PL34493B1 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
PL34493B1
PL34493B1 PL34493A PL3449350A PL34493B1 PL 34493 B1 PL34493 B1 PL 34493B1 PL 34493 A PL34493 A PL 34493A PL 3449350 A PL3449350 A PL 3449350A PL 34493 B1 PL34493 B1 PL 34493B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
voltage
circuit
nominal value
resistance
millivoltmeter
Prior art date
Application number
PL34493A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL34493B1 publication Critical patent/PL34493B1/pl

Links

Description

Wynalazek dotyczy ukladu regulacyjnego, umozliwiajacego badz uzyskanie stalego oporu wypadkowego obwodu mierniczego, badz osia¬ gniecie tego, by opór ten zmienial sie wedlug pewnej okreslonej zaleznosci funkcyjnej.Uklad tego rodzaju mozna z powodzeniem sto¬ sowac do przyrzadów pomiarowych (np. mierni¬ ków pradu lub napiecia), w celu zwiekszenia ich czulosci dla calego zakresu wskazan. Znane przy¬ rzady o znacznej czulosci maksymalnej (np. przy¬ rzady z silnie tlumionym wychyleniem zerowym) mozna stosowac jedynie do pewrnego ograniczone¬ go zakresu wskazan, gdyz czulosc ich zmienia sie w szerokich granicach wraz z zakresem.Dzieki ukladowi wedlug wynalazku, stanowia¬ cemu polaczenie dzielnika napiecia z opornikiem o zmiennej opornosci, odznaczajacym sie taka charakterystyka, ze zostaje spelniony wyzej wy¬ mieniony warunek odnosnie oporu wypadkowego obwodu mierniczego, unika sie omówionej niedo¬ godnosci.Na rysunku uwidoczniono tytulem przykladu kilka schematów ukladu regulacyjnego wedlug wynalazku, przy czym fig. 1 przedstawia podsta¬ wowy schemat polaczen ukladu/ regulacyjnego wedlug wynalazku, fig. 2 — obwód zastepczy ukladu na fig. 1, fig. 3 — charakterystyke opo¬ rowa ukladu, fig. 4 — schemat polaczen do po¬ miaru natezenia pradu bez zastosowania ukladu wedlug wynalazku, fig. 5 — analogiczny sche¬ mat z zastosowaniem ukladu wedlug wynalazku, fig. 6 — schemat polaczen do pomiaru napiecia.Cyfra 1^ oznacza ria fig. 1 zródlo pradu, któ-« rego opór* wewnetrzny jest w porównaniu . z opo¬ rem dzielnika napiecia P tak maly, ze moze nie byc uwzgledniany. Przy przeprowadzonej ponizej analizie matematycznej przyjmuje sie, ze opór wy¬ padkowy RY obwodu mierniczego, wystepujacymiedzy zaciskami 4 i 5, sklada sie z oporów skladowych Pi i P2 dzialnika napiecia P oraz z oporu zmiennego R.Napiecie"; dostarczone przez zródlo 1, jest re¬ gulowane dzielnikiem napiecia P. Ze stykiem Slizgowym L dzielnika 'napiecia P polaczony jest. styk ruchomy K opornika o zmiennym oporze R, przesuwajacy sie równoczesnie ze stykiem L, przy czym opornik ten jest polaczony wedlug znanych zasad w ten sposób, ze opór wypadkowy obwodu stanowi funkcje napiecia, panujacego na jego za¬ ciskach wyjsciowych, czyli: R v = f (u) = const . . .¦ (I)- Ze*.schematu polaczen obwodu zastepczego, przedstawionego na fig. 2, w którym przez R' oznaczono opór, wystepujacy miedzy ruchomym stykiem K i nieruchomym punktem 2, wynika, ze: Rv,JR' +-^T^=const • • • • • • (2) Poniewaz Pi + P2 = P, przeto przez proste pod¬ stawienie uzyskuje sie|| .. (p _ p2) p2 R< = const - ' p -^- (3) Krzywa, uwidoczniona na fig. 3, przedstawia wykres oporu R' w funkcji oporu P stosownie do równania (3).Jezeli f (u) nie jest wielkoscia stala, wówczas równanie (3) przeksztalca sie, uzyskujac postac ogólna: (P — Pt) . Pt R' = f (u) -: J ... . .