PL184897B1 - Sposób wytwarzania monokryształów oraz warstw azotku galu i/lub azotku glinu - Google Patents
Sposób wytwarzania monokryształów oraz warstw azotku galu i/lub azotku glinuInfo
- Publication number
- PL184897B1 PL184897B1 PL97321030A PL32103097A PL184897B1 PL 184897 B1 PL184897 B1 PL 184897B1 PL 97321030 A PL97321030 A PL 97321030A PL 32103097 A PL32103097 A PL 32103097A PL 184897 B1 PL184897 B1 PL 184897B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- gallium
- ammonia
- aluminum
- nitride
- single crystals
- Prior art date
Links
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
Sposób wytwarzania monokryształów oraz warstw azotku galu i/lub azotku glinu, w reakcji z użyciem amoniaku, znamienny tym, że gal, i/lub glin lub azotek galu, i/lub azotek glinu, lub stop galu, i/lub glinu z ołowiem, lub cyną, lub cynkiem, lub bizmutem, lub kadmem umieszcza się w reaktorze w bezpośredniej obecności amoniaku, lub mieszaniny azotującej gazów, składającej się z amoniaku i co najmniej jednego z grupy gazów zawierającej azot, argon, wodór i hel, przy czym zawartość amoniaku w mieszaninie azotującej wynosi 1 - 100%, przepływ gazu 0-25 cm/s, ciśnienie 0,01 - 15 atm., a temperatura 500 - 1800°C.
Description
Przedmiotem wynalazku jest sposób otrzymywania monokryształów azotku galu, mieszanych monokryształów azotku galu i azotku glinu o zmiennej zawartości azotku glinu, monokryształów azotku glinu oraz warstw azotku galu, azotku glinu i warstw mieszanych azotku galu i azotku glinu o zmiennej zawartości azotku glinu. Azotek galu i azotek glinu są półprzewodnikami o wysokiej wartości przerwy zabronionej. Mogą tworzyć roztwory stałe ciągłe co pozwala otrzymać półprzewodnik o regulowanej w pewnym zakresie wartości przerwy zabronionej. Azotek galu znajduje zastosowanie do produkcji fotodiod i laserów emitujących światło niebieskie. Niebieski laser pozwoliłby wielokrotnie zwiększyć gęstość zapisu na dyskach optycznych. Ponadto azotek galu zachowuje własności półprzewodzące do temperatur powyżej 600°C, co pozwala produkować z niego elementy półprzewodnikowe pracujące w wysokich temperaturach np. przy sterowaniu silnikami samochodowymi i lotniczymi.
W europejskim opisie patentowym nr 0401972 przedstawiony jest periodyczny sposób otrzymywania azotku galu oraz kilku innych pierwiastków, w którym prowadzi się reakcję chlorku metalu z amoniakiem w niskotemperaturowej plazmie. Wadą metody są stosunkowo wysokie koszty aparatury i energii oraz wprowadzanie do układu reakcyjnego jonów chlorkowych, co jest niekorzystne w przypadku zastosowania tak otrzymanego GaN w elektronice.
W rosyjskim opisie patentowym USSR 683505 przedstawiono metodę otrzymywania polikrystalicznego proszku GON w reakcji ciekłego galu z amoniakiem w temperaturze 380 - 420°C. Stwierdzono, że LiH działa jako katalizator tej reakcji. Jednak tym sposobem nie można otrzymać monokryształów i warstw epitaksjalnych.
W międzynarodowym opisie patentowym nr WO 92/16966 przedstawiono metodę otrzymywania monokrystalicznych warstw GaN. Wiązka cząsteczkowego galu oraz aktywowany atomowy i jonowy azot są dostarczane do komory wzrostu. Proces składa się z dwóch etapów: niskotemperaturowego etapu nukleacji przebiegającego w temperaturze 100 - 400°C i wysokotemperaturowego etapu wzrostu w temperaturze 600 - 900°C. Preferowanym źródłem aktywowanego azotu jest plazma pochodząca z elektronowego cyklotronu rezonansu mikrofalowego. Ten sposób jest bardzo skomplikowany i kosztowny. Główną wadą jest konieczność jonizowania azotu.
W międzynarodowym opisie patentowym nr WO 94/18120 zaprezentowana jest metoda otrzymywania azotku galu i azotków kilku innych pierwiastków. Ciekły gal reaguje z amoniakiem w młynie kulowym w temperaturze 28 - 100°C. Produktem jest drobny proszek, a nie monokryształ.
