Zaklady Wytwórcze'aparatów Wysokiego Napieciaim G Dymitrowa
Filing date
Publication date
Application filed by Zaklady Wytwórcze'aparatów Wysokiego Napieciaim G DymitrowafiledCriticalZaklady Wytwórcze'aparatów Wysokiego Napieciaim G Dymitrowa
Publication of PL55888B1publicationCriticalpatent/PL55888B1/pl
Method and apparatus employing a charged capacitor indicator for automatic testing of breakdown characteristics of electronic devices such as cold-cathode diodes