PL155641B1 - Warstwowa szczotka do pomiaru rozpływu prądów w kierunku tangencjalnym - Google Patents
Warstwowa szczotka do pomiaru rozpływu prądów w kierunku tangencjalnymInfo
- Publication number
- PL155641B1 PL155641B1 PL27232788A PL27232788A PL155641B1 PL 155641 B1 PL155641 B1 PL 155641B1 PL 27232788 A PL27232788 A PL 27232788A PL 27232788 A PL27232788 A PL 27232788A PL 155641 B1 PL155641 B1 PL 155641B1
- Authority
- PL
- Poland
- Prior art keywords
- brush
- layers
- tangential direction
- conductive layers
- measuring
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 12
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 2-methoxy-6-methylphenol Chemical compound [CH]OC1=CC=CC([CH])=C1O KXGFMDJXCMQABM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 210000004209 hair Anatomy 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 229920001568 phenolic resin Polymers 0.000 description 1
- -1 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000007669 thermal treatment Methods 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Motor Or Generator Current Collectors (AREA)
Description
RZECZPOSPOLITA OPIS PATENTOWY 155 641
POLSKA
Patent dodatkowy do patentu nr
Zgłoszono: 88 05 06 (P. 272327)
Pierwszeństwo
Int. Cl/5 Ho1R 39/24
URZĄD
PATENTOWY
RP
Zgłoszenie ogłoszono: 89 11 13
Opis patentowy opublikowano: 1992 03 31
Twórca wynalazku: Andrzej Wilk
Uprawniony z patentu: Politechnika Gdańska, Gdańsk (Polska)
Warstwowa szczotka do pomiaru rozpływu prądów w kierunku tangencjalnym
Przedmiotem wynalazku jest budowa warstwowej szczotki pomiarowej do badania niektórych zjawisk komutacji i kolekcji w maszynach elektrycznych komutatorowych.
Znane dotychczas szczotki pomiarowe o strukturze warstwowej wykonywane są z warstw przewodzących odizolowanych od siebie warstwami dielektrycznymi. Z warstw przewodzących wyporowadzone są linki miedziane - wyprowadzenia prądowe. Szczotka stanowi monolit lub podzielona jest na dwie ewentualnie trzy części. Płaszczyzny wszystkich warstw są prostopadłe do powierzchni komutatora, a równoległe do osi komutatora walcowego. Podczas prowadzenia badań szczotka znajduje się w miejscu szczotki roboczej w oprawce roboczej.
Zastosowanie powyższych szczotek pomiarowych pracujących w miejscu szczotki roboczej orygmahej prowató do uzyslkania błędnych pomiarów, pomeważ: szczotki te posiadają inne właściwości fizyko-chemiczne niż szczotki oryginalne, a tym samym zmieniają ilościowo zachodzące zjawiska fizyczne.
Wynalazek rozwiązuje zagadnienie zaprojektowania szczotki pomiarowej, umożliwiającej uzyskanie wyników pomiarów w rzeczywistych warunkach pracy szczotki.
Zadanie to spełnia warstwowa szczotka do pomiaru rozpływu prądów w kierunku tangencjalnym, zbudowana z warstw przewodzących odizolowanych warstwami dielektrycznymi, umieszczona w oprawce w miejscu szczotki roboczej dzięki temu, że warstwy ułożone są w kierunku osiowym, przy czym warstwy przewodzące wykonane są z tego samego materiału, co szczotka oryginalna. Minimalnej grubości warstwy dzielące zrobione są z materiału o rezystywności co najmniej o trzy rzędy większej od rezystywności warstw przewodzących. Materiały obu warstw posiadają natomiast taki sam dynamiczny moduł Younga, współczynnik stratności mechanicznej, stałą Poissona, gęstość oraz współczynnik tracia. Cienką warstwą materiału dzielącego powleczone są również zewnętrzne powierzchnie szczotki prostopadłe do powierzchni komutatora.
Tak wykonana szczotka pomiarowa, umieszczona w miejsce szczotki roboczej w oprawce pomiarowej, umożliwia pomiar rzeczywistego rozpływu prądów między szczotką a komutatorem, takiego, jaki ma miejsce w przypadku pracy szczotki oryginalnej. Powyższa szczotka pomiarowa posiada takie same jak szczotka robocza własności lepko - sprężyste, spełniając równocześnie rolę
155 641 szczotki pomiarowej i roboczej. Przy jej pomocy można dokonywać pomiarów w dowolnym miejscu eksploatacji maszyny, zarówno w stanach ustalonych jak i nieustalonych jej pracy. Uwarstwienie szczotki w kierunku osiowym umożliwia pomiar rozpływu prądów w kierunku tangencjalnym.
Przedmiot wynalazku jest szczegółowo opisany na przykładzie wykonania warstwowej szczotki do pomiaru rozpływu prądów w kierunku tangencjalnym i zobrazowany na rysunku.
