PL43059B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL43059B1
PL43059B1 PL43059A PL4305958A PL43059B1 PL 43059 B1 PL43059 B1 PL 43059B1 PL 43059 A PL43059 A PL 43059A PL 4305958 A PL4305958 A PL 4305958A PL 43059 B1 PL43059 B1 PL 43059B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
barrier layer
arsenic
transistor
semiconductor
unit according
Prior art date
Application number
PL43059A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL43059B1 publication Critical patent/PL43059B1/pl

Links

Description

Wynalazek dotyczy pólprzewodnikowych ze¬ spolów z warstwa zaporowa zwlaszcza tran¬ zystorów lub diod krystalicznych, posiadaja¬ cych hermetyczna oslone. Ponadto dotyczy me¬ tod wytrwarzania takich zespolów z warstwa zaporowa.W praktyce stwierdzono, ze stabilnosc pól¬ przewodnikowych zespolów z warstwa zapo¬ rowa, na przyklad z germanu lub krzemu, po¬ zostawia wiele do zyczenia, nawet gdy sa one umieszczone w hermetycznej oslonie; oznacza to, ze przy dlugim uzytku, szczególnie gdy ze¬ spoly sa wystawione na wysokie temperatury, ich wlasciwosci elektryczne zmieniaja sie, tj. znacznie obnizaja sie.Stwierdzono na przyklad w tranzystorach genn^inowych, ze po dlugim okresie znacznego obciazenia lub przy zwiekszeniu sie tempera¬ tury na przyklad do 85°C, wspólczynnik wzmo¬ cnienia pradowego a^ znacznie obnizyl sie.Jako wspólczynnik wzmocnienia pradowego e^ rozumie sie tu wielkosc okreslona przez ró¬ wnanie: ¦*¦-(*£)* gdzie Alc i Alb oznaczaja male zmiany w pra¬ dzie kolektora lub bazy, mierzonym przy sta¬ lej róznicy napiecia Vce pomiedzy stykiem emitera i stykiem kolektora.Znany proces, dajacy bardzo stabilne tran¬ zystory, polega na tak zwanym „spiekaniu w prózni", w którym zespól z warstwa za¬ porowa jest nagrzewany w prózni do wyso¬ kiej temperatury, na przyklad 140°C podczas przebiegu skladania. Ten zabieg ma jednak wade osiagania stabilnosci kosztem wspólczyn¬ nika wzmocnienia pradowego, obnizajacego sie podczas zabiegu coraz wiecej i wiecej,-az dov,bM&o-.:nisfctej wartosci, która wprawdzie wte¬ dy . pozostaje stala. Proces ten ponadto przed¬ stawia trudnosc techniczna przez koniecznosc wykonczenia zespolu z warstwa zaporowa w warunkach, mogacych byc zacliGwraaayeh jedynie z niezmierna trudnoscia, tj^ w prózni.Wynalazek ma na celu wytwarzanie zespo¬ lów z warstwa zaporowa w hermetycznej oslo¬ nie, wykazujacych nie tylko wysoka stabilnosc, która zostaje zachowana nawet przy wysta¬ wieniu zespolu z warstwa zaporowa na wyso¬ kie temperatury na przyklad 140°C, lecz po¬ nadto wykazujacych zadowalniajace wlasciwo¬ sci elektryczne, a w przypadku tranzystorów, miedzy innymi, wysoki wspólczynnik wzmoc¬ nienia pradowego. Ponadto wynalazek ma na celu podanie prostych wykonalnych sposobów wyrobu takich zespolów z warstwa zaporowa.Zgodnie z wynalazkiem w przestrzen pomie¬ dzy oslona i wlasciwym zespolem z warstwa zaporowa zostaje wprowadzony arsen, zwla¬ szcza w tranzystorze lub diodzie krystalicznej z oslona hermetyczna. Najkorzystniej, gdy ar¬ sen jest wprowadzony w wolnej postaci. Jed¬ nakze zadowalniajace wyniki zostaly uzyskane równiez z arsenem zwiazanym, na przyklad jako stopem lub mieszanina. Jako wlasciwy zespól z warstwa zaporowa rozumie sie tutaj pólprzewodnik ze swymi elektrodami i prze¬ wodami doprowadzajacymi.Wyrazenie „wprowadzany w przestrzen po¬ miedzy oslona i wlasciwy zespól z