Pierwszenstwo: Opublikowano: 08.111.1967 (P 119 406) 15.1.1969 56089 KI. 21^36/03" 7Je ZSfol MKP G Ol rtó/0t CZYTELNIA pilfsOfcfo Pofantopego Twórca wynalazku: dr inz. Krzysztof Kowalski Wlasciciel patentu: Politechnika Warszawska (Katedra Urzadzen Ra¬ diotechnicznych i Telewizyjnych), Warszawa (Pol¬ ska) Sposób pomiaru charakterystyk fazowych nieperiodycznych struktur opózniajacych i uklad do stosowania tego sposobu Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru charakterystyk fazowych nieperiodycznych struk¬ tur opózniajacych i uklad do stosowania tego sposobu.Nieperiodycznymi strukturami opózniajacymi sa nazywane struktury opózniajace o budowie nie¬ periodycznej, w których predkosc fazowa prze¬ noszonej fali elektromagnetycznej zmienia sie wzdluz struktury. Nieperiodyczne struktury opóz¬ niajace sa stosowane najczesciej w urzadzeniach, w których wystepuje oddzialywanie miedzy wiazka naladowanych czastek i fala elektroma¬ gnetyczna, na przyklad w lampach mikrofalo¬ wych wielkiej mocy lub w akceleratorach linio¬ wych. . ¦. - ¦.Sposoby okreslania charakterystyk fazowych nieperiodycznych struktur opózniajacych na pod¬ stawie bezposrednich pomiarów tych struktur nie byly dotychczas znane. Przy badaniu nieperio¬ dycznych struktur opózniajacych poslugiwano sie dotychczas najczesciej metodami rezonansowymi, które sa stosowane do pomiarów wlasnosci struk¬ tur o budowie periodycznej. Ten sposób okresla¬ nia charakterystyk fazowych nieperiodycznych struktur opózniajacych wymagal wykonania i ba¬ dania wielu struktur periodycznych odpowiada¬ jacych kolejnym odcinkom badanej struktury nieperiodycznej. Sposób ten byl czasochlonny i kosztowny oraz pozwalal jedynie na przyblizone 2 badanej nieperiodycznej 10 15 25 30 okreslenie wlasnosci struktury opózniajacej.Istota sposobu pomiaru charakterystyk fazo¬ wych nieperiodycznych struktur opózniajacych wedlug wynalazku polega na tym, ze do ukladu z fala biezaca (mostkowego) wlacza sie badana strukture, wzdluz której przesuwa sie sprzegacz kierunkowy zapewniajacy sprzezenie z fala po¬ stepujaca rozchodzaca sie w badanej strukturze lub przesuwa sie obiekt albo zespól obiektów opózniajacych wchodzacych w sklad badanej struktury w stosunku do nieruchomego sprzega¬ cza kierunkowego, mierzy sie za pomoca skalo¬ wanego przesuwnika fazy lub linii pomiarowej przesuniecie fazy fali postepujacej wzdluz kolej¬ nych odcinków badanej struktury i oblicza sie srednie wartosci predkosci fazowych odpowiada¬ jacych kolejnym odcinkom badanej struktury, dzielac iloczyn pulsacji fali rozchodzacej sie w badanej strukturze i dlugosci danego odcinka ba¬ danej struktury przez przesuniecie fazy fali po¬ stepujacej wzdluz danego odcinka badanej struk¬ tury.Sposób pomiaru charakterystyk wedlug wyna¬ lazku umozliwia wykonanie pomiarów przesuniec fazy wzdluz kolejnych odcinków nieperiodycznej struktury opózniajacej i okreslenie srednich war¬ tosci predkosci fazowych odpowiadajacych tym odcinkom na podstawie badania nieperiodycznej struktury opózniajacej bedacej przedmiotem po- 56089 •56089 3 miarów i z uwzglednieniem wplywu pozostalych odcinków badanej nieperiodycznej struktury opóz¬ niajacej na przesuniecie fazy wzdluz danego od¬ cinka struktury.Pomiary charakterystyk wedlug wynalazku sa wykonywane w ukladzie z fala biezaca (mostko¬ wym) przedstawionym na rysunku.Uklad przedstawiony na rysunku zawiera ge¬ nerator 1, tlumiki 2, 3, 4, 5, tlumik regulowany 6, skalowany przesuwnik fazy 7, linie pomiarowa 8, badana nieperiodyczna strukture opózniajaca #, sprzegacz kierunkowy 10 oraz bezodbiciowe impedancje dopasowania 11, 12. Tlumiki 2, 3, 4, 5, sluza do oddzielenia badanego elementu oraz linii pomiarowej i skalowanego przesuwnika fazy od nieciaglosci wystepujacych w ukladzie pomia¬ rowym i powinny charakteryzowac sie mozliwie malymi wspólczynnikami fali stojacej (nie wiek¬ szymi niz 1,1) i wartosciami tlumienia nie mniej¬ szymi niz 20 dB. Korzystne jest stosowanie ani- zotropowych tlumików 2, 3, 4, 5, jak oznaczono na rysunku, przy czym tlumienie tlumików w kierunku zaporowym powinno byc mozliwie duze (nie mniejsze niz 20 dB), a w kierunku prze¬ pustowym — mozliwie male (rzedu dziesiatych czesci dB). Badana struktura 9 jest zakonczona impedancja dopasowania 11. Do badanej struk¬ tury 9 jest dolaczony sprzegacz kierunkowy 10, przy czym sprzegacz kierunkowy jest przesuwa¬ ny wzdluz badanej struktury lub zespól obiektów opózniajacych w badanej strukturze jest przesu¬ wany w stosunku do nieruchomego sprzegacza kierunkowego 10. Czesc fali postepujacej rozcho¬ dzacej sie w badanej strukturze jest dostarczana 10 25 30 przez sprzegacz kierunkowy 10 i tlumik 5 do linii pomiarowej 8. PL