PL53628B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL53628B1
PL53628B1 PL108550A PL10855065A PL53628B1 PL 53628 B1 PL53628 B1 PL 53628B1 PL 108550 A PL108550 A PL 108550A PL 10855065 A PL10855065 A PL 10855065A PL 53628 B1 PL53628 B1 PL 53628B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
photoconductor
detector
sensitivity
thickness
mirror
Prior art date
Application number
PL108550A
Other languages
English (en)
Inventor
Henryk Pykacz dr
Original Assignee
Politechnika Wroclawska
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Wroclawska filed Critical Politechnika Wroclawska
Publication of PL53628B1 publication Critical patent/PL53628B1/pl

Links

Description

Opublikowano- 30.IX.1967 53628 KI. 21 g, 29/01 MKP HOlC #f UKD Twórca wynalazku: dr Henryk Pykacz Wlasciciel patentu: Politechnika Wroclawska, Wroclaw (Polska) Detektor fotoprzewodzacy Przedmiotem wynalazku jest detektor fotoprze¬ wodzacy czuly na promieniowanie widzialne i pod¬ czerwone, stosowany zwlaszcza w urzadzeniach elektronicznych.Dotychczas znane detektory fotoprzewodzace bu¬ dowane sa z materialu fotoprzewodzacego, elektrod oraz z podloza izolacyjnego w zaleznosci od typu detektora. Jedynie czesc padajacego na nich pro¬ mieniowania jesit wykorzystywana, poniewaz tra¬ cone sa promienie odbite oraz te, które przeszly przez fotoprzewodnik i nie zostaly zaabsorbowane.Czulosc i wykrywalnosc detektorów fotoprzewo¬ dzacych zwieksza sie w rózny sposób. Jeden ze sposobów polega na umieszczeniu fotoprzewodnika w specjalnej komorze odbijajacej, zwanej równiez komora calkujaca lub wneka odbijajaca. Wada tego sposobu zwiekszania czulosci detektorów fotoprze- wodzacych jest to, ze istnieje koniecznosc budowa¬ nia odpowiedniej komory, a ponadto sprawnosc ta¬ kiej komory jest mala na skutek wielokrotnych odbic od scian i przewodów.Inny sposób polega na nadaniu fotoprzewodniko- wi takiego ksztaltu aby zachodzil efekt calkowite¬ go wewnetrznego odbicia. Wada tego sposobu jest to, ze nie nadaje sie do zastosowania do fotoprze- wodników w postaci cienkiej warstwy. W przypad¬ ku zastosowania fotoprzewodnika w postaci mono¬ krysztalu wystepuja trudnosci przy szlifowaniu je¬ go powierzchni. Dalsze sposoby zwiekszania czu¬ losci i wykrywalnosci, to nakladanie warstwy prze- 15 20 25 30 ciwodiblaskowej, stosowanie filtrów, ukladów prze¬ szukujacych oraz oslon w celu zmniejszenia pola widzenia detektora.Celem wynalazku jest konstrukcja detektora fo¬ toprzewodzacego czulego na promieniowanie wi¬ dzialne i podczerwone, a zwlaszcza odznaczajacego sie duza wykrywalnoscia tego promieniowania.Cel ten zostal osiagniety przez konstrukcyjne rozwiazanie detektora fotoprzewodzacego polega¬ jace na tym, ze na podloze detektora naniesione jest z jednej strony dowolnie uksztaltowane zwier¬ ciadlo w postaci warstwy odbijajacej promienie, natomiast z drugiej strony naniesiona jest warstwa fotoprzewodnika o optymalnej grubosci z umiesz¬ czonymi na niej elektrodami.Zasadnicza korzyscia techniczna wynikajaca ze stosowania detektora fotoprzewodzacego wedlug wynalazku jest to, ze w zaleznosci od materialu podloza i zwierciadla uzyskuje sie prawie 100% zwiekszenie czulosci detektora. Ponadto rozwiaza¬ nie wedlug wynalazku jest prostrze i tansze w po¬ równaniu z urzadzeniem w którym stosuje sie ko¬ more odbijajaca.Korzysc ze stosowania zwierciadla jest szczegól¬ nie istotna przy zastosowaniu do fotoprzewodników o optymalnej grubosci lub o grubosci mniejszej od optymalnej. Najczesciej panuje poglad, ze maksy¬ malna czulosc detektora ma miejsce gdy absorpcja promieniowania wynosi 100%. Jak sie okazuje, czu¬ losc i wykrywalnosc detektora fotoprzewodzacego 5362853628 jest maksymalna przy pewnej optymalnej grubosci fotoprzewodnika.Stwierdzono bowiem, ze czulosc detektora ma¬ leje gdy grubosc fotoprzewodnika wzrasta powyzej tej wartosci optymalnej. Optymalna grubosc foto¬ przewodnika jest to taka grubosc, przy której ilo¬ czyn wspólczynnika absorpcji „a" i grubosci „d" równy jest w przyblizeniu jednosci ad = 1.Tak wiec zbyt gruba warstwa fotoprzewodnika, którego absorpcja w zakresie czulosci widmowej .wynoif lOO^/o, nie jest zbyt czula. Istotna zaleznosc miedzy czuloscia fotoprzewodnika a absorpcja istnieje równiez miedzy czuloscia a gruboscia czy tez oporem fotoprzewodnika. Najwieksza czulosc uzyskuje sie gdy opór fotoprzewodnika dla przy¬ padku PbIS na kwadrat powierzchni wynosi 1 — 1,5 MQ.Czulosc fotoprzewodnika o oporze 0,1 MQ jest ponad 10 razy mniejsza od czulosci fotoprzewodni¬ ka o oporze 1 MQ. Fotoprzewodniki o oporze 1 MD lub nieco powyzej tej wartosci posiadaja maksymalna czulosc i wykrywalnosc i sa produko¬ wane z zachowaniem warunku optymalnej grubosci i absorpcji.Wynalazek blizej zostanie objasniony na przy¬ kladzie wykonania przedstawionym na rysunku.Cienka warstwa fotoprzewodnika 1 z PbS o gru¬ bosci 0,5 /urn (na której umieszczono elektrody 4), jest naniesiona chemicznie z jednej strony na pod¬ loze izolacyjne 2 z miki. Z drugiej strony podloza izolacyjnego 2 jest naniesione przez napylenie W prózni zwierciadlo 3 w postaci warstwy srebra 15 30 o grubosci okolo 1 ^m. Efektywne dzialanie detek¬ tora fotoprzewodzacego uzyskuje przez stosowanie podloza izolacyjnego 2 o mozliwie malym wspól¬ czynniku absorpcji promieniowania i zwierciadla 3 o duzym wspólczynniku odbicia.Taka budowa detektora fotoprzewodzacego za¬ pewnia, ze promienie, które przeszly przez foto- przewodnik 1 i nie zostaly zaabsorbowane zostaja odbite od zwierciadla 3 i skierowane z powrotem na fotoprzewodnik 1. Dzieki temu efektywna dlu¬ gosc drogi promieniowania zwieksza sie dwukrot¬ nie a tym samym grubosc warstwy fotoprzewodni¬ ka 1 moze byc zmniejszona dwukrotnie w stosunku do fotoprzewodnika bez zwierciadla. Rozwiazanie detektora wedlug wynalazku nadaje sie równiez do fotoprzewodników w postaci monokrysztalu do¬ mieszkowanego. PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Detektor fotoprzewodzacy, znamienny tym, ze na podloze izolacyjne (2) naniesione jest z jed¬ nej strony dowolnie uksztaltowane zwierciadlo (3) w postaci warstwy odbijajacej promienie, a z drugiej strony naniesiona jest warstwa foto¬ przewodnika (1) z umieszczonymi na niej elek¬ trodami (4).
  2. 2. Detektor wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze zwierciadlo (3) w postaci warstwy odbijajacej wykonane jest z dowolnego metalu posiadaja¬ cego duzy wspólczynnik odbicia. \////////y/v777n ZG „Ruch" W-wa, Zam. 985/67 nakl. 403 e%z. PL
PL108550A 1965-04-26 PL53628B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL53628B1 true PL53628B1 (pl) 1967-06-25