warstwa zaporowa" oznacza równiez, ze arsen uwaza sie za wprowadzony w omawiana przestrzen nawet wówczas, gdy jest umieszczony na oslo¬ nie lub na jakiejkolwiek montazowej czesci lub na wlasciwym zespole z warstwa zaporo¬ wa, o ile w swej wprowadzonej postaci lub ilosci, w elektrodzie na pólprzewodniku nie ma innego zadania, jak ustalanie typu prze¬ wodnosci lub samej przewodnosci.Przypuszcza sie, ze wplyw stabilizujacy ar¬ senu na zespoly z pólprzewodzaca warstwa zaporowa pochodzi z dzialania arsenu na pól¬ przewodzaca powierzchnie. W omawianej prze¬ strzeni arsen jest umieszczony w taki sposób, ze on lub jego mieszanina moga ze swego miejsca dosiegnac pólprzewodzacej powierzch¬ ni.Najkorzystniejsze wykonanie zespolu z wars¬ twa zaporowa z hermetyczna oslona jest to, w którym oslona jest wypelniona, przynaj¬ mniej czesciowo srodkiem wiazacym, zawiera¬ jacym arsen w bardzo rozdrobnionym stanie, tj. w postaci sproszkowanej.Doskonale wyniki zostaly uzyskane za po¬ moca srodków wiazacych, zawierajacych arsen od 0,1 do 10% na wage w postaci wolnej.Jednakze zadowalniajace wyniki zostaly osiag¬ niete i poza tymi granicami. Jako srodek wia¬ zacy sa szczególnie odpowiednie siliko-orga- niczne polimery; niektóre z nich sa znane pod nazwa silikonowego smaru prózniowego oraz oleju silikonowego i znajduja sie w sprzedazy pod nazwami handlowymi „Daw Corning DC7" i „Daw Corning DC 702". Ponadto istnieja inne wykonania zespolów z warstwa zaporo¬ wa, zgodnych z wynalazkiem, na przyklad te, w których pewna ilosc arsenu jest umieszczo¬ na w oslonie i jest oddzielona od zespolu z warstwa zaporowa przez scianke porowata z azbestu lub z welny kwarcowej, przy czym przestrzen dokola zespolu z warstwa zaporowa zostaje w razie potrzeby wypelniona substan¬ cja nie reagujaca z zespolem zawierajacym warstwe zaporowa, na przyklad z piaskiem.Sa tez na przyklad wykonania, w których wlasciwy zespól z warstwa zaporowa jest naj¬ pierw otoczony warstwa lakieru i w wyzej opisany sposób jest umieszczony razem z arse¬ nem w hermetycznej oslonie.Zgodnie z inna postacia wynalazku, w zwiaz¬ ku z metoda wytwarzania zespolów z pólprze- wodzaeych was*fcwa zaporowa, zwlaszcza tran¬ zystorów lub. diod krystalicznych w herme¬ tycznej oslonie, pewna ilosc arsenu, najkorzyst¬ niej wolnego, zostaje podczas czynnosci wy¬ konczajacych wprowadzona w przestrzen po¬ miedzy oslone i wlasciwy zespól z warstwa zaporowa. Wedlug bardzo odpowiedniej, po¬ staci takiej metody przestrzen pomiedzy oslo¬ na i wlasciwym zespolem z warstwa zaporo¬ wa, zostaje wypelniona, przynajmniej czescio¬ wo, srodkiem wiazacym na przyklad silikono¬ wym smarem prózniowym, zawierajacym ar¬ sen w bardzo rozdrobnionym stanie. W celu przyspieszenia procesu stabilizujacego, zespól z warstwa zaporowa po uprzednim zamlcnie- ciu hermetycznym zostaje przez pewien czas nagrzewany do wysokiej temperatury, najko¬ rzystniej pomiedzy 80°C i temperatura top¬ nienia jednej lub wiecej elektrod zespolu z warstwa zaporowa, na przyklad w ciagu 100 godzin w temperaturze 80*C.Jako inna alternatywa dopuszczalne Jest na¬ grzewanie powyzej temperatury topnienia jed¬ nej lub wiecej elektrod, zwlaszcza gdy zespól z warstwa zaporowa zostal uprzednio otoczo¬ ny warstwa lakieru.Do napelnienia oslony gazem, moga byc uzy- - 2 -I te jw^1#l gazy, zwfesscm Itr, które sa obo- jejtne '^ atewrtka id» xwpcia 2 warstwa