PL30044B1 - Sposób zapobiegania zmianie ksztaltu sladu wiazki promieni elektronowych w lampach wiazkowych - Google Patents

Sposób zapobiegania zmianie ksztaltu sladu wiazki promieni elektronowych w lampach wiazkowych Download PDF

Info

Publication number
PL30044B1
PL30044B1 PL30044A PL3004435A PL30044B1 PL 30044 B1 PL30044 B1 PL 30044B1 PL 30044 A PL30044 A PL 30044A PL 3004435 A PL3004435 A PL 3004435A PL 30044 B1 PL30044 B1 PL 30044B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
electron beams
deflection
change
preventing
electron
Prior art date
Application number
PL30044A
Other languages
English (en)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Publication of PL30044B1 publication Critical patent/PL30044B1/pl

Links

Description

W lampach wiazkowych, zwlaszcza tele¬ wizyjnych, daje sie zauwazyc nieprzyjem¬ ne zjawisko, polegajace na tym, ze slad wiazki na ekranie, zwlaszcza przy wiek¬ szych katach odchylenia wiazki elektrono¬ wej, rozszerza sie, a wiec znieksztalca sie.Dokladniejsze badania wykazaly, ze zale¬ zy to glównie od dwóch .przyczyn, które sa nizej rozpatrzone w zwiazku z fig. 1 ry¬ sunku.Fig. 1 przedstawia schematycznie wiaz¬ ke promieni elektronowych i ekran. Na fig. 2 przedstawiany jest przyklad ukladu pola¬ czen urzadzenia, sluzacego do stosowania sposobu wedlug wynalazku.Jezeli np. koncentracja wiazki promie¬ ni elektronowych 1, 2, 3 w punkcie osio¬ wym A jest doskonala, jak to uwidocznia¬ ja linie kreskowane, to w razie odchylenia wiazki promieni, jak wskazuja linie pelne, nawet jezeli odchylenie jest doskonale, kon¬ centracja nie jest juz doskonala. To, o ile koncentracja odbiega od doskonalej, zalezy od ksztaltu powierzchni ekranu fluoryzuja¬ cego S, którym jest np. dno banki lampy wiazkowej. Gdy powierzchnia jest plaska, slad wiaaki przy odchyleniu wiazki promie¬ ni powiekszy sie, poniewaz punkt B, w któ¬ rym wiazka pada na ekran S, znajdzie sie w wiekszej odleglosci od nrodka C obszaruodchylania, niz punkt A. Odleglosc punktu swietlnego na powierzchni fluoryzujacej od srodka obszaru odchylania wiazki pro¬ mieni elektronowych jest na ogól rózma dla róznych katów odchylenia. Zjawisko ito nie mialoby miejsca, gdyby punkt padania byl jednakowo oddalony od srodka C obszaru odchylania dla wszystkich katów odchyle¬ nia, to zaiaczy gdyby powierzchnia ekranu byla tak zakrzywiona, zeby odleglosc sladu wiazki od punktu srodkowego C obszaru odchylania byla zawsze jednakowa, to zna- czy, gdyby punkt padania znajdowal sie stale na wycinku powierzchni kulistej. Ten warunek nie moze byc zwykle spelniony ae wzgledów techniki szklarskiej. Odleglosci sa wiec na ogól rózne, a wskutek tego kon¬ centracja promieni elektronowych moze byc nastawiona na najkorzystniejsza war¬ tosc tylko dla jednego punktu obrazu. W innych punktach, w zaleznosci od kata od¬ chylenia, wystepuja wieksze lub mniejsze rozszerzenie sladu wiazki. To zjawisko wy¬ stepuje bardzo silnie na ekranach, ustawio¬ nych ukosnie do promieni elektronowych.Poniewaz zas ekrany sa zwykle z metalu i patrzy sie na nie od strony powloki fluo¬ ryzujacej, przeto ustawienia ukosnego do promieni elektronowych nie da sie unik¬ nac.Druga przyczyna znieksztalcenia sladu wiazki jest to, ze wiazka promieni posiada przekrój skonczony, to znaczy nie nieskon¬ czenie maly. Wskutek tego pod wplywem pola odchylajacego, wytwarzanego np. w znany sposób za pomoca plyty E, promie¬ nie 1, 2, 3 znajduja sie kazdy w obszarze innego potencjalu. Oddzialywanie na szyb¬ kosc elektronów tych promieni jest wiec rózne, a wskutek tego koncentracja, która w polozeniu hieodchylonym, to znaczy w A, byla jeszcze doskonala, w polozeniu od¬ chylonym nie jest juz doskonala. Znie¬ ksztalcenie, jakiemu podlega wówczas pla¬ ma fluoryzujaca, nie jest juz symetryczne.Plama zmienia postac kolowa na zblizona do eliptycznej. To znieksztalcenia moze byc zmniejszone przez zmiane ogniskowej u- kladu soczewek.Wedlug wynalazku opisane braki mozna usunac przez zmienianie koncentracji pro¬ mieni elektronowych w zaleznosci od kata odchylenia.Fig. 2 przedstawia uklad polaczen wiaz¬ kowej lampy katodowej D. Do odchylenia sluza dwie plyty E, uwidocznione równiez i na fig. 1. Napiecie odchylajace doprowa¬ dza sie do pierwotnego uzwojenia transfor¬ matora T. Równolegle do plytek odchyla¬ jacych E przylaczony jest dzielnik napie¬ cia PI, P2, z którego pobierane jest dodat¬ kowe napiecie rozrzadcze dla koncentracji promieni elektronowych w zaleznosci od kata odchylenia. W danym przykladzie za- isitosowana zostala koncentracja magnety¬ czna. Cewka wytwarzajaca pole glówne jest oznaczona litera H. Natezenie tego pola re¬ guluje sie za pomoca zmiennego oporni¬ ka Rl.Na pole skupiajace glówne nalozone jest pole dodatkowe, wytwarzane przez ce¬ wke Z, o natezeniu zaleznym od kata od¬ chylenia wiazki. Cewka dodatkowa Z jest zasilana poprzez prostownik G, z dzielnika napiecia PI, P2. Regulacja natezenia pola dodatkowego odbywa sie za pomoca zmien¬ nego opornika R2. Prostownik stosuje sie obupolówkowy w tym celu, aby na skupie¬ nie promieni elektronowych oddzialywac zawsze w tym samym kierunku, niezalez¬ nie od tego, czy promienie zostana odchy¬ lone w lewo czy prawo od polozenia osiowe¬ go, to znaczy bez wzgledu na to, czy pole odchylajace posiada wartosc dodatnia czy ujemna.Zaleznie od potrzeby pole dodatkowe moze wzmacniac pole glówne, liczac od ka¬ ta odchylenia zero, lub tez oslabiac je, gdyz jasna jest rzecza, ze glówne pole skupiaja¬ ce mozna tak nastawic, aby najostrzejsza koncentracja zachodzila albo posrodku ob¬ razu, albo na brzegu. —¦ 2 -Sposób wedlug wynalazku mozna zasto¬ sowac równiez do skupienia elektrostatycz¬ nego. W tym ostatnim przypadku moga byc stosowane zarówno symetryczne jak i niesymetryczne soczewki elektrostatyczne.Nalezy wreszcie nadmienic, ze wynalazek moze byc stosowany w jednakowy sposób dla obuvkierunków' odchylania. PL

