PL34683B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL34683B1
PL34683B1 PL34683A PL3468350A PL34683B1 PL 34683 B1 PL34683 B1 PL 34683B1 PL 34683 A PL34683 A PL 34683A PL 3468350 A PL3468350 A PL 3468350A PL 34683 B1 PL34683 B1 PL 34683B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
measuring
voltage drops
currents
coils
resistors
Prior art date
Application number
PL34683A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL34683B1 publication Critical patent/PL34683B1/pl

Links

Description

Wynalazek dotyczy sposobu mierzenia oporów zespolonych pradem zmiennym zarówno malej, jak i wielkiej czestotliwosci oraz ukladu do po¬ miaru ich tym sposobem. Umozliwia on przy tym bezposrednie odczytywanie wartosci oporu zespo¬ lonego, wartosci jego skladowych oraz kata prze¬ suniecia fazowego.Zaleta ukladu wedlug wynalazku polega na tym, ze mozna dzieki niemu wykonywac pomiary szybko i prosto bez jakichkolwiek dodatkowych manipulacji i obliczen, niezbednych w dotychczas znanych przyrzadach. Uklad ten nadaje sie do zastosowania szczególnie w tym przypadku, gdy chodzi o pomiary, odnoszace sie do szerokiego zakresu czestotliwosci i posiadajace raczej cha¬ rakter orientacyjny, tzn. nie wymagajace duzej dokladnosci, Jip. w przypadku mierzenia oporu zespolonego anten, przewodów zasilajacych itd.Na rysunku fig. 1 i 5 przedstawiaja tytulem przykladu rózne uklady pomiarowe wedlug wy¬ nalazku, a fig. 2 — 4 skale pomiarowe odnos¬ nych przyrzadów pomiarowych.Generator pradu zmiennego 1 wielkiej lub malej czestotliwosci (fig. 1) posiada zaciski 16,17, do których przylaczony jest dzielnik napiecia, skladajacy sie z opornika 2 o znanym oporze ze¬ spolonym oraz z opornika 20, posiadajacego nie¬ znany, podlegajacy pomiarowi opór zespolony iprzylaczonego do zacisków 18, 19. Oporniki 2 A 20 sa polaczone szeregowo, na skutek czego prze¬ plywa przez nie ten gam prad I\, proporcjonalny do wyjsciowego napiecia generatora, wystepu¬ jacego na jego zaciskach 16, 17. Napiecie to sta¬ nowi wiec sume wektorowa spadków napiecia na opornikach 2 i 20.Napiecie wyjsciowe generatora 1, wystepujace na zaciskach 16, 17, zostaje wyprostowane za pomoca diody 3. Napiecie na oporniku 2 wypros¬ towuje dioda U, natomiast napiecie na oporniku 20 o nieznanym oporze zespolonym — dioda 5.Kondensatory 6, 7, 8 i 9 sluza do blokowania wytworzonych w vten sposób pradów stalych.Wyprostowane napiecia, pochodzace z diod 3, 4, 5, doprowadza sie poprzez oporniki 10, 11, 12 i 13 do dwóch ilorazowych przyrzadów pomiarowych 1%, 15 o znanej konstrukcji, zaopatrzonych we wspólna skale. Punkt przeciecia osi wskazówek obydwóch przyrzadów wskazuje na wspólnej skali, zaopatrzonej w opisane ponizej wspólrzed¬ ne, mierzona wielkosc, tzn. bezwzgledna wartosc oporu zespolonego, kat przesuniecia fazowego i ewentualnie równiez wartosci skladowych mierzonej opornosci.Jak wynika z fig. 1, cewka a przyrzadu 15 jest zasilana poprzez opornik 12 pradem 12, pro¬ porcjonalnym do napiecia, wystepujacego na oporniku 2, podczas gdy przez druga cewke b tego samego przyrzadu oraz przez opornik 13 przeplywa prad /20, proporcjonalny do napiecia, wystepujacego na oporniku 20 o mierzonym opo¬ rze zespolonym. Przyrzad 15 wskazuje wiec sto¬ sunek tych dwóch napiec, a mianowicie: E2 E20 • —— lub —- E20 E2 Z przyrzadu 15 wyplywa zatem prad, równy sumie wymienionych pradów Ii + /20, propor¬ cjonalnej do arytmetycznej sumy napiec E2 i E20, wystepujacych odpowiednio na opornikach 2 i 20.Prad ten rozdziela sie w punkcie &/ na dwie czesci skladowe. Jeden z pradów skladowych przeplywa przez opornik 11, drugi zas przez cewke c przy- . rzadu 14, którego druga cewka d jest zasilana pradem Iv, proporcjonalnym do wektorowej sumy napiec E2 i E20, czyli do napiecia, panujacego miedzy zaciskami 16 i 17 generatora. Przyrzad lh wskazuje wiec stosunek: mm^M^ -F £20 , ,¦ fis + E20 E2 + E20 E2 + E20 a punkt przeciecia osi wskazówek obydwóch przy- rz4dów okresla mierzone wielkosci na odpowie¬ dnich skalach, uwidocznionych na fig. 2, 3 i 4.Na fig. 2 wspólrzedne Z stanowia miare sto- E20 sunku ~'" (w przypadku gdy E Ko 1, stanowia one bezposrednio miare E20) i sluza do wskazy¬ wania bezwzglednej wartosci mierzonego oporu zespolonego w granicach od 0 do ob Linie krzywe tej skali sluza do wskazywania katfa przesuniecia fazowego w granicach od 0° do 90°.Na fig. 3 przedstawiono skale do wskazywania wartosci skladowych mierzonego oporu zespolo¬ nego w ukladzie równoleglym, przy czym R ozna¬ cza skladowa czynna w granicach od 0 do 00 jX zas — skladowa bierna w granicach od 0 do jlO.Na fig. 4 przedstawiono skale do wskazywania wartosci skladowych mierzonego oporu zespolo¬ nego w ukladzie szeregowym.Opisany przyrzad nie umozliwia jednak rozróznienia skladowych indukcyjnych od sklado¬ wych pojemnosciowych i wskazuje w ten sam sposób obydwa rodzaje skladowych biernych. Otóz w przypadku gdy zachodzi potrzeba ustalenia równiez charakteru skladowej biernej, wówczas po dokonanym odczycie wartosci oporu zespolo¬ nego zastepuje sie opornik 2 innym opornikiem o okreslonym pod wzgledem swego charakteru i wartosci oporze biernym, np. kondensatorem, uzywajac do tego celu np. zwyklego przelacznika.Jesli przy tym punkt przeciecia osi obydwóch wskazówek lezy w obrebie pola wspólrzednych, wówczas oznacza to, ze odnosna skladowa bierna • mierzonego oporu zespolonego jest pojemnoscio¬ wa. Jezeli natomiast tenze punkt znajduje sie poza obrebem pola wspólrzednych, wówczas ozna¬ cza to, ze odnosna skladowa bierna jest indukcyj¬ na, gdyz sposób wykreslenia ukladu wspólrzed¬ nych (fig. 2 i 4) dotyczy róznicy przesuniec fa¬ zowych miedzy skladowymi, wynoszacej 90°.W celu zwiekszenia dokladnosci odczytu na krancach skali, gdzie krzywe przesuniec fazowych znajduja sie bardzo blisko siebie, stosuje sie w praktyce uklad, przedstawiony schematycznie na fig. 5, w którym do cewek przyrzadów pomiaro¬ wych doprowadza sie nie bezposrednio poszczegól¬ nie wyprostowane prady, lecz ich sumy lub róznice.Poniewaz'wiekszosc dotychczas wytwarzanych cewkowych przyrzadów pomiarowych, stosowa¬ nych np. do pomiarów opornosci izolacji, posiada skale, sluzaca do wykazywania wartosci stosunku - 2 1h : ho w odstepach rzedu co najmniej 0,1, jest rzecza korzystna zasilac przyrzad sumami lub róznicami wyprostowanych pradów, których sto¬ sunek zawiera sie w granicach jednej dzialki, pozwalajac wykorzystac mozliwie jak najwiekszy obszar skali. Najodpowiedniejszy stosunek wiel¬ kosci porównawczych, wskazywanych przez przy¬ rzad pomiarowy 151 wynosi 0,5 U : 0,5 (h + /20), stanowiacy funkcje stosunku znanego oporu zespolonego opornika 2 do mierzonego oporu ze¬ spolonego opornika 20, przy czym wartosc' tego stosunku moze zawierac sie zawsze wewnatrz odstepu miedzy dzialkami skali, wynoszacego co najmniej 0,1. Drugi przyrzad pomiarowy 1U wskazuje natomiast stosunek 0,773 • (I2+I20 — Iv ) : 0,227, • (I + 120), którego wspólczynniki sa tak do¬ brane, ze z jednej strony ich suma wynosi 1, z drugiej zas strony maksymalna wartosc tego stosunku (w przypadku gdy Iv = (h + ho) V~2) wynosi równiez 1, przy czym wartosci powyzsze mozna osiagnac przez odpowiedni dobór oporów oporników, polaczonych szeregowo z cewkami przyrzadów pomiarowych (fig. 5). PL