za¬ porowa] ,n* iwzyklad «aot, wodór, gazy szia- Aetae•'••lukfeh miesominy. Nawet napelnienie pewfetezent jako gaaem dalo wyniki zadowal- nlajaee, chociaz wyniki osiagniete w tyra przy¬ padku %3$y z reguly raniej zadowalhiajace «6T wynfk*w uzyskanych z gazami obojetnymi, takimi Jrit np. **t.Bardzo zadsowalnrajace wyniki zostaly osiag¬ niete w wykonaniu wynalazku przy zespolach 7 pólprzewcdzaca warstwa zaporowa, w któ¬ rych, cialo pólprzewodzaee jest wykonane z germanu lub krzemu, zwlaszcza w tych zespo¬ lach z warstwa zaporowa, posiadajacych tran- zystor typu p-n-pu Zgodne z wynalazkiem .zespoly z warstwa zaporowa wykazuja nie tylko zadowalniajaca stabilnosc i wysoki wspólczynnik wzmocnienia pradowego, lecz sa równiez odporne na bardzo wysokie tempera- tury, na przyklad do 2Q0°C - 300°C; po takim rabiagu ich wlasciwosci elektryczne, zwlaszcza wspólczynnik wzmocnienia pradowego, wyda¬ ja sie zaledwie zmienione, podczas gdy po takim zabiegu termicznym znane tranzystory stawaly sie zasadniczo bezuzyteczne w tym, co tyczy sie ich wlasciwosci elektrycznych.Na rysunku uwidoczniono podluzny przekrój tranzystora, posiadajacego hermetyczna oslone, w którym zgodnie z wynalazkiem, arsen jest wprowadzony w przestrzen pomiedzy oslone i wlasciwy zespól z warstwa zaporowa.Wlasciwy zespól 1 z warstwa zaporowa umieszczony jest w hermetycznej oslonie szkla¬ nej, skladajacej sie z dwóch czesci spojonych, szklanej nózki 2 i szklanej gruszki 3. Najko¬ rzystniej zespól elektrod jest umieszczony w oslonie szklanej, poniewaz oslona metalowa moglaby latwiej niz obojetne szklo reagowac z arsenem lub z jego zwiazkiem. Jednakze wynalazek oczywiscie nie ogranicza sie do oslon szklanych. Przestrzen 4 pomiedzy oslo¬ na 2, 3 i wlasciwym pólprzewodzacym zespo¬ lem 1 w znacznej czesci jest wypelniona sili¬ konowym smarem prózniowym, zawierajacym arsen w postaci- wolnej i bardzo rozdrobnio¬ nej. Elektrody tranzystora sa przylaczone do doprowadzajacych przewodów 5, 6 i 7, wypro- wadzonycli na zewnatrz poprzez szklana nóz¬ ke 2L Kftka wyników osiagnietych, przy wykona¬ niu wynalazku, zostanie porównanych z tymi, które uzyskano za pomoca tranzystorów, wy¬ konczonych w znany spwób* W ponizej podanych pokladach, odnosza¬ cych sie do tranzystorów germanowych, wla¬ sciwy zespól pólprzewodzacy kazdorazowo skladal sie z tranzystora typu p-n-p ze stopu germanowego tej sasnej serii fabrykacyjnej, otrzymanego przez spawanie grudki emitera i grudki kolektora, obu z czystego indu oraz styku bazowego ze stopu cymowo-antymonowe- go (95% na wage Sn, 5% na wage Sb) z kraz¬ kiem germanu o grubosci w przyblizeniu 150 (i , w przyblizeniu w ciagu 10 minut w temperaturze 600°C w atmosferze azotu — wo¬ doru.W podanych przykladach, odnoszacych sie do tranzystorów krzemowych, wlasciwy zespól pólprzewodzacy skladal sie kazdorazowo z tranzystora typu p-n-p ze stopu krzemowego te] samej serii fabrykacyjnej, otrzymanego przez spawanie elektrody emitera i elektrody kolektora, obu z aluminium oraz Btyku bazo¬ wego ze stopu zloto-antymonowego (99% na wage Au, 1% na wage Sb) z krazkiem siliko¬ nowym typu n.Nalezy zauwazyc, ze wartosci wspólczynni¬ ka wzmocnienia pradowego byly zawsze mie¬ rzone w tranzystorach, ochlodzonych do tem¬ peratury pokojowej.Ponadto nalezy zauwazyc, ze szum i prad zaporowy w tranzystorach wedlug wynalazku, opisanych w ponizej podanych