PL53181B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL53181B1
PL53181B1 PL103353A PL10335364A PL53181B1 PL 53181 B1 PL53181 B1 PL 53181B1 PL 103353 A PL103353 A PL 103353A PL 10335364 A PL10335364 A PL 10335364A PL 53181 B1 PL53181 B1 PL 53181B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
defectoscope
trigger
objects
oscilloscope
heads
Prior art date
Application number
PL103353A
Other languages
English (en)
Inventor
inz. Janusz Papiernik mgr
Original Assignee
Polskie Koleje Panstwowe
Filing date
Publication date
Application filed by Polskie Koleje Panstwowe filed Critical Polskie Koleje Panstwowe
Publication of PL53181B1 publication Critical patent/PL53181B1/pl

Links

Description

Opublikowano: 10. V. 1967 KI. 42 k, 46/00 MKP GOln **h "czytelnia1 lUKD 1 i^iiwrt^ lv Twórca wynalazku: mgr inz. Janusz Papiernik Wlasciciel patentu: Polskie Koleje Panstwowe (Centralny Osrodek Ba¬ dan i Rozwoju Techniki Kolejnictwa), Warszawa (Polska) Uklad do jednoczesnego badania dwóch przedmiotów defektoskopem ultradzwiekowyelf Uklad do jednoczesnego badania dwóch przed¬ miotów wedlug niniejszego opisu oparty jest na zastosowaniu elektronicznego urzadzenia rozdziel¬ czego w defektoskopach np. do badania szyn, któ¬ re posiadaja dwa zespoly nadawczo-odbiorcze 5 i jednostrumieniowa lampe oscyloskopowa.Obecnie znane sa urzadzenia do badania metoda cienia materialów plytowych za pomoca wielu glo¬ wic nadawczych i odbiorczych. Znajdujace sie w tych urzadzeniach uklady generatora napiecia pilo- ksztaltnego i lamp komutujacych nie moga byc za¬ stosowane do badania metoda echa dwóch przed¬ miotów np. szyn za pomoca defektoskopu z obser¬ wacja na ekranie lampy oscyloskopowej.Niemozliwe byloby wówczas uzyskanie oscylo- gramów symetrycznie rozmieszczonych z dwóch stron pionowej podstawy czasu ulatwiajacych w ten sposób interpretacje, a uzyskane oscylogramy powstajace w jednym cyklu podstawy czasu zakló¬ calyby sie wzajemnie.W obecnym rozwiazaniu takich defektoskopów np. do badania szyn mozliwe jest tylko badanie jednoczene glowicami skosnymi. Badanie jedno¬ czesne glowicami normalnymi jest niemozliwe, po¬ niewaz wystepuja wówczas stosunkowo szerokie impulsy poczatkowe i echa od spodów stopek szyn, co przy kompensacji przebiegów elektrycznych w ukladzie jednostrumieniowej lampy oscyloskopo¬ wej uniemozliwia wlasciwa interpretacje oscylo- 30 10 15 20 25 gramów. Konieczne Jest wiec badanie glowicami normalnymi kazdej szyny oddzielnie.Ponadto stosowane sa defektoskopy posiadajace jeden nadajnik i odbiornik oraz lampe oscylosko¬ powa. Defektoskopami tymi bada sie kazda szyne oddzielnie.Uklad do jednoczesnego badania dwóch przed¬ miotów np. szyn wedlug niniejszego opisu umozli¬ wia jednoczesne badanie metoda echa z obserwa¬ cja na ekranie lampy oscyloskopowej z pionowa podstawa czasu i symetrycznie rozmieszczonymi oscylogramami z dwóch stron podstawy czasu, przy uzyciu zarówno glowic normalnych jak i skosnych.Przedmiot wynalazku jest przedstawiony w przykladzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia schemat ideowy elektronicznego urzadzenia rozdzielczego. W urzadzeniu rozdziel¬ czym zastosowano uklad przerzutnika dwustabil- nego 1 zbudowany na podwójnej trio zwalania przerzutnika wykorzystuje sie przebieg synchronizujacy z czasosteru 2 defektoskopu. W ce¬ lu otrzymania krótkich impulsów wyzwalajacych, zsynchronizowanych ze startem podstawy czasu, przebieg ten przechodzi przez uklad ksztaltujacy 3.Anody triod przerzutnika 1 polaczone sa poprzez ukladu rózniczkujace 4 z siatkami tyratronów 5 w nadajnikach 6 defektoskopu, wskutek czego po¬ czatki dodatnich impulsów prostokatnych po zróz¬ niczkowaniu daja dodatnie impulsy zapalajace na 5318153181 przemian taratrony 5. Nadajniki 6 nie wysylaja wówczas impulsów nadawczych jednoczesnie, lecz naprzemian z czestotliwoscia powtarzania dwa ra¬ zy mniejsza od czestotliwosci powtarzania czaso- steru 2.Przy takiej pracy nadajników oscylogramy od obu zespolów nadawczo-odbiorczych nie kompen¬ suja sie na jednostrumieniowej lampie oscylosko¬ powej lecz wystepuja niezaleznie jak na lampie dwustrumieniowej. Mozna wówczas badac jedno¬ czesnie dwie szyny nie tylko glowicami skosnymi ale l normalnymi wskutek czego efektywna szyb¬ kosc badania zwieksza sie 1,5 krotnie. 10 PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Uklad do jednoczesnego badania dwóch przed¬ miotów defektoskopem ultradzwiekowym, zna¬ mienny tym, ze posiada przerzutnik dwustabilny (1), którego obwód wyzwalajacy polaczony jest przez uklad ksztaltujacy (3) z czasosterem (2) de¬ fektoskopu, a wyjscia polaczone sa przez uklady rózniczkujace (4) z siatkami sterujacymi tyratro¬ nów (5) w nadajnikach (6) defektoskopu, w celu doprowadzenia impulsów pobudzajacych raz do jednego raz do drugiego nadajnika (6) przy prze¬ chodzeniu przerzutnika (1) z jednego stanu w drugi. Bltk 1044/61 r. 360 egz. A4. PL
PL103353A 1964-07-29 PL53181B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL53181B1 true PL53181B1 (pl) 1967-04-25

