PL50540B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano: 15.11.1966 50540 KI 42h, 20/01 MKP GOA\ 3 jao UKD U, nredb **nte*eo J**9*M\ ff-t/ Il Wspóltwórcy wynalazku: prof. dr Henryk Niewodniczanski, dr Jerzy Pietruszka, mgr Krzysztof Melzacki, mgr Jó¬ zef Pilawa Wlasciciel patentu: Instytut Fizyki Jadrowej w Krakowie, Kraków (Polska) Spektrometr fotoelektryczny Przedmiotem wynalazku jest spektrometr foto¬ elektryczny stanowiacy urzadzenie wspólpracujace ze znanymi spektrografami. Urzadzanie to zastepu¬ je stosowana w spektrografach technike rejestracji kliszowej nowoczesna technika rejestracji fotoelek- trycznej.Znane dotychczas typy spektrometrów fotoelek- trycznych posiadaja charakterystyczny brak uni¬ wersalnosci, a mianowicie niemoznosc pomiaru dwóch dowolnych, w tym takze dowolnie blisko lezacych linii w widmie, bowiem szczeliny wybie¬ rajace tych spektrometrów z powodu swoich skon¬ czonych rozmiarów, nie daja sie ustawic w do¬ wolnie malej odleglosci od siebie. Znane sa kon¬ strukcje spektrometrów, w których fotopowielacze maja stala pozycje w urzadzeniu, jednakze bez mozliwosci przesuwu szczelin wzdluz widma. Znane sa takze spektrometry, w których istnieje mozli¬ wosc przesuwu szczeliny wybierajacej wzdluz ca¬ lego widma, jednakze w tych typach spektrometrów fotopowielacze nie zajmuja stalych polozen w urza¬ dzeniu. Wada tego typu rozwiazania jest skompli¬ kowana konstrukcja mechaniczna, co pociaga za soba brak gwarancji precyzji pomiarów.Brak uniwersalnosci i wady te usuwa spektro¬ metr fotoelektryczny wedlug wynalazku, w którym kazdy zespól optyczno-mechaniczny wraz z szcze¬ lina wybierajaca umieszczony jest w pasie widma wytworzonym przez wzdluzny podzial widma plasz¬ czyznami prostopadlymi do kierunku linii widmo - 10 15 20 25 2 wych. Umozliwia to pomiar dwu lub wiecej dowol¬ nych linii z widma, w tym takze lezacych dowolnie blisko siebie z pomoca dwu lub wiecej zespolów optyczno-mechanicznych. Pomimo ze w spekromet- rze wedlug wynalazku szczeliny wybierajace maja mozliwosc przesuwu wzdluz calego widma, fotopo¬ wielacze zajmuja stala pozycje w urzadzeniu, sa polaczone z obudowa co zapewnia wieksza pewnosc i niezawodnosc dzialania oraz precyzje pomiarów.Spektrometr wedlug wynalazku jest przykladowo uwidoczniony na rysunku na którym fig. 1 przed¬ stawia uproszczony schemat spektrometru w wido¬ ku z boku, fig. 2 uproszczony schemat spektrome¬ tru w rzucie prostopadlym do rzutu fig. 1.Spektrometr fotoelektryczny wedlug wynalazku sklada sie z dwu zespolów optyczno-mechanicz¬ nych. W sklad kazdego zespolu optyczno-mecha¬ nicznego wchodzi: zwierciadlo 12, szczelina 1 wy¬ bierajaca zadana linie z widma 7 dawanego przez wspólpracujacy spektrograf 2, swiatlowody 3 i 5, zwierciadlo 4. Zespoly te umieszczone sa we wspól¬ nej obudowie 13 przesuwnie jeden nad drugim w kierunku prostopadlym do kierunku przesuwu i oddzielone plaszczyznami 14.Kazdy z tych zespolów prowadzi wiazke promie¬ niowania 15: wiazka 15 jest doprowadzana do wspólpracujacego spektrografu 2 swiatlowodem glównym 16. Po wyjsciu ze wspólpracujacego spektrografu 2, wiazka 15 pada na zwierciadlo 12, po odbiciu od zwierciadla 12 przechodzi przez 5054050540 szczeline 1, nastepnie przez swiatlowód 3 i odbija¬ jac sie od zwierciadla 4 doprowadzona jest swiatlo¬ wodem 5 do fotopowielacza 6. Swiatlowody przy¬ rzadu wykonane sa w postaci rurek o zwierciadla¬ nej sciance wewnetrznej.Wybierajaca szczelina 1 moze byc przesuwana niezaleznie od szczeliny drugiego zespolu optycz¬ no-mechanicznego wzdluz widma 7 za pomoca mi¬ krometru 8 z nastawna tarcza 9. Szczelina moze byc równiez przesuwana za pomoca silnika 10 przez mechanizm 11, synchronicznie z przesuwem tasmy samopisu.Spektrometr fotoelektryczny sluzy do przepro¬ wadzania dwóch rodzajów pomiarów, a mianowicie: przy wspólpracy z synchroskopem rejestruje cza¬ sowe przebiegi swiecenia linii spektralnych w zró¬ dlach promieniowania, natomiast przy wspólpracy z samopisem rejestruje widma — stalych w czasie — zródel promieniowania. W szczególnosci stanowi on wyposazenie naukowego laboratorium oraz sta¬ nowiska automatycznej kontroli przemyslowych procesów technologicznych poslugujacych sie ana¬ liza spektralna, zwlaszcza w hutnictwie i odlew¬ nictwie. is 3. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenia patentowe Spektrometr fotoelektryczny . zawierajacy we wspólnej obudowie przesuwne zespoly optyczno- mechaniczne, znamienny tym, ze zespoly te sa ulozone jeden nad drugim prostopadle do kie¬ runku przesuwu i oddzielone od siebie plasz¬ czyznami (14). Spektrometr wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze kazdy zespól optyczno-mechaniczny wraz ze swoja wybierajaca szczelina (1) umieszczony jest na pasie widma wytworzonym przez wzdlu¬ zny podzial widma (7) plaszczyznami (14). Spektrometr wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze ma swiatlowody (3), (5), (16) wykonane w po¬ staci rurek o zwierciadlanej sciance wewnetrz¬ nej. -Spektrometr wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze fotopowielacze (6) sa polaczone na stale z obudowa (13) przy równoczesnej mozliwosci przesuwu wybierajacych szczelin (1) wzdluz ca¬ lego widma (7). Ftg. i ZG „Ruch" W-wa, zam. 1524-65 naklad 240 egz. PL