PL207293A1 - Sposob stykowego pomiaru struktury geometrycznej powierzchni materialow o duzych nierownosciach i przyrzad do pomiaru struktury geometrycznej powierzchni materialow o duzych nierownosciach
- Google Patents
Sposob stykowego pomiaru struktury geometrycznej powierzchni materialow o duzych nierownosciach i przyrzad do pomiaru struktury geometrycznej powierzchni materialow o duzych nierownosciach
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Akad RolniczafiledCriticalAkad Rolnicza
Priority to PL20729378ApriorityCriticalpatent/PL113412B2/pl
Publication of PL207293A1publicationCriticalpatent/PL207293A1/pl
Publication of PL113412B2publicationCriticalpatent/PL113412B2/pl
PL20729378A1978-05-311978-05-31Method of measuring by direct contact the geometrical structure of surfaces of materials showing high surface roughness and device therefor
PL113412B2
(en)
Sposob stykowego pomiaru struktury geometrycznej powierzchni materialow o duzych nierownosciach i przyrzad do pomiaru struktury geometrycznej powierzchni materialow o duzych nierownosciach