PL51668B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL51668B1
PL51668B1 PL109397A PL10939765A PL51668B1 PL 51668 B1 PL51668 B1 PL 51668B1 PL 109397 A PL109397 A PL 109397A PL 10939765 A PL10939765 A PL 10939765A PL 51668 B1 PL51668 B1 PL 51668B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
resonator
measured
measuring
sphincter
external
Prior art date
Application number
PL109397A
Other languages
Polish (pl)
Inventor
Tarach Tadeusz
Original Assignee
Doswiadczalne Zaklady Lampowe „Lamina"
Filing date
Publication date
Application filed by Doswiadczalne Zaklady Lampowe „Lamina" filed Critical Doswiadczalne Zaklady Lampowe „Lamina"
Publication of PL51668B1 publication Critical patent/PL51668B1/pl

Links

Description

Opublikowano: 25.VIII.1966 51668 KI. 21 a4, 71 MKP G 01 r Wllfc UKD BIBLIOTEK^ Twórca wynalazku: Tadeusz Tarach Wlasciciel patentu: Doswiadczalne Zaklady Lampowe „Lamina", Pia¬ seczno k/Warszawy (Polska) Sposób pomiaru dobroci zewnetrznej rezonatorów mikrofalowych i urzadzenie do stosowania tego sposobu Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru dobroci zewnetrznej rezonatorów mikrofalowych majacy zastosowanie np. przy ustalaniu sprzeze¬ nia rezonatora magnetronu z torem mikrofalo¬ wym. Najprostsza metoda okreslania dobroci zew¬ netrznej jest pomiar maksymalnego nachylenia krzywej fazowej zdejmowanej przy pomocy linii pomiarowej ze szczelina.Metoda ta jest pracochlonna, niedostosowana do potrzeb produkcji masowej i wymaga uzycia ko¬ sztownej linii pomiarowej. W produkcji masowej stosuje sie metode wobuloskopowa, zapewniajaca szybki pomiar dzieki wyskalowaniu urzadzenia przy pomocy rezonatorów o znanych dobrociach.Metoda ta jednak nie zapewnia duzej dokladnosci i wymaga sprzegaczy o duzej kierunkowosci.W metodzie bedacej przedmiotem wynalazku dobroc zewnetrzna okreslamy badajac wlasnosci rezonansowe ukladu zlozonego z rezonatora mie¬ rzonego 1 i rezonatora pomocniczego 2.Rezonator pomocniczy otrzymujemy przez zwar¬ cie toru z którym sprzezony jest rezonator mie¬ rzony. Zwarcia dokonujemy przy pomocy zwiera¬ cza regulowanego 3 co pozwala zmieniac czesto¬ tliwosc rezonansowa rezonatora pomocniczego.Gdy tlumienie wlasne rezonatorów jest kilka ra¬ zy mniejsze od wspólczynnika sprzezenia, uklad rezonatorów posiada dwie czestotliwosci rezonan¬ sowe. Róznica tych dwu czestotliwosci zalezy od czestotliwosci rezonatora pomocniczego. Minimal- 10 na róznica tych czestotliwosci jest odwrotnie pro¬ porcjonalna od kwadratu dobroci zewnetrznej.Pomiar polega wiec na zmierzeniu minimalnej róznicy czestotliwosci dwu rezonansów przy prze- strajaniu rezonatora pomocniczego 2. Przy pomo¬ cy rezonatorów o znanych dobrociach skalujemy minimalna róznice czestotliwosci w funkcji do¬ broci zewnetrznej. Metoda bedaca przedmiotem wynalazku pozwala wyeliminowac z ukladu ko¬ sztowna linie pomiarowa i pozwala na wspólprace z szybka metoda wobuloskopowa bez uzycia do¬ datkowych urzadzen jak reflektometr lub sprze¬ gacz.Schemat ukladu pomiarowego pokazano na fig. 1. Na fig. 2 i 3 podano dwie odmiany wykonania zwieracza regulowanego. Jak uwidoczniono na fig. 1 uklad pomiarowy sklada sie z rezonatora mierzonego 1 sprzezonego z odcinkiem toru w któ¬ rym przesuwa sie zwieracz 3. Moc do rezonatora pomocniczego 2 dostarczamy z generatora 4 przez tlumik separujacy 5 na petle sprzegajaca 6. Po¬ miarów dokonujemy obserwujac poziom mocy na wskazniku 10 do którego dostarczamy moc z petli przez tlumik separujacy 9. Wartosc czestotliwosci rezonansowych okreslamy przy pomocy falomierza 11.Gdy stosujemy zwieracz z dwoma petlami przedstawiony na fig. 2, wskaznik pokazuje przy 30 rezonansach maksimum mocy. Przy zastosowaniu 20 25 5166851668 zwieracza pokazanego na fig. 3 minimum mocy wystepuje przy czestotliwosciach rezonansowych.W przypadku gdy istnieje dostep do rezonatora mierzonego wtedy dwie petle 