PL132847B1 - Method of and apparatus for measurement of asymmetrical and symmetrical characteristics of semiconductor devices with automatic discrimination of polarization - Google Patents

Method of and apparatus for measurement of asymmetrical and symmetrical characteristics of semiconductor devices with automatic discrimination of polarization Download PDF

Info

Publication number
PL132847B1
PL132847B1 PL23435881A PL23435881A PL132847B1 PL 132847 B1 PL132847 B1 PL 132847B1 PL 23435881 A PL23435881 A PL 23435881A PL 23435881 A PL23435881 A PL 23435881A PL 132847 B1 PL132847 B1 PL 132847B1
Authority
PL
Poland
Prior art keywords
input
voltage
output
current
polarization
Prior art date
Application number
PL23435881A
Other languages
English (en)
Other versions
PL234358A1 (en
Inventor
Jerzy Kuchta
Henryk Rzepa
Original Assignee
Politechnika Gdanska
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Politechnika Gdanska filed Critical Politechnika Gdanska
Priority to PL23435881A priority Critical patent/PL132847B1/pl
Publication of PL234358A1 publication Critical patent/PL234358A1/xx
Publication of PL132847B1 publication Critical patent/PL132847B1/pl

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

Przedmiotem wynalazku jest sposób i urzadzenie do pomiaru niesymetrycznych i symet¬ rycznych charakterystyk przyrzadów pólprzewodnikowych z automatycznym wyróznieniem polary¬ zacji. Znajduja one zastosowanie do pomiaru tyrystorów, diaków i triaków jak równiez sluza do pomiaru niesymetrycznych charakterystyk pólprzewodnikowych przyrzadów, zwlaszcza duzej nocy* pozwalajac na automatyczne wyróznienie charakterystyki wstecznej, co znajduje zasto¬ sowanie do pomiaru na przyklad diod prostowniczych i wysterowanych tyrystorów.Znany jest sposób i urzadzenie do pomiaru wstecznej charakterystyki przyrzadów pól¬ przewodnikowych opisany w projekcie wynalazczym zgloszonym do Urzedu Patentowego PRL za nr P-233 823t w którym sposób pomiaru polega na tym, ze w pierwszej fazie pomiaru metoda impulsowa charakterystyki pradowo-napieciowej, mierzony przyrzad pólprzewodnikowy pobudza sie przebiegiem analizujacym poprzez rezystor ograniczajacy prad, a wartosc sygnalu propor¬ cjonalnego do odpowiedzi mierzonego przyrzadu, konstroluje sie przy okreslonej wartosci napiecia dla dwóch róznych polaryzacji* Nastepnie za pomoca sygnalu proporcjonalnego do odpowiedzi, dla okreslonego kierunku polaryzacji mierzonego przyrzadu, programuje sie polaryzacje przebiegu analizujacego. Natomiast w drugiej fazie pomiaru zaprogramowany prze¬ bieg analizujacy o polaryzacji odpowiedniej dla mierzonego przyrzadu i jego charakterystyki wstecznej podaje sie do badanego przyrzadu, a sygnaly proporcjonalne do pobudzenia i odpo¬ wiedzi mierzonego przyrzadu rejestruje sie, uwzgledniajac ich modul, przy pomocy monitora przystosowanego do rejestracji impulsowych charakterystyk.Urzadzenie wedlug wspomnianego wyzej wynalazku zawierajace typowy uklad do realizacji metody impulsowej, skladajacy sie z generatora napiecia analizujacego pobudzajacego badany przyrzad oraz z rezystora pomocniczego do pomiaru pradu i z ukladu rejestracji skladajacego sie z monitora i wzmacniaczy odchylania, posiada dwa polaczone równolegle tory ustalajace automatycznie polaryzacje przebiegu analizujacego, za pomoca sterowanych kluczy elektronicz¬ nych. Wejscia sterujace kluczy elektronicznych polaczone sa do wyjsc ukladu wyrózniania i2 132 8£7 pamieci odpowiednio sterowanego z wyjscia rezystora pomocniczego, na którym mierzony jest spadek napiecia proporcjonalny do pradu mierzonego przyrzadu.Opisany sposób i urzadzenie do pomiaru wstecznej charakterystyki