PL34516B1 - - Google Patents

Description

W zakresie wzmacniania niskich czestotliwosci, obejmujacym np. stacje nadawcze i wzmacniakowe lub wzmacniacze telefoniczne, wymagana jest cze¬ sta, zazwyczaj okresowa kontrola znieksztalcenia krzywej pradu, przy czym sposób kontrolowania winien byc mozliwie prosty i szybki, wolny od skomplikowanych manipulacji, a tym samym do¬ stepny dla osób malo wykwalifikowanych. Jest rów¬ niez rzecza pozadana, by kontrola taka umozliwia¬ la odróznienie znieksztalcen, spowodowanych przez parzyste lub nieparzyste harmoniczne.Do przeprowadzenia takiej analizy uzywano do¬ tychczas metod, opierajacych sie na jednej okreslo¬ nej czestotliwosci pomiarowej, do której dostraja¬ no obwody strojone przyrzadu do wykrywania znie¬ ksztalcen. Przed kazdym badaniem nalezalo zatem zestroic przyrzad pomiarowy, to .jest dostosowac sygnal wejsciowy do okreslonej, stalej czestotliwo¬ sci. Blizsza analize poszczególnych harmonicznych mozna bylo przeprowadzac za pomoca odpowie¬ dnich filtrów, co komplikowalo jednak badanie..Wynalazek dotyczy sposobu badania znieksztal¬ cenia krzywej pradu, przy czym nie jest konieczne stosowanie stalej czestotliwosci pomiarowej, która w tym przypadku moze wahtic sie w granicach od 100 do 2000 okr/sek lub nawet wiecej, zaleznie od zakresu czestotliwosci badanego urzadzenia.Sposób wedlug wynalazku opiera sie na stwier¬ dzeniu, ze znieksztalcenie krzywrej pradu w ukla- dnch, zasilanych pradami niskich czestotliwosci, jest wywolane nieprostoliniowa charakterystyka róznych elementów ukladu, zwlaszcza lamp, i prze¬ jawia sie jako nieprostoliniowe znieksztalcenie si- nusoidy podstawowej fali.Znieksztalcenie, wywolujace parzyste harmoni¬ czne, przejawia sie w postaci niesymetrycznosci dodatnich i ujemnych impulsów sinusoidy, w przy¬ padku zas znieksztalcenia, wywolujacego nieparzy¬ ste harmoniczne, ulega zmianie stosunek sred¬ niej wartosci napiecia oscylacji malej czestotliwo¬ sci do wartosci maksymalnej, wynoszacy teorety¬ cznie 0,63:1. Pomiaru znieksztalcenia dokonuje sie w mysl wynalazku w ten sposób, ze w przypadku wystepowania parzystych harmonicznych okresla sie stosunek maksymalnej amplitudy dodatniego i ujemnego impulsu napiecia, w przypadku zas wy-stepowania nieparzystych harmonicznych — stosu¬ nek maksymalnej wartosci napiecia oscylacji do wartosci s-redniej. Poniewaz w obu przypadkach chodzi o pomiar stosunku dwóch wielkosci, mozna zastosowac np. odpowiedni przyrzad ilorazowy z cewkami skrzyzowanymi, którego podzialke ska¬ luje sie bezposrednio w procentach wielkosci znie¬ ksztalcenia.Na dokladnosc pomiaru wplywa ujemnie prze¬ suniecie fazy czestotliwosci harmonicznych w sto¬ sunku do czestotliwosci podstawowej. Okolicznosc ta ogranicza od góry zakres czestotliwosci, jaki mozna stosowac, do jednej trzeciej zakresu, nie podlegajacego przesunieciu fazy. Np. w przypadku wzmacniacza czestotliwosci od 30 do 10000 okr/sek, wzmacniajacego bez przesuniecia fazy czestotliwo¬ sci w zakresie od 100 do 6000 okr/sek, mozna ba¬ dac sposobem wedlug wynalazku znieksztalcenie w zakresie od 100 do 2000 okr/sek.Na rysunku przedstawiono tytulem przykladu uklady polaczen wedlug wynalazku, przy czym fig.I przedstawia uklad do badania parzystych harmo¬ nicznych, fig. 2 zas — uklad do badania nieparzy¬ stych harmonicznych.W ukladzie wedlug fig. 1 oba impulsy zmien- • nego napiecia, badanego pod wzgledem znieksztal¬ cenia, sa prostowane przez diody Dl i D2 o prze-' ciwnej biegunowosci, przy czym na wlaczonych w obwód kondensatorach Cl i C2 powstaja potencjaly 4-E1 i —E2, równe maksymalnym amplitudom obu impulsów. Jezeli mierzone napiecie nie zawiera pa¬ rzystych harmonicznych, wspomniane potencjaly sa równe, a poniewaz wlaczone w obwód oporniki Rl i R2 oraz charakterystyki obu diod sa jednakowe, przeto odnosne prady*// i 12 sa sobie równe, lecz przeciwnego znaku, na skutek czego prad wypad¬ kowy 13, plynacy przez cewke B przyrzadu pomia¬ rowego, równa . sie zeru.Prad II, przeplywajacy przez cewke A, równa Ti11 TP o sie —, prad 12 równa sie , prad zas wypadko- wy 13 równa sie -— — — Jezeli badana krzy- Rl Ra lwa napiecia zawiera parzyste harmoniczne, prady II i 12 sa rózne, prad 13 zas, przeplywajacy przez cewke B, jest wówczas proporcjonalny do róznicy potencjalów El i E2, która zalezy od stopnia nasi¬ lenia parzystych harmonicznych. Kierunek przeply¬ wu pradu 13 zalezy od znaku róznicy II — 12, co zaznaczono na rysunku dwoma przeciwnie