL108763A PL10876363A PL56476B1 PL 56476 B1 PL56476 B1 PL 56476B1 PL 108763 A PL108763 A PL 108763A PL 10876363 A PL10876363 A PL 10876363A PL 56476 B1 PL56476 B1 PL 56476B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- measuring
- light
- luminous flux
- power supply
- meter
- Prior art date
Links
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims description 12
- 238000012733 comparative method Methods 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 1
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 1
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 description 1
Description
Opublikowano: 5.II.1969 56476 KI. 42 h, 17/01 MKP GOlj fi\iO Wspóltwórcy wynalazku: Witold Stepien, Radoslaw Cieplowski, Kazi¬ mierz Kolasa, Miroslaw Grzegorzewski Wlasciciel patentu: Pabianicka Fabryka Zarówek „Polam" Przedsiebior¬ stwo Panstwowe, Pabianice (Polska) Urzadzenie do badania zarówek metoda porównawcza Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do ba¬ dania krówek metoda porównawcza, umozliwiaja¬ ce szybkie pomiary procentowych odchylek od war¬ tosci znamionowych, poboru mocy i strumienia swietlnego, w celu biezacej kontroli parametrów fotoelektrycznych przy produkcji masowej.Stosowane dotychczas powszechnie przyrzady do tego celu maja te niedogodnosc, ze pomiar para¬ metrów fotoelektrycznych odbywa sie na drodze pomiaru wartosci natezenia pradu i napiecia oraz wartosci bezwzglednej strumienia swietlnego, które nastepnie podlegaja odpowiednim przeliczeniom na parametry fotoelektryczne, a te dopiero moga byc porównywane z wymaganiami norm lub warunków technicznych.Ponadto wyniki pomiarów posrednich w warun¬ kach produkcji seryjnej, obarczone sa duzymi uchy¬ bami, wynikajacyimi z pospiechu i stosowania przy¬ rzadów w niskiej klasie dokladnosci. Jest to jed¬ na z przyczyn malej porównywalnosci przy ana¬ lizie takich wyników, dokonywanej dla celów ba¬ dan statystycznych. Niedogodnosc ta przedluza znacznie czas badania, co przy produkcji seryjnej posiada zasadnicze znaczenie z uwagi na koniecz¬ nosc prowadzenia biezacej kontroli duzych ilosci zarówek.Zadaniem wynalazku jest zatem wyeliminowanie omówionych niedogodnosci, wystepujacych w stoso¬ wanych powszechnie metodach pomiarowych przez zastosowanie ukladu kompensujacego uchyby wlas- 10 ne i umozliwiajacego otrzymywanie gotowych wy¬ ników porównawczych.Zadanie to zostalo rozwiazane wedlug wynalazku dzieki temu, ze urzadzenie do badania zarówek metoda porównawcza sklada sie z kuli fotometrycz- nej, ukladu do pomiaru poboru mocy zarówki oraz z swiatloczulego ukladu do pomfiaru strumie¬ nia swietlnego, z tym, ze do pomiaru procentowych odchylek poboru mocy przeznaczony jest uklad mostkowy, natomiast do pomiaru odchylek stru¬ mienia swietlnego od wartosci nastawionych we¬ dlug zródla wzorcowego przeznaczony jest uklad kompensacyjny, przy czym uklad pomiarowy mo¬ stkowy, którego galezie skladaja sie z trzech opor- 15 ników oraz zródla swiatla wzorcowego, jest równo¬ czesnie zasilaczem bezposrednim dla badanej za¬ rówki, zapewniajac powtarzalnosc warunków zasi¬ lania, a uklad kompensacyjny ma dzielnik napie¬ cia, który zalaczony jest z jednej strony do stabili¬ zowanego zasilacza, z drugiej zas polaczony jest szeregowo poprzez opornik z ogniwem fotoelektrycz- nym dzieki czemu uzyskuje sie zmiane róznicy potencjalów na zaciskach miernika pod wplywem zmian warunków pracy ogniwa.Urzadzenie wedlug wynalazku pozbawione jest wymienionych na wstepie niedogodnosci. W szcze¬ gólnosci skraca znacznie czas potrzebny do prze¬ prowadzenia kontroli, a wyniki pomiarów uzyskuje sie w wartosciach pocentowych odchylek od norm.Wyniki pomiarów uzyskane przy zastosowaniu 20 25 56 47656 476 urzadzenia wedlug wynalazku, kwalifikuja bezpo¬ srednio zarówki do odpowiedniego obszaru toleran¬ cji dajac mozliwosc szybkiej oceny jakosci wyro¬ bu. Duza latwosc zapisu wyników pomiarów umozli¬ wia dokonywamie analiz przy prowadzonych bada¬ niach statystycznych.Urzadzenie wedlug wynalazku przedstawione jest przykladowo na rysunku, na którym fig. 1 przed¬ stawia uklad elektryczny urzadzenia, fiig. 2 przed¬ stawia górna i dolna polówke kuli fotometrycznej, a fig. 3 przedstawia fragment grónej pólkuli foto- itieirycznej z otworem na wprowadzenie elementu fóloizulego.Calosc ukladu pomiarowego sklada sie z kuli fotometrycznej wraz z ukladem swiatloczulym, za¬ silaczy napiecia stalego, mostka do pomiaru pobo¬ ru mocy oraz ukladu pomiarowego dla strumienia swietlnego, przy czym oba uklady pomiarowe mie¬ rza jednoczesnie odchylki procentowe parametrów fotoelektrycznych zródla swiatla. Fotometryczna ku¬ la 1 (fig. 1 i fig. 2) sklada sie z dwu laczonych ze soba pólkul, wykonana jest z laminatu zbrojo¬ nego wlóknem szklanym i wylozona folia alumi¬ niowa pokryta od wewnatrz nieselektywna biala farba w celu zmniejszenia do minimum wspólczyn¬ nika pochlaniania swiatla.Wewnatrz kuli, w srodku geometrycznym, umie¬ szczona jest oprawa zródla swiatla 17. Równiez wewnatrz kuli, przy otworze widocznym na fig. 3, umieszczony jest zespól swiatloczuly, skladajacy sie z selenowego ogniwa fotoelektrycznego 2 oraz ze¬ spolu oslon 3 i 4, przy czym oslona 3 stanowi za¬ bezpieczenie ogniwa 2 przed bezposrednim dziala¬ niem strumienia swietlnego, natomiast oslony 4 spelniaja role korekcyjna podczas ustawiania mier¬ nika 16 na znamionowa wanjtosc strumienia swietl¬ nego. Uklad do pomiaru procentowych odchylek poboru mocy sklada sie z zasilacza napiecia sta¬ lego 5 o regulowanej wartosci napiecia oraz ukla¬ du mostkowego, który dla badanego zródla swiatla spelnia funkcje zasilacza i ukladu pomiarowego.Galezie mostka stanowia oporniki regulowane 7 i 9, opornik staly 8 oraz zródlo swiatla 17. Równo¬ legle do zródla swiatla 17 zalaczony jest miernik napiecia znamionowego 6. Miernik 6 sluzy do kon¬ troli wartosci napiecia zasilajacego zródlo swiatla 17. Na przekatnej mostka zalaczony jest dowolny, odpowiednio czuly miernik elektryczny 11 szere¬ gowo z opornikiem 10. Opornik 10 zastosowano w celu uzyskania zadanej charakterystyki wychylen miernika 11.Uklad do pomiaru procentowych odchylek stru¬ mienia swietlnego sklada sie z zasilacza napiecia stalego 15, neonowego stabilizatora napiecia 12, dzielnika napiecia 13 oraz oporu kompensacyjnego 14, polaczonych szeregowo z ogniwem selenowym 2. Na zaciskach ogniwa 2 zalaczony jest dowolny, odpowiednio czuly miernik elektryczny 16.Mierniki 11 i 16 sa wyskalowane odpowiednio 5 w procentach odchylek poboru mocy i strumienia swietlnego.Dzialanie urzadzenia opisane jest ponizej. Aby dokonac pomiaru naezy urzadzenie nastawic we¬ dlug wzorcowego zródla swiatla. W tym celu w 10 kuM fotometrycznej 1 umieszcza sie wzorcowe zród¬ lo 17, nastepnie regulujac napiecie zasilacza 5, oporniki 7 i 9, nastawiane jest napiecie zasilajace zródlo 17 na wartosc znamionowa kontrolowana miernikiem 6 i jednoczesnie mostek doprowadzany 15 jest do równowagi tak, aby miernik 11 pozostawal w wychyleniu zerowym. Osiagniecie znamionowych warunków zasilania wzorcowego zródla swiatla poz¬ wala na nastawienie ukladu mierzacego procentowe odchylki strumienia swietlnego. 