PL42800B1 - - Google Patents

Description

OffubJLowmo telA * liitefro 106* f. tyteMt lUrifdu Patentowego Jfllttlt] IZKzwosiilitei luto^j POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 42800 24e 1+/43 KI. 21 e^S^O ZakladJulaterialów Magnetycznych „Polfer" *) Warszawa, Polska Uklad/pomiaru sprzeznosci Patent trwa od dnia" 29 kwietnia-19^a +.Wynalazek dotyczy ukladu wskaznikowego przyrzadu do pomiaru sprzeznosci ky~Qi Qi przeznaczonego do segregacji i kontroli pro¬ dukowanych filtrów pasmowych posredniej czestotliwosci. Stosowane dotychczas _ znane sposoby pomiaru sprzeznosci wprowadzaja do¬ datkowe opornosci tlumiace, co powoduje zmniejszenie dokladnosci pomiaru lub daje calkowicie bledny wynik. Ponadto istniejace sposoby pomiarowe wymagaja czesciowego roz¬ montowania filtru, co utrudnia produkcje i po¬ garsza jakosc produkowanych filtrów.Uklad przyrzadu do pomiaru sprzeznosci we¬ dlug wynalazku pozwala na szybkie i doklad¬ ne wykonanie pomiarów sprzeznosci na goto¬ wych filtrach w warunkach statycznych. Za¬ sadnicza nowoscia przyrzadu jest uklad, który *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, iz wspól¬ twórcami wynalazku sa inz. Tadeusz Kreze- lewski, inz. Zdzislaw Rodziejczak i inz. Sta¬ nislaw Ambrozy. umozliwia skompensowanie strat na zaciskach pomiarowych przy malej pojemnosci wyjscio¬ wej wynoszacej okolo 8 pF. Na rysunku uwi¬ doczniono uklad polaczen przyrzadu do pomia¬ ru sprzeznosci. Uklad wedlug wynalazku skla¬ da sie z generatora A w ukladzie Clapp'a wy¬ posazony w lampe elektronowa Vi, który po¬ daje sygnal na separator B. Sygnal z separa¬ tora B podawany jest na obwód pierwotny mierzonego filtru F.Do obwodu pierwotnego filtru F przylaczony jest wtórnik katodowy W pracujacy na lampie Vs. Wtórnik ten posiada w obwodzie katodo¬ wym kondensator Cx przylaczony równolegle do oporu Rn. Kondensator Cx sluzy do kom¬ pensacji strat nie obciazajac prawie filtru.Napiecie z wtórnika katodowego podawane jest na woltomierz lampowy WL w ukladzie symetrycznym. Odczytu dokonuje sie na mier¬ niku M, który jest mikroamperomierzem od¬ powiednio przeskalowanym do odczytu zada¬ nych wartosci k JT" Qi Qt. Caly uklad jestzasilany z prostownika stabilizowanego za po¬ moca lampy Ve. Przy dokonywaniu pomiaru za pomoca ukladu wedlug wynalazku korzysta sie tylko z koncówek uzwojenia pierwotnego fil¬ tru. Uklad ten umozliwia wykonanie* pomiaru z dokladnoscia rzedu 1% wartosci mierzonej.Aby dokonac pomiaru wspólczynnika sprzez- nosci, za pomoca ukladu wedlug wynalazku, nalezy wykonac nastepujace czynnosci.Filtr umieszcza sie w typowym uchwycie dla danego rodzaju filtru, ustala sie polozenie rdze¬ nia obwodu wtórnego, przy czym obwód ten jest niedostrojony do rezonansu, a nastepnie nalezy dostroic obwód pierwotny do maksymal¬ nych wskazan woltomierza M, sprowadzic wskazówke woltomierza pokretlem do polozenia zerowego i dostroic obwód wtórny do minimum wskazan woltomierza M, przy czym to mini¬ mum wskazan woltomierza M odpowiada mie¬ rzonej wartosci sprzeznosci k ^/~~ Qi Q2.M PL

Claims (1)

1. Zastrzezenia patentowe Uklad do pomiaru sprzeznosci, znamienny tym ze zawiera generator Clapp'a (A), któ¬ ry podaje sygnal do separatora (B), który z kolei podaje sygnal do obwodu pierwotne¬ go mierzonego filtru (F). Uklad do pomiaru sprzeznosci wedluy za¬ strzezenia 1, znamienny tym, ze do obwodu pierwotnego filtru (F) przylaczony jest wtór¬ nik katodowy (W), który w obwodzie kato¬ dowym posiada kondensator^ (Cx) przyla¬ czony równolegle do opornika (Rn), przy czym kondensator (Cx) sluzy do kompen¬ sacji strat nie obciazajac prawie filtru. Uklad do pomiaru sprzeznosci wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze zawiera woltomierz lampowy (WL) w ukladzie symetrycznym, do którego podawane jest napiecie z wtór¬ nika katodowego. Zaklad aterialów Magnetycznych ,,Polf e r" n ^ L . 1 - .I . _ i 1 jl* i 1 i u9—I ±cio \_cii \^J~T Wzór jednoraz. Stól. Zakl. Graf. - WG. Zam. 789, 100 egz., Al pism., ki. III. PL