PL45208B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL45208B1
PL45208B1 PL45208A PL4520860A PL45208B1 PL 45208 B1 PL45208 B1 PL 45208B1 PL 45208 A PL45208 A PL 45208A PL 4520860 A PL4520860 A PL 4520860A PL 45208 B1 PL45208 B1 PL 45208B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
intensity
electro
light
optical
organ
Prior art date
Application number
PL45208A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL45208B1 publication Critical patent/PL45208B1/pl

Links

Description

Wynalazek dotyczy automatycznego lub recz¬ nego, elektrooptycznego zrównywania sygnalu wywolanego w detektorze swietlnym (np. w fotopowielaczu) przez wpadajacy o regulowa¬ nym natezeniu promien promien swietlny z drugim sygnalem, wywolanym przez drugi pro¬ mien swietlny (promien mierzony) padajacy na ten sam lub inny detektor.W znanych ukladach do zrównywania pro¬ mieni swietlnych, w celu zmiany natezenia jednego promienia stosuje sie zwykle absor¬ bery o róznym stopniu oslabiania, jak kliny neutralne itp-, które moga byc przestawiane recznie, silnikiem elektrycznym lub elektro¬ magnetycznie. Wynikaja stad ostre warunki wzgledem konstrukcji mechanicznej.*) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wynalazku jest Wolfgang Dietzsch.Trudnosci staja sie szczególnie duze, gdy za¬ chodzi koniecznosc zrównywania zdalnie ste¬ rowanego z jednoczesnym uzyciem absorbera.Duza liczba odpowiednich absorberów ko¬ nieczna byla dotychczas szczególnie przy cia¬ gle zachodzacych zmianach natezenia swiatla oraz przy znacznie rózniacych sie wartosciach bezwzglednych natezenia swiatla. Wymiana ab¬ sorberów polaczona byla ze znaczna strata cza¬ su. Konieczne bylo równiez troskliwe przecho¬ wywanie i czeste czyszczenie absorberów.Znane uklady pracuja w opraciu o modula¬ tory swietlne, mechaniczne lub elektrooptycz- ne. W tym przypadku promienie sa modulo¬ wane liczba obrotów przeslony lub czestotli¬ woscia napiecia pradu zmiennego, a to w celu uproszczenia wzmacniania sygnalu pradu zmien¬ nego zamiast pradu stalego powstajacego w odbiorniku.Zadaniem wynalazku jest usuniecie braków, wystepujacych w znanych ukladach. Osiaga sie to w ten sposób, zs promien swietlny o re¬ gulowanym natezeniu przechodzi przez elektro- optyczny organ zrównujacy, np. krysztal, przy czym wyjsciowe natezenie swiatla jest regulo¬ wane automatycznie lub recznie az do zrów¬ nania z natezeniem swiatla promienia mierzo¬ nego, za pomoca zmienianego napiecia stale¬ go, przylozonego do elektrod elektrooptycznego organu zrównujacego, a wielkosc zmiany przy¬ lozonego napiecia wskazuje róznice natezenia obu promieni.Nowy sposób odbiega od znanego zrówny¬ wania natezen swiatla na drodze mechaniczno -optycznej i pracuje w ten sposób, ze nateze¬ nie promienia swietlnego o regulowanym nate¬ zeniu jest przeprowadzane do wartosci rów¬ nej lub proporcjonalnej do natezenia mierzo¬ nego promienia swietlnego przez zmiane napie¬ cia stalego, przylozonego do elektrod uzytego elektrooptycznego organu zrównujacego. y W tym celu promien swietlny o regulowa¬ nym natezeniu przechodzi przez elektrooptycz- ny organ zrównujacy, skladajacy sie z krysz¬ talu optycznie czynnego, np. z plytki wykona¬ nej z pierwszorzedowego fosforanu amonowe¬ go lub potasowego i umieszczonej pomiedzy dwoma polaryzatorami, przy czym plytka jest wycieta w kierunku osi krystalograficznej „Z".Plytka ta jest przy tym polozona pomiedzy dwiema odpowiednimi elektrodami w ten spo¬ sób, ze swiatlo moze przechodzic w kierunku pola elektrycznego. W tym przypadku nateze¬ nie wychodzacego swiatla jest funkcja napie¬ cia, przylozonego do elektrod. Jezeli na przy¬ klad w stanie wyjsciowym natezenie swiatla promienia mierzonego i .promienia zrównywa¬ nego, a wskutek procesu pomiarowego nateze¬ nie promienia mierzonego ulegnie zmianie, to stopien zmiany napiecia stalego na elektro¬ dach elektrooptycznego organu zrównujacego, powodujacy ponowne zrównanie natezen obu promieni, stanowi miare zmiany natezenia pro¬ mienia mierzonego, a tym samym równiez mia¬ re dla mierzonego obiektu.Bardzo korzystne jest uzycie do pomiarów natezenia promieniowania radioaktywnego elek¬ trooptycznego zrównywania wedlug wynalazku, przy zastosowaniu sposobów opartych na mo¬ dulacji w polaczeniu z licznikiem scyntylacyj¬ nym (promienie, mierzony i zrównywany, pa¬ daja zmodulowane na ten sam detektor, przy czym sa przesuniete w fazie o 180° wzgle¬ dem siebie).Uklad wedlug wynalazku jest przedstawiony schematycznie na rysunku (fig. 1 i 2), na któ¬ rym cyfra 1 oznaczone jest zródlo promieni mierzonych, 2 — zródlo promieni zrównywa¬ nych, 3 — modulatory (sprzezone elektrycznie lub mechanicznie) 4 — scyntylatory, 5 — elek- trooptyczny organ zrównujacy wedlug wyna¬ lazku, 6 — element przewodzacy swiatlo, 7 — fotopowielacz, 8 — czlon calkujacy, wzmacniacz selektywny, 9 — prostownik czuly na faze, 10 — sterowane zródlo napiecia stalego oraz wska¬ zywanie róznicy napiec, U — nadajnik zada¬ nej wartosci, 12 — mierzony obiekt, a 13 — elektroda przepuszczajaca swiatlo- Przy takim zastosowaniu, zrównanie sygnalu porównawczego z sygnalem mierzonym, jak równiez odpowiednich promieni swietlnych, mu¬ sialo nastepowac przez przestawianie klina po¬ chlaniajacego lub róznych grubnych absorbe¬ rów w cechujacym promieniu gamma. Obec¬ nie odpadaja wysokie dotychczas nieodzowne wymagania stawiane mechanizmowi przesta¬ wiajacemu, oraz koniecznosc bardzo dokladnego wykonania klina albo inego absorbera. W ukla¬ dzie elektrooptycznego zrównywania wedlug wynalazku zrównywany sygnal moze byc w prosty sposób zrównywany z sygnalem mierzo¬ nym przez automatyczna (fig. 1) lub reczna zmiane stalego napiecia na elektrodach elektro¬ optycznego organu zrównujacego, umieszczo¬ nego pomiedzy krysztalem a fotokatoda.Uklad moze byc wycechowany w jednostkach natezenia swiatla lub w gestosci impulsów, lub w grubosci albo w gestosci mierzonego obiektu itd.r moze byc równiez wycechowany w procentach odchylenia od okreslonego nate¬ zenia swiatla lub od nastawionej wartosci za¬ danej w któryms z podanych rodzajów jedno¬ stek.Przez wybór odpowiedniego scyntylatora uklad mozna przystosowac do pomiaru promie¬ niowania alfa, beta lub gamma oraz promie¬ niowania rentgenowskiego. PL

