Przedmiotem wynalazku jest sposób i uklad do bezposredniego pomiaru parametrów RL i RC elementów skladowych dwójników wieloelementowych o strukturach drabinkowych Cauera. Sposób i uklad moze byc wykorzystany w elektronice do pomiaru elementów skladowych ukladów zastep¬ czych pólprzewodnitców i czujników oraz do identyfikacji uszkodzen analogowych ukladów ele¬ ktronicznych, w fizykochemii i biochemii do pomiaru elementów ukladów zastepczych elektroli¬ tów i plynów fizjologicznych, w medycynie do pomiaru ukladów zastepczych impedancji skóry itp.Znane sa dotychczas sposoby i uklady do pomiaru elementów dwójników trzyelemei-towych oraz czteroelementowych. Sposoby te sa stosowane do pomiaru mierzalnych dwójników pasywnych o strukturach drabinkowych, przy czym poczatkowe galezie struktury drabinkowej moga zawie¬ rac po jednym elemencie, a koncowa galaz moze zawierac jeaen lub dwa elementy. Znany z pol¬ skiego opisu patentowego nr 111 736 sposób pomiaru parametrów elementów dwójników czteroele- mentowych polega na przeksztalceniu immitancji mierzonego dwójnika na napiecie a nastepnie na takiej kompensacji sygnalami z dwóch dzielników, aby modul napiecia bedacego funkcja mie¬ rzonej immitancji i sygnalów kompensujacych byl niezalezny od czestotliwosci. Nastepnie re¬ guluje sie trzecia dzielnikiem do momentu, az modul róznicy sygnalów z dzielnika drugiego i trzeciego bedzie równy modulowi napiecia niezaleznego od czestotliwosci. Wówczas poszukiwa¬ ne parametry pierwszego i drugiego elementu dwójnika mierzonego okresla sie odpowiednio z wartosci transmitancji dzielnika pierwszego i trzeciego. Natomiast parametry pozostalych ele¬ mentów dwójnika okresla sie poprzez pomiar skladowych immitancji sygnalu bedacego róznica napiecia proporcjonalnego do immitancji dwójnika mierzonego i napiecia na wyjsciu dzielnika trzeciego w momencie kompensacji.Nie sa natomiast znane uklady umozliwiajaca bezposredni pomiar elementów dwójnika za-2 140 377 wierajacego wiecej niz 4 elementy skladowe. Najbardziej zblizony metodologicznie uklad do pomiaru elementów dwójników czteroelanentowych przedstawiony w polskim opisie patentowym nr 111 756 zawiera sumator zasilany sygnalem z generatora o wobulowanej czestotliwosci, przy czym pomiedzy h;-/.iscie tego sumatora a wejscie dzielnika i wejscie bloku o charakterze ukla¬ du rózniczkujacego lub calkujacego o okreslonej transisitancji k^ wlaczony ,j*st za pomoca przelacznica dwójnik mierzony o konfiguracji opisanej impedancja i szeregowo polaczony prze¬ twornik pradu na napiecie* Wyjscie dzielnika jest polaczone z wejsciem suna-ora, zas wyjs¬ cie bloku o transmitancji A. doprowadzane jest do wejscia drugiego sumatora* Na drugie wej¬ scie tego sumatora podawany jest sygnal z drugiego dzielnika zasilanego równiez z genera¬ tora o wobulowanej czestotliwosci* «yjscie drugiego sumatora dolaczone jest poprzez detek¬ tor amplitudy do wejscia woltomierza. ..ada znanych sposobów pomiaru jest brak mozliwosci zastosowania ich do pomiaru dwójni¬ ków o wiekszej odpowiednio od 3 lub 4 liczbie elementów skladowych, jak równiez do pomiaru dwójników o bardziej zlozonej strukturze, w której kazda galaz zawiera po dwa elementy* Do¬ datkowa wada ukladu do pomiaru elementów dwójników czteroelementowych, znanego z polskiego opisu patentowego nr 111 736 jest istnienie w nim galezi dodatniego sprzezenia