PL38274B1 - - Google Patents

Description

! B ! B L i O T i- K Aj I Urzeou P a\a nfowego k | Polskiej RzcBzygg£jHslU_:-j tóasjy Opublikowano dnia 20 stycznia 1956 r. £ ^ qoUMlo$ POLSKIEJ RZECZYPOSPOLITEJ LUDOWEJ OPIS PATENTOWY Nr 38274 KI. 42b, 12/03 Instytut Metalurgii im. Stanislawa Staszica *) (Gliwice, Polska) Przyrzad do mierzenia grubosci powlok niemagnetycznych na podlozu magnetycznym Patent trwa od dnia 8 pazdziernika 1953 r.Przyrzad wedlug wynalazku jest przeznaczo¬ ny do mierzenia powlok niemagnetycznych np. lakierów, emalii albo metali nalozonych ognio¬ wo lub elektrolitycznie, np. cyny, cynku, chro¬ mu lub miedzi, na przedmiotach z materialów ferromagnetycznych, np. na stali, staliwie, zeli¬ wie.Przyrzad sklada sie z sondy i ukladu pomia¬ rowego. Pomiar wykonuje sie przez ustawienie sondy na badanej powierzchni i odczytanie wskaznika w ukladzie pomiarowym.Pomiary moga byc wykonywane zarówno na powierzchniach plaskich jak wypuklych i wkle¬ slych. Zakres pomiaru grubosci warstwy wyno¬ si od 0 do 200 mikronów.Przyrzad wedlug wynalazku jest przedstawio¬ ny schematycznie na rysunkach, przy czym fig. 1 przedstawia sonde, a fig. 2 — uklad pomiaro¬ wy ze wskaznikiem. Rdzen magnetyczny sondy stanowia (fig. 1) dwie kolumny 1 zakonczone pólkolisto 2 i polaczone prostopadlosciennym jarzmem 3. Na jednej kolumnie znajduje lic uzwojenie pierwotne 4, zasilane pradem zmieni nym, a na drugiej kolumnie znajduje sie uzwo¬ jenie wtórne 5, w którym indukuje sie napiecie zalezne od grubosci mierzonej powloki. W cza¬ sie pomiaru, gdy sonda spoczywa na powloce badanej, calosc pracuje jak transformator o zmiennej szczelinie niemagnetycznej, przy czym w obwód magnetyczny wlacza sie magne¬ tyczny material przedmiotu badanego.Uklad pomiarowy wedlug fig. 2 jest wzmac¬ niaczem napieciowym, zakonczonym wtórnikiem katodowym i prostownikiem synchronicznym.Na wejsciu wzmacniacza podaje sie róznice napiecia sondy i regulowanego co do wielkosci napiecia kompensujacego. Dzieki temu wskaz¬ nik ukladu wskazuje odchylki napiecia sondy wzgledem wyregulowanej wartosci obranej.Przez regulacje wzmocnienia wzmacniacza moz¬ na dowolnie ustalic wielkosci odchylki powodu¬ jacej pelne wychylenie wskaznika.*) Wlasciciel patentu oswiadczyl, ze twórca wynalazku jest inz. Adam Stryk.Obie wymienione regulacje umozliwiaja uzy¬ skanie wychylen 0 i maksimum przy dwóch róznych, dowolnie obranych napieciach wtór¬ nych sondy, a tym samym przy dwóch róznych grubosciach powlok.Za pomoca tych regulacji wykonuje sie tak zwane wyskalowanie wskazan miernika, maja¬ ce na celu wyeliminowanie wplywu przenikal- nosci magnetycznej materialu podloza na do¬ kladnosc wskazan.Przykladowo podano ponizej niektóre liczbo¬ we dane konkretnego modelu miernika.Sonda. Wymiary sondy nie przekraczaja kil¬ kunastu mm. Napiecie wtórne sondy zmienia sie w granicach 4 + 20 mV.Uklad elektryczny. Wzmocnienie wzmacnia¬ cza bez ujemnego sprzezenia zwrotnego — 4000, ze sprzezeniem zwrotnym — 590.Wskaznik — 100 ^ A, o oporze 500 fi Napiecie wejsciowe wzmacniacza powodujace pelne wychylenie wskaznika — lmV.Uzyte typy lamp: 3xEF22, lxAZl, lxStV280/40.Zakres pomiaru. Krzywe cechowania wyko¬ nano w zakresach pomiaru grubosci w funkcji wychylen wskaznika wynoszacych: 0—6, 6—20, 20—100, 100—200 ju. .Minimalne wymiary przedmiotu przy wyko¬ nywaniu dokladnego pomiaru plytki wynosza 30x30x0,3 mm, a pretów — 0 8—10 mm.Dokladnosc pomiarów nie gorsza niz ± 10°/o, przecietnie ± (2+5)°/o.Przyklad poslugiwania sie miernikiem. Na lezy wykonac pomiary grubosci powlok na przedmiotach z jednakowego materialu. Gru¬ bosc powloki lezy w zakresie 6—20 ja .Aby posluzyc sie krzywa cechowania tego za¬ kresu, wykonuje sie uprzednio skalowanie wska¬ zan. W tym celu sciera sie pokrycie na jednym z przedmiotów (albo posluguje plytka z takiego samego materialu) i poprzez folie o grubosci dokladnie 6 i 20 n ustawia na nich sonde. Rów¬ noczesnie przy pomocy wspomnianych __ wyze] regulacji reguluje uklad tak, aby miernik wska¬ zywal 6 i 20 [L .• Po skalowaniu nastepuja wlasciwe pomiary.W przypadku gdy skalowanie wskazan jest niemozliwe, pomiar wykonuje sie w sposób na¬ stepujacy.Ustawia sie sonde na nieznanym pokryciu i wykonuje odczyt wskaznika.Z kolei ustawia sie sonde przez folie o gru¬ bosciach ci i d2 mikronów, przy czym odczyt wynosi a i i a 2 dzialek. Grubosc pokrycia d obli¬ cza sie z wzoru ig d/dt = a — at . Ig d2/d1 w którym a — odczytany pomiar dla sondy bez folii dodatkowych. Postepowanie takie uzasad¬ nia sie tym, ze przebieg napiecia wtórnego son¬ dy ma w zakresach 6—20, 20—100, i 100—200 ^ charakter prostoliniowy, gdy przedstawi sie go w zaleznosci od logarytmu grubosci pokrycia. PL