skiero¬ wanymi strzalkami. Wychylenie przyrzadu ilorazo- wego, stanowiace funkcje stosunlcu — , równego rp-i TfO stosunkowi , okresla stopien wzmocnienia El parzystych harmonicznych badanej krzywej napie¬ cia.W ukladzie wedlug fig. 2, sluzacym do badania stopnia nasilenia nieparzystych harmonicznych, oba impulsy sa w podobny sposób prostowane przez diody Dl i D2, tak ze prad II, proporcjonalny do sumy maksymalnych amplitud obu impulsów, prze¬ plywa przez obwód Dl, Rl, D2, cewke A przyrzadu pomiarowego i opornik R3. Natomiast diody D3 i D4, z których kazda jest polaczona szeregowo z du¬ zym opornikiem R2, umozliwiaja przeplyw pradu w ciagu calego okresu, prostujac w ten sposób je- x go srednia wartosc. Prad 12, plynacy przez obwód, skladajacy sie z lampy D4, dwóch oporników R2, lampy D3 oraz opornika R4, reguluje sie przez od¬ powiedni dobór oporo opornika R2 tak, aby równal sie on pradowi II w przypadku, gdy badana krzy¬ wa pradu posiada ksztalt idealnej sinusoidy. Moze to miec miejsce jedynie wówczas, gdy R1=2^R2.Jezeli jednoczesnie opór opornika R3 równa sie opo¬ rowi opornika R4 i badane napiecie posiada sinu¬ soidalny ksztalt fali podstawowej, na obu tych opor¬ nikach wystepuje taki sam spadek napiecia i prad 13, okreslony róznica pradów II oraz 12 i plynacy przez druga cewke B przyrzadu pomiarowego, rów¬ na sie wówczas zeru. Jezeli badana krzywa ¦ pradu -zawiera nieparzyste harmoniczne, równowaga mie¬ dzy pradami II i 12 ulega zachwianiu i powstaje' prad wypadkowy 13 o kierunku, zaleznym od -zna¬ ku róznicy II — 12, przy'czym stosunek tego pradu do. pradu II stanowi miernik stopnia nasilenia har¬ monicznych nieparzystych. Prad 13 wywoluje wy¬ chylenie przyrzadu ilorazowego, zaopatrzonego w cewki A i B. ""*' Przy badaniu znieksztalcen krzywej" pradu w generatorach wielkiej czestotliwosci o duzym wew¬ netrznym oporze pozornym, prostowanie maksymal¬ nej wartosci impulsów pradowych nie daje dokla¬ dnych wyników i w takich przypadkach zaleca sie wlaczac przed urzadzeniem pomiarowym wzmac¬ niacz katodowy w postaci lampy o malym oporze wewnetrznym. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenia patentowe 1. Urzadzenie do badania wyzszych harmonicznych pradu zmiennego róznej czestotliwosci, zaoca trzone we wskaznik ilorazowy, znamienne tym, ze zawiera jedna lub dwie pary prostowników o przeciwsobnej biegunowosci, przy czym prady (II, 12), proporcjonalne do wyprostowanych przy ich pomocy napiec, dzialaja wr odpowie¬ dnim obwodzie przeciwsobnie w postaci pradu, wypadkowego (13), stanowiacego miare znie¬ ksztalcenia krzywej badanego napiecia i prze¬ plywajacego przez cewke (B) wskaznika ilora¬ zowego o cewkach skrzyzowanych, którego, dru¬ ga cewka (A) jest ,zasilana pradem (II), pro¬ porcjonalnym do maksymalnej amplitudy fali podstawowej badanego napiecia. ¦ ¦ •'¦ ¦'-"'¦ nasilenia parzystych harmonicznych, znamienne tym, ze zawiera zespoly prostownicze (Dl — Cl, D2 — C2) do prostowania wartosci szczytowej badanego napiecia, odznaczajace sie przeciwso- bna biegunowoscia i zasilajace poprzez odpo¬ wiadajace im oporniki (Rl, R2) cewki (A, B) wskaznika (M) w ten sposób, iz pfzez jego cewke (A) przeplywa prad (II), proporcjonal¬ ny do maksymalnej amplitudy badanego napie¬ cia, natomiast przez druga cewke (B) — prad (13), proporcjonalny do róznicy wartosci szczy¬ towych impulsów dodatnich i ujemnych badane¬ go napiecia. Urzadzenie wedlug zastrz. 1 do badania sto¬ pnia nasilenia nieparzystych ' harmonicznych, znamienne tym, ze sklada sie z ukladu (Dl, D2), prostujacego wartosci szczytowe badanego na¬ piecia, oraz z ukladu (D3, D4), prostujacego je¬ go wartosci srednie, przy czym obydwa uklady /?/ stosunkowi —z=k R2 prostownicze sa zaopatrzone w oporniki wyrów¬ nawcze (Rl, R2), których opory odpowiadaja zasilaja cewki (A, B) wskaznika (M) w ten sposób, iz przez jego cew¬ ke (A) przeplywa prad (II), proporcjonalny do wartosci szczytowej badanego napiecia, nato¬ miast przez druga cewkg (B) — prad (13), pro¬ porcjonalny do róznicy napiec, wyprostowanych w obu ukladach prostowniczych. 4. Urzadzenie wedlug zastrz. 1 — 3 do badania znieksztalcenia krzywej napiecia, pochodzacego ze zródel o znacznym wewnetrznym oporze po¬ zornym, znamienne tym, ze zawiera przylaczo¬ na do zacisków wejsciowych katodowa lampe wzmacniakowa o malym oporze wewnetrznym. Jifi V a c k a r Zastepca: inz. Leon Skarzenski rzecznik patentowy [<&% 4b' Bltk nr 1 — 150 zam, 2636 25.9-51 — T-2-12063 PL