przyrzadów pólprze¬ wodnikowych posiada podstawowa wade, a mianowicie nie pozwala wyróznic charakterystyke wsteczna, w przypadku gdy charakterystyka pradowo-napieciowa ma charakter-symetryczny, co ma miejsce w przypadku pomiaru charakterystyki niewysterowanych tyrystorów, diaków i triaków. Dotychczas pomiar charakterystyki symetrycznej odbywa sie przy uzyciu przelacz¬ ników sterowanych recznie, za pomoca których oddzielnie wybierana jest i mierzona charak¬ terystyka wsteczna i blokowania.Celem wynalazku jest szybki i automatyczny pomiar impulsowych charakterystyk prado- wo-napieciowych o charakterze niesymetrycznym i symetrycznym przyrzadów pólprzewodnikowych, zwlaszcza duzej mocy z automatycznym wyróznieniem wstecznej charakterystyki w przypadku pomiaru diod lub wysterowanych tyrystorów oraz z automatycznym i jednoczesnym wykreslaniem charakterystyki zarówno dla polaryzacji wstecznej jak i dla warunków blokowania w jednej cwiartce kartezjanskiego ukladu wspólrzednych z automatycznym wyróznieniem polaryzacji mie¬ rzonej charakterystyki w przypadku pomiaru niesymetrycznych tyrystorów, diaków i triaków.Sposób wedlug wynalazku do pomiaru niesymetrycznych i symetrycznych charakterystyk pólprzewodnikowych przyrzadów z automatycznym wyróznieniem polaryzacji, w którym stosowana jest impulsowa metoda -pomiaru charakterystyki pradowo-napieciowych, charakterytujaca sie tym, ze mierzony przyrzad pólprzewodnikowy pobudza sie przemiennym napieciem analizujacym poprzez rezystor ograniczajacy prad i kontroluje sie wartosc sygnalu proporcjonalnego do pradu bedacego odpowiedzia mierzonego przyrzadu na pobudzenie przy dwóch róznych polary¬ zacjach, a sygnaly proporcjonalne do pobudzenia i odpowiedzi mierzonego przyrzadu rejes¬ truje sie, uwzgledniajac ich moduly, przy pomocy rejestratora lub na monitorze, przysto¬ sowanych do wykreslania charakterystyk za pomoca impulsowej metody pomiaru, polega na tym, ze w przypadku pomiaru przyrzadu pólprzewodnikowego o charakterystyce niesymetrycznej usta¬ la sie polaryzacje odpowiednia dla wykreslania jego charakterystyki wstecznej, natomiast w przypadku pomiaru przyrzadu o charakterystyce symetrycznej podaje sie na niego prze¬ mienny przebieg analizujacy, przy czym w czasie wykreslania charakterystyk przy pomocy rejestratora lub monitora, jednoczesnie z podawaniem na mierzony przyrzad napiecia anali¬ zujacego o polaryzacji tylko dodatniej lub tylko ujemnej do rejestratora lub monitora wykreslajacego charakterystyki pradowo-napieciowe doprowadza sie impulsy wyrózniajace wykreslana charakterystyke od charakterystyki wykreslanej w czasie podawania polaryzacji przeciwnej• Urzadzenie wedlug wynalazku do pomiaru niesymetrycznych i symetrycznych charaktery- rystyk przyrzadów-pólprzewodnikowych z automatycznym wyróznieniem polaryzacji zawierajace generator przebiegu analizujacego o regulowanej rezystancji wewnetrznej, pobudzajacy badany przyrzad poprzez zespól sterowanych kluczy elektronicznych i wyposazone w uklad rejestracji ze wzmacniaczami modulu pradu i napiecia posiada uklad wyrózniania polary¬ zacji, pamieci i sterowania, którego wejscie polaczone jest z odpowiednim wyjsciem wzmac¬ niacza modulu pradu polaczonego poprzez swoje odpowiednie wyjscie z wejsciem pradowym rejestratora lub monitora, a poprzez wejscie z rezystorem pomocniczym, który szeregowo wlaczony jest w obwód glówny mierzonego przyrzadu znajdujacego sie w glowicy polaczonej z wyjsciem zespolu kluczy elektronicznych, których wejscie polaczone jest z wyjsciem generatora przebiegu analizujacego o regulowanej rezystancji wewnetrznej. Wyjscie napie¬ ciowe glowicy przylaczone jest do wejscia wzmacniacza