Claims (3)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób elektrooptycznego zrównywania na¬ tezenia dwóch promieni swietlnych, zna¬ mienny tym, ze promien swietlny (o regu¬ lowanym natezeniu) przechodzi przez elek- trooptyczny organ zrównujacy (np. krysz¬ tal, przy czym wyjsciowe natezenie swia -2 —tla Jest regulowane automatycznie lub recz¬ nie az do zrównania z natezeniem promie* « nia mierzonego, za pomoca zmienianego na¬ piecia stalego, przylozonego do elektrod or¬ ganu zrównujacego, a wielkosc zmiany przy¬ lozonego napiecia wskazuje róznice nate¬ zenia obu promieni.
  2. 2. Przyrzad do elektrooptycznego zrównywa¬ nia natezenia dwóch promieni swietlnych wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze organ zrównujacy sklada sie z krysztalu czynne¬ go pod wzgledem elektrooptycznym oraz z polaryzatorów umieszczonych przed i za krysztalem, jak równiez z elektrod przepusz¬ czajacych swiatlo i przewodzacych prad elektryczny.
  3. 3. Przyrzad wedlug zastrz. 2, znamienny tym, ze w elektrooptycznym organie zrównuja- jacym zastosowany jest pierwszorzedowy fosforan amonowy lub potasowy w postaci krysztalu optycznie czynnego. Przyrzad do elektrooptycznego zrówny¬ wania natezenia sposobem wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze miernik napiecia pradu stalego jest wycechowany w jednostkach na¬ tezenia swiatla lub w procentach odchyle¬ nia od okreslonego natezenia swiatla. Przyrzad do elektrooptycznego zrównywa¬ nia natezenia sposobem wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze zawiera licznik scynty¬ lacyjny, dzieki któremu mozna przeprowa¬ dzac pomiary natezenia promieniowania ra¬ dioaktywnego. VEB Vakutronik Zastepca: mgr Józef Kaminski rzecznik patentowy Fig. 2 PL
PL45208A 1960-12-13 PL45208B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL45208B1 true PL45208B1 (pl) 1961-10-15

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Dolling et al. Normal vibrations of potassium iodide
US2467812A (en) Noncontacting thickness gauge
US2488269A (en) Noncontacting thickness gauge
DE68905965T2 (de) Verfahren und Anordnung zur optischen Messung von elektrischen und magnetischen Grössen.
US2986636A (en) Linear and logarithmic amplifiers for compensated ionization chambers
Peterson The 0.5‐Mev gamma‐ray and the low‐energy gamma‐ray spectrum to 6 grams per square centimeter over Minneapolis
US2977478A (en) Method of and apparatus for measuring the thickness of materials
US2983819A (en) Radiation gauge
EP0403105A1 (en) Radiation meter
EP0081367A1 (en) Magnetic field and electric current measuring device
US2539203A (en) Noncontacting thickness gauge
US3892971A (en) Radiation detector system using an inorganic scintillator crystal detector with an optical filter for aerial dosemetry
US2467844A (en) Means for measuring the difference in magnitude of alternately occurring pulses
US2890347A (en) Comparing and measuring values by use of x-rays
PL45208B1 (pl)
Jemian et al. Silicon photodiode detector for small-angle x-ray scattering
EP0090465B1 (en) X-ray analysis apparatus with pulse amplitude shift correction
US3335277A (en) Method for gamma compensating an ionization type neutron detector
GB1225682A (pl)
US2542822A (en) X-ray thickness gauge
GB918564A (en) Improvements in or relating to methods of measuring temperatures
McElhinney et al. Calorimetric Determination of the Power in a 1400 kv X-Ray Beam
US3006233A (en) Optical navigational instruments
Reginato et al. Temperature stabilization of gamma ray transmission equipment
SU1605141A1 (ru) Рентгеновский измеритель толщины проката