PL52241B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL52241B1
PL52241B1 PL111841A PL11184165A PL52241B1 PL 52241 B1 PL52241 B1 PL 52241B1 PL 111841 A PL111841 A PL 111841A PL 11184165 A PL11184165 A PL 11184165A PL 52241 B1 PL52241 B1 PL 52241B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
modulation
amplitude
calibration
amplitude modulation
measured
Prior art date
Application number
PL111841A
Other languages
English (en)
Inventor
inz. Jerzy Golojew mgr
inz. Zenon Zdybel .^ mgr
Original Assignee
Gdanskie Zaklady Radiowe
Filing date
Publication date
Application filed by Gdanskie Zaklady Radiowe filed Critical Gdanskie Zaklady Radiowe
Publication of PL52241B1 publication Critical patent/PL52241B1/pl

Links

Description

Pierwszenstwo:.Opublikowano: 3.1.1967. 52241 KI. 21 a4, 14/02 GOJ** €0/og MKP H_J3~e UKD Wspóltwórcy wynalazku: mgr inz. Jerzy Golojew, mgr inz. Zenon Zdybel .^ Wlasciciel patentu: Gdanskie Zaklady Radiowe, Gdansk, (Polska) Sposób pomiaru malych glebokosci modulacji amplitudowej sygnalu elektrycznego i urzadzenie do stosowania tego sposobu Pomiary glebokosci modulacji amplitudowej wykonuje sie w telekomunikacji do kontroli pra¬ cy urzadzen nadawczych, odbiorczych i czesci tych urzadzen, a takie w laboratoriach przemys¬ lowych i naukowo-badawczych do badania nie¬ których zjawisk fizycznych, w których informac¬ je zawiera sie w zmianach amplitudy napiecia lub pradu przemiennego. Szczególna trudnosc przedstawia problem pomiaru malych glebokosci modulacji amplitudowej, poniewaz znane proste metody, np. oscylograficzne, wymagaja przeli¬ czen, do których dane uzyskuje sie z pomiaru niewspólmiernych wartosci sygnalu nosnego i obwiedni modulacyjnej. Im mniejsza wartosc mierzonego wspólczynnika m glebokosci modu¬ lacji, tym wieksze bledy powstaja przy pomiarze, Wskutek tego oscylograficzne metody pomiaru nie maja zastosowania, gdy wartosci mierzonego wspólczynnika m wynosza mniej niz a% do 3%, poniewaz juz wtedy blad pomiaru A m/m osiaga wartosc 50% lub jeszcze wiecej.Sposób wedlug wynalazku umozliwia pomiar wspólczynnika m, z odczytem wprost z ekranu oscylografu, w granicach wszelkich praktycznie interesujacych wartosci tj. od m = 100% do m = 0,l% choc stosowanie tego sposobu jest szczególnie korzystne dla wartosci m < 10%, przy czym blad pomiaru A m/m jest w tym za¬ kresie mniejszy niz 5%, a dla wartosci m odpo¬ wiadajacych puriktom skalowania urzadzenia !• 15 25 Z0 blad ten zmierza do wartosci mniejszej, równej bledowi skalowania.Sposób pomiaru wspólczynnika m nie wymaga synchronizacji jakiegokolwiek przebiegu, gene¬ rowanego w urzadzeniu pomiarowym, z mierzo¬ nym sygnalem modulujacym, a zatem umozliwia pomiar glebokosci modulacji przebiegami nie- okresowymi oraz tymi, do których zródel nie ma dostepu, np. modulacji pasozytniczej.Istota sposobu wedlug wynalazku polega na poddaniu badanego sygnalu dodJatkowej modulacji amplitudowej kalibrujacej, znanej co do glebo¬ kosci, dokonaniu demodulacji amplitudowej, usu¬ nieciu skladowej stalej i okresleniu stosunku amplitud otrzymanych produktów modulacji mierzonej i kalibrujacej. Wartosci amplitudy mo¬ dulacji kalibrujacej dobiera sie tak, aby byla latwo porównywallna z amplituda modulacji mie¬ rzonej. Rozróznianie skladowych z obu modulacji