Claims (7)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób pomiaru oporu zespolonego, jego skladowych i odnosnego kata przesuniecia fazowego, znamienny tym, ze prad pomiaro¬ wy prowadzi sie przez dwa polaczone szere¬ gowo oporniki, jeden o znanym oporze ze¬ spolonym, drugi zas o mierzonym oporze ze¬ spolonym, przy czym uzyskiwane na nich spadki napiec wyprostowuje sie, , podobnie jak ich sume wektorowa, a prady, proporcjo¬ nalne do otrzymanych wyprostowanych na¬ piec, doprowadza sie do dwóch zaopatrzonych we wspólna skale przyrzadów o cewkach skrzyzowanych, mierzacych stosunek dwócii wielkosci.
  2. 2. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze cewki jednego z przyrzadów pomiarowych zasila sie pradami, proporcjonalnymi do wy¬ prostowanych spadków napiec, uzyskiwanych na obu opornikach porównawczych, podczas gdy cewki drugiego przyrzadu pomiarowego zasila sie z jednej strony pradem, proporcjo¬ nalnym do arytmetycznej sumy wymienio¬ nych pradów, z drugiej zas strony pradem, proporcjonalnym do wyprostowanej sumy wektorowej obydwóch wymienionych spad- ' ków napiec.
  3. 3. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze cewki przyrzadów pomiarowych zasila sie sumami lub róznicami pradów, proporcjonal¬ nych do wyprostowanych spadków napiec, uzyskiwanych na obu opornikach porównaw¬ czych, oraz do sumy wektorowej tych spad¬ ków napiec.
  4. 4. , Uklad do mierzenia oporu zespolonego, jego skladowych i odnosnego kata przesuniecia fa¬ zowego sposobem wedlug zastrz. 1 — 3, zna¬ mienny tym, ze zawiera dwa polaczone szere¬ gowo oporniki (2, 20) o znanym i mierzonym oporze zespolonym, przylaczone do zacisków (16, 17) generatora (1) pradu malej lub wielkiej czestotliwosci, przy czym do kranco¬ wych zacisków kazdego opornika, podobnie jak i do zacisków generatora, przylaczona jest lampa prostownicza, sprzezona z kon¬ densatorem i sluzaca do prostowania odnos¬ nych spadków napiec, dajacych prady, do¬ prowadzane poprzez odpowiednio dobrane oporniki do cewek dwóch przyrzadów pomia¬ rowych (1A, 15), sprzezonych ze soba elek¬ trycznie i zaopatrzonych w krzyzujace sie wskazówki, wskazujace na wspólnej skali wartosc mierzonej wielkosci.
  5. 5. Uklad pomiarowy wedlug zastrz. 4, znamien- ' ny tym, ze wspólna skala obydwóch przy¬ rzadów pomiarowych jest zaopatrzona w uklad wspólrzednych do bezposredniego od¬ czytywania czynnej i biernej skladowej mie¬ rzonego oporu zespolonego.
  6. 6. Uklad pomiarowy wedlug zastrz. 4 i 5, zna¬ mienny tym, ze wspólna skala obydwóch przyrzadów pomiarowych jest zaopatrzona w uklad wspólrzednych do bezposredniego odczytywania zarówno bezwzglednej war¬ tosci mierzonego oporu zespolonego, jak i od¬ nosnego kata przesuniecia fazowego. Tesla, n aro dni podnik v v Jiri Yackar Zastepca: Kolegium Rzeczników PatentowychDo opisu patentowego nr 34683 Ark. 1Do opisu patentowego nr 34683 Ark. 2 % 3Do opisu patentowego nr 34683 Ark. H Hal. 4j2. - 27 K-^'28 Wf). n. ló() egz. - Pism. V ki.",li. 3. tJO «rni.
  7. 7. 5-' r " ' ' PL
PL34683A 1950-06-13 PL34683B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL34683B1 true PL34683B1 (pl) 1951-10-31