przykladach sa bardzo niskie i podlegaly minimalnym zmia¬ nom.Przyklad. I. Tranzystor germanowy typu p-n-p zostal wykonczony znanym sposobem w hermetycznej oslonie szklanej, która przed¬ tem zostala wypelniona suchym silikonowym smarem prózniowym, wysuszonym przez pe¬ wien czas w temperaturze 100°C. Oslona byla wypelniona azotem. Po zamknieciu, wspólczyn¬ nik wzmocnienia pradowego ahc wynosil 91; nastepnie tranzystor byl ogrzewany w tem¬ peraturze 140^. Po dwóch godzinach ogrze¬ wania i ostudzeniu tranzystora do temperatu¬ ry pokojowej, wsplóczynnik wzmocnienia pra¬ dowego abc zostal ponownie zmierzony i wy¬ kazal spadek do wartosci 39. Po nagrzewaniu do 140°C przez 200 godzin abc tranzystora * ostudzonego do temperatury pokojowej byl nie- wyzszy od 14. Stabilnosc tego tranzystora byla bardzo slaba.Przyklad H. W tranzystorze germanowym tej samej serii fabrykacyjnej, jak wspomniany w przykladzie I i wykonczonym w taki sam sposób, po zamknieciu, wspólczynnik wzmoc¬ nienia pradowego abc wynosil 89. Podczas - 3 -nastepnej próby wytrzymalosci, w której tran¬ zystor zostal nagrzany do 85°C, wspólczynnik wzmocnienia pradowego abc spadal coraz wie¬ cej i wiecej, tak, ze po 1000 godzinach byl nie wyzszy od 30. Stabilnosc tego tranzystora, wy¬ konczonego w znany sposób, bez zastosowania wynalazku, byla szczególnie slaba.Przyklad III. Tranzystor germanowy, po¬ przednio wspomnianego typu, po wytrawieniu, gdy wspólczynnik wzmocnienia pradowego abc wynosil jeszcze 97, byl nagrzewany w prózni W temperaturze 145°C w ciagu trzech godzin („spiekany w prózni") i w tym stanie zamknie¬ ty w oslonie szklanej. Wskutek spiekania w prózni, wspólczynnik wzmocnienia pradowego a^ spadl do 25, tj. w przyblizeniu do jednej czwartej wartosci poczatkowej. Podczas na¬ stepnej próby wytrzymalosci w temperaturze f5°C w ciagu 1000 godzin, stabilnosc tranzysto¬ ra okazala sie szczególnie zadowalniajaca, acz¬ kolwiek wspólczynnik wzmocnienia pradowego byl bardzo niski.Przyklad IV. Fodobny tranzystor germa¬ nowy typu p-n-p byl wykonczony, zgodnie z wynalazkiem, w oslonie szklanej, napelnionej uprzednio w przyblizeniu do 60% suchym silikonowym smarem prózniowym, zawieraja¬ cym 5% na wage, arsenu wolnego w ziarn¬ kach. Ogólna ilosc silikonowego smaru próz¬ niowego wynosila okolo 60 mgs. Ponadto oslo¬ na byla wypelniona azotem gazowym. Po zam¬ knieciu, wspólczynnik wzmocnienia pradowego abc wynosil 61. Nastepnie tranzystor byl na¬ grzewany w temperaturze 140°C w ciagu 300 godzin, tak, iz wspólczynnik wzmocnienia pradowego stopniowo wzrastal. Po stabi¬ lizacji wspólczynnik wzmocnienia pra¬ dowego abc tranzystora, ostudzonego do tem¬ peratury pokojowej, wynosil 99; podczas na¬ stepnej próby wytrzymalosci w temperaturze 85CC w ciagu 1000 godzin, wartosc ta nie zmie¬ nila sie znacznie. Stabilnosc tego tranzystora, wykonczonego zgodnie z wynalazkiem, byla przeto szczególnie zadowalniajaca, podczas gdy równiez wspólczynnik wzmocnienia pradowego abc tranzystora, wciaz jeszcze otoczonego sili¬ konowym smarem z domieszka arsenu, spadl do 42 w przyblizeniu w ciagu jednej minuty.Wykazywaly to wszystkie tranzystory wykon¬ czone zgodnie z wynalazkiem.Przyklad V. W tranzystorze germanowym wykonczonym zgodnie z wynalazkiem, jak wskazano w przykladzie IV, po zamknieciu wspólczynnik wzmocnienia pradowego abc wy¬ nosil 61. Nastepnie tranzystor ten byl nagrze¬ wany w temperaturze 85°C w ciagu 1500 go¬ dzin. Wartosc wspólczynnika wzmocnienia pra¬ dowego abc , mierzona w temperaturze poko¬ jowej po 100, 500. 