PL40545B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL40545B1
PL40545B1 PL40545A PL4054555A PL40545B1 PL 40545 B1 PL40545 B1 PL 40545B1 PL 40545 A PL40545 A PL 40545A PL 4054555 A PL4054555 A PL 4054555A PL 40545 B1 PL40545 B1 PL 40545B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
wave
polarogram
paper
height
projected
Prior art date
Application number
PL40545A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL40545B1 publication Critical patent/PL40545B1/pl

Links

Description

Opublikowano dnia 7 grudnia 1957 r. bO/to 2 BIBLIOTEKA Urzedu Patentowego %< POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 40545 KL 42 1, 3/05 Centralne Biuro Konstrukcji Kablowych w Ozarowie Przedsiebiorstwo Panstwowe Wyodrebnione (Wydzial Akumulatorów i Baterii *) Poznan, Polska.Sposób zwiekszania dokladnosci pomiaru malych lal polarograficznych, zwlaszcza w analizie sladowej, oraz przyrzgd do wykonywania lago sposobu Patent trwa od dnia 26 marca 1955 r.W analizie polarograficznej na zawartosc skladników sladowych mamy do czynienia z fa¬ lami o niewielkiej wysokosci, pomimo stoso¬ wania urzadzen o wysokiej czulosci. Ma to miejsce w szczególnosci przy realizowaniu me¬ tod nie obejmujacych wydzielania albo steza¬ nia skladników sladowych, to znaczy w anali¬ zach praktycznie bezposrednich, do których na¬ lezy np. oznaczanie olowiu w krwi. Fale uzys¬ kiwane w tego rodzaju analizach odznaczaja sie niewielkimi wysokosciami (rzedu milime¬ trów) oraz znacznymi niekiedy oscylacjami.Jak wiadomo z licznych znajdujacych sie w literaturze rozwazan teoretycznych i dyskusji rozrzutu bledów, mozliwym jest nieprzekrocze- nie 2°/o bledu wzglednego, pod warunkiem za¬ chowania w okreslonych granicach wielkosci *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wynalazku jest dr Zbigniew Zagórski. poszczególnych parametrów wplywajacych na wynik oznaczenia polarograficznego. W przy¬ padku analizy sladowej brane sa pod uwage granice bledu, jakie nie moga byc przekroczone przy pomiarze wysokosci fali, jezeli zachowana ma byc wspomniana wyzej dokladnosc ozna¬ czenia. W literaturze podawana jest najczesciej wartosc 0,5 — l°/o. Oczywiscie dokladnosc taka mozna uzyskac tylko przy stosunkowo wyso¬ kich (co najmniej 50 mm) falach. Wymierze¬ nie natomiast malych fal polarograficznych z taka dokladnoscia na drodze operacji gra¬ ficznych jest niemozliwe. Blad przy mierzeniu wysokosci fali na polarogramie spowodowany jest niedokladnoscia wykreslania prostej równo¬ leglej od minimów i maksimów oscylacji oraz niedokladnoscia pomiaru odleglosci miedzy wy¬ kreslonymi dwiema prostymi. Na przyklad przy wymierzaniu fal, o wysokosci 3 mm i oscyla¬ cjach czteromilimetrowych (polarogram typowyprzy oznaczaniu olowiu w krwi), nie jest mozli- wyni, nawet przy- zachowaniu ostroznosci przy kreslenia wyzn&czenie prostych równoodleglych \ z bledem wzglednym mniejszym od 10°/o, po¬ dobnie jak i odleglosci tych prostych. Bledy te sumuja sie, a oprócz tego zwielokrotniaja jeszcze w dwójnasób, poniewaz pomiar wyso¬ kosci fali wykonywany jestTÓwniez prymityw¬ nie, przy sporzadzaniu wzorców, tak