zwrotnego, co jest powodem tego, ze dla pewnych zakresów wartosci elementów skladowych mierzonego dwój- nika, uklad pomiarowy moze utracic stabilnosc.Rozwiazanie wedlug wynalazku umozliwia bezposredni pomiar elementów dwójnika o teore¬ tycznie nieograniczonej liczbie elementów. Osiagniete to zostalo przez przeksztalcanie im- mitancji mierzonego dwójnika, o strukturze drabinkowej, odpowiadajacej jednej z trzech ka¬ nonicznych form Cauera, na napiecie, a nastepnie na kompensacji.tego napiecia, w zakresie wysokich i niskich czestotliwosci sygnalami pochodzacymi z dwóch regulowanych przetworników immitancji elementów wzorcowych na napiecie. Po osiagnieciu stanu kompensacji, którego ob¬ jawem jest minimum zaleznosci modulu napiecia róznicowego oraz pochodnej lub calki tego na¬ piecia od czestotliwosci, wartorci elementów znajdujacych sie w pierwszej galezi dwójnika odczytuje sie ze skali uzytych do kompensacji przetworników, nastepnie napiecie pokompensa¬ cyjne t które odpowiada mierzonej immitancji z wyeliminowanymi skladnikami reprezentujacymi elementy pierwszej galezi dwójnika, przeksztalca sie na jego zespolona odwrotnosc. tf ten sposób osiaga sie stan, w którym czynniki reprezentujace elementy drugiej galezi mierzonego dwójnika moga byc kompensowane sygnalami pochodzacymi z kolejnych przetworników Lzmitancji elementów wzorcowych na napiecie. Kryterium stanu kompensacji jest analogicznie jak poprze¬ dnio minimum zaleznosci od czestotliwosci modulu napiecia róznicowego oraz modulu jego po¬ chodnej lub calki. Po osiagnieciu stanu kompensacji wartosci elementów drugiej galezi dwój¬ nika odczytuje sie ze skali uzytych do kompensacji przetworników. # kolejnych etapach pro¬ cesu pomiarowego, po uprzednim przeksztalceniu napiecia pokompensacyjnego na jego zespolona odwrotnosc powtarza sie opisane wyzej procedury pomiarowe i w analogiczny sposób wyznacza sie wartosci elementów kolejnych galezi dwójnika.Uklad do realizacji sposobu wedlug wynalazku charakteryzuje sie tym, ze wyjscie prze¬ twornika immitancji na napiecie, zasilanego przestrajanym generatorem o wobulowanej czesto¬ tliwosci, polaczone jest z wejsciem plusowym sumatora pierwszego, do którego dwóch wejsc minusowych dolaczone sa odpowiednie wyjscie przetwornika pierwszego wzorcowej reaktancji lub susceptancji na napiecie i wyjscie przetwornika pierwszego wzorcowej rezystancji lub konduk- tancji na napiecie.Do wyjscia wymienionego sumatora pierwszego jest podlaczony detektor amplitudy bezpo¬ srednio oraz poprzez uklad rózniczkujacy pierwszy i uklad calkujacy pierwszy za pomoca odpo¬ wiednich styków pierwszego i drugiego przelacznika pierwszego i jednoczesnie wyjscie suma¬ tora pierwszego dolaczone jest poprzez uklad pierwszy odwracajacy napiecie na jego zespolo¬ na odwrotnosc do wejscia plusowego drujiegc sumatora* zejscia minusowe drugiego sumatora polaczone sa odpowiednio z drugim przetwornikiem wzorcowej reaktancji lub susceptancji na napiecie i drugim przetwornikiem wzorcowej rezystancji lub konduktancji na napiecie. Nato-140 377 3 miast do wyjscia dlugiego sumatora dolaczony jest detektor amplitudy bezposrednio oraz po¬ przez drugi uklad rózniczkujacy i dru&i uklad calkujacy za pomoca odpowiednich styków pier¬ wszego i drugiego przelacznika drugiego. Wyjscie drugiego sunatora polaczone jest ró.Tniez pcprzez u&lad iiugi odwracajacy napijcie aa