(4) Omawiany uklad regulacyjny, zawtierajacy opornik o oporze, zmieniajacym sie zgodnie z równaniem (3) lub (4), moze byc uzyty w pola¬ czeniu z czulymi przyrzadami pomiarowymi na » przyklad do. pomiaru odchylek wielkosci pradu lub napiecia od wartosci nominalnej.Dla porównania przedstawiono na fig. 4 sche¬ mat polaczen do pomiaru natezenia pradu, w któ¬ rym nie zastosowano ukladu wedlug wynalazku.Schemat zawiera stosowane zazwyczaj pomocni¬ cze zródlo pradu oraz dzielnik napiecia P (Pi + .+ P2) z zaciskami 4 i 5. Wartosc nominalna na¬ tezenia pradu, mierzonego amperomierzem A, wy-' nosi 1, odchylka zas jego od wartosci nominalnej, wynoszaca A /, jest ^wskazywana prz£z miliam- peromierz A', wlaczony miedzy zaciski 6 i 7. Wa^ de tego ukladu stanowi okolicznosc, ze czulosc miliamperomierza zalezy od polozenia styku sli¬ zgowego L na dzielniku napiecia P. W kranco¬ wych polozeniach tego styku na dzielniku P mi- liamperomierz A' jest, praktycznie biorac, zwarty, a tym samym nieczuly. Jesli natomiast siyk L zajmuje polozenie srodkowe, wówczas czulosc mi¬ liamperomierza A' jest najwieksza.Uklad, przedstawiony na fig. 5, rózni sie od ukladu na fig. 4 tym, ze miedzy amperomierz A i styk slizgowy L' dzielnika napiecia wlaczony jest opornik regulowany, sprzegniety ze stykiem L w ten sposób, ze wielkosc jego oporu zmienia , sie zgodnie z równaniem (3), przy czym miedzy zacisk 2 obwodu i styk ruchomy K mozna wlaczac dowolna czesc oporu R. Dzieki temu uzyskuje sie miedzy zaciskami 4 i 5 obwodu mierniczego sta¬ ly wypadkowy opór R v.Przyjmujac, ze prad mierzony, plynacy rirzez przyrzad A, posiada natezenie nominalne /, na¬ stawia sie dzielnik napiecia P i opornik regulowa¬ ny R tak, by przez miliamperomierz A' nie ply¬ nal zaden prad. Jesli jednak wielkosc mierzonego pradu zaczyna róznic sie od wartosci nominalnej o A h wówczas do zacisku 6 doplywa prad / + + A / i przez miliamperomierz A( poczyna ply¬ nac prad, proporcjonalny do tej odchylki. Ponie¬ waz zakres przyrzadu A' obiera sie znacznie mniejszy, niz zakres przyrzadu A (np. 0 + 1A wobec 0 +.100 .A), przeto przyrzad A1 wykazuje nawet bardzo mala odchylke A I od wartosci nominalnej /, której przyrzad A nie jest w ogóle w stanie wskazac. W ten sposób czulosc ukladu pomiarowego zostaje, zwiekszona. W celu uzyska¬ nia duzej czulosci przyrzadu A' nalezy zadbac o to, by opór Rv byl znacznie wiekszy od oporu wewnetrznego przyrzadu A'.Zastosowanie ukladu wedlug wynalazku do pomiaru napiecia jest przedstawione na fig. 6.Napiecie U, panujace miedzy zaciskami 6 i 7, mierzy sie w tym przypadku woltomierzem V. Do pomiaru ewentualnej odchylki A U od wartosci nominalnej napiecia U sluzy miliwoltomierz V.Miliwoltomierz V nastawia sie na zero za pomo¬ ca dzielnika napiecia P i opornika regulowanego R. Jezeli napiecie V, panujace miedzy punktami 6 i 7, rózni sie od wartosci U o A £/, wynoszac np. U + & U, wówczas przyrzad V wykazuje wychylenie, proporcjonalne do odchylki A U, a poniewaz zakres jego moze byc odpowiednio ma¬ ly w porównaniu z zakresem przyrzadu V, prze- . to fówniez w tym przypadku uzyskuje sie powie¬ kszenie czulosci ukladu pomiarowego.Przyrzady' pomiarowe A', V, wskazujace od¬ chylke wielkosci mierzonych od wartosci nominal-flsj, moga byc wycechowane w jednostkach tych wielkosci (mA, mV) lub w procentach, wskazu¬ jac bezposrednio' procentowy stosunek odchylki do wartosci nominalnej danej wielkosci. PL