nastepuje wedlug innych znamion napiecia prze¬ miennego np. ksztaltu funkcji czasowej.Przedmiot wynalazku (urzadzenie) jest przed¬ stawiony w przykladzie wykonania na rysunku, na którym fig 1 przedstawia schemat blokowy urzadzenia do pomiaru glebokosci modulacji, a fig 2.a obraz oscylograficzny badanego napie¬ cia, gdy glebokosc mierzonej modulacji równa sie zero, oraz fig 2.b obraz oscylograficzny, gdy glebokosc modulacji jest wieksza od zera.Badane napiecie wysokiej czestotliwosci wpro- 5224152241 3 wadza sie do modulatora 1 zbudowanego z ele¬ mentów pólprzewodnikowych i elementów R C.Do tego zespolu jest doprowadzone równiez na¬ piecie modulujace o ksztalcie fali prostokatnej i czestotliwosci powtarzania 25 c/sek, wytwarza¬ ne w generatorze 2. Ampdituda tego napiecia podlega regulacji skokowej w zespole 3, który zawiera dzielnik napiecia i przelacznik. Dzielnik jest wyskalowany w procentach glebokosci mo¬ dulacji kalibrujacej, a na plycie czolowej wskaz¬ nik pozycji przelacznika wskazuje nastawiona aktualnie glebokosc modulacji kalibrujacej. Przy¬ rzad umozliwia nastawianie na wartosci: 10%, '5%, 3%, lo/0 i 0,3o/0.Detektor 4 dokonuje demodulacji amplitudowej badanego sygnalu, a woltomierz 5 sluzy do kon¬ troli poziomu wejsciowego napiecia w/cz (regu¬ lowanego poza przyrzadem — w aparaturze ba¬ danej). Poziom ten winien byc ustalony dla osiagniecia poprawnosci skalowania. Filtr 6 pas¬ mowo-przepustowy przenosi z malym tlumieniem wszelkie sygnaly napiecia przemiennego az do najwyzszej czestotliwosci modulujacej. Sygnal z filtra doprowadza sie przez regulowany (recznie) wzmacniacz 7 do plyt odchylania pionowego w lampie oscylograficznej 8. Charakterystyka amp¬ litudowa wzmacniacza 7 jest bardzo plaska w ca¬ lym zakresie czestotliwosci spodziewanych syg¬ nalów modulujacych. Do plyt odchylania pozio¬ mego oscylografu 8 jest doprowadzone napiecie odchylajace z generatora 9 o ksztalcie w przybli¬ zeniu sinusoidalnym i czestotliwosci 50 Hz.Generatory 9 napiecia, odchylajacego poziomo i 2 napiecia modulacji kalibrujacej sa polaczone z soba w taki sposób, ze generator 9 jest nieza¬ lezny, a generator 2 pracuje z czestotliwoscia o polowe mniejsza od czestotliwosci napiecia od¬ chylajacego poziomo. W torze synchronizacji la¬ czacym oba te generatory znajduje sie czwórnik przesuwajacy faze napiecia generatora 9 o kat TC okolo — z mozliwoscia wewnetrznej regulacji 2 tego przesuniecia.Celem wykonania pomiaru nalezy uregulowac poziom napiecia wejsciowego w/cz tak, aby wol¬ tomierz 5 wskazal podzialke czerwono oznaczona, po czym ustawic przelacznik dzielnika 3 napiecia kalibrujacego w takiej pozycji, w której obraz oscylograficzny fig 2.b umozliwi latwa ocene wy¬ sokosci zafalowan hi i h2 oraz odleglosci d mie¬ dzy ich osiami. Dogodna wysokosc oscylogramu ustawia sie regulatorem wzmacniacza 7. Odczyt bezposredni bedzie: m tosc glebokosci modulacji kalibrujacej nastawio¬ na przelacznikiem dzielnika 3) jezeli zafalowania 4 obu krzywych nie stykaja sie z soba, lub: m = n, gdy sie stykaja wzdluz prostej laczacej ich szczy¬ ty. Celem uzyskania dokladniejszej odpowiedzi nalezy przy pomocy podzialki wygrawerowanej 5 na szybie oscylografu zmierzyc odleglosci hi, h2 oraz d i obliczyc wartosc m = n^hn + h2)/2d. PL

Claims (7)

