PL51284B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano: 20.VI.1966 51284 KI. 42 i, 11/05 MKP G 01 k $|% UKD BieTToTCKAJ Twórcawynalazku: inz. Wladyslaw Migdal Wlasciciel patentu: Instytut Obróbki Skrawaniem, Kraków (Polska) Termometr do pomiaru temperatury powierzchni korpusów obrabiarek Przedmiotem wynalazku jest termometr majacy zastosowanie do pomiaru temperatury powierzchni korpusów obrabiarek. Dotychczas pomiary tempera¬ tury powierzchni korpusów obrabiarek dokonywane byly za pomoca termopar i termokolorów, które w tym zastosowaniu obarczone byly duzymi bledami.Znane sa równiez termometry oporowe, w których wykorzystano zjawisko zmiany opornosci czujników tensometrycznych pod wplywem zmiany tempera¬ tury, ale maja one czujnik przyklejony na stale do ukladu, którego temperature sprawdzaja lub tez czuj¬ nik jest umieszczony swobodnie w pomieszczeniu zamknietym. Wada tych termometrów jest to, ze sa one przeznaczone wylacznie do sprawodzania tem¬ peratury tylko ukladu, do którego zostaly na stale przyklejone, a w przypadku umieszczenia czujnika w pomieszczeniu zamknietym, czas po uplywie któ¬ rego termometr wskazuje rzeczywista temperature badanej powierzchni jest bardzo dlugi.Termometr wedlug wynalazku wad tych nie wy¬ kazuje. Jest prosty i latwy w obsludze oraz cechu¬ je go znacznie wieksza dokladnosc pomiarów od sto¬ sowanych dotychczas. Zaleznosc pomiedzy przyros¬ tem temperatury, a iloscia dzialek na przyrzadzie pomiarowym mostka tensometrycznego jest liniowa.Dokladnosc pomiaru wynosi 1,5°C. Termometr we¬ dlug wynalazku ma czujnik przyklejony na stale miedzy sztywna plytka szklana, a plytka z folii mie¬ dzianej, która jest dobrym przewodnikiem ciepla.Czujnik wedlug wynalazku nadaje sie równiez do 10 15 20 25 80 zamontowania w urzadzeniu przenosnym, poniewaz stanowi calosc zamknieta w sobie o sztywnym ukla¬ dzie takim, ze odksztalcenie plytki spowodowane do¬ ciskiem czujnika do badanej powierzchni nie po¬ woduje bledu pomiaru.Termometr wedlug wynalazku jest uwidoczniony na zalaczonym rysunku, na którym fig. 1 przedsta¬ wia czujnik czynny termometru, fig. 2 czujnik bier¬ ny, fig. 3 sposób podlaczenia czujników do mostka tensometrycznego, a fig. 4 pokazuje zaleznosc mie¬ dzy przyrostem temperatury, a przyrostem dzialek na mostku tensometrycznym.Termometr sklada sie z czujnika czynnego 7, czuj¬ nika biernego 8 oraz mostka tensometrycznego JO.Czujnik czynny 7 (fig. 1) sklada sie z korpusu 1, w którym zamocowany jest przewód 3 za pomoca odgietki 2. Konce przewodu 3 doprowadzone sa do tensometru oporowego 5 naklejonego na szklana plytke 4. Tensometr 5 osloniety jest miedziana plyt¬ ka 6. Zamiast miedzianej plytki 6, moze byc zasto¬ sowana plytka z innego materialu o duzym wspól¬ czynniku przewodnosci cieplnej na przyklad ze sreb¬ ra. Szklana plytka 4 przyklejona jest do korpusu 1.Czujnik bierny 8 zbudowany jest analogicznie jak czujnik czynny 7, róznica polega jedynie na tym, ze zamiast miedzianej oslony 6 zastosowano szklana 4a. Czujnik bierny 8 mozna jeszcze dodatkowo obu- dowas rurka igelitowa.Chcac dokonac pomiaru temperatury powierzchni 513843 51284 4 lozysk lub korpusów, termometrem wedlug wynalaz¬ ku, przyklada sie plytke 6 czujnika 7 do badanego przedmiotu. Na skutek wzrostu temperatury plytki 6 nagrzewa sie szklana plytka 4 i rozszerza sie rozcia¬ gajac równoczesnie tensometr 5, który zmieniajac wymiary zmienia swa opornosc. Róznica oporu elek¬ trycznego pomiedzy czujnikami czynnym i biernym wykazywana jest na tensometrycznym mostku 9, którego wskaznik mozna wycechowas w stopniach temperatury. PL

Claims (2)

1. Zastrzezenie patentowe Termometr do pomiaru temperatury powierzchni korpusów obrabiarek, skladajacy sie z czujników czynnego i biernego zwierajacych tensometr opo¬ rowy oraz mostka tensometrycznego, znamienny tym, ze tensometr czujnika czynnego naklejony jest na plytce szklanej i osloniety plytka (6) z materialu o duzej przewodnosci cieplnej, a tensometr czujnika biernego naklejony na plytke szklana osloniety jest plytka szklana (4a). 5 10KI. 42 i 11/05 51284 MKP G 01 k 7 FIG 2 c FIG-3KI. 42 i,U/05 51164 MKP G 01 k •c 404 J 96 66 60 72 64 56 48 40 3Z 24 \ 46 1 L / ds. O 0.4 0.8 1.2 1,6 20 2,4

2.8 Fig- d Zaklady Kartograficzne, Wroclaw, zam. BIBLIOTEKA Urzedu Polentwegoj 138, naklad 350 egz. PL