20 Nastawianie tego ukladu odbywa sie przez od¬ powiednie ustawienie oslon 4 oraz dzielnika napie¬ cia 13. Miernik 16, mierzacy róznice potencjalów na zaciskach ogniwa 2, w warunkach znamionowych znajduje' sie w wychyleniu zerowym, w skali od- 25 chylek procentowych. Po umieszczeniu w kuli foto¬ metrycznej badanego zródla swiatla i po ustawie¬ niu ukladów pomiarowych, zostaje zachwiana rów¬ nowaga mostka i miernik 11 wskazuje wartosc od¬ chylki poboru mocy, natomiast miernik 16 wskazuje 30 wartosc odchylki strumienia swietlnego pod wply¬ wem zmian warunków pracy ogniwa 2. PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patent ow e 35 Urzadzenie do badania zarówek metoda porów¬ nawcza, skladajace sie z kuli fotometrycznej, ukladu po pomiaru poboru mocy przez zarówke i swiatjp- czulego ukladu do pomiaru strumienia swietlnego, znamienne tym, ze jest wyposazone w mostkowy 40 uklad pomiarowy do pomiaru procentowych odchy¬ lek poboru mocy i uklad kompensacyjny do po¬ miaru odchylek strumienia swietlnego od wartosci nastawionych wedlug zródla wzorcowego, przy czym uklad pomiarowy mostkowy, którego galezie skla- 45 daja sie z oporników (7, 8 i 9) oraz zródla swiatla (17) jest równoczesnie zasilaczem bezposrednim dla badanej zarówki, zapewniajacym powtarzalnosc wa¬ runków zasilania, a uklad kompensacyjny ma dziel¬ nik napiecia (13), który zalaczony jest z jednej ^ strony do stabilizowanego zasilacza (15), z drugiej zas polaczony jest szeregowo poprzez opornik (14) z ogniwem fotoelektrycznym (2), dzieki czemu uzy¬ skuje sie zmiane róznicy potencjalów na zaciskach miernika (16) pod wplywem zmian warunków pra- 55 cy ogniwa (2).KI. 42 h, 17/01 56 476 MKP G 01 j Fig 1 •KI. 42 h, 17/01 56 476 MKP G 01 j Fig 3 ZG „Ruch" W-wa, zam. 1688-68 nakl. 220 egz. PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL56476B1 true PL56476B1 (pl) | 1968-10-25 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2720638C1 (ru) | Устройство для мониторинга и диагностики высоковольтных линейных полимерных изоляторов | |
| CN209417272U (zh) | 一种串灯检测装置 | |
| PL56476B1 (pl) | ||
| CN104316170B (zh) | 一种指示灯亮度一致性测试方法及测试装置 | |
| US2752690A (en) | Inspection apparatus for engineering parts | |
| US2177133A (en) | Measuring instrument | |
| US2554225A (en) | Calibration of photovoltaic cells | |
| US2821681A (en) | Resistance meters | |
| Preston | Photoelectric photometers: Their properties, use and maintenance | |
| US2045797A (en) | Illumination meter | |
| Winch | A direct-reading photo-electric photometer for the commercial measurement of incandescent electric lamps | |
| US3680024A (en) | Light responsive and measuring device | |
| Coblentz et al. | A standard source of ultraviolet radiation for calibrating photoelectric dosage intensity meters | |
| US3521962A (en) | Light responsive and measuring device | |
| RU2271530C2 (ru) | Способ оценки погрешностей для измерителей гидрооптических характеристик | |
| SU1656315A1 (ru) | Тензодатчик | |
| Naish et al. | A photoelectric apparatus tor spectrochemical analysis | |
| CN121164372A (zh) | 一种基于rc电路的钙钛矿光电导特性的测量系统及方法 | |
| SU433409A1 (pl) | ||
| Taylor | Apparatus for the measurement of high constant or rippled voltages | |
| Gordon | Control measurements of road lighting | |
| CN120334710A (zh) | Mini LED点亮设备测试一致性调节方法及系统 | |
| SU96937A1 (ru) | Прибор дл измерени коэффициента отражени и освещенности киноэкрана | |
| US2004943A (en) | Method of testing color of egg yolks | |
| SU121596A1 (ru) | Прибор дл измерени концентрации суспензий |