PL230421B1 - Sposób domieszkowania na typ n nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnO - Google Patents
Sposób domieszkowania na typ n nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnOInfo
- Publication number
- PL230421B1 PL230421B1 PL408127A PL40812714A PL230421B1 PL 230421 B1 PL230421 B1 PL 230421B1 PL 408127 A PL408127 A PL 408127A PL 40812714 A PL40812714 A PL 40812714A PL 230421 B1 PL230421 B1 PL 230421B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- doping
- hydrogen
- zno
- type
- nanostructures
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 22
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 4
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 17
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 17
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 claims description 16
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 7
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims description 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 5
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 claims 1
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 38
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 19
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 8
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000001451 molecular beam epitaxy Methods 0.000 description 2
- 239000002070 nanowire Substances 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004880 explosion Methods 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 1
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000002488 metal-organic chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000002159 nanocrystal Substances 0.000 description 1
- 239000002057 nanoflower Substances 0.000 description 1
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 238000005546 reactive sputtering Methods 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 238000004626 scanning electron microscopy Methods 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 238000010561 standard procedure Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000006557 surface reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Description
Opis wynalazku
Przedmiotem wynalazku jest sposób domieszkowania na typ n nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnO, to znaczy warstwy zawierającej różne wykrystalizowane formy ZnO jak nanosłupki czy nanodruty. Ponieważ warstwy takie charakteryzują się rozwiniętą powierzchnią, to struktury je zawierające mogą być stosowane w absorpcyjnych przyrządach elektronicznych, a zwłaszcza w sensorach substancji organicznych czy w ogniwach fotochemicznych.
Dzięki aktywnej chemicznie powierzchni tlenek cynku jest materiałem o wysokim potencjale dla zastosowań w przyrządach czujnikowych i fotowoltaicznych. Zastąpienie cienkich warstw tlenku cynku jego nanostrukturami zwiększa czułość i wydajność takich przyrządów na dwa sposoby. Po pierwsze zwiększa dostępną powierzchnię dla absorpcji cząsteczek wykrywanej substancji czy fotonów. Po drugie powoduje transfer większości swobodnych nośników z kryształów do stanów powierzchniowych (N. Yamazoe, Sens. Actuators B 5 (1991) 7), co zdecydowanie podnosi czułość materiału na reakcje powierzchniowe.
W publikacjach: L. Vayssieres, Adv. Mater. 15 (2003) 464, H. Zhang i in., CrystEngComm 14 (2012) 1775-1782, czy Z.L. Wang, Mater. Today 7 (2004) 26-33) opisano na przykład nanostruktury tlenku cynku, które są wytwarzane w szerokim zakresie morfologii - od nanosłupków i nanodrutów, przez nanokwiaty do nanostruktur hierarchicznych. Nanostruktury te można otrzymać za pomocą różnych technik jak na przykład za pomocą epitaksji z wiązek molekularnych, przez osadzanie z fazy par, rozpylanie katodowe czy osadzanie z roztworów.
Ze względu na nieciągły charakter warstw nanostrukturalnych, ich domieszkowanie jest utrudnione i nie może się odbywać za pomocą standardowej metody implantacji jonami domieszki, gdyż nie jest możliwa precyzyjna przestrzenna kontrola dawki. Ponadto, część implantowanej dawki wbudowywana byłaby w podłoże, na którym znajdują się już nanostruktury. Co więcej, w przypadku większości metod (z wyjątkiem epitaksji z wiązek molekularnych) nie jest możliwe aktywne domieszkowanie w czasie wzrostu ze źródła czystej domieszki ze względu na odmienny charakter wzrostu warstwy ZnO i domieszki, co może skutkować wyjściem poza warunki procesowe konieczne dla wzrostu nanostruktur i prowadzić do osadzenia cienkiej zwartej warstwy mieszaniny faz ZnO i materiału domieszki. Dlatego też w celu wytworzenia domieszkowanych nanostruktur stosuje się gotowe prekursory zawierające ZnO i domieszkę, z których osadza się nanostrukturalne warstwy. Zastosowanie takich prekursorów podczas wzrostu, pociąga za sobą konieczność ścisłej kontroli ilości domieszki w podawanych prekursorach, zatem często podawane są prekursory o różnym stopniu domieszkowania dla uzyskania określonego poziomu koncentracji domieszki w wytwarzanych nanostrukturach. Zwykle, aby uzyskać warstwy ZnO o n typie przewodnictwa stosuje się domieszki pierwiastków metali z grupy III - Al, Ga oraz In. Podczas wytwarzania cienkich warstw ZnO często wprowadzany jest do nich w sposób nieintencjonalny wodór. Źródłami wodoru są m.in. prekursory reakcji w procesach MOCVD i ALD oraz ściany reaktorów procesowych wykonane ze stali nierdzewnej, z których następuje wydyfundowywanie wodoru. Wodór w ZnO znajdujący się w pozycji międzywęzłowej sieci krystalicznej stanowi płytki donor, jednak jego koncentracja nie jest kontrolowana podczas wyżej opisanych procesów. Z kolei bezpośrednie kontrolowane domieszkowanie wodorem podczas wytwarzania ZnO jest ryzykowne ze względu na niebezpieczeństwo eksplozji podczas pracy w mieszaninie tlenu i wodoru.
