PL45337B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL45337B1
PL45337B1 PL45337A PL4533761A PL45337B1 PL 45337 B1 PL45337 B1 PL 45337B1 PL 45337 A PL45337 A PL 45337A PL 4533761 A PL4533761 A PL 4533761A PL 45337 B1 PL45337 B1 PL 45337B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
copper
chlorine
gcds
cadmium sulphide
concentration
Prior art date
Application number
PL45337A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL45337B1 publication Critical patent/PL45337B1/pl

Links

Description

Opublikowano dnia 10 stycznia 1962 r. y*i< POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 45337 KI. 21 g, 29/01 Przemyslowy Instytut Elektroniki*) Warszawa, Polska Sposób wytwarzania warstw fotoprzewodzacych, zwlaszcza w fotoopor- nikach lub podobnych urzadzeniach z pólprzewodnikami Patent trwa od dnia 11 maja 1961 r.Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwa¬ rzania warstw fotoprzewodzacych z siarczku kadmowego, aktywowanego na przyklad mie¬ dzia i chlorem.Znane sa elementy fotoprzewodzace, stano¬ wiace monokrzysztaly siarczku kadmowego, jednak ze wzgledu na niewielkie ich wymiary zastosowanie tych elementów w budowie urza¬ dzen elektronowych jest bardzo ograniczone.W celu usuniecia tej wady zastosowano warstwy fotoprzewodzace polikrystaliczne na bazie siarczku kadmowego aktywowanego za pomoca miedzi, chloru, srebra lub innych pierwiastków, przy czym znane dotychczas spo¬ soby wytwarzania i aktywacji tych warstiw opieraja sie na tak zwanej technice fosforowej, *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze wspól¬ twórcami wynalazku sa Mieczyslaw Czajkowski, Andrzej Baczynski i Janusz Bissinger. polegajacej na stosowaniu temperatur 1100 do 1200° C w atmosferze gazów innercyjnych.Przedmiotem wynalazku jest sposób wytwa¬ rzania polikrystalicznych warstw fotoprzewo¬ dzacych na bazie siarczku kadmu, w którym aktywacje przeprowadza sie dwufazowo w tem¬ peraturach rzedu 500 do 600° C w atmosferze powietrza, otrzymujac w pierwszej fazie zakty- wowane mikrokrysztaly, które po zmieleniu i prasowaniu powtórnie sie spieka, otrzymujac warstwe polikrystaliczna.Dzieki dwukrotnemu spiekaniu warstwa poli¬ krystaliczna uzyskuje wysoka czulosc po¬ wierzchniowa, obejmujaca caly zakres widzial¬ ny widma i bliskiej podczerwieni, których to wlasnosci nie mozna uzyskac zadnym ze zna¬ nych sposobów.Sposób wytwarzania warstw fotoczulych we¬ dlug wynalazku opisano ponizej. Materialem wyjsciowym warstwy jest siarczek kadmu.L u n^iiUscn^SRLw^aj. W celu aktywacji siar¬ czek kadmu miesza sie ze zwiazkami zawieraja¬ cymi miedz i cl\lor, na przyklad' CuS04 i NaCl, w takiej ilosci, aby stezenie jonów miedzi wy¬ nosilo okolo 5 . 10-* g/gCdS, a stezenie jonów chloru — okolo 10-2 g/gCdS. Mieszanitne te pod¬ daje sie suszeniu a nastepnie spiekaniu w tem¬ peraturze okolo 550° C, w czasie okolo 2 godzin.Otrzymany spiek miele sie na przyklad na mlynach kulowych do granulacji okolo 50/4, przeplukuje, w celu usuniecia aktywatorów lub innych domieszek nie zwiazanych z krysztala¬ mi, suszy, a nastepnie prasuje w odpowiedniego ksztaltu format pod cisnieniem okolo 5000 at i ponownie spieka w temperaturze okolo 550° C, w czasie okolo 30 min. Otrzymane plaskie ksztaltki stanowia warstwe polikrystaliczna o wlasnosciach fotoprzewodzacych, posiadajaca znaczna czulosc powierzchniowa w zakresie wszystkich dlugosci swiatla widzialnego i blis¬ kiej podczerwieni.W celu zastosowania ksztaltek jako elemen¬ tów fotooporników lub innych urzadzen elek¬ tronowych nanosi sie na nie elektrody, na przy¬ klad w postaci warstwy indowej naparowywa¬ nej w prózni znanymi sposobami.Na rysunku fig. 1 przedstawia przykladowo element fotooporowy, stanowiacy plaska ksztaltke 1 polikrystalicznego siarczku kadmu aktywowanego miedzia i chlorem, z naniesio¬ nymi elektrodami 2, w postaci warstw indu, fig. 2 — przekrój przykladowej konstrukcji fotoopornika, w którym elektrody 2 warstwy fotoczulej 1 umieszczonej wewnatrz obudowy 3 sa polaczone z nózkami metalowymi 6 za po¬ moca pasty przewodzacej 4, na przyklad srebr¬ nej, przy czym warstwa fotoprzewodzaca jest oslonieta za pomoca szklanej szybki 5, a fig. 3 — przekrój tego fotoopornika wzdluz linii AA na fig. 2.Sposób wytwarzania warstw fotoczulych we¬ dlug wynalazku moze znalezc równiez zastoso¬ wanie przy produkcji innego rodzaju urzadzen elektronowych. PL

