PL49912B1 - - Google Patents

Description

Opublikowano: 11.X.1965 49912 KI. 42 k, 46/06 MKP G 01 n UKD Mfo Twórca wynalazku: mgr inz. Tadeusz Skrzynski, Alojzy Kmiecik Wlasciciel patentu: Zaklady Przemyslu Metalowego H. Cegielski Przedsiebiorstwo Panstwowe, Poznan (Polska) Sposób badania stopnia przylegania stopu lozyskowego do korpusów panwi lozysk slizgowych przy pomocy defektoskopów ultradzwiekowych Przedmiotem wynalazku jest sposób badania stopnia przylegania stopu lozyskowego do korpu¬ sów panwi lozysk slizgowych.Mozliwosc stwierdzenia stopnia przylegania sto¬ pu lozyskowego na calej powierzchni lozyska ma doniosle znaczenie, szczególnie przy wytwarzaniu duzych lozysk slizgowych, podlegajacych obciaze¬ niom zmiennym. Najdoskonalszym znanym narze¬ dziem dla wykrywania braku przylegania sa apa¬ raty ultradzwiekowe. Znane sa dwa sposoby sto¬ sowania tych aparatów. Stosuje sie mianowicie w tym celu metode echa polegajaca na tym, ze brak przylegania w danym miejscu ocenia sie na podstawie wielkosci impulsu odbitego od miejsca nieciaglosci. Innym znanym sposobem jest metoda cienia (przepuszczania), przy której o istnieniu nie¬ ciaglosci wnioskuje sie na podstawie braku impul¬ su na sondzie odbiorczej.Te znane sposoby badania wykazuja w praktycz¬ nym zastosowaniu pewne wady. Metode echa moz¬ na stosowac, gdy grubosc wylania panewki jest wieksza od strefy martwej defektoskopu, co juz ogranicza zakres badania. Ponadto na granicy dwóch osrodków wystepuje zawsze przy tej meto¬ dzie impuls odbicia, mimo, ze przyleganie jest do¬ bre. Metoda cienia wymaga stosowania specjalnych urzadzen, a jej wyniki w zastosowaniu do pane¬ wek sa nieje "noznaczne. Na ekranie lampy oscylo¬ skopowej wadjr w odlewie korpusu panwi lub w stopie lozyskowym (pory, wtracenia niemetalicz¬ ne) daja taki sam efekt, jak i brak przylegania.Wad tych nie posiada sposób wedlug wynalazku, nazywany dalej metoda echo-cienia. Polega on na 5 uzyciu jednej glowicy nadawczo-odbiorczej defek¬ toskopu ultradzwiekowego, która przyklada sie we¬ wnatrz panwi do stopu lozyskowego. Drgania ul¬ tradzwiekowe przechodzace przez dwa rózne osrod¬ ki: stop lozyskowy i korpus stalowy, sa tlumione io w zaleznosci od stopnia przylegania stopu do kor¬ pusu panwi. Wysylany impuls czesciowo odbija sie od granicy korpusu stalowego, a wielkosc impulsu echa dna jest przy tym sposobie miernikiem sily przylegania. 15 Sposób wedlug wynalazku jest dokladniej przed¬ stawiony w opisanym ponizej przykladzie zasto¬ sowania.Bada sie np. przyleganie stopu lozyskowego do 20 korpusu panwi lozyska silnika okretowego. Defek¬ toskop ultradzwiekowy ustawia sie np. na wzmoc¬ nienie 5, szerokosc impulsu 2 oraz czestotliwosc 10 do 14 MHz. Glowice nadawczo-odbiorcza apara¬ tu przyklada sie do powierzchni stopu lozyskowe- 25 go i obserwuje na ekranie lampy oscyloskopowej aparatu wielkosc impulsu echa dna (impulsu odbi¬ tego od korpusu stalowego). Stopien przylegania ocenia sie wedlug trzystopniowej skali; gdy impuls echa dna wynosi 100 do 80% impulsu maksymal- 30 nego, przyleganie jest dobre a jego sila jest w gra- 4991249912 3 4 nicach wytrzymalosci samego stopu i wynosi 6 do 8 kg/mm2; gdy impuls echa dna wynosi 80 do 10% impulsu maksymalnego, przyleganie jest slabe, a jego sila wynosi 6 do 1 kg/mm2, natomiast zanik impulsu echa dna swiadczy o braku przylegania stopu do panwi w danym miejscu.Sposób wedlug wynalazku pozwala wyelimino¬ wac panewki z miejscowym brakiem przylegania oraz umozliwia selekcje panewek wedlug sily przylegania, dzieki czemu panewki o obnizonym przyleganiu zuzywa sie jako pólpanwie górne, ob¬ ciazone znacznie mniejszymi silami niz dolne. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób badania stopnia przylegania stopu lozy¬ skowego do korpusów panwi lozysk slizgowych 5 przy pomocy defektoskopów ultradzwiekowych z zastosowaniem jednej glowicy nadawczo-odbior¬ czej, znamienny tym, ze glowice przyklada sie od strony stopu lozyskowego a wysylane przez nia impulsy reguluje sie w taki sposób, aby na grani¬ cy dwóch osrodków: stopu lozyskowego i korpusu panwi nastepowalo ich odbicie, przy czym wedlug wielkosci impulsu odbitego od dna ocenia sie sile przylegania lub brak przylegania stopu lozyskowego do panwi. 10 Zaklady Kartograficzne, Wroclaw, A;447. naklad 310 egz. PL