je^o zespolona odwrotnosc z wejsciem plusowa trzeciego sumatora. Dalsze czlony ukladu pomiarowego posiadaja strukture analogiczna.Zaleta rozwiazania wedlug wynalazku jest mozliwosc pomiarów dwójników o bardziej zlo¬ zonej strukturze i o duzej liczbie elementów skladowych, przy czym liczoa ta jest tyn wiek¬ sza im mniejsze sa wymagania odnosnie dokladnosci pomiaru* Ponadto uklad pomiarowy nie za-r wiera petli dodatniego sprzezenia zwrotnego i w zwiazku z tym jest stabilny, co korzystnie wplywa na jego wlasciwosci metrologiczne. Pomiar elementów skladowych sposobem wedlug wyna¬ lazku jest stosunkowo nieskomplikowany poniewaz procedura pomiarowa polega na wykonywaniu sekwencji prostych powtarzajacych sie czynnosci. Dzieki temu proces pomiarowy mozna latwo zautomatyzowac* Przedmiot wynalazku jest blizej objasniony w przykladzie wykonania pokazanym na rysun¬ ku, na którym fig. 1 a, b, c przedstawia schemat mierzonych dwójników typu impedancyjne^o, fig. 2 a, b, c schematy mierzonych dwójników typu admitacyjnego, fig. 3 przedstawia schemat blokowy ukladu do pomiaru elementów skladowych dwójników o strukturach pokazanych na fig. 1 i fig. 2, natomiast fig. 4 tabele opisujaca relacje miedzy wyznaczonymi w trakcie pomiaru wspólczynnikami oraz wartosciami elementów dla róznych rodzajów dwójników, a takze kolej¬ nosc odpowiednich procedur pomiarowych.Sposób bezposredniego pomiaru elementów dwójników wieloelement owych dotyczy dwójników o konfiguracjach drabinkowych Cauera» pokazanych na fig. 1 i fig. 2, opisanych Immitancja okreslona wyrazeniem: V /3«/~ • "h * —: ri +• '. 5 * + 3 gdzie wspólczynniki h^ oraz h^' /i 3 1,2,3,... ,n/ sa powiazane z parametrami elementów skladowych dwójników w sposób pokazany w tabeli na fig. 4 dla róznych rodzajów dwójników.Tabela ta pokazuje jednoczesnie znaki poteg czynników /ju/ dla róznych dwójników.W przypadku, gdy wspólczynniki h^ O oraz h^ O dla i = 1,2.... tn wyrazenie /1/ opisuje dwójniki drabinkowe o strukturze trzeciej formy Caueraf pokazanej na fig. 1a i fig. 2a, najbardziej zlozonej i uogólniajacej pozostale forny Cauera* W* przypadku, gd^ wspólczyn¬ niki h.' O natomiast h^ = O dla i = 1f2....n to wyrazenie /1/ opisuje dwójnik impendancyj- ny o impendancji Zx pierwszej foimy Cauera pokazany na fig. 1b oraz dwójnik admitaneyjuy o admitancji Ix drugiej formy Cauera pokazany na fig. 2c. Jezeli wspólczynniki h^ 09 a h*' s O /i = 1,2....n/ to /1/ opisuje dwójnik impedancyjny o impedancji Zx drugiej formy Cauera pokazany na fig. 1c oraz dwójnik admitancyjny o admitancji £r pierwszej formy Caur- era pokazany na fig. 2b, W schematach przedstawionych na fig. 1 i fig. 2 uzyte sa oznaczenia: 1^\ I2, 1^', L m.« I.i oznaczaja immitancje o charakterze rezystancyjnym lub konduktanoyjnym, nato¬ miast I1/Jco/ , I27jco/ , Ij/jt*/ , I47jcj/ ,*..., InVje^/ oznaczaja immitancje o charakterze reaktancyjnym lub susceptancyjnym. elementy oznaczone in¬ deksem prim "I ,f przykladowo I,.', Ip'/;^/ oznaczaja elementy pierwszej formy Cauera, nato¬ miast elaaenty bez tych indeksów przykladowo I^/jcu/, I2 oznaczaja elementy drugiej formy Cauera.Jak pokazano na fig. 3 mierzony dwójnik jest podlaczony do zacisków impedancyjnyeh lub4 140 377 admitancyjnych przetwornika immitancji na napiecie ? zasilanego przestrajalnym generato- rem G o wobulowanej czestotliwosci. Wyjscie przetwornica P jest polaczone