Claims (3)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób wytwarzania warstw fotoprzewo¬ dzacych, zwlaszcza w fotoopornikach lub podobnych urzadzeniach z pólprzewodnika¬ mi, stanowiacych polikrystaliczne warstwy siarczku kadmu aktywowanego na przyklad miedzia, chlorem lub innymi pierwiastkami, znamienny tym, ze mieszanine siarczku kadmu z aktywatorami spieka sie w tem¬ peraturze 500 do 600° C w czasie okolo 2 godzin, a otrzymany produkt miele sie do granulacji okolo 50 a, plucze i prasuje pod cisnieniem okolo 5000 at w celu otrzy¬ mania zadanej ksztaltki, po czym ponownie spieka w temperaturze 500 do 600° C w cza¬ sie okolo 30 min.
  2. 2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze do aktywacji siarczku kadmu stosuje sie CuS04 i NaCl w takiej ilosci, aby stezenie jonów miedzi wynosilo 5 . 10~4 g/gCdS, a ste¬ zenie jonów chloru 10"2 g/gCdS. Przemyslowy Instytut Elektroniki Zastepca: inz. Zbigniew Kaminski rzecznik patentowyDo opisu patentowego nr 45337 '•/, IfófA Lc///&y^i AA z&si/ is/s Fig.
  3. 3 PL
PL45337A 1961-05-11 PL45337B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL45337B1 true PL45337B1 (pl) 1961-12-15

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Edwards et al. A new transparent conducting oxide in the Ga 2 O 3–In 2 O 3–SnO 2 system
Payne University of Illinois at Urbana-Champaign
Talimian et al. Transparent magnesium aluminate spinel: Effect of critical temperature in two-stage spark plasma sintering
Van Steensel et al. The luminescence of Bi3+ in LalnO3 and some other perovskites
Wu et al. Dielectric properties of (Ba, Nb) doped TiO2 ceramics: Migration mechanism and roles of (Ba, Nb)
Carlsson et al. Photoplastic behavior of CdTe
Gul et al. Effect of vanadium and barium on the Bi-based (2223) superconductors
Kumar et al. Factors contributing to the local polar-structural heterogeneity and ultrahigh piezoelectricity in Sm-modified Pb (Mg1/3Nb2/3) O3–PbTiO3
Kim et al. Electrical and thermal transport properties of S-and Te-doped InSe alloys
Braden et al. Anomalous dispersion of LO phonon branches in Ba0. 6K0. 4BiO3
Li et al. Atomic-scale microstructures, Raman spectra and dielectric properties of cubic pyrochlore-typed Bi1. 5MgNb1. 5O7 dielectric ceramics
PL45337B1 (pl)
Pal et al. Electric field and mechanical stress driven structural inhomogeneity and compositionally induced relaxor phase transformation in modified BaTiO3 based lead-free ferroelectrics
Gupta et al. Optimization of SnS active layer thickness for solar cell application
Bharati et al. The electrical properties of Fe2WO6
Osbond et al. High dielectric constant ceramics in the PbSc0. 5Ta0. 5O3-PbZrO3 and PbSc0. 5Ta0. 5O3-PbTiO3 systems
Fujimoto et al. Pressure and temperature dependence of dielectric properties of brominated trissarcosine calcium chloride
Nishida et al. 119Sn-Mössbauer Spectroscopic Study of High-Tc Superconducting YBa2 (Cu0. 995Sn0. 005) 3O7-y and the Gamma-Ray Irradiation Effect
Nautiyal et al. Dielectric properties of silver sodium niobate mixed ceramic system
Adam Transport and thermoelectric properties of crystalline Cu2− xAgxSe alloys prepared by facile method
Kus et al. Phase transitions in LixNa1-xNbO3 solid solution for 0< x< 0.1
Murata et al. Electrical nanocontact between bismuth nanowire edges and electrodes
PL50672B1 (pl)
Siethoff et al. Plastic Deformation of GaSb and the Influence of Stacking‐Fault Energy on Dynamical Recovery of Semiconductors
Sohn et al. Strong ferroelectric perovskite phase in Pb-containing composites