Claims (1)

  1. Zastrz e z e n i a patentawe 1. Uklad regulacyjny do zwiekszenia czulosci przyrzadów pomiarowych, znamienny tym, ze zawiera dzielnik napiecia (P), zasilany po¬ mocniczym zródlem pradu i polaczony za po¬ srednictwem styku slizgowego (L) z oporni¬ kiem regulowanym (R), przy czym miedzy narzadami regulacyjnymi obu oporników istnie¬ je takie sprzezenie mechaniczne, iz opór wy¬ padkowy ($v ) calego obwodu mierniczego stanowi pewna okreslona funkcje napiecia, wy- ¦ stepujacego na zaciskach wyjsciowych tego obwodu. , 2. Uklad-. regulacyjny wedlug zastrz. 1, znamien¬ ny tym, ze posiada miliamperomierz (A*), wla¬ czony równolegle, lub miliwoltomierz (V), wlaczony szeregowo do obwodu mierniczego, które sluza . odpowiednio do wskazywania- od¬ chylki mierzonego natezenia pradu lub napie¬ cia od pewnej nastawionej wartosci nominal¬ nej, przy czym przyrzady te sa. wycechowane badz w jednostkach wielkosci mierzonych, badz w procentach wskazujac bezposrednio . procentowy stosunek odchylki do wartosci no¬ minalnej danej wielkosci. Tesla, narodni podnik Jindfich Katscher Zastepca: inz. W. Zakrzewski Rzecznik patentowy Fig. 1 R k —v/VWV' \2 L7 ,W— / 4 -o--i Fin. 2 rWWS/WS; Fig. 3 R — P Bhk. Nr 1-150 zam. 2130 18.YI-51—T-3-10251Do opisu patentowego nr 34493 Fig. 4 r+Ai e J A 0-L ~T$r 4- Fig. 5 r~ f* Q$~—\—4^^—%^p TT Fig.6 U+*U PL
PL34493A 1950-01-03 PL34493B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL34493B1 true PL34493B1 (pl) 1951-06-30

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2829343A (en) Load meter
US2805394A (en) Alternating-current volt-ammeters
US2481500A (en) Electrical measuring instrument and circuits therefor
PL34493B1 (pl)
US2762976A (en) Electrical measuring instrument
US2741741A (en) Device for testing or measuring capacitance or inductance
US3444467A (en) Meter and alarm circuit including switching means for measuring either of two potentials and amplifier triggering means for comparing the two potentials
US2555306A (en) Wiring analyzer
US2740093A (en) Meter tester
US1215867A (en) Ohmmeter.
US2478742A (en) Electric current meter
US2337962A (en) Method and apparatus for determining resistance of ground connections
RU205222U1 (ru) Устройство для измерения относительных сопротивлений
KR930002777Y1 (ko) 미세전류 측정회로
SU96955A1 (ru) Стабилизатор дл градуировки и поверки щитовых электроизмерительных приборов
SU144549A1 (ru) Устройство дл измерени мощности, потребл емой лампами накаливани при их испытании на стенде
SU133519A1 (ru) Устройство дл контрол функции сопротивлений точных потенциометров
SU603911A1 (ru) Контрольно-электроизмерительный прибор
SU415612A1 (pl)
SU951194A1 (ru) Устройство дл измерени и контрол сопротивлени изол ции
US3341775A (en) Surge suppressor for instrument monitoring circuit
SU122812A1 (ru) Электронный диодный компенсационный вольтметр
SU1020886A1 (ru) Устройство дл измерени внутреннего сопротивлени электрохимического источника тока
SU658505A1 (ru) Измеритель рассто ни до места повреждени изол ции кабел
SU472298A1 (ru) Автоматический компенсатор