z plusowym wejsciem sunatora 3,.. iia minusowe wejscia sumatora pierwszego 3^. podany jest syrn^l z przetwornika pierwszego wzorcowej reaktancji iuo susceptancji P^ na napiecie. Na drucie minusowe wejscie sumatora pierwszego S^ podawany jest sygnal pochodzacy z przetwornica pierwszego wzorcowej rezystancji lub kondulcfcancji na napiecie Pp*» Ujscie sumatora pierwszego S^ jest polaczone przez uklad pierwszy odwracajacy na¬ piecie na jego zespolona odwrotnosc C. z plusowym wejsciem sumatora drugiego S2. Jedno¬ czesnie do wyjscia sumatora pierwszego S. noze byc poprzez wezel pierwszy UL podlaczo¬ ny detektor zmian amplitudy D bezposrednio oraz przez uklad rózniczkujacy pierwszy H- lub calkujacy pierwszy C^ za pomoca odpowiednich styków pierwszego 1 i drugiego 2 prze¬ lacznika pierwszego W, *. 'Wyjscie detektora D jest polaczone z miernikiem napiecia sta¬ lego V, Na minusowe wejscia sumatora drugiego S2 podawace sa sygnaly z przetwornika dru¬ giego wzorcowej reaktancji lub susceptancji na napiecie ?z'» oraz przetwornika drugiego wzorcowej rezystancji lub konduktancji na napiecie ?^. zejscie sumatora drugiego S2 jest polaczone przez uklad drugi odwracajacy napiecie Op na plusowe wejscie sumatora trzeciego S*. Jednoczesnie do wyjscia sunatora drugiego S2 moze byc podlaczony detektor amplitudy D bezposrednio poprzez wezel drugi i»2 oraz przez uklad rózniczkujacy drugi R2 lub calkujacy diugi C2 za pomoca odpowiednich styków pier¬ wszego i drugiego 1, 2 przelacznika drugiego w*2', Na minusowe wejscie sumatora trzeciego S, podawane sa sygnaly z przetwornika trzeciego wzorcowej reaktancji lub susceptancji na napiecie Pc oraz przetwornika trzeciego wzorcowej rezystancji lub konduktancji na napie¬ cie P^'* Ujscie sumatora trzeciego S* jest polaczone przez uklad trzeci odwracajacy na¬ piecie 0~ na plusowe wejscie nastepnego sumatora* Jednoczesnie do wyjscia sumatora trzecie¬ go S* moze byc^ poprzez wezel trzeci óLf podlaczony detektor zmian amplitudy D bezposre¬ dnio oraz przez uklad rózniczkujacy trzeci R* lub calkujacy trzeci C* za pomoca odpowied¬ nich styków pierwszego i dlugiego 1, 2 przelacznika trzeciego tf*. Dalsze czlony ukladu po¬ miarowego maja analogiczna strukture jak pierwsze czlony opisane wyzej.Sposób pomiaru elementów skladowych dwójników wieloelementowych mozna objasnic na przykladzie dwójnika impedancyjnego typu RC trzeciej formy Cauera pokazanego na fig. 1d.Dla ter;o przypadku wyrazenie /V przybiera postac: sx = V + —+ ', /2/ J n2 + ocohg ¦+ —jj— + 3cj • + _____ Jak pokazano na fig. 3 impedancja mierzonego dwójnika Zx jest przeksztalcana za pomo¬ ca przetwornika immitancji na napiecie P na napiecie Ux = kQZxf przy czym wspólczynnik przeksztalcenia k = 1, * sumatorze pierwszym S,. od napiecia 0"x odejmuje sie napiecie kom¬ pensujace pochodzace z przetwornika pierwszego wzorcowej reaktancji lub susceptancji na na¬ piecie P,. o wartosci ^n^i gdzie h,. - wspólczynnik powiazany z wartoscia elementu wzorco- 0^ wego w sposób pokazany w tablicy na fig. 4f k^ - regulowany wspólczynnik przetwarzania.Napiecie róznicowe U^ na wyjsciu sumatora pierwszego $1 jest równe u _ h - + v*A+__ l. /w 1 J "* hg + ów h2 +— j—! hT' + —2 + hn+ó Wa niskich czestotliwosciach modul napiecia róznicowego /U^/ silnie zalezy od czesto¬ tliwosci, jezeli h^ * ^h,. i wykazuje minimum zaleznosci od czestotliwosci w przypadku, gdy h. = k^.h.. Mozna to wykazac badajac granice /tJ^/ przy u? ¦* O lim /Ul.