PL55403B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL55403B1
PL55403B1 PL116420A PL11642066A PL55403B1 PL 55403 B1 PL55403 B1 PL 55403B1 PL 116420 A PL116420 A PL 116420A PL 11642066 A PL11642066 A PL 11642066A PL 55403 B1 PL55403 B1 PL 55403B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
frequency
signal
measuring
level
modulating
Prior art date
Application number
PL116420A
Other languages
English (en)
Inventor
inz. Zenon Krzycki Mgr
Original Assignee
Polska Akademia Nauk
Filing date
Publication date
Application filed by Polska Akademia Nauk filed Critical Polska Akademia Nauk
Publication of PL55403B1 publication Critical patent/PL55403B1/pl

Links

Description

Pierwszenstwo: - *fi *hHit Opublikowano: 15.V.1968 fcr A ¦^ Lu,< ¦ 55403 MKP G 01 r UKD 2-lfefe Twórca wynalazku: mgr inz. Zenon Krzycki Wlasciciel patentu: Polska Akademia Nauk (Instytut Podstawowych Pro¬ blemów Techniki, Warszawa (Polska) Sposób pomiaru szerokosci przenoszonego pasma czestotliwosci obwodów elektrycznych oraz ich dobroci, zwlaszcza obwodów o duzej selektywnosci Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru szerokosci przenoszonego pasma czestotliwosci obwodów elektrycznych o duzej selektywnosci oraz ich dobroci polegajacy na zastosowaniu sy¬ gnalu w postaci fali ciaglej zmodulowanej am¬ plitudowo przebiegiem okresowym.Znane i stosowane sposoby pomiaru przenoszo¬ nego pasma i dobroci pozwalaja w zasadzie na dokonanie pomiarów wymienionych wyzej para¬ metrów lecz wymagaja stosowania urzadzen o bardzo duzej dokladnosci i stabilnosci.Wymaga to z kolei rozbudowania urzadzen co czyni je skomplikowanymi i drogimi. Przy sto¬ sowaniu urzadzen o mniejszej dokladnosci wy¬ niki pomiarów sa obarczone duzym bledem zwlaszcza przy pomiarach obwodów mikrofalo¬ wych i o bardzo duzej selektywnosci (dobroci), gdzie minimalna zmiana czestotliwosci powoduje bardzo duze zmiany amplitudy sygnalu.Jednym z najczesciej stosowanych sposobów pomiaru szerokosci przenoszonego pasma czesto¬ tliwosci jest pomiar „punkt po punkcie", polega¬ jacy na wykreslaniu charakterystyki czestotliwo¬ sciowej, przy którym zmienia sie czestotliwosc sygnalu wejsciowego i odczytuje wielkosc napie¬ cia (amplitudy) wyjsciowego.Innym znanym sposobem jest tzw. metoda wo- bulacyjna. Obydwa wyzej wymienione sposoby daja wyniki obarczone duzym bledem.Sposród dokladnych sposobów pomiaru szero¬ kosci pasma jest stosowana metoda haterodyno- wa, wymagajaca uzycia dwóch wysoko stabilnych generatorów i falomierza czestotliwosci róznico¬ wej. 5 Wynalazek stawia sobie za cel stworzenie ta¬ kiego sposobu pomiaru, który przy bardzo duzej dokladnosci nie bedzie wymagal kosztownych i skomplikowanych urzadzen pomiarowych.Niespodziewanie wedlug wynalazku okazalo sie 10 ze mozna uniknac stosowania skomplikowanych urzadzen, jezeli sygnal o czestotliwosci równej srodkowej czestotliwosci lub czestotliwosci rezo¬ nansowej badanego obwodu, zostanie zmodulo¬ wany amplitudowo przebiegiem okresowym. Ob- 15 serwujac widmo takiego przebiegu po przejsciu przez badany obwód i regulujac czestotliwosc mo¬ dulujaca, okresla sie wartosc czestotliwosci mo^- dulujacej fm, przy której wystepuje istlumienie przez obwód .prazków bocznych do wartosci od- 20 powiadajacej poziomowi, na którym w danym przypadku definiuje sie szerokosc pasma prze¬ noszonego. Szerokosc przenoszonego pasma cze¬ stotliwosci, okreslona przez Ai, wynosi At = 2fm Sposób pomiaru wedlug wynalazku zostanie objasniony blizej za pomoca rysunku, na którym fig. 1 przedstawia uklad polaczen przeznaczony do pomiaru szerokosci przenoszonego pasma cze- 30 stotliwosci, fig. 2 przedstawia rozklad widmowy 55 4033 55 403 4 przebiegu wyjsciowego, fig. 2a — charakterystyke czestotliwosciowa z rozkladem widmowym prze¬ biegu wyjsciowego, a fig. 2b — przedstawia przy¬ padek, gdy przy ustalonej czestotliwosci modulu¬ jacej czestotliwosc nosna nie jest równa czesto¬ tliwosci srodkowej badanego obwodu.Pomiar szerokosci pasma odbywa sie nastepu¬ jaco : Generator 1 wytwarza sygnal, którego cze¬ stotliwosc jest regulowana. Sygnalem tym jest dulowana amplitudowo fala nosna wytwarzana przez (generator 2. Zmodulowany sygnal po wyj¬ sciu z generatora 2 jest podalwany na wejscie obwodu badanego 3. Sygnal zmodulowany po przejsciu przez obwód 3 jest obserwowany na analizatorze widma 4. Generator 2 fali nosnej ma równiez regulowana czestotliwosc.W pierwszej fazie pomiaru nalezy czestotliwosc fali nosnej tak dobrac, aby byla równa czestotli7 wosci srodkowej lub rezonansowej badanego ob¬ wodu. Nastepnie reguluje sie tak czestotliwoscia sygnalu modulujacego fm, aby wysokosc praz¬ ków bocznych byla równa poziomowi, przy któ¬ rym w danym przypadku definiuje sie szerokosc pasma.Na fig. 2a przedstawione sa przykladowo dwa praski o wysokosci równej 0,5 wysokosci prazka podstawowego czestotliwosci fo.W przypadku, gdy na przyklad z góry jest ustalona szerokosc przenoszonego pasma ciaftto- tliwosci At jakie ma przeniesc dany obwód, to przy ustalonej czestotliwosci modulujacej fm zmienia sie tak czestotliwosc fo fali nosnej, aby prazki boczne zostaly ustalone na jednym pozio¬ mie. Na fig. 2b przedstawiony jest przypadek, gdy prazki boczne jeszcze nie sa ustalone na jed¬ nakowym poziomie. Czestotliwosc fo nalezy wiec przesunac jeszcze w kierunku mniejszych czesto¬ tliwosci, aby poziom prazków bocznych zostal wyrównany. 5 Opisanym powyzej sposobem dokonuje sie po¬ miaru dobroci rezonatorów w zakresie mikrofa¬ lowym, gdzie dokladne i szybkie pomiary spra¬ wiaja najwieksze trudnosci. Przy dokonywaniu pomiaru wspólczynników dobroci wnekowych w pasmie 3 cm uzyskuje sie dokladnosc okolo 2°/o- Sposobem wedlug wynalazku mozna mierzyc do¬ broci obwodów dla dowolnych czestotliwosci. PL