1000, 1500 godzinach, wy¬ nosila odpowiednio 75, 87, 90 i 93. Z powyz¬ szego wynika, ze stabilnosc tego uprzednio nie przegrzanego tranzystora zgodnego z wy¬ nalazkiem jest zadowalniajaca pomimo wiel¬ kiego termicznego obciazenia. Nastepnie tran¬ zystor byl nagrzewany w temperaturze 140°C w ciagu 100 godzin, po czym zmierzony wspól¬ czynnik abc wynosil okolo 107.Przyklad VI. Tranzystor germanowy tej samej serii zostal wykonczony w hermetycz¬ nej oslonie szklanej (wypelnienie azotem ga¬ zowym), uprzednio napelnionej silikonowym smarem prózniowym, zawierajacym okolo 1% na wage wolnego arsenu w ziarnkach. Wlasci¬ wy zespól pólprzewodnikowy zostal uprzednio pokryty lakierem, znanym pod nazwa handlo¬ wa SR 98 i byl nagrzewany w temperaturze 140°C przez dziesiec godzin. Po zamknieciu tego tranzystora wedlug wynalazku wspólczyn¬ nik abc wynosil 76. Po nagrzewaniu przez 165 godzin w temperaturze 140°C, wspólczynnik abc wzrósl do 94. Po 1000 godzinach w tempera¬ turze pokojowej oraz podczas posrednich po¬ miarów wspólczynnik wzmocnienia pradowego wynosil jeszcze 94. Nastepnie tranzystor byl nagrzewany do 300°C przez szesc godzin. Tran¬ zystor, wykonany zgodnie z wynalazkiem, oka¬ zal sie zdolny do oparcia sie temu wysokiemu obciazeniu termicznemu, podczas gdy elektro¬ dy byly w stanie topnienia. Po tej próbie wspólczynnik wzmocnienia pradowego abc wy¬ nosil 115, podczas gdy prady uplywu i szum zachowaly swoja szczególnie niska wartosc.Przyklad VII. Tranzystor germanowy ty¬ pu p-n-p zostal wykonczony w hermetycznej oslonie szklanej, w której zostalo uprzednio umieszczone, pod zatyczka z waty kwarcowej, ziarno arsenu (wagi okolo 1 mg). Po zamknie¬ ciu wspólczynnik wzmocnienia pradowego abc wynosil 63. Po 50 godzinach nagrzewania w temperaturze 140?C wspólczynnik ten wzrósl do 74, a po nagrzewaniu w ciagu 250 godzin w temperaturze 140°C wynosil 99. Po nastep¬ nym nagrzewaniu w temperaturze 100°C w ciagu 500 godzin, zmiany we wlasciwosciach elektrycznych zwlaszcza w wspólczynniku abc pozostawaly w granicach 2%. To samo dotyczy nastepnej próby wytrzymalosci, w której tran¬ zystor zostal obciazony w otaczajacej tempe¬ raturze 50°C w ciagu 500 godzin przez 50 mW - 4 -(napiecie na kolektorze — bazie iÓV, pradt emi¬ tera 5 mA).Przyklad VIII. Inny tranzystor germanowy typu p-n-p tej samej serii zostal wykonczony w hermetycznej oslonie szklanej, a przestrzen pomiedzy oslona i wlasciwym tranzystorem zo¬ stala w znacznej czesci wypelniona silikonowym smarem prózniowym zmieszanym z 10% na wage arsenowej mieszaniny (In 95% na wage, As 5% na wage). Wlasciwy zespól pólprzewod¬ nikowy zostal uprzednio otoczony lakierem, znanym pod nazwa handlowa „Araldite" i utwardzony w temperaturze 100°C w ciagu 15 godzin^flto zamknieciu wspólczynnik wzmoc¬ nienia pradowego abc wynosil 39. Po 50 godzi¬ nach nagrzewania w temperaturze 140°C wspólczynnik wzmocnienia pradowego a^ wzrósl do 91. Po dalszym nagrzewaniu w cia¬ gu 200 godzin w temperaturze 140°C wspól¬ czynnik abc wynosil 107. Nastepnie tranzystor zostal poddany próbie wytrzymalosci, w której zostal nagrzany do 50°C i jednoczesnie obcia¬ zony przez 50 m W (napiecie na kolektorze- bazie 10 V, prad emitera — 5 mA). Po podda¬ niu tej