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Parker et al. Convoluted array elements and reduced size unit cells for frequency-selective surfaces
Ulrich Far-infrared properties of metallic mesh and its complementary structure
EP2019447B1 (en) Electromagnetic screen
JPS61140203A (ja) 抵抗性ループ角度フイルタ
Ragulis et al. Shielding effectiveness of modern energy-saving glasses and windows
EP0343813A3 (en) Radar transparent materials
US3789404A (en) Periodic surface for large scan angles
CN110391500A (zh) 一种宽带缩减电磁波散射的光学透明编码超表面设计方法
PL53628B1 (pl)
Fang et al. Transparent structure consisting of metamaterial layers and matching layers
ATE125394T1 (de) Radarstrahlen absorbierende aussenfassade.
Huggard et al. Normal state YBa2Cu3O x films: A new fast thermal detector for far infrared laser radiation with a uniform wavelength response
Carli Design of a blackbody reference standard for the submillimeter region
Sarkar et al. An appreciation of JC Bose's pioneering work in millimeter waves
Mayhan et al. Reflection and transmission characteristics of thin periodic interfaces
RU2072597C1 (ru) Двухзеркальная антенна с уменьшенной эффективной поверхностью рассеяния
Bhattacharyya et al. Radar cross section of a finite planar structure coated with a lossy dielectric
Sauleau et al. Analysis of millimeter-wave Fabry-Perot cavities using the FDTD technique
RU2304329C1 (ru) Устройство уменьшения эффективной поверхности рассеяния антенн
Minin et al. The dielectric non-metallic reflecting FZP antennas
Semchenko et al. Absorptive weakly reflective metamaterial based on optimal rectangular omegas
SU361496A1 (ru) Всесоюзная ;
Batt Application of pyroelectric devices for power and reflectance measurements
RU2291453C1 (ru) Способ уменьшения эффективной поверхности рассеяния антенн и устройство его реализации
CA1108276A (en) Metal oxide dielectric material