modulu napiecia, przylaczonego po¬ przez swoje wyjscie z wejsciem napieciowym rejestratora lub monitora. Jedno z wyjsc ukladu wyróznienia polaczone jest ze sterujacym wejsciem zespolu kluczy a drugie jego wyjscie polaczone jest z jednym z wejsc ukladu koniunkcji, którego drugie wejscie polaczone jest z wyjsciem ukladu synchronizacji podlaczonego do odpowiedniego wyjscia generatora przebiegu analizujacego. Wyjscie ukladu koniunkcji polaczone jest z wejsciem generatora impulsów132847 3 wygaszajacych, którego wyjscie polaczone jest z odpowiednim wejsciem rejestratora lub monitora.Korzysci techniczne wynikajace ze stosowania rozwiazania wedlug wynalazku polegaja na tym, ze urzadzenie wedlug proponowanego rozwiazania umozliwia automatyczny pomiar zarówno przyrzadów pólprzewodnikowych o charakterystyce niesymetrycznej takich jak diody prostownicze i wysterowane tyrystory, jak równiez przyrzadów pólprzewodnikowych o charak¬ terystyce symetrycznej takich jak tyrystory w warunkach blokowania, diaki i triaki, czego poprzednio stosowane sposoby i urzedzenia nie umozlawialy bez przelaczników sterowanych recznie.Poza tym stosowanie rozwiazania wedlug wynalazku w przypadku charakterystyki symet¬ rycznej w postaci charakterystyki dla polaryzacji wstecznej i przewodzenia w warunkach blokowania umozliwia pomiar tej charakterystyki w jednej cwiartce kartezjanskiego ukladu wspólrzednych, co pozwala w sposób szybki i bezposredni ocenic i okreslic symetrycznosc charakterystyki wstecznej w stosunku do charakterystyki blokowania. Wyeliminowany jest równiez czas potrzebny na oddzielne wykreslanie charakterystyki wstecznej i blokowania.Zatem czaa potrzebny do wykreslania charakterystyki symetrycznej skraca sie do polowy przy stosowaniu rozwiazania wedlug wynalazku w porównaniu do dotychczas stosowanych rozwiazan technicznych w tym zakresie. Stosowanie rozwiazania wedlug wynalazku zapewnia jednoczesnie automatyczne wyróznienie charakterystyki o okreslonej polaryzacji, co w konkretnym przy¬ kladzie zostalo rozwiazane w postaci odcinkowego wygaszania charakterystyki wykresla¬ nej sygnalem o polaryzacji dodatniej.Przedmiot wynalazku jest blizej okreslony na przykladzie wykonania pokazanym na rysunku, który przedstawia schemat blokowy urzadzenia do pomiaru niesymetrycznych i symetrycznych charakterystyk przyrzadów pólprzewodnikowych, zwlaszcza duzej mocy z mozli¬ woscia automatycznego wyróznienia polaryzacji.Urzadzenie to posiada generator napiecia analizujacego 1 o regulowanej rezystancji wewnetrznej, którego glówne wyjscie polaczone jest z wejsciem zespolu sterowanych kluczy elektronicznych 2, którego wyjscie polaczone jest z wejsciem glowicy pomiarowej 3, w której w obwodzie glównym umieszczony jest mierzony przyrzad pólprzewodnikowy polaczony szeregowo z rezystorem pomocniczym 4 sluzacym do pomiaru mierzonego pradu, przy czym pola¬ czenie rezystora pomocniczego 4 z generatorem napiecia analizujacego 1 jest uziemione.Odpowiednie wyjscie glowicy pomiarowej 3 na którym panuje napiecie proporcjonalne do spad¬ ku napiecia na mierzonym przyrzadzie, polaczone jest z wejsciem wzmacniacza modulu napie¬ cia i odchylania poziomego 59 którego wyjscie polaczone jest z wejsciem napieciowym rejestratora 6.Rezystor pomocniczy 4 polaczony jest z wejsciem wzmacniacza modulu pradu i odchy¬ lania pionowego 7, którego wyjscie jest polaczone z wejsciem pradowym rejestratora 6.Inne wyjscie wzmacniacza 7 polaczone jest z wejsciem ukladu wyrózniania polaryzacji, pamieci i sterowania 8, którego jedno wyjscie jest polaczone z odpowiednim wejsciem zes¬ polu sterowanych kluczy elektronicznych 2, natomiast drugie wyjscie polaczone jest