PL179540B1 - Sposób i zestaw do pomiaru pasożytniczej częstotliwości optycznej lasera - Google Patents

Sposób i zestaw do pomiaru pasożytniczej częstotliwości optycznej lasera

Info

Publication number
PL179540B1
PL179540B1 PL31489196A PL31489196A PL179540B1 PL 179540 B1 PL179540 B1 PL 179540B1 PL 31489196 A PL31489196 A PL 31489196A PL 31489196 A PL31489196 A PL 31489196A PL 179540 B1 PL179540 B1 PL 179540B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
laser
optical
spectrum analyzer
measuring
parasitic
Prior art date
Application number
PL31489196A
Other languages
English (en)
Other versions
PL314891A1 (en
Inventor
Julian Kowar
Marek Jaworski
Original Assignee
Inst Lacznosci
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inst Lacznosci filed Critical Inst Lacznosci
Priority to PL31489196A priority Critical patent/PL179540B1/pl
Publication of PL314891A1 publication Critical patent/PL314891A1/xx
Publication of PL179540B1 publication Critical patent/PL179540B1/pl

Links

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

1. Sposób pomiaru pasożytniczej częstotliwości optycznej lasera, polegający na obliczeniu szerokości spektralnej badanego źródła promieniowania, znamienny tym, że dokonuje się pomiaru charakterystyki własnej optycznego analizatora widma przy braku modulacji lasera, po czym mierzy się optycznym analizatorem widma charakterystykę wypadkową, podczas gdy laserjestmodulowany prądem o znanej wartości, a następnie dobiera się wartość pasożytniczej modulacji częstotliwości, wykorzystując funkcję, będącą splotem funkcji opisującej gęstość widmową promieniowania lasera badanego z funkcją opisującą widmową charakterystykę przenoszenia optycznego analizatora widma. 2. Zestaw do pomiaru pasożytniczej częstotliwości optycznej lasera, zawierający optyczny analizator widma i generator sygnałowy, znamienny tym, że badany laser (1) połączonyjest z generatorem sygnału modulującego (2) oraz poprzez izolator optyczny (3) i tłumik optyczny (4) z optycznym analizatorem widma (5).

