PL136897B2 - Method of reproducible focusing of laser radiation beam - Google Patents

Method of reproducible focusing of laser radiation beam Download PDF

Info

Publication number
PL136897B2
PL136897B2 PL24815084A PL24815084A PL136897B2 PL 136897 B2 PL136897 B2 PL 136897B2 PL 24815084 A PL24815084 A PL 24815084A PL 24815084 A PL24815084 A PL 24815084A PL 136897 B2 PL136897 B2 PL 136897B2
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
focusing
sample
laser radiation
focusing system
relation
Prior art date
Application number
PL24815084A
Other languages
English (en)
Other versions
PL248150A2 (en
Inventor
Lech Borowicz
Wieslaw Bobak
Original Assignee
Wojskowa Akad Tech
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wojskowa Akad Tech filed Critical Wojskowa Akad Tech
Priority to PL24815084A priority Critical patent/PL136897B2/pl
Publication of PL248150A2 publication Critical patent/PL248150A2/xx
Publication of PL136897B2 publication Critical patent/PL136897B2/pl

Links

Landscapes

  • Holo Graphy (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób powtarzalnego ogniskowania wiazki laserowej na rózne¬ go rodzaju próbkach miedzy innymi w badaniach optycznych, przy oddzialywaniu promieniowa¬ nia laserowego z materia oraz w laserowej mikrosyntezie.W znanych dotychczas sposobach ogniskowania promieniowania laserowego wykorzysty¬ wane jest kryterium ostrosci obrazu powierzchni obiektu, na której ogniskuje sie promieniowanie laserowe. Wada tego sposobu jest ocena subiektywna, zalezna od obserwatora, rodzaju oswietlenia i stanu powierzchni próbki, nie zapewnia powtarzalnosci ogniskowania z zadana dokladnoscia.Innym sposobem ogniskowania promieniowania laserowego jest eksperymentalne okreslenie zogniskowania poprzez wielokrotna ekspozycje próbek jednego rodzaju oraz obserwacje efektów oddzialywania wiazki laserowej z powierzchnia badanych próbek. Metoda ta jest pracochlonna, wymagajaca szeregu badan przy kazdorazowej zmianie rodzaju próbek, na których ogniskuje sie wiazke promieniowania laserowego.Istota sposobu powtarzalnego ogniskowania wiazki promieniowania laserowego polega na tym, ze informacje o okreslonej konfiguracji uznanej za optymalna ukladu ogniskujacego wzgle¬ dem próbki zapisuje sie na hologramie, a powrót do identycznej konfiguracji ukladu ogniskujacego wzgledem próbki w przypadku ogniskowania wiazki promieniowania lasera roboczego na powierzchni innych próbek uzyskuje sie poprzez ustawienie ukladu ogniskujacego wzgledem powierzchni próbek w taki sposób, aby nastapila eliminacja prazków interferencyjnych w polu widzenia ukladu obserwacyjnego. Pole bezprazkowe w obrazie powierzchni próbki swiadczy o zogniskowaniu optymalnym wiazki promieniowania lasera roboczego.Sposób wedlug wynalazku umozliwia optymalne, powtarzalne ogniskowanie wiazki promie¬ niowania laserowego przy zmianie rodzaju próbek z duza dokladnoscia bez subiektywnej oceny ostrosci obrazu powierzchni, na której ogniskuje sie promieniowanie laserowe.Przyklad stosowania sposobu jest blizej objasniony w oparciu o rysunek, pozwalajacy lepiej zrozumiec proces jego stosowania, przedstawiajacy uklad optyczny.Dzialanie ukladu optycznego jest nastepujace, po przesunieciu zwierciadla Zi w polozenie 2 ogniskuje sie wiazke lasera roboczego Ls ukladem ogniskujacym S na plaskiej powierzchni próbki.Ogniskujac wiazke lasera roboczego Ls po kazdorazowym przemieszczeniu powierzchni próbkiT2 136 897 prostopadle do osi ukladu ogniskujacego S przy róznych odleglosciach próbki T od ukladu ogniskujacego S ustalona zostaje na podstawie efektów oddzialywania wiazki lasera roboczego Lsz próbka T konfiguracja optymalna ukladu ogniskujacego S wzgledem próbki T.Po przemieszczeniu powierzchni próbki T prostopadle do osi ukladu ogniskujacego S i wstawieniu zwierciadla zi w polozenie 1 wykonuje sie hologram H w wyniku koherentnej superpozycji wiazki referencyjnej R uformowanej przez uklad optyczny Li i zwierciadla kierujace Z4, ii, z* z wiazka informacyjna O wykorzystujac promieniowanie lasera pomocniczego ciaglego dzialania Lg. Powrót do konfigura¬ cji optymalnej ukladu ogniskujacego S wzgledem próbki T przy ogniskowaniu wiazki lasera roboczego Ls na powierzchni dowolnej próbki T nastepuje w wyniku pozycjonowania dowolnej próbki T przy jednoczesnej obserwacji prazków interferencyjnych w ukladzie obserwacyjnym L2.Pole bezprazkowe (pojedynczy prazek nieskonczonej szerokosci) w obrazie powierzchni próbkiT stanowi o powrocie do konfiguracji ukladu ogniskujacego S wzgledem próbki T identycznej z przypadkiem zogniskowania uznanego za optymalne.Zastrzezenie patentowe Sposób powtarzalnego ogniskowania wiazki promieniowania laserowego znamienny tym, ze informacje o okreslonej konfiguracji uznanej za optymalna ukladu ogniskujacego (S) wzgledem próbki (T) zapisuje sie na hologramie (H), a powrót do identycznej konfiguracji ukladu ogniskuja¬ cego (S) wzgledem próbki (T) w przypadku ogniskowania wiazki promieniowania lasera roboczego (Ls) na powierzchni innych próbek uzyskuje sie poprzez ustawienie ukladu ogniskujacego (S) wzgledem powierzchni próbek (T) w taki sposób, aby nastapila eliminacja prazków interferencyj¬ nych w polu widzenia ukladu obserwacyjnego (L2).Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 100 egz.Cena 100 zl. PL

