Przedmiotem niniejszego wynalazku jest mikro¬ skop interferencyjno-polaryzacyjny, przeznaczony do obserwacji i pomiarów mikroobiektów zarówno w interferencyjnym polu prazkowym jak i w polu jednorodnym z mozliwoscia zmiany, rozdwojenia obrazu badanego obiektu bez koniecznosci zmiany obiektywu mikroskopowego. Jest on zaopatrzony w uklad dwóch pryzmatów dwójlomnych z zewnetrzna plaszczyzna lokalizacji prazków interferencyjnych, przy czym jeden z tych pryzmatów znajduje sie tuz za ukladem optycznym obiektywu i jest osadzony obrotowo wzgledem jego osi, a drugi — znajduje sie w tubusie mikroskopu i jest osadzony z mozliwos¬ cia przesuwu poprzecznego i równoleglego do tej iosi. Ruch obrotowy pierwszego z tych pryzmatów umozliwia zmiane rozdwojenia obrazu badanego obiektywu, natomiast równolegly i poprzeczny ruch drugiego z nich sluzy odpowiednio do uzyski¬ wania jednorodnego pola interferencyjnego oraz do zmiany i pomiaru przesuniecia fazowego miedzy rozdwojonymi interferujacymi ze soba falami swietlnymi.Znane dotychczas mikroskopy interferencyjno-po¬ laryzacyjne zaopatrzone sa w pryzmat dwójlomny typu Wollastona lub Nomarskiego z zewnetrzna plaszczyzna lokalizacji prazków interferencyjnych albo tez w równowazne mu dwa odpowiednio zorientowane wzgledem siebie pryzmaty Wollasto¬ na o róznych odpowiednio dobranych katach lamia¬ cych. Wada tych mikroskopów jest niemoznosc u- 10 15 20 25 30 zyskania duzego rozdwojenia obrazu w jednorod¬ nym polu interferencyjnym w zwiazku z czym ich zakres zastosowania zwlaszcza w badaniach biolo¬ gicznych i medycznych ogranicza sie do obiektów o malych wymiarach poprzecznych, których obrazy moga byc rozdwojone przynajmniej w 50°/o. Ponad¬ to przy danym powiekszeniu obiektywu mikrosko¬ powego rozdwojenie obrazu jest stale a jego zmiana wymaga wymiany pryzmatu dwójlomnego na in¬ ny o róznym kacie lamiacym.' Niedogodnosci te usuwa mikroskop wedlug niniej¬ szego wynalazku, w którym umieszczono za ukla¬ dem soczewek obiektywu mikroskopowego, dodat¬ kowy pryzmat dwójlomny z zewnetrzna plaszczyzna lokalizacji prazków interferencyjnych, przypadajaca w ognisku obrazowym obiektywu. Kat lamiacy tego pryzmatu moze byc stosunkowo duzy, rzedu kilku¬ nastu stopni i tym samym mozna uzyskiwac duze rozdwojenie obrazu badanego obiektu. Ponadto obrót tego pryzmatu wokól osi obiektywu pozwala uzyski¬ wac przy okreslonym powiekszeniu obiektywu róz¬ ne wartosci rozdwojen obrazu, zaleznie od tego czy kat lamiacy tego pryzmatu jest skierowany zgodnie, przeciwnie czy tez pod katem 45° w stosunku do pryzmatu znajdujacego sie w tubusie mikroskopu.Stwarza to mozliwosc dobierania pozadanego roz¬ dwojenia obrazu w zaleznosci od wielkosci badane¬ go przedmiotu bez koniecznosci wymiany obiektywu lub pryzmatu, przy czym uzyskiwane maksymalne wartosci rozdwojen w jednorodnym polu interferen- 53 14953 149 3 cyjnym sa znacznie wieksze niz w przypadku mi¬ kroskopu z jednym pryzmatem dwójlomnym, co rozszerza mozliwosci zastosowania mikroskopu rów¬ niez do pomiarów szerokich obiektów, na przyklad duzych komórek, szerokich wlókien lub skrawków 5 histologicznych.Zasada budowy i dzialania mikroskopu interfe- rencyjno-polaryzacyjnego wedlug wynalazku jest przykladowo przedstawiona na rysunku.Mikroskop interferencyjno-polaryzacyjny wedlug 10 % I wynalazku sklada sie z nastepujacych podstawo¬ wi *':* $hfch tespolów optycznych: pryzmatów dwójlom- % rty|(i ^i i W2, polaryzatora P, przyslony szczelino- I wej D, kondensatora K, obiektywu Ob, plytki mi- V krometryczjiej-M-dp pomiaru poprzecznego przesu- 15 * wu pryzmatu dw^ójlomnego W2, analizatora A, mi¬ kroskopowej nasadki dwuokularowej ND, okularu 4 Ok do obserwacji '.obrazu interferencyjnego bada¬ nego-^ródmiotu,,, umieszczonego w plaszczyznie