Przykładowa szczotka pomiarowa ma wymiary t x a x r; przyjęto grubość t=10mm, a = 20 mm i r = 25mm (10 X 20 X 25[mm]). Materiał warstw przewodzących 1 stanowi materiał szczotkowy E-30. Materiał warstw dzielących 2 to kompozycja, składająca się z żywicy fenolowoformaldehydowej (45%), sadzy technicznej (25%), elektrografitu (20%) i policzterofluoroetylenu (10%). Szczotka składa się z czterech warstw przewodzących 1 o grubości 2,4 mm każda i trzech warstw dzielących 2 o grubości 0,08 mm. Tej samej grubości warstwą materiału dzielącego 2 powleczone są zewnętrzne powierzchnie szczotki prostopadłe do powierzchni komutatora 3. Warstwy 1 i 2 szczotki ułożone są w kierunku osiowym a. Technologia łączenia warstw 1 i 2 polega na obróbce termicznej w temperaturze 130-=150 °C w czasie 6=9 godzin.
Claims (1)
- Zastrzeżenie patentoweWarstwowa szczotka do pomiaru rozpływu prądów w kierunku tangencjalnym, zbudowana z warstw przewodzących odizolowanych warstwami dielektrycznymi, umieszczona w oprawce w miejscu szczotki roboczej, znamienna tym, że warstwy ułożone są w kierunku osiowym, przy czym warstwy przewodzące (1) wykonane są z tego samego materiału, co szczotka oryginalna, a minimalnej grubości warstwy dzielące (2) z materiału o rezystywności co najmniej o trzy rzędy większej od rezystywności warstw przewodzących (1), natomiast materiały obu warstw (1) i (2).posiadają taki sam dynamiczny moduł Younga, współczynnik stratności mechanicznej, stałą Poissona, gęstość oraz współczynnik tarcia, a ponadto cienką warstwą materiału dzielącego (2) powleczone są zewnętrzne powierzchnie szczotki prostopadłe do powierzchni komutatora (3).
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL27232788A PL155641B1 (pl) | 1988-05-06 | 1988-05-06 | Warstwowa szczotka do pomiaru rozpływu prądów w kierunku tangencjalnym |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| PL27232788A PL155641B1 (pl) | 1988-05-06 | 1988-05-06 | Warstwowa szczotka do pomiaru rozpływu prądów w kierunku tangencjalnym |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| PL272327A1 PL272327A1 (en) | 1989-11-13 |
| PL155641B1 true PL155641B1 (pl) | 1991-12-31 |
Family
ID=20042051
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| PL27232788A PL155641B1 (pl) | 1988-05-06 | 1988-05-06 | Warstwowa szczotka do pomiaru rozpływu prądów w kierunku tangencjalnym |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| PL (1) | PL155641B1 (pl) |
-
1988
- 1988-05-06 PL PL27232788A patent/PL155641B1/pl unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| PL272327A1 (en) | 1989-11-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Powers et al. | An analysis of the impedance of polycrystalline beta‐alumina | |
| Almond et al. | Impedance and modulus spectroscopy of “real” dispersive conductors | |
| Heremans et al. | Thermal conductivity and thermopower of vapor-grown graphite fibers | |
| Verkerk et al. | Structure and ionic conductivity of Bi2O3 substituted with lanthanide oxides | |
| EP0013022B1 (en) | Humidity detecting apparatus using a humidity detecting resistor ceramic element | |
| Ivanov-Shits et al. | Specific features of ionic transport in nonstoichiometric fluorite-type Ca1− xRxF2+ x (R La Lu, Y, Sc) phases | |
| Hersh et al. | Electrical resistance measurements on fibers and fiber assemblies | |
| Gustafsson et al. | Transient hot‐strip probe for measuring thermal properties of insulating solids and liquids | |
| Singh | Electronic structure of HgBa2CuO4 | |
| PL155641B1 (pl) | Warstwowa szczotka do pomiaru rozpływu prądów w kierunku tangencjalnym | |
| Davis | Hot-wire method for the measurement of the thermal conductivity of refractory materials | |
| Jorgensen et al. | Conduction plane and structure of Li-stabilized Na+ β ″-alumina: a powder neutron diffraction study | |
| Yamashita et al. | Resistivity measurement by dual-configuration four-probe method | |
| PL155642B1 (pl) | Warstwowa szczotka do pomiaru rozpływu prądów w kierunku tangencjalno-osiowym | |
| PL156604B1 (en) | Laminar brush for the measurement of current propagation in axial direction | |
| Hever | Ion Mobility in Crystals of a Mixed‐Alkali Ferrite: K xNa1− xFe7 O 11 | |
| JP3846207B2 (ja) | 四探針抵抗測定装置用管理試料および四探針抵抗測定装置の管理方法 | |
| Dillon et al. | Thermal conductivity of Grafoil from 0.2 to 3 K | |
| Ho et al. | Dielectric loss to detect liquid phase in ceramics at high temperatures | |
| Tang et al. | Determination of in‐plane thermal conductivity of Nax Co2O4 single crystals via a parallel thermal conductance (PTC) technique | |
| Bonpunt et al. | Point defects in alkali halide mixed crystals | |
| Huang et al. | The Use of a Conventional Powder Diffractometer for Thin-Film Thickness Determination From Reflectivity DATA | |
| PL150223B1 (pl) | Szczotka anizotropowa warstwowa do komutatorowych maszyn elektrycznych 0 pracy nienawrotnej | |
| Hsieh et al. | The Lorenz ratio and electron transport properties of NbO | |
| Radhakrishnan et al. | Thermopower of 2122 thallium high temperature superconductors |