-/ = / !—L / jezeli h„ £ k.h., natomiast u*^ O 1 A lim /Ux1/ = / ^ ? H^ / J**«li *-] = k-^ « Miniaum zaleznosci napiecia /Ux1/ od czestotliwosci, wykrywane przez detektor D pola¬ czony z miernikiem napiecia V, jest wykorzystane w ukladzie pomiarowym jako kryterium skom¬ pensowania czynnika n1, reprezentujacego reaktancyjny element pierwszej galezi dwójnika.W celu wyznaczenia wartosci parametru h^ tego elementu reguluje sie wspólczynnikiem przetwarzania k1 lub przy stalym wspólczynniku k. wartoscia parametru h. elementu wzorcowe¬ go, tak aby uzyskac minimum wskazan miernika V. tf takiej sytuacji zachodzi zaleznosc b-, =fc^ /*/ na podstawie której wyznacza sie wartosc parametru h* elementu o inmitancji 1^/3"V.W kolejnym kroku napiecie pokompensacyjne U bez czynnika _2_ kompensuje sie sygnalem pochodzacym z przetwornika pierwszego wzorcowej rezystancji konduktancji na napiecie Pp' elementu wzorcowego h-# na napiecie o wartosci k^/h '. Napiecie róznicowe na wyjsciu sumatora pierwszego S1 jest równe: ^1 = V" *1V + h M lh* , ,1 -I /5/ l^+jophg + — g- * h? «¦ jw V k*\* 7 zakresie wysokich czestotliwosci modulu napiecia róznicowego po zrózniczkowaniu, czyli pomnozenie przez juJ silnie zalezy od czestotliwosci jezeli h^f / k^th^9 i wykazuje minimalna zaleznosc od czestotliwosci jezeli h^ * f k/h/. ilozna to wykazac badajac grani¬ ce /J4J U^/ przy vo + O lim /d^Ux1/ = /jc^/^ ? ^ 1^ / , jezeli h^ / k^ i^ , cO- O natomiast lim /jcjUx1/ = jj-f w przypadku n/^' n/ W celu wyznaczenia wartosci parametru h/ drugiego elementu pierwszej galezi dwójnika reguluje sie wspólczynnikiem przetwarzania k*' przetwornika pierwszego wzorcowej rezystan¬ cji lub konduktancji na napiecie P2' lub yartoscia parametru h/ elementu wzorcowego do uzyskania minimum wskazan mierni&a V polaczonego wraz z detektorem D z wyjsciem sumatora pierwszego S. przez uklad rózniczkujacy pierwszy R..W przypadku minimum wskazan miernika 7 zachodzi zaleznosc h,, =k/h/ /6/ z której wyznacza sie wartosc parsrcetru h/ elementu o isnnitancji 1^ , fjdzie 1^' - jest im- mitancja pierwszej galezi dwójnika impedancyjnego. Opisana procedure po&larowa wyznaczania elementów pierwszej galezi d^ójnika oznaczono symbolem A^* 1 celu wyznaczenia elementów kolejnej galezi dwójnika napiecie pokompensacyjne *jx^ przeksztalca sie w ukladzie odwracajacyiu pierwszym 0^ na wyjsciu, którego otrzymuje sie na¬ piecie U 2 opisana funkcja:140 377 c-1 Ux2 - Ux1 * *2 + **V + E 3 /?/ hz + -2- ? in+ 0^V '£ kolejnym kroku pomiarowym w sumatorze dru-ji;* b2 od napiecia U ~ .odejiauje sie napie¬ cie ja3kp*hp' pochodzace z przetwornika drugiego wzorcowej reaktancji lub susceptancji na napiecie ?,'.Napiecie róznicowe na wyjsciu sumatora drugiego 2^ jest równe: Ux3 = yjw/h./-^'^'/* , hz 1 /o/ ha * do ^ ;/ saicresie wysokich czestotliwosci modul napiecia U z silnie zalezy od czestotliwosci jezeli hp' / k^/lu* i wykazuje minimum zaleznosci od czestotliwosci w przypadku hp* = = kp^hg*^ <*ozna to wykazac badajac w analogiczny jak poprzednio sposób granice /Uxz/ przy tO —? *o • Po przelaczeniu zespolu detektor D biernik V bezposrednio na wyjscie sumatora drugiego S~ reguluje wartoscia czynnika k2'h2 w przetworniku drugim wzorcowej reaktancji lub sus- ceptancji na napiecie Pz'» az do osiagniecia minimum wskazan