Description

Przedmiotem wynalazkujest sposób i zestaw do pomiaru pasożytniczej częstotliwości optycznej lasera, a zwłaszcza lasera DFB bezpośrednio modulowanego amplitudowo za pomocą optycznego analizatora widma, mający zastosowanie w badaniach laboratoryjnych, w homologacji i atestacji przyrządów optoelektronicznych.
Znany jest sposób precyzyjnego pomiaru pasożytniczej modulacji częstotliwości optycznej laserów modulowanych amplitudowo z użyciem interferometru Fabry-Perot. Przyrząd ten jest zbudowany z dwóch równolegle ustawionych płaskich luster o dużym, dla danej długości fali, współczynniku odbicia i wykorzystuje zjawisko interferencji fal przechodzącej i odbitej, zachodzące w przestrzeni między lustrami. Rejestrując zmianę mocy wyjściowej w funkcji odległości luster można obliczyć szerokość spektralną badanego źródła promieniowania, a w szczególności zakres pasożytniczej modulacji częstotliwości optycznej badanego lasera. Za pomocątego typu interferometrów można zmierzyć szerokość spektralną w zakresie od 10 GHz do 2000 GHz, przy rozdzielczości od 300 MHz do 30 GHz.
Znane są optyczne analizatory widma używane do pomiaru szerokości spektralnej źródeł promieniowania. Znane są generatory sygnałowe o zmiennej amplitudzie napięcia i częstotliwości.
Istota sposobu pomiaru pasożytniczej częstotliwości optycznej lasera według wynalazku polega na tym, że dokonuje się pomiaru charakterystyki własnej analizatora widma optycznego przy braku modulacji lasera, po czym mierzy się analizatorem charakterystykę wypadkową, podczas gdy laser jest modulowany prądem o znanej wartości, a następnie dobiera się wartość pasożytniczej modulacji częstotliwości, wykorzystując funkcję, będącą splotem funkcji opisującej gęstość widmową promieniowania lasera badanego z funkcją opisującą widmową charakterystykę przenoszenia analizatora widma optycznego.
Zestaw do pomiaru pasożytniczej częstotliwości optycznej lasera, według wynalazku charakteryzuj e się tym, że badany laser połączony jest z generatorem sygnału moduluj ącego oraz poprzez izolator optyczny i tłumik optyczny połączony jest z optycznym analizatorem widma.
Zaletą sposobu i zestawu według wynalazku jest zastosowanie do pomiaru optycznego analizatora widma, który staje się podstawowym przyrządem w laboratoriach światłowodowych placówek naukowo-badawczych i uzyskiwanie w sposób bardzo szybki wyników pomiarów, dotyczących pasożytniczej częstotliwości optycznej badanego źródła promieniowania.
179 540
Zestaw według wynalazku uwidoczniony jest w przykładzie wykonania na rysunku, na którym fig. 1 przedstawia widma gęstości mocy występujące przy pomiarze, a fig. 2 stanowi schemat blokowy zestawu.
W przykładzie sposobu pomiaru pasożytniczej częstotliwości optycznej lasera według wynalazku do obliczania wartości skutecznej pasożytniczej modulacji częstotliwości badanego lasera modulowanego amplitudowo sygnałem, korzystnie sinusoidalnym o częstotliwości znacznie wyższej niż odwrotność czasu przemiatania optycznego analizatora widma, wykorzystywana jest funkcja ST0T, będąca splotem funkcji, opisującej gęstość widmową promieniowania badanego lasera SDFB z funkcją opisującą widmową charakterystykę przenoszenia optycznego analizatora widma SOSA. Najpierw mierzy się charakterystykę własnąoptycznego analizatora widma Sosa przyjmując założenie, że szerokość spektralna lasera niemodulowanego jest pomijalnie mała (rzędu 100 MHz, co odpowiada zmianie długości fali rzędu 0.0001 nm) - sprowadza się to do wykonania pomiaru, przy braku modulacj i lasera. Następnie mierzy się optycznym analizatorem widma charakterystykę wypadkową STOt, podczas gdy laser jest modulowany prądem o znanej wartości. Następnie dobiera się wartość pasożytniczej modulacji częstotliwości w równaniu funkcji SDfb, będącej splotem funkcji opisującej gęstość widmową promieniowania lasera badanego z funkcją opisującą widmową charakterystykę przenoszenia optycznego analizatora widma tak, aby uzyskać naj lepszązgodność splotu tych funkcj i ze zmierzonym przebiegiem, stosując na przykład metodę najmniejszych kwadratów. Funkcja Sosa opisywana jest unormowaną krzywą Gaussa, parametr σ (odchylenie średniokwadratowe) funkcji dobierany jest tak, by uzyskać najlepszą zgodność z danymi pomiarowymi.
W zestawie do pomiaru pasożytniczej częstotliwości optycznej lasera według wynalazku badany laser 1 połączony jest z generatorem sygnału modulującego 2 oraz poprzez izolator optyczny 3 i tłumik optyczny 4 połączony jest z optycznym analizatorem widma 5. W pierwszym etapie pomiaru mierzona jest charakterystyka własna optycznego analizatora widma 5 przy braku modulacji lasera 1, a następnie mierzona jest optycznym analizatorem widma 5 charakterystyka wypadkowa, przy czym częstotliwość sygnału modulującego z generatora sygnału modulującego 2 j est znacznie większa niż odwrotność czasu przemiatania optycznego analizatora widma 5 (warunek stacjonamości mierzonego przebiegu) i jednocześnie znacznie mniejsza niż częstotliwość nośna sygnału optycznego (warunek modulacji powolnej FM).
179 540 gpłoió mocy [dB]
sDFBW
Fig. 1
Fig. 2
Departament Wydawnictw UP RP. Nakład 60 egz. Cena 2,00 zł.