przy me¬ todzie krzywej wzorcowej, jak i przy metodzie dodawania wzorca. Z przyblizonej oceny mozna zatem wyciagnac wniosek, ze poszczególny po¬ miar wysokosci niewielkiej fali jest obarczony bledem wzglednym rzedu 30°/o. Ocene te trudno sprawdzic doswiadczalnie, poniewaz polarogram po wykresleniu konstrukcji praktycznie nie mo¬ ze byc poddany ponownemu wymierzaniu.W ten sposób zniweczone zostaja wysilki za¬ chowania niezmiennej charakterystyki kapilary, temperatury, lepkosci roztworu itd. Blad 30°/o (wzgledny) jest oczywiscie niedopuszczalny przy sladowych oznaczeniach w analizach metalur¬ gicznych, lekarskich itp.Celem wynalazku jest zmniejszenie bledu pomiaru wysokosci fali jako fragmentu ograni¬ czajacego dokladnosc calej polarograficznej ana¬ lizy sladowej.Wedlug wynalazku sposób pomiaru malych fal polarograficznych przeprowadza sie, poslu¬ gujac sie rzutowaniem polarogramu na plyte powiekszalnika, na której uklada sie jpapier milimetrowy, zaopatrzony w skale. Na powie¬ kszony obraz krzywej polarograficznej naklada sie przyrzad z przezroczystego materialu, zao¬ patrzony w równolegle linie, pozwalajace na latwe oszacowanie wychylen maksimów i mi¬ nimów oscylacji fali na polarogramie. Polaro¬ gram wskazane jest oczywiscie zdejmowac na niezbyt grubym papierze fotograficznym, dba¬ jac o ostrosc i dobry kontrast, przy czym umie¬ szcza sie go, emulsja w dól pomiedzy plytkami szklanymi uchwytu dowolnego powiekszalnika.Oprzyrzadowanie do przeprowadzenia sposobu jest zatem bardzo proste, gdyz stanowia je zasadniczo zwykly powiekszalnik uzupelniony arkuszem papieru milimetrowego i przyrzadem do wymierzania wychylen w postaci przezro¬ czystej plytki z równoleglymi liniami.Na zalaczonych rysunkach przedstawiono przykladowo na fig. 1 przyrzad do wymierza¬ nia wychylen maksimów i minimów oscylacji fali polarograficznej; fig. 2 — sposób wykona¬ nia pomiaru wysokosci fali polarograficznej na papierze milimetrowym przy uzyciu przyrzadu wedlug fig. 1 i przy rzutowaniu za pomoca powiekszalnika obrazu polarogramu^ na papier milimetrowy.Przyrzad a wedlug fig. 1 mozna wykonac z kliszy fotograficznej, która pozbawiono soli swiatloczulych przez wyplukanie w utrwalaczu i na której po wysuszeniu wykreslono na emul¬ sji jedna grubsza linie zerowa b przebiegaja¬ ca przez podluzna os przyrzadu oraz po obu stronach linii zerowej b — linii 1, 2, 3, 4 itd. w równych od siebie odstepach. linie 1, 2, 3, 4 itd. jest wskazane kolejno ponumerowac lub lepiej kazda wykonac w innym kolorze, naj¬ korzystniej jaskrawym w celu ulatwienia wy¬ mierzania wychylen maksimów i minimów.Przyrzad a zamiast linii 1, 2, 3, 4 itd. moze posiadac po obu stronach linii zerowej b rózno¬ barwne przezroczyste paseczki równej szerokos¬ ci, stykajace sie i tworzace granice 1, 2, 3, 4 itd.W celu wymierzenia malych fal polarograficz¬ nych, jak to zachodzi w przypadku analizy sladowej, postepuje sie jak opisano ponizej: Polarogram jak juz zaznaczono nalezy wy¬ konac na niezbyt grubym papierze fotograficz¬ nym, dbajac szczególnie o ostrosc i dobry kon¬ trast Zaznaczyc nalezy, ze polarogramy reje¬ strowane samopisami nie nadaja sie do niniej¬ szego sposobu z powodu malej precyzji rejestra¬ cji. Z tak uzyskanego polarogramu wycina sie odpowiednia czesc np. kwadrat 6 x 6 cm i umie¬ szcza emulsja w dól pomiedzy plytkami szkla¬ nymi uchwytu dowolnego powiekszalnika. Na plycie podstawowej powiekszalnika rozklada sie arkusz papieru milimetrowego, na którym uka¬ zuje sie rzutowany obraz polarogramu w do¬ wolnym pozadanym powiekszeniu, np. dziesie¬ ciokrotnym. Za pomoca papieru milimetrowego mierzy sie odleglosc dwóch sasiednich odcietych na polarogramie rzutowanym i ewentualnie ko¬ ryguje powiekszenie i ulozenie papieru i .lub polarogramu w celu wyrównania na przyklad wystepujacych czasami podczas obróbki foto¬ graficznej zmian wymiarów polarogramu. Na¬ stepnie skale na papierze milimetrowym dopro¬ wadza sie do polozenia odpowiadajacego po¬ tencjalowi pólfali. O ile stosowana jest elek¬ troda zewnetrzna o stalym potencjale, to sta¬ wia sie skale w ustalonej przy wzorcach od¬ leglosci od jednej z odcietych. Skala ustawiona byc musi dokladnie równolegle do osi nateze¬ nia, co dzieki zastosowaniu papieru milimetro¬ wego nie jest trudne. Po unieruchomieniu na podstawie powiekszalnika papieru milimetrowe¬ go ze skala we wlasciwym polozeniu, naklada sie nan przyrzad a wedlug fig. 1 emulsja w dól i ustala polozenie prostej zerowej b równoodle- - ?.-glej od minimów i maksimów oscylacji na gór¬ nej czesci krzywej. Ustalenie to jest latwe do przeprowadzenia i czynnosc te wykonuje sie szybko, dzieki róznokolorowym paskom. Odczy¬ tuje sie nastepnie polozenie przeciecia prostej zerowej na przyrzadzie ze skala na papierze milimetrowym. Podobnie postepuje sie z dolna czescia krzywej, jak to wyraznie uwidoczniono na fig. 2. Róznica odczytu daje poszukiwana wysokosc fali, która okresla sie jeszcze kilka¬ krotnie przy przesunietej za kazdym razem wzdluz potencjalu pólfali skali. Dzieki takie¬ mu postepowaniu latwo jest wyeliminowac przy¬ padkowe pomylki w odczytach. Pomiar wska¬ zane jest jednak powtórzyc nieparzysta liczbe razy i wyciagnac srednia, postepujac zawsze jak wyzej podano.Przeprowadzajac na przyklad siedem takich pomiarów, uzyskano wyniki nastepujace: 58,5 mm, 59 mm, 58,7 mm, 58,5 mm, 58,2 mm, 59,2 mm, 59 mm. Ulamki milimetra szacowano, sred¬ nio stanowi to 58,7 mm, co odpowiada 7,33 mm na polarogramie.Przy pomiarze bezposrednim tego samego po- larogramu otrzymano 8,9 mm. Dziesieciokrotne powiekszenie wykreslonej konstrukcji wykaza¬ lo natychmiast, ze wykreslenie prostych rów¬ noodleglych bezposrednio na polarogramie bylo wadliwe. Omówiony sposób pozwala zatem na zmniejszenie bledu wzglednego analizy slado¬ wej do okolo 3%. Osiaga sie to dzieki doklad¬ nosci wyznaczania prostych równoodleglych oraz odleglosci prostych ograniczajacych fale, nie¬ zaleznie od tego, czy proste sa równolegle do siebie czy tez nie.Na fig. 2 zachodzi przypadek nierównoleglego ulozenia sie przyrzadu wedlug wynalazku, któ¬ rego linie w polozeniu górnym nie sa równo¬ legle do linii w polozeniu dolnym. Z punktu widzenia prawidlowosci pomiaru najwazniej¬ szym jest, by pomiar wysokosci fali mozna Z bylo powtórzyc, co jest niemozliwe przy kresle¬ niu na polarogramie. PL