miernika V# .7 tym przypadku spelniona jest zaleznosc A Hg' = kg'^' /9/ z której wyznacza sie wartosc paraaetru hg' elementu o inmitancji I^/j^/ drugiej galezi miernika• W kolejnym kroku w sumatorze drugim S~ od napiecia pokompensacyjnego odejmuje sie na¬ piecie kompensujace o wartosci fc-hp pochodzace z przetwornika drugiego wzorcowej rezystan¬ cji lub konduktancji na napiecie P^.Napiecie róznicowe na wyjsciu sumatora drugiego S2 jest równe hz3 = ^ - k2 • n2 + g- hz ? —2 + J • ^ hn+ Z"an U? ux3 J zakresie wysokich czestotliwosci calka tego napiecia —r~ silnie zalezy od czesto* tliwosci, jezeli hg c kghg oraz wykazuje minimum zaleznosci od czestotliwosci w przypadku gdy hp = k^hp, co mozna wykazac badajac analogicznie jak poprzednio granice U^z przy uJ-^-o . jej W procesie pomiarowym za pomoca styku drugiego 2 przelacznika drugiego w^' dolacza sie zespól detektora D miernik V na wyjscie ukladu calkujacego drugiego Cg polaczonego z wyjs¬ ciem sumatora drugiego Spf a nastepnie reguluje sie wartoscia czynnika kphg w przetworniku drugim wzorcowej rezystancji lub konduktancji na napiecie p^ az do uzyskania minimum wska¬ zan miernika V.W takiej sytuacji obowiazuje zaleznosc hg = kghg /11/ z której wyznacza sie parametr hg elementu o inmitancji Ig drugiej galezi awójnika.Procedure wyznaczania elementów drugiej galezi awójnika oznaczono symbolem Ag» K celu wyznaczenia dalszych ele&entów awójnika napiecie pokompensacyjne U^z /z które-140377 7 go zostaly wyeliminowane czynniki reprezentujace elementy dwóch pierwszych galezi dwójnika/ odwraca sie w ukladzie odwracajacym drugim 02, otrzymujac na wyjsciu tego uklaou napiecie opisane funkcja TJ*4 = J]*l = V + ^7 ? : . . . V /w ha + Funkcja /12/ posiada analogiczna postac jak funkcja /2/# Zanika stad, iz wyznaczanie parametrów dalszych elementów dwójnika o immitancjach I-,, 1^ I moze odbywac sie w analogiczny sposób jak czterech pierwszych za pomoca kolejno nastepujacych po sobie proce¬ dur pomiarowych ^ i ^t Sposób ten moze byc równiez wykorzystany do pomiaro dwójników pierwszej i drugiej for¬ my Cauera. ff pierwszym przypadku naloty ubywac przetworniki wyróznione indeksem prim n* n przykladowo P2't natomiast przetvjorniki bez tego indeksu przykladowo P^ nalezy ustawic na 26X0, w drugim przypadku postepowac odwrotnie* Sposób moze byc wykorzystany do pomiaru wszystkich rodzajów dwójniUów vjyszczególnio- nych w tablicy przedstawionej na fig# 4# W dwócn ostatnich kolumnach te.j tablicy uwidocznio¬ no kolejnosc procedur pomiarowych A. i Agi jakie naloty stosowac w proc asie pomiarowym dla poszczególnych rodzajów czworników.Zastrzezenia patentowe 1. Sposób bezposredniego pomiaru parametrów RL i RC elementów skladowych dwójników wie¬ loelementowych o strukturacn drabinkowyeh Cauera, w którym immitancje mierzonego dwójnika przeksztalca sie na napiecie, znamienny tym, ze w pierwszym etapie pomiaru po przeksztalceniu ianitancji mierzonego dwójnika na napiecie kompensuje sie to napiecie w za¬ kresie wysokich i niskich czestotliwosci sygnalami pochodzacymi z dwóch regulowanych prze¬ tworników immitancji elementów wzorcowych na napiecie, przy c^yn kryterium kompensacji jest minimum zaleznosci modulu napiecia róznicowego oraz pochodnej lub calki tego napiecia od czestotliwosci, po czym odczytuje sie ze skali utytych do kompensacji przet.vorników warto¬ sci elementów znajdujacych