7, 8 lub jedna 6 mozna umiescic w rezonatorze mierzonym. Moz¬ na równiez jedna z petli 7, 8 umiescic na zwie- raczu, a druga w rezonatorze mierzonym. PLPublished: August 25, 1966 51668 IC. 21 a4, 71 MKP G 01 r Wllfc UKD LIBRARY ^ Inventor: Tadeusz Tarach Patent owner: Experimental Tube Works "Lamina", Pia¬seczno near Warsaw (Poland) Method of measuring external goodness of microwave resonators and a device for using this method. There is a method of measuring the external QD of microwave resonators, which can be used, for example, to determine the coupling of a magnetron resonator with a microwave path. The simplest method of determining external QD is to measure the maximum slope of the phase curve taken with a measuring line from the gap. This method is laborious, It is not adapted to the needs of mass production and requires the use of a carton measuring line. In mass production, the vobuloscopic method is used, which ensures fast measurement by scaling the device with resonators of known quality. This method, however, does not ensure high accuracy and requires couplers with high directionality. the method being pr The subject of the invention is determined by examining the resonance properties of the system consisting of the measured resonator 1 and the auxiliary resonator 2. The auxiliary resonator is obtained by short-circuiting the path to which the measured resonator is connected. The short-circuit is made with an adjustable short-circuit 3, which allows to change the resonant frequency of the auxiliary resonator. When the resonator's own damping is several times lower than the coupling factor, the resonator system has two resonant frequencies in the word. The difference between these two frequencies depends on the frequency of the auxiliary resonator. The minimum difference of these frequencies is inversely proportional to the square of the external Q factor. The measurement therefore consists in measuring the minimum frequency difference of two resonances during the tuning of the auxiliary resonator 2. With the help of resonators with known Q factor, we scale the minimum difference to frequency as a function of ¬ external broth. The method, which is the subject of the invention, allows to eliminate the tube measuring line from the system and allows for cooperation with a fast wobuloscopic method without the use of additional devices such as a reflectometer or a clutch. The scheme of the measuring system is shown in Fig. 1. Figs. two versions of the regulated sphincter. As shown in Fig. 1, the measuring system consists of the measured resonator 1 connected to the section of the track in which the sphincter moves 3. The power to the auxiliary resonator 2 is supplied from the generator 4 through the separating damper 5 on the coupling loop 6. Measurements are made by observing the power level on the indicator 10 to which we supply power from the loop through the separating damper 9. The value of the resonant frequencies is determined with the wavometer 11. When using the two-loop sphincter shown in Fig. 2, the indicator shows at 30 resonances of maximum power. When using the sphincter shown in Fig. 3, the minimum power occurs at resonant frequencies. When there is access to the measured resonator, then two loops 7, 8 or one 6 can be placed in the measured resonator. One of the loops 7, 8 can also be placed on the sphincter and the other in the measured resonator. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenia patentowe io Sposób pomiaru dobroci zewnetrznej rezona¬ torów mikrofalowych znamienny tym, ze tor obciazony rezonatorem mierzonym (1) zwie¬ ra sie przy pomocy zwieracza regulowanego is (3) i zmieniajac jego polozenie mierzy sie róz¬ nice dwu czestotliwosci rezonansowych, a mi¬ nimalna róznice tych czestotliwosci skaluje sie teoretycznie lub eksperymentalnie w warto¬ sciach dobroci zewnetrznej. Urzadzenie do pomiaru dobroci zewnetrznej re¬ zonatorów sposobem wedlug zastrz. 