Claims (2)

Zastrzeżenia patentowe
1. Sposób pomiaru pasożytniczej częstotliwości optycznej lasera, polegający na obliczeniu szerokości spektralnej badanego źródła promieniowania, znamienny tym, że dokonuje się pomiaru charakterystyki własnej optycznego analizatora widma przy braku modulacji lasera, po czym mierzy się optycznym analizatorem widma charakterystykę wypadkową, podczas gdy laser jest modulowany prądem o znanej wartości, a następnie dobiera się wartość pasożytniczej modulacji częstotliwości, wykorzystując funkcję, będącą splotem funkcji opisującej gęstość widmową promieniowania lasera badanego z funkcją opisującą widmową charakterystykę przenoszenia optycznego analizatora widma.
2. Zestaw do pomiaru pasożytniczej częstotliwości optycznej lasera, zawierający optyczny analizator widma i generator sygnałowy, znamienny tym, że badany laser (1) połączony jest z generatorem sygnału moduluj ącego (2) oraz poprzez izolator optyczny (3) i tłumik optyczny (4) z optycznym analizatorem widma (5).
* * *
PL31489196A 1996-06-20 1996-06-20 Sposób i zestaw do pomiaru pasożytniczej częstotliwości optycznej lasera PL179540B1 (pl)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL31489196A PL179540B1 (pl) 1996-06-20 1996-06-20 Sposób i zestaw do pomiaru pasożytniczej częstotliwości optycznej lasera

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL31489196A PL179540B1 (pl) 1996-06-20 1996-06-20 Sposób i zestaw do pomiaru pasożytniczej częstotliwości optycznej lasera

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL314891A1 PL314891A1 (en) 1996-12-09
PL179540B1 true PL179540B1 (pl) 2000-09-29

Family

ID=20067806

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL31489196A PL179540B1 (pl) 1996-06-20 1996-06-20 Sposób i zestaw do pomiaru pasożytniczej częstotliwości optycznej lasera

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL179540B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL314891A1 (en) 1996-12-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7480460B2 (en) Dynamic strain distributed fiber optic sensor
US4594511A (en) Method and apparatus for double modulation spectroscopy
US6606148B2 (en) Method and system for measuring optical scattering characteristics
EP1365218B1 (en) Wavelength meter for swept lasers
JP4722110B2 (ja) 掃引レーザ用波長校正装置及び方法
Naftaly et al. Metrology state-of-the-art and challenges in broadband phase-sensitive terahertz measurements
CN106840223B (zh) 基于布里渊散射的宽带微波瞬时频谱测量装置
US7230711B1 (en) Envelope functions for modulation spectroscopy
EP0548935B1 (en) Apparatus for measuring the effective refractive index in optical fibres
EP0346386A1 (en) Electro-optic measurement (network analysis) system
US6317214B1 (en) Method and apparatus to determine a measurement of optical multiple path interference
CN114414993B (zh) 一种电光强度调制器芯片频率响应测试的方法
Yoshioka et al. A method for measuring the frequency response of photodetector modules using twice-modulated light
CN114337811B (zh) 基于双光频梳和法布里-帕罗滤波器的微波频率测量方法
PL179540B1 (pl) Sposób i zestaw do pomiaru pasożytniczej częstotliwości optycznej lasera
JPH0247562A (ja) 超広域信号の周波数分析用電気光学測定装置
Kleopin et al. Contemporary Approaches to Ensuring the Uniformity of Measurements of High-Speed Pulsed Electrical Processes
US6026105A (en) Technique for measuring semiconductor laser chirp
Baird et al. A Method for the Estimation of the Relative Intensities of Microwave Absorption Lines
Simova et al. Characterization of chromatic dispersion and polarization sensitivity in fiber gratings
Clemesha et al. A new method for measuring the Doppler temperature of the atmospheric sodium layer
JPH0886816A (ja) 電圧測定装置
Rattman et al. 10.2-Broadband, low drive-power electrooptic modulator
Hale et al. Accurate characterization of high-speed photodetectors
Filter et al. Photonic measurements of microwave pulses