Claims (4)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Przyrzad do mierzenia grubosci powlok nie¬ magnetycznych na podlozu magnetycznym, znamienny tym, ze sklada sie z sondy oraz ukladu mierniczego, przy czym rdzen mag- netyczny sondy sklada sie z dwóch - okra¬ glych kolumn (1) zakonczonych z jednej stro¬ ny pólkolisto (2), a z drugiej strony lacza¬ cych sie z prostopadlosciennym jarzmem.
2. 2. Przyrzad wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze jedna kolumna jest zaopatrzona w uzwo¬ jenie pierwotne (4), zasilane pradem zmien¬ nym, a druga — w uzwojenie wtórne, w któ¬ rym napiecie jest indukowane.
3. 3. Przyrzad wedlug zastrz. 1 i 2, znamienny tym, ze uzyskanie zerowego wychylenia wskaznika dla dowolnej wartosci grubosci pokrycia zrealizowane jest przez dodanie w szereg z napieciem sondy napiecia kompen¬ sujacego o regulowanej amplitudzie i prze¬ ciwnej fazie oraz zastosowanie fazoczulego prostownika róznicy tych napiec, po ich wzmocnieniu.
4. 4. Przyrzad wedlug zastrz. 1 — 3.. znamienny tym,-ze uzyskanie pelnego wychylenia wska¬ znika dla dowolnej wartosci grubosci pokry¬ cia zrealizowane jest przez zastosowanie re¬ gulacji wzmocnienia wzmacniacza ukladu elektrycznego. Instytut Metalurgii im. Stanislawa Staszica Bltk 2120 18.8.55 r. 100 A-4 pism. ki 7 gr 60 T-6^155Do opisu patentowego nr 38274 Ark. 1 Fig. 1Do opisu patentowego) nr 36274 Ark. Z Fty nem Lp oh ofu laju IsULOJU -r ± rarn n PL