Celem wynalazku jest opracowanie sposobu domieszkowania warstw nanostrukturalnego tlenku cynku na typ n, sposobu, który będzie niezwiązany z technologią wytwarzania samych nanostruktur.
Sposób domieszkowania nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnO według wynalazku polega na tym, że osadzone na amorficznym lub krystalicznym podłożu dowolną techniką nanostruktury ZnO poddaje się wygrzewaniu. Wygrzewanie to prowadzi się w przepływie mieszaniny argonu o czystości 6N z wodorem o czystości co najmniej 5N, przy czym względna zawartość wodoru w mieszaninie wynosi 5-20%, przy przepływie argonu od 1 do 3 I na minutę, w temperaturze 300°C-600°C, przez czas od 10 sekund do 10 minut.
Sposób według wynalazku umożliwia intencjonalne domieszkowania tlenku cynku na typ n, a liczba wprowadzanych atomów wodoru jest kontrolowana poprzez temperaturę, stężenie wodoru w atmosferze oraz czas trwania procesu wygrzewania. Szerokie spektrum podlegających zmianom parametrów oraz ich zakres umożliwia osiągnięcie kontrolowanego poziomu przewodnictwa dla nanostruktur wytwarzanych z wykorzystaniem różnych technik. Szczególnie ważną zaletą tego sposobu, z punktu widzenia zastosowania go do nanostruktur ZnO jest izotropowość wbudowywania się wodoru, co powoduje równomierne rozłożenie domieszki w nanokryształach. Ponadto, poddanie takiej war
PL 230 421 Β1 stwy działaniu wodoru w warunkach określonych sposobem według wynalazku nie zmienia własności większości podłoży używanych do wzrostu nanostruktur ZnO, w szczególności szafiru, krzemu, kwarcu czy szkła.
Sposób według wynalazku zostanie bliżej objaśniony na przykładzie domieszkowania nanoporowatego ZnO osadzonego na podłożu krzemowym na drodze magnetronowego reaktywnego rozpylania katodowego z wygrzewaniem poosadzeniowym. Domieszkowanie zgodnie z sposobem według wynalazku prowadzone było na drodze wygrzewania w piecu impulsowym w temperaturze 500°C w przepływie mieszaniny argonu o czystości 6N i wodoru o czystości 5N z generatora wodoru. Przepływ argonu wynosił 2,5 I na minutę, a przepływ wodoru - 250 ml na minutę. Czas wygrzewania wynosił 1 minutę. Na skutek przeprowadzonego procesu rezystywność warstw spadła z wartości 10 ΜΩ na kwadrat do poziomu pojedynczych kQ na kwadrat. Badania dyfrakcji rentgenowskiej i skaningowej mikroskopii elektronowej nie wykazały zmian w mikrostrukturze domieszkowanej warstwy.