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3471772A (en) Instrument for measuring the range and approximate size of buried or hidden metal objects
PL34683B1 (pl)
US2832046A (en) Magnetic flux method of and means for measuring the density of direct current
CN109100664A (zh) 一种空间小磁场的测量方法
US2805390A (en) A. c. permeability and hysteresis analyzer
Zhao et al. Error analysis of current sensor based on fluxgate sensor array
Biryukov et al. Improved method for measuring the electric field strength by the mean value of double sensors and devices for its application
SU72474A1 (ru) Устройство дл контрол электрических установок
SU1732255A1 (ru) Вихретоковый дефектоскоп
SU622025A1 (ru) Трехкомпонентный датчик переменного электрического пол
US1919079A (en) Electrical instrument
US2778989A (en) Dynamometer instrument
RU2252422C1 (ru) Способ измерения тока и устройство для его осуществления
RU2177630C1 (ru) Бесконтактный измеритель тока в подземных трубопроводах
Thompson A falling-sphere viscometer for use with opaque liquids
SU737883A1 (ru) Устройство дл измерени частотных составл ющих комплексной погрешности измерительных трансформаторов
SU1746320A1 (ru) Устройство дл бесконтактного измерени токов в подземных магистральных трубопроводах
SU879286A2 (ru) Устройство дл бесконтактного измерени угла наклона электропровод щей поверхности
US2446015A (en) Electrolytic concentration indicator
SU1315888A1 (ru) Способ измерени коэффициента анизотропии электропроводности немагнитных материалов и устройство дл его реализации
SU86192A1 (ru) Устройство дл исследовани электротехнических материалов
RU12615U1 (ru) Устройство для измерения параметров электромагнитного поля
SU95201A1 (ru) Прибор дл измерени статических поверхностных напр жений в стали
US3422347A (en) Comparator circuit having a hall generator for measurement of d.c. magnetic fields
US679174A (en) Power-factor meter.