próbie wytrzymalosci przez jeden ty¬ dzien wspólczynnik a^ wynosil 110 w poko¬ jowej temperaturze. Po dalszych dwóch ty¬ godniach tego samego obciazenia wspólczynnik Z tego przykladu jest oczywiste, ze nawet tranzystory, zawierajace arsen w zwiazanej postaci w przestrzeni pomiedzy oslona i wla¬ sciwym zespolem z warstwa zaporowa wyka¬ zuja zadowalniajaca stabilnosc i wysoki wspól¬ czynnik wzmocnienia pradowego i sa zdolne do wytrzymywania nagrzewania do stosunko¬ wo wysokiej temperatury.Przyklad IX. Tranzystor germanowy typu p-n-p zostal wykonczony w hermetycznej oslo¬ nie szklanej (wypelnienie azotem gazowym), która byla napelniona silikonowym smarem prózniowym zmieszanym, zgodnie z wynalaz¬ kiem, ze zwiazkiem arsenu, tj. z 5% na wage As203. Wlasciwy pólprzewodnikowy zespól zostal uprzednio zaopatrzony w warstwe la¬ kieru, znanego pod nazwa handlowa „SR 98".Po zamknieciu wspólczynnik abc wynosil 57.Nastepnie zespól zostal nagrzany do 85°C.Podczas pierwszych 500 godzin wspólczynnik abc spadl do 41, lecz po 1000 godzinach wyno¬ sil 59. Nastepnie tranzystor byl nagrzewany w temperaturze 140°C w ciagu 100 godzin tak, ze wspólczynnik abc wzrósl do 104. Nastepnie tranzystor byl nagrzewany w temperaturze 300°C przez szesc godzin, po których pomiar w temperaturze pokojowej wykazal wspólczyn¬ nik wzmocnienia pradowego a^ = 110* Nalezy zauwazyc, ze w tranzystorach we¬ dlug wynalazku, które po zamknieciu nie sa ogrzewane przez pewien czas do wysokiej temperatury, niekiedy stwierdza sie zmniej¬ szenie wspólczynnika a^ . Takie tranzystory, zgodnie z wynalazkiem, sa przeto najkorzyst¬ niej nagrzewane przez pewien czas do wyso¬ kiej temperatury, na przyklad 140°C, dopóki nie zostanie osiagnieta stala ostateczna wyso¬ ka wartosc wspólczynnika a^ .Przyklad X. Tranzystor krzemowy typu p-n-p zgodnie z wynalazkiem, zostal umiesz¬ czony w hermetycznej oslonie szklanej, uprzed¬ nio napelnionej w znacznej czesci silikonowym smarem prózniowym, zawierajacym 5% na wa¬ ge arsenu w bardzo rozdrobnionym stanie. Po zamknieciu, wspólczynnik wzmocnienia prado¬ wego wynosil 24. Nastepnie tranzystor zostal nagrzany do 140°C. Po 50, 200, 350 godzinach wspólczynnik abc w temperaturze pokojowej wynosil odpowiednio 24, 25, 24. Jak widac przy zastosowaniu wynalazku, równiez tranzy¬ stor krzemowy daje sie zupelnie zadowalnia- jaco stabilizowac.Przyklad XI. Podobny tranzystor krzemo¬ wy typu p-n-p zostal wykonczony bez zasto¬ sowania wynalazku w hermetycznej oslonie szklanej, wypelnionej suchym silikonowym smarem prózniowym (bez arsenu). Po zamknie¬ ciu wspólczynnik abc wynosil 28; po 350 go¬ dzinach nagrzewania w temperaturze 140°C, wartosc ta spadla do 16. Zgodny z wynalaz¬ kiem tranzystor przytoczony w przykladzie X ma przeto wyraznie lepsza stabilnosc.Nalezy w koncu zauwazyc, ze wynalazek nie ogranicza sie do wyzej opisanych przykladów.Ilosc arsenu, na przyklad nie jest krytyczna, chociaz nalezy unikac zbyt duzych i zbyt ma¬ lych ilosci. Nie jest on ponadto ograniczony do tranzystorów stopowych ani tez do powy¬ zej wspomnianych pólprzewodników. PL

Claims (3)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Pólprzewodnikowy zespól z warstwa zapo¬ rowa, zwlaszcza tranzytor lub krystaliczna dioda, posiadajace hermetyczna oslone, zna¬ mienna tym, ze przestrzen pomiedzy oslo¬ na, i wlasciwym zespolem z warstwa za¬ porowa zawiera arsen.
