PL40071B1 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- PL40071B1 PL40071B1 PL40071A PL4007156A PL40071B1 PL 40071 B1 PL40071 B1 PL 40071B1 PL 40071 A PL40071 A PL 40071A PL 4007156 A PL4007156 A PL 4007156A PL 40071 B1 PL40071 B1 PL 40071B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- circuit
- amplifier
- pulse
- oscillating circuit
- dead time
- Prior art date
Links
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 claims description 3
- 238000005272 metallurgy Methods 0.000 claims 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 1
Description
Opublikowano dnia 3 grudnia 1957 r. \ «? & o 4 -4 &U*49 BIBLIOTEKA! Urzedu Patentowego 3/ POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 40071 KI. 42 k, 46/06 Instytut Metalurgii Zelaza im. Stanislawa Staszica*) Gliwice, Polska Defektoskop ultradzwieków]) jednoczujnikowp o krótkim czasie martwpm Patent trwa od dnia 13 sierpnia 1956 r.Znane w Polsce defektoskopy jednoczujnikowe nie wykrywaja wad lezacych blisko po¬ wierzchni, z której przeprowadza sie badanie, czyli posiadaja dlugi czas martwy.W defektoskopie wedlug wynalazku zastoso¬ wano kilka rozwiazan konstrukcyjnych, skra¬ cajacych dlugosc czasu martwego. Przede wszystkim w defektoskopie tym zastosowano jako kondensatory A (uwidocznione na rysunku) sprzegajace siatki B lamp wzmacniacza C de¬ fektoskopu z anodami D lamp poprzednich stopni kondensatory o wartosciach pojemnosci znacznie wiekszych niz to Jest potrzebne dla uzyskania odpowiedniej charakterystyki cze¬ stotliwosci. Dzieki temu ladunki powstajace na tych kondensatorach przy przesterowaniu, nie odplywaja z nich w ogóle przez caly okres pracy defektoskopu jednak wywolane przez nie napiecia na tych kondensatorach dzieki *) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wynalazku jest inz. mgr Józef Tabin. duzym wartosciom pojemnosci tych ostatnich, sa nieduze i tym samym nie wywoluja zmniej¬ szenia wzmocnienia lamp wzmacniacza. W przypadku krancowym mozna stosowac sprze¬ zenie galwaniczne.Dla dalszego polepszenia pracy defektoskopu generator impulsów wielkiej czestotliwosci, stanowiacy jego czesc skladowa, posiada spec¬ jalna konstrukcje, zapewniajaca szybkie tlu¬ mienie impulsu generatora. Jest to konieczne z tego wzgledu, ze Impuls generatora zanika ekspontencjalnie teoretycznie w czasie nieskon¬ czenie dlugim. Drobny zas ulamek amplitudy impulsu generatora moze byc wiekszy od am¬ plitudy impulsów odebranych przez czujnik w czasie badania.Dla zwiekszenia szybkosci zanikania tego im¬ pulsu konieczne jest zastosowanie obwodu drgajacego E zmieniajacego swa efektywna dobroc, a mianowicie posiadajacego wieksza dobroc w czasie formowania impulsu, a mniej¬ sza w czasie jego zanikania.Dla uzyskania powyzszego zaprojektowanogenerator impulsów wielkiej czestotliwosci skladajacy sie z jednego tyratronu F, który sluzy do wzbudzenia' impulsu, jednej lampy prózniowej G polaczonej z obwodem drgaja¬ cym w ukladzie dodatniego sprzezenia zwrot¬ nego, przez co zwiekszono efektywna dobroc obwodu drgajacego w czasie formowania im¬ pulsu drgan wielkiej czestotliwosci, a ponadto obwody generatora sa polaczone ze wzmacnia¬ czem impulsów odbiorczych w ukladzie ujem¬ nego sprzezenia zwrotnego H, przez co dobroc efektywna obwodu w czasie zanikania im¬ pulsu drgan wielkiej czestotliwosci ulega sil¬ nemu zmniejszeniu w stosunku do swej war¬ tosci mierzonej na mierniku dobroci.; Zastosowanie powyzszych konstrukcji poz¬ woli na znaczne usprawnienie pracy defek¬ toskopu ultradzwiekowego umozliwiajac wy¬ krywanie wad lezacych plytko pod powierz¬ chnia, z której przeprowadza sie badanie. PL
Claims (1)
1. Zastrzezenie patentowe Defektoskop ultradzwiekowy jetinoczttjniko- wy o krótkim czasie martwym, skladajacy sie ze wzmacniacza i vgeneratora impulsów wielkiej czestotliwosci, znamienny tym, ze poszczególne stopnie wzmacniacza (C) posiadaja dolna cze¬ stotliwosc graniczna od zera do 15 kHz genera¬ tor zas (D) zawiera prócz obwodu drgaja¬ cego (E), tyratron (F), lampe prózniowa (G) polaczona z obwodem drgajacym w ukladzie dodatniego sprzezenia zwrotnego oraz elementy (H) podajace obwodowi drgajacemu napiecie ujemnego sprzezenia zwrotnego ze wzmacnia¬ cza (C) wzglednie ze specjalnej lampy próz¬ niowej. Instytut Metalurgii Zelaza im. Stanislawa Staszica CWD nr. 2630/Ww/II B-55 WDA. 2211-100 kmpl. B5 PL
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL40071B1 true PL40071B1 (pl) | 1957-04-15 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE2512494C2 (pl) | ||
| US2635746A (en) | Testing and sorting control system | |
| US2971372A (en) | Ultrasonic testing apparatus | |
| US4212205A (en) | Container defect detection apparatus | |
| PL40071B1 (pl) | ||
| US3048031A (en) | Device for automatically correcting the variables in the ultrasonic testing of materials | |
| US3235795A (en) | Non-destructive testing of materials by pulsed electromagnetic waves | |
| US4086817A (en) | Method and apparatus for determining the acceptability of a weld formed by applying repetitive pulses of energy to the weld site | |
| Holbrook | A pulse method for measuring small changes in ultrasonic velocity in solids with temperature | |
| SU548801A1 (ru) | Способ ультразвукового контрол пол ризованности пьезоэлектрика | |
| SU842566A1 (ru) | Способ неразрушающего контрол пьЕзОКЕРАМичЕСКиХ издЕлий | |
| SU564592A1 (ru) | Ультразвуковой дефектоскоп | |
| SU1052988A1 (ru) | Способ двухпараметрового вихретокового контрол | |
| GB1166717A (en) | Method of Testing Metal Parts by means of Ultra-Sonic Waves | |
| SU1499221A1 (ru) | Устройство испытани изделий на собственных частотах | |
| RU1810818C (ru) | Акустический импедансный дефектоскоп | |
| SU658469A1 (ru) | Дифференциальный ультразвуковой пьезоэлектрический преобразователь | |
| SU1366932A1 (ru) | Способ вихретокового контрол материалов и изделий | |
| SU150549A1 (ru) | Устройство дл измерени резонансной частоты и декремента затухани твердых материалов | |
| SU139137A1 (ru) | Ультразвуковой импульсный дефектоскоп | |
| SU1446555A1 (ru) | Ультразвуковой дефектоскоп | |
| SU790994A1 (ru) | Способ измерени потенциала и колебаний потенциала плазмы | |
| SU406154A1 (ru) | Способ дефектоскопии пьезоматериалов | |
| SU1359682A1 (ru) | Устройство дл контрол целостности пьезокерамических преобразователей | |
| SU848988A1 (ru) | Импульсно-вихретоковый способ толщино-МЕТРии |