Claims (1)
1. Sposób domieszkowania nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnO na typ n, w którym osadzone na amorficznym lub krystalicznym podłożu dowolną techniką nanostruktury ZnO wygrzewa się w przepływie wodoru, znamienny tym, że wygrzewanie prowadzi się w przepływie mieszaniny argonu o czystości 6N z wodorem o czystości co najmniej 5N, przy czym względna zawartość wodoru w mieszaninie wynosi 5-20% przy przepływie argonu od 1 do 3 I na minutę, w temperaturze 300°C-600°C, przez czas od 10 sekund do 10 minut.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL408127A PL230421B1 (pl) | 2014-05-06 | 2014-05-06 | Sposób domieszkowania na typ n nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnO |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL408127A PL230421B1 (pl) | 2014-05-06 | 2014-05-06 | Sposób domieszkowania na typ n nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnO |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL408127A1 PL408127A1 (pl) | 2015-11-09 |
| PL230421B1 true PL230421B1 (pl) | 2018-10-31 |
Family
ID=54364852
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL408127A PL230421B1 (pl) | 2014-05-06 | 2014-05-06 | Sposób domieszkowania na typ n nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnO |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL230421B1 (pl) |
-
2014
- 2014-05-06 PL PL408127A patent/PL230421B1/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL408127A1 (pl) | 2015-11-09 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Choi et al. | Low temperature Ga2O3 atomic layer deposition using gallium tri-isopropoxide and water | |
| Benramache et al. | The crystalline structure, conductivity and optical properties of Co-doped ZnO thin films | |
| Dhivya et al. | Magnetron sputtered nanostructured cadmium oxide films for ammonia sensing | |
| Rathore et al. | Role of oxygen pressure on the structural and photoluminescence properties of pulsed laser deposited GeO2 thin films | |
| KR101682307B1 (ko) | 전이금속 디칼코제나이드 대면적 성장 방법 및 상기 방법에 사용되는 장치 | |
| Acharya et al. | Tuning of TCO properties of ZnO by silver addition | |
| Ayana et al. | Sol-gel derived oriented multilayer ZnO thin films with memristive response | |
| Huang et al. | Plasma treatment of SnO2 nanocolumn arrays deposited by liquid injection plasma-enhanced chemical vapor deposition for gas sensors | |
| Tricot et al. | Epitaxial ZnO thin films grown by pulsed electron beam deposition | |
| Anannikov et al. | Synthesis and research of physical and chemical properties of InGaZn2O5 prepared by nitrate-glycolate gel decomposition method | |
| Mukhin | Diffusion model of intrinsic defects in lead zirconate titanate films on heat treatment in air | |
| Lee et al. | Synthesis and photoluminescence properties of hydrothermally-grown ZnO nanowires on the aerosol-deposited AZO seed layer | |
| PL230421B1 (pl) | Sposób domieszkowania na typ n nanostrukturalnej warstwy półprzewodnikowej ZnO | |
| Zhang et al. | Optical and electrical properties of zinc oxide thin films with low resistivity via Li–N dual-acceptor doping | |
| Pan et al. | Properties of low-temperature deposited ZnO thin films prepared by cathodic vacuum arc technology on different flexible substrates | |
| Rakhshani et al. | Structure, composition and optical properties of ZnO: Ga films electrodeposited on flexible substrates | |
| Weng et al. | Structure, optical and electrical properties of ZnO thin films on the flexible substrate by cathodic vacuum arc technology with different arc currents | |
| Che Ani et al. | Investigation of the structural, optical and electrical properties of gadolinium-doped zinc oxide films prepared by sol-gel method | |
| Kumar et al. | Effect of swift heavy ion irradiation on structural, electrical and optical properties of zinc-stannate thin films | |
| Shaukat et al. | One dimensional (1-D) signatures of nanopillars and nanowires in niobium doped zinc oxide (NZO) thin films prepared by aerosol assisted chemical vapour deposition (AACVD) | |
| Mohanan et al. | Alignment nature of ZnO nanowires grown on polished and nanoscale etched lithium niobate surface through self-seeding thermal evaporation method | |
| Cesaria et al. | Structural characterization of ultrathin Cr-doped ITO layers deposited by double-target pulsed laser ablation | |
| Suhaimi et al. | Optical properties of ZnO nanorods derived from chemical bath deposition process with different seeds solution concentration | |
| Cheng et al. | Growth kinetics and surface properties of single-crystalline aluminum-doped zinc oxide nanowires on silicon substrates | |
| Rashad et al. | Enhanced photocatalytic of Zno nanostructures via shape controlled platinum thin film |