W amerykańskim opisie patentowym nr US 5122845 przedstawiono metodę otrzymywania monokrystalicznych warstw GaN z fazy gazowej na podłożu z szafiru z wykorzystaniem różnych związków metaloorganicznych galu. Wadą tej metody jest użycie jako substratu związków
184 897 metaloorganicznych. Proces jest więc wydłużony o etap otrzymywania tych związków. Nie bez znaczenia jest fakt, że są to związki palne.
Celem wynalazku było opracowanie możliwie prostej i taniej metody otrzymywania monokryształów azotku galu, mieszanych monokryształów azotku galu i azotku glinu o zmiennej zawartości azotku glinu, monokryształów azotku glinu oraz warstw azotku galu, azotku glinu i mieszanych warstw azotku galu i azotku glinu o zmiennej zawartości azotku glinu.
Sposób otrzymywania monokryształów oraz warstw azotku galu i/lub azotku glinu według wynalazku charakteryzuje się tym, że porcję galu i/lub glinu lub azotku galu i/lub azotku glinu lub stopu galu i/lub glinu z ołowiem lub cyną lub cynkiem lub bizmutem lub kadmem umieszcza się w reaktorze w obecności amoniaku lub azotującej mieszaniny gazów składającej się z amoniaku i co najmniej jednego z grupy gazów zawierającej azot, wodór, hel i argon. Zawartość amoniaku w mieszaninie azotującej wynosi 1 - 100%. Przepływ gazu wynosi 0-25 cm/s, ciśnienie 0,01-15 atm., a temperatura 50θ - 1800°C.
W tych warunkach następuje wzrost monokryształów azotku galu i azotku glinu. W przypadku umieszczenia w strefie wzrostu monokryształów monokrystalicznego podłoża z szafiru lub węglika krzemu, obserwuje się powstawanie na tych podłożach warstw azotku galu i azotku glinu. W przypadku działania mieszaniną gazów azotujących na stopy galu i glinu z metalami azotowany jest tylko gal i glin, natomiast pozostałe metale pełnią rolę rozpuszczalnika. Wzrost monokryształów azotku galu i azotku glinu następuje wewnątrz stopu.
Przedmiot wynalazku został bliżej przedstawiony w przykładach stosowania.
Przykład 1.10 g galu umieszczono w poziomym reaktorze rurowym. Przepływ amoniaku wynosił 30 mm/s, a temperatura 1400°C. W tych warunkach w czasie 8 godzin wzrastały monokryształy GaN o wymiarach 3x0,5x0,5 mm.
Przykład 2. 10 g azotku galu umieszczono w poziomym reaktorze rurowym w ten sposób, aby podłoże z szafiru znajdowało się w strefie wzrostu monokryształów azotku galu. W temperaturze 1380°C przy przepływie mieszaniny azotującej składającej się z amoniaku i azotu w proporcjach 15 na podłożu z szafiru powstała warstwa azotku galu o grubości 0,05 mm.
Przykład 3. 10 g stopu zawierającego 95% cyny i 5% galu ogrzewano w poziomym reaktorze rurowym do temperatury 1360°C przy przepływie amoniaku 20 mm/s. Po 6 godzinach otrzymano monokryształy o wielkości 1x0,3x0,3 mm.
Prz ykład 4.1 0g glinumnieszzzono wooziomymraaktorzcrurowym. Wtemperaturze 1430°C w obecności mieszaniny azotującej zawierającej 30% amoniaku, 50% argonu i 20% azotu, której przepływ wynosił 30 mm/s w czasie 8 godzin wzrastały monokryształy A1N o wymiarach 0,5x0,5x0,1 mm.
Przykład 5. 10 g stopu zawierającego 95% cyny i 5% glinu ogrzewano w poziomym reaktorze rurowym do temperatury 1450°C przy przepływie amoniaku 40 mm/s. Po 6 godzinach otrzymano monokryształy azotku glinu o wielkości 0,5x0,2x0,2 mm.
Przykład 6.5g galu umieszczono w poziomym reaktorze rurowym. W temperaturze 1380°C w obecności mieszaniny azotującej zawierającej 3% amoniaku, 70% argonu i 27% azotu, której przepływ wynosił 30 mm/s w czasie 8 godzin wzrastały monokryształy GaN o wymiarach 2,5x0,5x0,4 mm.
184 897
Departament Wydawnictw UP RP. Nakład 50 egz.
Cena 2,00 zł.