sie w pierwszej galezi dwójnika, nastepnie napiecie pokompensa- cyjne, które odpowiada Mierzonej i.::::*itancji z wyeliminowanymi skladnikami reprezentujacymi elementy pierwszej galezi dwójnika przeksztalca sie na jego zespolona odwrotnosc a nastep¬ nie w drugim etapie pomiaru kompensuje sie to napiecie w zakresie wysokich i niskich cze¬ stotliwosci sygnalami pochodzacymi z kolejnych przetworników immitancji elementów wzorco¬ wych na napiecie przy zachowaniu wymienionego kryterium kompensacji, po czym wartosci ele¬ mentów drugiej galezi dwójnika odczytuje sie ze skali uzytych do kompensacji przetworników i w kolejnych etapach procesu pomiarowego, po uprzednim przeksztalceniu napiecia pokompen¬ sacyjne go na jego zespolona odwrotnosc w analogiczny sposób wyznacza sie wartosci elementów kolejnych galezi dwójnika, 2. Uklad do bezposredniego pomiaru parametrów HL i RC elementów skladowych dwójników wieloelementov«ych o strukturach drabinkowych Cauera zawierajacy przetwornik immitancji na napiecie zasilany przestrajanyin generatorem o wobulowanej czestotliwosci oraz sumatory, uklady rózniczkujace, uklady calkujace i detektor amplitudy polaczony z miernikiem napie¬ cia stalego, znamienny tym, te wyjscie przetwornika immitancji na napiecie /P / polaczone jest z wejscieoi plusowym sumatora pierwszego /S^/, do którego dwóch wejsc minusowych dolaczone sa odpowiednio wyjscie przetwornika pierwszego wzorcowej reaktancji lub susceptancji na napiecie /P^/ i wyjscie przetwornika pierwszego wzorcowej rezystancji lub konduktancji na napiecie /P-/ natomiast do wyjscia sumatora pierwszego /S^/ jest pod-5 140 377 laczony detektor amplitudy /D/ bezposrednio oraz poprzez uklad rózniczkujacy pierwszy /L,/ i .ufclad calkujacy pierwszy /cy za pomoca odpowiednich styków pierwszego i drugiego /1. 2/ przelacznika pierwszego /JO,7 i jeunoczesnie wyjscie sumatora pierwszego /S1/ dolaczone jest poprzez uslad pierwszy odwracajacy napiecie es jego zespolona odwrotnosc /O^/ a- wej¬ scia plusowego drugiego suxatora /S2/, ^órego wejscia sinusowe polaczone sa odpowiednio z kolejnym oiugim przetwornikiem wzorcowej reaktancji lub susceptancji na napiecie /?^ / i kolejnym drugim przetwornikiem wzorcowej rezystancji lub konduktancji na napiecie /P4/f natomiast do wyjscia drugiego sumatora /S£/ dolaczony jest detektor amplitudy /W bezpo¬ srednio oraz poprzez drugi uclad rózniczkujacy /R2/ i drugi uklad calkujacy /C2/ za pomoca odpowiednich styków pierwszego i drugiego /1, 2/ przelacznika drugiego /727 ponadto wyj¬ scie sumatora drugiego /S2/ polaczone jest równiez poprzez uklad drugi odwracajacy napiecie na jego zespolona odwrotnosc /02/ z wejsciem plucowyn trzeciego sumatora /S-y/f przy czym dalsze czlony ukladu pomiarowego posiadaja strukture analogiczna. h I,IH I3 I^tjo) * 13 Illj" l3tj«» 2«— hl\ Mi''"* nj pHL- [U^» |k'J»l fjnrW 2— Ni, ju Ijl, b c fig. I j]»i mili"! Inf| HlnlH VK — [JlillMl Ol30-I [|ln«J-l V»~(p [|«3 (]li v* ¦*Ir p'^1 .—i—l fig. 2 f I w, / / TT" -$ X •*f 02 ¦m- =f w3 w,._\ "*—" \—I » I—I *r • . • ^ ? 03 ,W2' R3 HJ *3' fig.3140 377 Lp 1 I 2 3 4 Char.Ix Rodzaj dwój ni ka i -* Zx Zx Yx Yx RC RL RC RL Znak wyWado. i fjui) niep - + + - parz. + - - + * niep.Ri Ri 1 Ri 1 I Ri parz. 1 Ri 1 Si Ri Ri hi niep 1 Ei Li Ci 1 | Lj parz.Ci 1 Li 1 Ci Li Proceduro pomiarowa I niep Al A2 A2 A1 parz | A2 | A1 I A1 I A2 I tig.4 PL