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2700895A (en) Apparatus for ultrasonic examination of bodies
US2398701A (en) Supersonic inspection device
GB592617A (en) Improvements relating to radio detection systems for measuring the distances of obstacles
US2450360A (en) Timing marker and station selection apparatus
US2949028A (en) Apparatus for ultrasonic materials testing
PL53181B1 (pl)
US2646545A (en) Amplitude linearity measurement
US3554186A (en) Apparatus for ultrasonic echo-encephalography
US3353181A (en) Self-test circuit for transponder
US3456189A (en) Synchronized random sampling oscilloscope
US2572788A (en) Frequency meter
US4484136A (en) Test set for transient protection devices
US2608652A (en) Pulse analyzing method and system
SU463079A1 (ru) Устройство дл испытани газоразр дных клиперных диодов
US2496970A (en) Cathode-ray tube circuit
US3738159A (en) Testing device for inspecting an object
US2604608A (en) Time wave generating system
US3077107A (en) Signal storage display equipment for ultrasonic testing
SU396631A1 (ru) УСТРрЙСТВО РАЗБРАКОВКИ ТРИГГЕРОВ ПО ЧАСТОТЕ УСТАНОВКИ И ВЫХОДНОЙ ЧАСТОТЕ
SU729843A1 (ru) Двухканальный коммутатор
SU1681409A1 (ru) Рентгеновский аппарат
SU475559A1 (ru) Импульсный вольтметр
SU691810A1 (ru) Устройство дл исследовани параметров вибрации контактов
SU527707A1 (ru) Устройство дл статистического контрол логических блоков
US2523288A (en) Direction finder system