Claims (1)
- Zastrzeżenie patentoweSposób wytwarzania monokryształów oraz warstw azotku galu i/lub azotku glinu, w reakcji z użyciem amoniaku, znamienny tym, że gal, i/lub glin lub azotek galu, i/lub azotek glinu, lub stop galu, i/lub glinu z ołowiem, lub cyną, lub cynkiem, lub bizmutem lub kadmem umieszcza się w reaktorze w bezpośredniej obecności amoniaku, lub mieszaniny azotującej gazów, składającej się z amoniaku i co najmniej jednego z grupy gazów zawierającej azot, argon, wodór i hel, przy czym zawartość amoniaku w mieszaninie azotującej wynosi 1 - 100%, przepływ gazu 0-25 cm/s, ciśnienie 0,01 -15 atm., a temperatura 500 - 1800°C.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PL97321030A PL184897B1 (pl) | 1997-07-09 | 1997-07-09 | Sposób wytwarzania monokryształów oraz warstw azotku galu i/lub azotku glinu |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PL97321030A PL184897B1 (pl) | 1997-07-09 | 1997-07-09 | Sposób wytwarzania monokryształów oraz warstw azotku galu i/lub azotku glinu |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
PL321030A1 PL321030A1 (en) | 1999-01-18 |
PL184897B1 true PL184897B1 (pl) | 2003-01-31 |
Family
ID=20070261
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PL97321030A PL184897B1 (pl) | 1997-07-09 | 1997-07-09 | Sposób wytwarzania monokryształów oraz warstw azotku galu i/lub azotku glinu |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
PL (1) | PL184897B1 (pl) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI409371B (zh) * | 2004-08-20 | 2013-09-21 | Mitsubishi Chem Corp | Methods for producing metal nitrides and metal nitrides |
-
1997
- 1997-07-09 PL PL97321030A patent/PL184897B1/pl not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI409371B (zh) * | 2004-08-20 | 2013-09-21 | Mitsubishi Chem Corp | Methods for producing metal nitrides and metal nitrides |
US20130295363A1 (en) * | 2004-08-20 | 2013-11-07 | Mitsubishi Chemical Corporation | Metal nitrides and process for production thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
PL321030A1 (en) | 1999-01-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6406540B1 (en) | Process and apparatus for the growth of nitride materials | |
Grzegory et al. | III–V Nitrides—thermodynamics and crystal growth at high N2 pressure | |
Liu et al. | Growth kinetics and catalytic effects in the vapor phase epitaxy of gallium nitride | |
JP3373853B2 (ja) | 多層結晶構造及びその製造方法 | |
US7097707B2 (en) | GaN boule grown from liquid melt using GaN seed wafers | |
Jennings | On reactions between silicon and nitrogen: Part 1 Mechanisms | |
US6632725B2 (en) | Process for producing an epitaxial layer of gallium nitride by the HVPE method | |
Chu et al. | The preparation and properties of aluminum nitride films | |
US20100151194A1 (en) | Polycrystalline group iii metal nitride with getter and method of making | |
Koukitu et al. | Thermodynamic analysis of hydride vapor phase epitaxy of GaN | |
Treece et al. | Rapid synthesis of gallium phosphide and gallium arsenide from solid-state precursors | |
US3829556A (en) | Growth of gallium nitride crystals | |
Elwell et al. | Crystal growth of gallium nitride | |
Dryburgh | The estimation of maximum growth rate for aluminium nitride crystals grown by direct sublimation | |
Paszkowicz et al. | Lattice parameters, density and thermal expansion of InN microcrystals grown by the reaction of nitrogen plasma with liquid indium | |
Ma et al. | Investigation of organometallic vapor phase epitaxy of InAs and InAsBi at temperatures as low as 275° C | |
US8728233B2 (en) | Method for the production of group III nitride bulk crystals or crystal layers from fused metals | |
Besomi et al. | Growth and characterization of heteroepitaxial zinc selenide | |
PL184897B1 (pl) | Sposób wytwarzania monokryształów oraz warstw azotku galu i/lub azotku glinu | |
EP0946411A1 (en) | Method for the synthesis of group iii nitride crystals | |
US5488232A (en) | Oriented diamond film structures on non-diamond substrates | |
Ntep et al. | ZnO growth by chemically assisted sublimation | |
Chromik et al. | Calorimetric investigation of the formation of metastable silicides in Au/a-Si thin film multilayers | |
Hara et al. | High-rate particle growth using GaCl and NH3 as sources in two-stage vapor-phase method for synthesis of GaN powders | |
PL182968B1 (pl) | Sposób wytwarzania monokryształów i warstw epitaksjalnych azotku galu |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Decisions on the lapse of the protection rights |
Effective date: 20050709 |