Claims (3)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób zwiekszenia dokladnosci pomiaru ma¬ lych fal polarograficznych, zwlaszcza w ana¬ lizie sladowej, znamienny tym, ze uzyskany metoda fotograficznego zapisywania polaro- gram rzutuje sie za pomoca dowolnego po¬ wiekszalnika na arkusz papieru milimetro¬ wego, zaopatrzonego w skale, przy mozliwie jak najwiekszym powiekszeniu, dajacym ostry i wyrazny obraz rzutowany i tak operuje papierem milimetrowym, by skala wykreslona na tym papierze znajdowala sie mniej wiecej w srodku pólfali, przy czym wysokosc malej fali okresla sie za pomoca przyrzadu z przezroczystego materialu, po¬ siadajacego równolegle linie, pozwalajace objac minima i maksima oscylacji i okres¬ lic dokladnie prosta równoodlegla, co pow- ,tarza sie na górnej i dolnej czesci.fali rzu¬ towanego polarogramu i z uzyskanej róznicy poziomów na skali .odczytuje sie wysokosc fali.
  2. 2. Przyrzad do wykonywania sposobu wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze stanowi go ply¬ ta fotograficzna, która zostala pozbawiona soli swiatloczulych i na której wykreslone sa w równych odleglosciach od linii zerowej (b) róznokolorowe linie ¦(!, 2, 3, 4 itd.) w rów¬ nych od siebie odleglosciach po obu stro¬ nach tej linii lub róznokolorowe paseczki stykajace sie ostro brzegami. Centralne Biuro Konstruk¬ cji Kablowych w Ozarowie. Przedsiebiorstwo Panstwowe Wyodrebnione. (Wydzial Akumulatorów i Baterii). Zastepca: Kolegium Rzeczników Patentowych.Do opisu patentowego nr 40545 E K Aj Wzór jednoraz. CWD, zam. 99/PL/Ke, Czest. zant. 2815 17.10.57. 100 cgz. Al pism. ki.
  3. 3. PL
PL40545A 1955-03-26 PL40545B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL40545B1 true PL40545B1 (pl) 1957-10-15

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Pierce et al. Photometry in spectrochemical analysis
DK24183A (da) Apparat til bestemmelse af blodets haematokritvaerdi
Meyer et al. On the absorption spectrum of hydrogen chloride
CN118758260A (zh) 一种建筑工程垂直度智能检测设备
PL40545B1 (pl)
Hall et al. High-frequency titration
CN212646044U (zh) 一种照度均匀度测量装置及测量系统
US1954925A (en) Photo-electric measuring apparatus
US1687649A (en) Cutter clearance gauge
CN208042967U (zh) 一种链条单环v型缺口对中测量装置
KR20020035060A (ko) 결함깊이의 측정이 가능한 방사선투과 비파괴검사법
US3068688A (en) Method for measuring uni-or tri-axial inherent stresses
US5075563A (en) Photometer head with housing portions having a gap therebetween
CN118960520A (zh) 评估零件缺陷荧光显示的测量工具
CN218895729U (zh) 一种测厚尺
CN112556591B (zh) 织物密度测量尺
Cavill et al. Automated quality control for the haematology laboratory
CN209355799U (zh) 一种痕迹物证测量组合尺
PL39881B1 (pl)
SU553493A1 (ru) Устройство дл измерени усилий резани , например, грунтов
SU832308A1 (ru) Прибор дл измерени линейных размеров
BR102019011428A2 (pt) Processo para medição de tensões residuais a partir de imagens digitais (dpc-id)
Qurashi et al. A note on cone axis and upper level precession photographs
US2945300A (en) Apparatus for the evaluation of x-ray photographs
JPH055473Y2 (pl)