1. Zastrzezenia patentowe io 1. Sposób pomiaru malych glebokosci modulacji amplitudowej sygnalu elektrycznego znamien¬ ny tym, ze badany sygnal poddaje sie proce¬ sowi dodatkowej modulacji amplitudowej ka¬ librujacej, a nastepnie demodulacji amplitu- 15 dowej, przy czym pozbawia sie go skladowej stalej powstajacej w detekcji, celem porów¬ nywania produktów modulacji mierzonej i ka¬ librujacej. 28
2. Sposób pomiaru malych glebokosci modulacji amplitudowej wedlug zastrz. 1 znamienny tym, ze modulacje kalibrujaca dokonuje sie napieciem przemiennym, odróznialnym od na¬ piecia modulacji mierzonej. 25
3. Sposób pomiaru malych glebokosci modulacji amplitudowej wedlug zastrz. 1 i 2 znamienny tym, ze glebokosc modulacji kalibrujacej re¬ guluje sie w zaleznosci od wartosci mierzone- *° go wspólczynnika m.
4. Urzadzenia do stosowania sposobu wedlug zastrz. 1—3 pomiaru malych glebokosci modu¬ lacji amplitudowej sygnalu elektrycznego zna- 55 mienne tym, ze zawiera w torze sygnalu ba¬ danego modulator amplitudowy (1), detektor amplitudy (4) i filtr pasmowo-przepustowy (6).
5. Urzadzenie wedlug zastrz. 4 znamienne tym, • ze modulator (1) jest elektrycznie polaczony ze zródlem (2) napiecia modulujacego kali¬ bracji oraz, ze w tym polaczeniu znajduje sie skalowany regulator (3) napiecia modulujacego. 45
6. Urzadzenie wedlug zastrz. 4 i 5, majace oscy¬ lograficzny wskaznik glebokosci modulacji, znamiene tym, ze generator (9) podstawy cza¬ su jest polaczony elektrycznie ze zródlem (2) napiecia modulujacego kalibracji w celu usta- 50 lenia stosunku czestotliwosci pracy obu tych zródel.
7. Urzadzenie wedlug zastrz. 4—6 znamienne tym, ze jako elementy czynne zawiera tran- 55 zystory.KI. 21 a4,14/02 52241 MKP H 03 c Flg.f fig. 2 PL
PL111841A 1965-11-30 PL52241B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL52241B1 true PL52241B1 (pl) 1966-10-25

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2735064A (en) Salzberg
US5248934A (en) Method and apparatus for converting a conventional DC multimeter to an AC impedance meter
PL52241B1 (pl)
US3388326A (en) Network for determining magnitude and phase angle of noise impedance
RU2167429C1 (ru) Способ измерения теплового сопротивления двухполюсников с известным температурным коэффициентом сопротивления
Pierce A proposed wattmeter using multielectrode tubes
SU798667A1 (ru) Устройство дл геоэлектрораз-ВЕдКи
SU978075A1 (ru) Автоматический диэлькометр
US2597303A (en) Radio-frequency vacuum tube voltmeter
Yariv et al. Experimental procedure for the determination of cavity parameters
SU1307417A1 (ru) Устройство дл поверки измерителей паразитной амплитудной модул ции
SU1617385A1 (ru) Панорамный измеритель S-параметров
SU752197A1 (ru) Измеритель коэффициента трансформации
SU949543A1 (ru) Устройство дл измерени диэлектрических веществ
SU1000933A1 (ru) Преобразователь параметров трехэлементных двухполюсников
SU659994A1 (ru) Цифровой измеритель добротности
SU1311707A1 (ru) Устройство дл исследовани функционального состо ни биоткани
SU1157490A1 (ru) Способ поверки электромеханических ваттметров
SU1130806A1 (ru) Способ измерени синусоидального напр жени и устройство дл его осуществлени
SU561147A1 (ru) Анализатор динамических характеристик
SU855553A1 (ru) Способ определени времени релаксации эффекта пол
SU131001A1 (ru) Станци дл частотного электромагнитного зондировани
SU661397A1 (ru) Фазометр
SU864202A1 (ru) Устройство дл измерени азимутальной неоднородности магнитного пол
SU924622A1 (ru) Устройство дл измерени нелинейности фазочастотных характеристик линий св зи