Claims (3)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób pomiaru szerokosci przenoszonego pa¬ sma czestotliwosci - obwodów elektrycznych oraz ich dobroci, zwlaszcza obwodów o duzej selektywnosci, znamienny tym, ze na wejscie badanego obwodu doprowadza sie sygnal w postaci fali ciaglej, zmodulowany amplitudowo^ przebiegiem okresowym, który to sygnal po przejsciu przez badany obwód jest doprowa¬ dzany do analizatora widma, przy czym po¬ ziom prazków bocznych czestotliwosci modu¬ lujacej obserwowany na analizatorze jest rów¬ ny poziomowi, na którym w danym przypad¬ ku okresla sie szerokosc pasma.
  2. 2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze czestotliwosc fali ciaglej (nosnej) dostraja sie do czestotliwosci srodkowej lub rezonansowej badanego obwodu.
  3. 3. Sposób wedlug zastrz. 1 i 2, znamienny tym, ze czestotliwosc sygnalu modulujacego jest re¬ gulowana, 15 20 25 30KI. 21 e, 36/03 55 403 MKP G 01 r 1 z i \ A 3 n9A A tel h-fm h <••'• 'A 05\ 05 fig.2 (o-fm fc k*fm f fig.2b fj\ 6 Af-2fm fig.2a PL
PL116420A 1966-09-10 PL55403B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL55403B1 true PL55403B1 (pl) 1968-04-25

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2970258A (en) Apparatus for measuring envelope delay
Dicke et al. Pulse techniques in microwave spectroscopy
US5179344A (en) Phase noise measurements utilizing a frequency down conversion/multiplier, direct spectrum measurement technique
Rinehart et al. Measurement of the widths of microwave spectral lines
French et al. High‐Q Fabry‐Perot Resonator for Nitric Oxide Absorption Measurements at 150 GHz
PL55403B1 (pl)
Hewitt Width and shift measurements in the microwave spectra of NH3, CH3Cl and OCS
US2769957A (en) Comparator
US2682033A (en) Microwave q meter
Gilbert A microwave saturation spectrometer for the measurement of linewidth and absolute intensity
Dinger et al. Factors affecting the accuracy of radio noise meters
US5132630A (en) Heterodyne analyzer for measuring frequency characteristics of quadripoles
SU1737365A1 (ru) Измеритель добротности резонатора
Howling Signal and noise characteristics of the PKW marginal oscillator spectrometer
SU362260A1 (ru) Способ измерения нелинейности резисторов
US3500193A (en) System for measuring noise spectra adjacent to a carrier signal
SU118871A1 (ru) Способ проверки частоты высокостабильных генераторов по передаваемым по радио образцовым частотам
SU529423A1 (ru) Устройство дл градуировки вольтметров
SU407248A1 (ru) Устройство для измерения статистических фазо- амплитудиых характеристик нелинейных четырехполюсников
SU873156A1 (ru) Устройство дл измерени изменений диэлектрической проницаемости
Hoefer et al. Frequency markers providing resolution of 1 kHz for sweptmicrowave measurements
RU2181478C1 (ru) Измеритель вибраций
RU2273859C1 (ru) Корреляционный измеритель флуктуаций
SU824079A1 (ru) Измеритель добротности сверхвысоко-чАСТОТНОгО РЕзОНАТОРА
SU789898A1 (ru) Устройство дл измерени нелинейности линейных двухполюсников