2. Pólprzewodnikowy zespól wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze wprowadzony arsen jest w postaci wolnej. - 5 -3. Pólprzewodnikowy zespól wedlug zastrz. i i 2, znamienny tym, ze oslona jest wypel¬ niona przynajmniej czesciowo srodkiem wiazacym, zawierajacym arsen w bardzo rozdrobnionym stanie. 4. Pólprzewodnikowy zespól wedlug zastrz. 3, znamienny tym, ze srodek wiazacy stanowi jeden lub wiecej polimerów siliko-organicz- nych. 5. Pólprzewodnikowy zespól wedlug zastrz. 3 i 4, znamienny tym, ze srodek wiazacy za¬ wiera 0,1 do 10% na wage arsenu. 0. Pólprzewodnikowy zespól wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze pólprzewodnik tranzy¬ stora ma budowe typu p-n-p. 7. Pólprzewodnikowy zespól wedlug zastrz. 1 — 6, znamienny tym, ze umieszczony jest w oslonie szklanej.
3. Sposób wytwarzania pólprzewodnikowych zespolów wedlug zastrz. 1 — 7, znamienny tym, ze zespól z warstwa zaporowa, po hermetycznym zamknieciu go, zostaje przez pewien czas nagrzany do wysokiej tempe¬ ratury. 9. Sposób wedlug zastrz. 8, znamienny tym, ze zespól z warstwa zaporowa jest nagrze¬ wany w ciagu 100 godzin do temperatury pomiedzy 80°C i temperatura toprienia jed¬ nej lub wiecej elektrod. N.V. Philips'Gloeilampenfabrieken Zastepca: mgr Józef Kaminski, rzecznik patentowy 189. RSW „Prasa", Kielce BIBLIOTEK Al U rzed u f u J e n t owegoL Polskiej Kze^ospolitel lutowa PL
PL43059A 1958-09-20 PL43059B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL43059B1 true PL43059B1 (pl) 1960-02-15

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3343034A (en) Transient suppressor
US3078195A (en) Transistor
US2752541A (en) Semiconductor rectifier device
US2882468A (en) Semiconducting materials and devices made therefrom
US3505571A (en) Glass covered semiconductor device
GB906524A (en) Semiconductor switching devices
US3257588A (en) Semiconductor device enclosures
US2998556A (en) Semi-conductor device
Phahle Electrical properties of thermally evaporated tellurium films
US2882467A (en) Semiconducting materials and devices made therefrom
US3953375A (en) Non-linear voltage titanium oxide resistance element
US4210464A (en) Method of simultaneously controlling the lifetimes and leakage currents in semiconductor devices by hot electron irradiation through passivating glass layers
PL43059B1 (pl)
US3198999A (en) Non-injecting, ohmic contact for semiconductive devices
US3083320A (en) Protective element for hermetically enclosed semiconductor devices
US2929971A (en) Semi-conductive device and method of making
US2995613A (en) Semiconductive materials exhibiting thermoelectric properties
US2998557A (en) Semi-conductor barrier layer systems
US2989424A (en) Method of providing an oxide protective coating for semiconductors
US2817798A (en) Semiconductors
US3400015A (en) Energy converter
US3533832A (en) Glass covered semiconductor device
US2903629A (en) Encapsulated semiconductor assembly
US2958932A (en) Manufacture of cadmium sulfide photoconductive cell bodies
CN101180688A (zh) 制造超导线的方法、制造超导多芯线的方法和超导设备