PL40071B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL40071B1
PL40071B1 PL40071A PL4007156A PL40071B1 PL 40071 B1 PL40071 B1 PL 40071B1 PL 40071 A PL40071 A PL 40071A PL 4007156 A PL4007156 A PL 4007156A PL 40071 B1 PL40071 B1 PL 40071B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
circuit
amplifier
pulse
oscillating circuit
dead time
Prior art date
Application number
PL40071A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL40071B1 publication Critical patent/PL40071B1/pl

Links

Description

Opublikowano dnia 3 grudnia 1957 r. \ «? & o 4 -4 &U*49 BIBLIOTEKA! Urzedu Patentowego 3/ POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 40071 KI. 42 k, 46/06 Instytut Metalurgii Zelaza im. Stanislawa Staszica*) Gliwice, Polska Defektoskop ultradzwieków]) jednoczujnikowp o krótkim czasie martwpm Patent trwa od dnia 13 sierpnia 1956 r.Znane w Polsce defektoskopy jednoczujnikowe nie wykrywaja wad lezacych blisko po¬ wierzchni, z której przeprowadza sie badanie, czyli posiadaja dlugi czas martwy.W defektoskopie wedlug wynalazku zastoso¬ wano kilka rozwiazan konstrukcyjnych, skra¬ cajacych dlugosc czasu martwego. Przede wszystkim w defektoskopie tym zastosowano jako kondensatory A (uwidocznione na rysunku) sprzegajace siatki B lamp wzmacniacza C de¬ fektoskopu z anodami D lamp poprzednich stopni kondensatory o wartosciach pojemnosci znacznie wiekszych niz to Jest potrzebne dla uzyskania odpowiedniej charakterystyki cze¬ stotliwosci. Dzieki temu ladunki powstajace na tych kondensatorach przy przesterowaniu, nie odplywaja z nich w ogóle przez caly okres pracy defektoskopu jednak wywolane przez nie napiecia na tych kondensatorach dzieki *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wynalazku jest inz. mgr Józef Tabin. duzym wartosciom pojemnosci tych ostatnich, sa nieduze i tym samym nie wywoluja zmniej¬ szenia wzmocnienia lamp wzmacniacza. W przypadku krancowym mozna stosowac sprze¬ zenie galwaniczne.Dla dalszego polepszenia pracy defektoskopu generator impulsów wielkiej czestotliwosci, stanowiacy jego czesc skladowa, posiada spec¬ jalna konstrukcje, zapewniajaca szybkie tlu¬ mienie impulsu generatora. Jest to konieczne z tego wzgledu, ze Impuls generatora zanika ekspontencjalnie teoretycznie w czasie nieskon¬ czenie dlugim. Drobny zas ulamek amplitudy impulsu generatora moze byc wiekszy od am¬ plitudy impulsów odebranych przez czujnik w czasie badania.Dla zwiekszenia szybkosci zanikania tego im¬ pulsu konieczne jest zastosowanie obwodu drgajacego E zmieniajacego swa efektywna dobroc, a mianowicie posiadajacego wieksza dobroc w czasie formowania impulsu, a mniej¬ sza w czasie jego zanikania.Dla uzyskania powyzszego zaprojektowanogenerator impulsów wielkiej czestotliwosci skladajacy sie z jednego tyratronu F, który sluzy do wzbudzenia' impulsu, jednej lampy prózniowej G polaczonej z obwodem drgaja¬ cym w ukladzie dodatniego sprzezenia zwrot¬ nego, przez co zwiekszono efektywna dobroc obwodu drgajacego w czasie formowania im¬ pulsu drgan wielkiej czestotliwosci, a ponadto obwody generatora sa polaczone ze wzmacnia¬ czem impulsów odbiorczych w ukladzie ujem¬ nego sprzezenia zwrotnego H, przez co dobroc efektywna obwodu w czasie zanikania im¬ pulsu drgan wielkiej czestotliwosci ulega sil¬ nemu zmniejszeniu w stosunku do swej war¬ tosci mierzonej na mierniku dobroci.; Zastosowanie powyzszych konstrukcji poz¬ woli na znaczne usprawnienie pracy defek¬ toskopu ultradzwiekowego umozliwiajac wy¬ krywanie wad lezacych plytko pod powierz¬ chnia, z której przeprowadza sie badanie. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Defektoskop ultradzwiekowy jetinoczttjniko- wy o krótkim czasie martwym, skladajacy sie ze wzmacniacza i vgeneratora impulsów wielkiej czestotliwosci, znamienny tym, ze poszczególne stopnie wzmacniacza (C) posiadaja dolna cze¬ stotliwosc graniczna od zera do 15 kHz genera¬ tor zas (D) zawiera prócz obwodu drgaja¬ cego (E), tyratron (F), lampe prózniowa (G) polaczona z obwodem drgajacym w ukladzie dodatniego sprzezenia zwrotnego oraz elementy (H) podajace obwodowi drgajacemu napiecie ujemnego sprzezenia zwrotnego ze wzmacnia¬ cza (C) wzglednie ze specjalnej lampy próz¬ niowej. Instytut Metalurgii Zelaza im. Stanislawa Staszica CWD nr. 2630/Ww/II B-55 WDA. 2211-100 kmpl. B5 PL
PL40071A 1956-08-13 PL40071B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL40071B1 true PL40071B1 (pl) 1957-04-15

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2512494C2 (pl)
US2635746A (en) Testing and sorting control system
US2971372A (en) Ultrasonic testing apparatus
US4212205A (en) Container defect detection apparatus
PL40071B1 (pl)
US3048031A (en) Device for automatically correcting the variables in the ultrasonic testing of materials
US3235795A (en) Non-destructive testing of materials by pulsed electromagnetic waves
US4086817A (en) Method and apparatus for determining the acceptability of a weld formed by applying repetitive pulses of energy to the weld site
Holbrook A pulse method for measuring small changes in ultrasonic velocity in solids with temperature
SU548801A1 (ru) Способ ультразвукового контрол пол ризованности пьезоэлектрика
SU842566A1 (ru) Способ неразрушающего контрол пьЕзОКЕРАМичЕСКиХ издЕлий
SU564592A1 (ru) Ультразвуковой дефектоскоп
SU1052988A1 (ru) Способ двухпараметрового вихретокового контрол
GB1166717A (en) Method of Testing Metal Parts by means of Ultra-Sonic Waves
SU1499221A1 (ru) Устройство испытани изделий на собственных частотах
RU1810818C (ru) Акустический импедансный дефектоскоп
SU658469A1 (ru) Дифференциальный ультразвуковой пьезоэлектрический преобразователь
SU1366932A1 (ru) Способ вихретокового контрол материалов и изделий
SU150549A1 (ru) Устройство дл измерени резонансной частоты и декремента затухани твердых материалов
SU139137A1 (ru) Ультразвуковой импульсный дефектоскоп
SU1446555A1 (ru) Ультразвуковой дефектоскоп
SU790994A1 (ru) Способ измерени потенциала и колебаний потенциала плазмы
SU406154A1 (ru) Способ дефектоскопии пьезоматериалов
SU1359682A1 (ru) Устройство дл контрол целостности пьезокерамических преобразователей
SU848988A1 (ru) Импульсно-вихретоковый способ толщино-МЕТРии