przedmiotowej **, mikroskopu pomocniczego MP do 20 odczytywania wyniku pomiaru na plytce mikro- metrycznej m, obiektywu tego mikroskopu L — jego plytki ogniskowej ze wskaznikiem PO i oku¬ laru E.Pryzmaty dwójlomne Wi i W2 skladaja sie z 25 trzech klinów kwarcowych 1„ 2 i 3 wycietych w zna¬ ny sposób do osi optycznej krysztalu zaznaczonej podwójna strzalka na rysunku (os w plaszczyznie rysunku) lub kólkiem z kropka (os w plaszczyznie prostopadlej do rysunku). Os optyczna w klinie 1 30 biegnie prostopadle do jego krawedzi lamiacej i pod katem fi = 35° -¥¦ 45° do jednej z plaszczyzn wycie¬ cia klina, natomiast os optyczna w klinach 2 i 3 jest równolegla do ich krawedzi lamiacych. Kat la¬ miacy klina 1 w kazdym z pryzmatów Wi i W2 rów- 35 na sie sumie katów lamiacych klinów 2 i 3. Zamiast pryzmatów dwójlomnych trójskladnikowych, które sa najkorzystniejsze, moga byc równiez stosowane pryzmaty dwuskladnikowe typu Nomarskiego zlo¬ zone z dwóch klinów 1 i 2 o jednakowych katach 40 lamiacych.Pryzmat dwójlomny Wi, który stanowi czesc skla¬ dowa obiektywu Ob jest osadzony obrotowo wokól osi obiektywu Ob, przy czym jego plaszczyzna lo¬ kalizacji prazków interferencyjnych pokrywa sie 45 z ogniskiem obrazowym F obiektywu. Pryzmat dwójlomny W2 jest osadzony w tubusie mikroskopu z mozliwoscia przesuwu w kierunku równoleglym w i prostopadlym p do osi obiektywu Ob. Przesuw pryzmatu W2 w kierunku równoleglym w sluzy do 50 pokrywania jego plaszczyzny lokalizacji prazków interferencyjnych z ogniskiem obrazowym wymie¬ nionych obiektywów o róznych powiekszeniach, a przesuw poprzeczny w kierunku prostopadlym p — do zmiany fazy miedzy rozdwojonymi falami swiet- 55 lnymi oraz pomiaru róznicy drogi optycznej bada¬ nego przedmiotu.Jezeli katy lamiace ai i a2 pryzmatów Wi i W2 maja ten sam zwrot, to uzyskuje sie maksymalne rozdwojenie obrazu badanego przedmiotu, stanowia- en 60 ce sume rozdwojen obydwu pryzmatów Wi i W2.W przeciwnym razie, gdy zwroty katów aA i a2 4 pryzmatów Wi i W2 sa przeciwne, rozdwojenia odej¬ muja sie. W polozeniu posrednim, w którym krawe¬ dzie lamiace pryzmatów Wi i W2 tworza kat 45° rozdwojenie sumaryczne równe jest rozdwojeniu pryzmatu W2.Maksymalny efekt interferencyjny uzyskuje sie w przypadku gdy szczelina S w przyslonie D, umie¬ szczonej w ognisku kondensora, jest równolegla do krawedzi lamiacej pryzmatu W2 a plaszczyzny drgan swiatla w polaryzatorze P i analizatorze A tworza z ta krawedzia kat 45°.Kat lamiacy ai pryzmatu Wi dla typowych obiek¬ tywów mikroskopowych moze wynosic do 15°, na¬ tomiast kat lamiacy a2 pryzmatu W2, umieszczonego w tubusie mikroskopu — ze wzgledu na niedopusz¬ czalny astygmatyzm grubosci pryzmatu W2 — nie przekracza 4°. Zatem uklad dwóch pryzmatów Wi i W2 umozliwia uzyskanie maksymalnego rozdwoje¬ nia obrazu okolo 5-ciokrotnie wiekszego w porów¬ naniu do stosowanych obecnie mikroskopów z jed¬ nym pryzmatem umieszczonym w tubusie.Mikroskop interferencyjno-polaryzacyjny wedlug wynalazku, wyposazony w komplet obiektywów o róznych powiekszeniach z obrotowymi pryzmatami dwójlomnym! Wi o kacie lamiacym wynoszacym okolo 10° do 15° i grubosci okolo 5 mm oraz w uklad wymiennych pryzmatów W2 o kilku róznych katach lamiacych cc2 (na przyklad 0°45', 3° i 12°) umozliwia uzyskanie dowolnego rozdwojenia z mozliwoscia stosowania róznych metod badan interferencyjnych, na przyklad metody dyferencjalnej w jednorodnym polu (a=45'), metody z duzym rozdwojeniem obra¬ zu (a2 = 3° do 24°) oraz metody prazkowej z duzym i dyferencjalnym rozdwojeniem obrazu (a2 nie¬ znacznie rózniace sie od ai).Mikroskop interferencyjno-polaryzacyjny wedlug wynalazku moze znalezc zastosowanie zwlaszcza do badan biologicznych oraz w przemysle wlókienni¬ czym i w krystalografii. PL