Claims (1)

1. Zastrzezenie patentowe Sposób powtarzalnego ogniskowania wiazki promieniowania laserowego znamienny tym, ze informacje o okreslonej konfiguracji uznanej za optymalna ukladu ogniskujacego (S) wzgledem próbki (T) zapisuje sie na hologramie (H), a powrót do identycznej konfiguracji ukladu ogniskuja¬ cego (S) wzgledem próbki (T) w przypadku ogniskowania wiazki promieniowania lasera roboczego (Ls) na powierzchni innych próbek uzyskuje sie poprzez ustawienie ukladu ogniskujacego (S) wzgledem powierzchni próbek (T) w taki sposób, aby nastapila eliminacja prazków interferencyj¬ nych w polu widzenia ukladu obserwacyjnego (L2). Pracownia Poligraficzna UP PRL. Naklad 100 egz. Cena 100 zl. PL
PL24815084A 1984-06-08 1984-06-08 Method of reproducible focusing of laser radiation beam PL136897B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL24815084A PL136897B2 (en) 1984-06-08 1984-06-08 Method of reproducible focusing of laser radiation beam

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL24815084A PL136897B2 (en) 1984-06-08 1984-06-08 Method of reproducible focusing of laser radiation beam

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL248150A2 PL248150A2 (en) 1985-04-09
PL136897B2 true PL136897B2 (en) 1986-04-30

Family

ID=20022174

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL24815084A PL136897B2 (en) 1984-06-08 1984-06-08 Method of reproducible focusing of laser radiation beam

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL136897B2 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL248150A2 (en) 1985-04-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Rastogi Techniques of displacement and deformation measurements in speckle metrology
Sharpe Jr The interferometric strain gage: Fringe patterns are produced by monochromatic light incident upon two small grooves on specimen surface. Strain is measured by recording fringe pattern motion
US4930893A (en) Electrophoresis imaging system
PL136897B2 (en) Method of reproducible focusing of laser radiation beam
Luxmoore et al. In-plane strain measurement by speckle photography: A practical assessment of the use of Young's fringes
US3628866A (en) Noncontacting method of measuring strain
Spagnolo et al. Roughness measurement by electronic speckle correlation and mechanical profilometry
EP1540271B1 (en) Method for measuring contour variations
Yphantis et al. On line data acquisition for the Rayleigh interference optical system of the analytical ultracentrifuge
SU1173179A1 (ru) Способ исследовани деформации материалов в процессе сн ти стружки резанием
Oheim et al. Simple optical configuration for depth-resolved imaging using variable-angle evanescent-wave microscopy
Accardo et al. The use of speckle interferometry in the study of large works of art
Gunning et al. Estimation of the average section thickness in ribbons of ultra‐thin sections
Kasprzak et al. Simple holographic interferometric method of investigating the Poisson coefficient and elasticity moduli
GB1583415A (en) Method and apparatus for halographically determining changes in an object
Ennos et al. Application of reflection holography to deformation measurement problems: The versatility of a reflection-holographic method is proven by practical problems solved, and its extension to the monitoring of deformation over long periods of times is indicated
RU2086914C1 (ru) Способ исследования деформации режущего инструмента в процессе эксплуатации
SU1449842A1 (ru) Способ измерени радиуса кривизны сферической поверхности оптической детали
Füzessy Methods of holographic interferometry for industrial measurements
RU2010221C1 (ru) Способ определения температуропроводности материалов
SU1239590A1 (ru) Способ эрозионных испытаний
SU1502988A1 (ru) Способ контрол степени аморфности поверхности металлических магнитных лент и пленок
Wu et al. Sandwich holospeckle interferometry for three-dimensional displacement determination
Iwata et al. Fringe formation in multiple-exposure holographic interferometry
RU2505380C1 (ru) Способ тарирования естественной термопары в процессе врезания