1, zna¬ mienne tym, ze dwie petle sprzegajace (7 8) polaczone z wejsciowa i wyjsciowa lima wspól¬ osiowa umieszcza sie na zwieraczu regulowa¬ nym (3) lub rezonatorze mierzonym (1). Odmiana urzadzenia wedlug zastrz. 1, ?na"lien- na tym, ze jedna z petli sprzegajacych (7, 8 umieszcza sie na zwieraczu regulowanym (3) a druga w rezonatorze mierzonym (1). Odmiana urzadzenia wedlug zastrz 1, zna¬ mienna tym, ze jedna petle (6) której konce laczy sie z przewodami wewnetrznymi wej¬ sciowej i wyjsciowej linii wspólosiowej umie¬ szcza sie na zwieraczu regulowanym (3) lub w rezonatorze mierzonym (1). Fio.L. Fi9.3. Bhk 1161/66 r. 290 eg*." A PL1. Patent claims and a method of measuring the external quality of microwave resonators, characterized in that the path loaded by the measured resonator (1) is short-circuited by means of the adjustable sphincter is (3) and by changing its position, the differences between the two resonance frequencies are measured, and the minimal difference of these frequencies scales theoretically or experimentally in the values of external goodness. A device for measuring the external quality of resonators according to the method 1, characterized by the fact that two bonding loops (7 8) connected to the input and output coaxial limb are placed on an adjustable sphincter (3) or a measured resonator (1). Device variant according to claim 1, "based on the fact that one of the bonding loops (7, 8) is placed on the adjustable sphincter (3) and the other in the measured resonator (1). Device variant according to claim 1, characterized in that one loop is (6) the ends of which are connected to the internal conductors of the input and output coaxial lines are placed on the adjustable sphincter (3) or in the measured resonator (1) Fio.L. Fi9.3 Bhk 1161/66 r. 290 eg *. "A PL
PL109397A 1965-06-05 PL51668B1 (en)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL51668B1 true PL51668B1 (en) 1966-06-25

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3458808A (en) Apparatus for measuring the properties of a material by resonance techniques
EP0305013A2 (en) Inductive proximity sensor
CA2333892A1 (en) A microwave fluid sensor and a method for using same
JPH01193607A (en) Use of dielectric microwave resonator and sensor circuit
Works et al. A resonant-cavity method for measuring dielectric properties at ultrahigh frequencies
PL51668B1 (en)
RU2059229C1 (en) Method for measurement of properties of anisotropic dielectric material and device for its embodiment
RU2567441C1 (en) Digital measurement of electric magnitudes
EP0558759A1 (en) Equipment for measuring physical quantity
US3621385A (en) Meter for measuring capacitances of extremely high loss dielectric materials
RU2579359C1 (en) Method of measuring physical quantity
SU310578A1 (en) DEVICE FOR MEASUREMENT OF PARAMETERS OF THE VIBRATIONAL SYSTEM
SU866504A2 (en) Device for frequency-wise rejecting of quartz piezoelectric resonators in a given temperature range
US2535062A (en) Ultra high frequency signal generator
Šícha et al. Characteristics of a toroidal resonator for plasma diagnostics
US2774937A (en) Method of measuring q
RU2066853C1 (en) Device measuring temperature
SU1518741A1 (en) Radioelectronic pickup of length
US2431339A (en) Method and apparatus for determining the resonant frequencies of networks
RU2034276C1 (en) Device for testing characteristics of dielectric materials
RU2723295C1 (en) Radio-frequency moisture measuring device
SU859958A2 (en) Quartz resonator parameter measuring device
SU873062A1 (en) Device for measuring dielectric parameters
SU873160A1 (en) Device for measuring volume resonator electrodynamic characteristics
SU588512A1 (en) Device for measuring thermal factor of quartz resonator frequency