Claims (4)

  1. Zastrzezenia patentowe. 1. Sposób zapobiegania zmianie ksztal¬ tu sladu wiazki promieni elektronowych w lampach wiazkowych, znamienny tym, ze koncentracje wiazki promieni elektrono¬ wych przy jej odchylaniu reguluje sie za pomoca dodatkowego pola magnetycznego lub elektrostatycznego, oslabiajacego lub tez wzmacniajacego glówne pole skupiajace w zaleznosci od zmiany dlugosci drogi pro¬ mieni elektronowych iniedzy srodkiem (C) obszaru odchylania a ekranem.
  2. 2. Sposób wedlug zastriz. 1, znamien¬ ny tym, ze pole dodatkowe otrzymuje sie z wyprostowanego napiecia, pobieraaiego z obwodu pradu sluzacego do odchylania wiazki promieni elektronowych.
  3. 3. Sposób wedlug zastrz. 2, znamienny tym, ze pobieranie napiecia odbywa sie za posrednictwem dzielnika napiecia (PI, P2).
  4. 4. Sposób wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze prostolwanie napiecia' pobieranego odbywa sie obupolówkowo. C. Lorenz Aktiengesellschaft Zastepca: inz. St. Glowacki rzecznik patentowy titUfc M ARCT CZfcRNlAKOWSKA 224Do opisu patentowego Nr 30044 /./ B A f'9.2 R1 i—V£AW^-| Stf PL
PL30044A 1935-10-07 Sposób zapobiegania zmianie ksztaltu sladu wiazki promieni elektronowych w lampach wiazkowych PL30044B1 (pl)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
PL30044B1 true PL30044B1 (pl) 1941-09-30

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3023336A (en) Cathode ray tube having post acceleration
US2233264A (en) Electron lens
US2197523A (en) Cathode ray tube
US2196838A (en) Cathode ray tube
PL30044B1 (pl) Sposób zapobiegania zmianie ksztaltu sladu wiazki promieni elektronowych w lampach wiazkowych
US2383751A (en) Electron lens
GB665094A (en) Improvements relating to the reduction of primary spherical aberration in magnetic electron lenses
US2114572A (en) Cathode ray ture system
US2153269A (en) Cathode ray tube
US3500042A (en) Ionic microanalyzer which includes a convex mirror as an ion energy filter
KR940001017B1 (ko) 칼라 음극선관용 다단집속형 전자총
US2533790A (en) High-tension electrostatic electron lens
KR950004345A (ko) 칼라수상관용 전자총
JPS6117095B2 (pl)
US2217197A (en) Cathode ray device
US2202620A (en) Electron device
US3609442A (en) Cathode-ray tube with increased deflection sensitivity
US2199540A (en) Electron device
US2153918A (en) Dissector tube
US5256933A (en) Electron gun for a cathode ray tube
PL26519B1 (pl) Sposób modulowania wiazki promieni katodowych w wiazkowych lampach katodowych, zwlaszcza do celów telewizji, oraz urzadzenie do stosowania tego sposobu.
KR100319086B1 (ko) 칼라음극선관용전자총
JP3237013B2 (ja) 電子線縮小転写装置
KR0170223B1 (ko) 칼라 음극선관용 전자총
SU60981A1 (ru) Способ аксиальной коррекции магнитной фокусировки