z jednym z wejsó ukladu koniunkcji 10, którego drugie wejscie polaczone jest z wyjsciem ukladu synchronizacji 9, sterowanego z odpowiedniego wyjscia generatora napiecia anali¬ zujacego 1. Wyjscie ukladu koniunkcji 10 polaczone jest z wejsciem generatora impulsów wygaszajacych 11, którego wyjscie polaczone jest z odpowiednim wejsciem rejestratora 6, na ekranie którego wykreslana jest charakterystyka pradowo-napieciowa badanego przyrzadu pólprzewodnikowego• Urzadzenie wedlug wynalazku dziala w ten sposób, ze w pierwszej fazie pomiaru prze¬ mienny przebieg analizujacy z generatora napiecia analizujacego 1, o regulowanej rezys¬ tancji wewnetrznej, ograniczajacej prad w glównym obwodzie pomiarowym poprzez zespól ste¬ rowanych kluczy elektronicznych 2, pobudza badany przyrzad pólprzewodnikowy znajdujacy sie w glowicy pomiarowej 3* a w obwodzie, którego wlaczony jest rezystor pomocniczy 4, na którym odklada sie spadek napiecia proporcjonalny do pradu pomiarowego.4 132 847 Wartosc spadku napiecia na rezystorze pomocniczym 4, kontrolowana jest poprzez wzmac¬ niacz modulu pradu 7 w ukladzie wyrózniania polaryzacji, pamieci i sterowania 8. Uklad ten programuje zespól sterowanych kluczy elektronicznych 2 w ten sposób, ze w przypadku pomiaru przyrzadu pólprzewodnikowego o charakterystyce niesymetrycznej ustala sie polaryzacje napie¬ cia analizujacego potrzebna do wykreslania charakterystyki wstecznej, natomiast w przypadku pomiaru przyrzadu o charakterystyce symetrycznej uklad wyrózniania polaryzacji, pamieci i sterowania 8 programuje zespól sterowanych kluczy elektronicznych 2 w ten sposób, ze ustala sie podawanie przemiennego napiecia analizujacego na badany przyrzad, W koncowej fazie pomiaru przebieg analizujacy o polaryzacji zapamietanej i zaprogra¬ mowanej przez uklad 8, a zrealizowany przez zespól 2, podaje sie do mierzonego przyrzadu pólprzewodnikowego znajdujacego sie w glowicy 3, a sygnal proporcjonalny do spadku napie¬ cia na tym przyrzadzie podaje sie poprzez wzmacniacz modulu napiecia i odchylania pozio¬ mego 5 na wejscie napieciowe rejestratora 6, natomiast sygnal proporcjonalny do mierzonego pradu poprzez wzmacniacz modulu pradu i odchylania pionowego 7 podaje sie na wejscie prado¬ we rejestratora 6, przy czym jednoczesnie w czasie podawania na mierzony przyrzad przebiegu analizujacego o polaryzacji dodatniej doprowadza sie impulsy z ukladu 8 do ukladu koniunkcji 10 synchronizowanego poprzez uklad synchronizacji 9 z odpowiedniego wyjscia generatora napiecia analizujacego 1. Uklad koniunkcji 10 steruje praca generatora impulsów wygaszajacych 11, który w tym czasie wygasza impulsowo wykreslana na monitorze rejestratora 6 charakte¬ rystyke pradowo-napieciowa, wyrózniajac ja w ten sposób od charakterystyki wykreslanej ujemnym przebiegiem analizujacym.Zastrzezenia patentowe 1. Sposób pomiaru niesymetrycznych i symetrycznych charakterystyk przyrzadów pól¬ przewodnikowych z automatycznym wyróznieniem polaryzacji, w którym stosowana jest impul¬ sowa metoda pomiaru charakterystyk pradowo-napieciowych charakteryzujaca sie tym, ze mierzony przyrzad pólprzewodnikowy pobudza sie przemiennym napieciem analizujacym poprze": rezystor ograniczajacy prad i konstroluje sie wartosc sygnalu proporcjonalnego do pradu bedacego odpowiedzia mierzonego przyrzadu na pobudzenie przy dwóch róznych plaryzacjach a zaprogramowany przebieg analizujacy o polaryzacji odpowiedniej dla mierzonego przyrzadu i jego charakterystyki pradowo-napieciowej podaje sie do badanego przyrzadu i sygnaly proporcjonalne do pobudzenia i odpowiedzi mierzonego przyrzadu rejestruje sie, uwzgled¬ niajac ich moduly przy pomocy rejestratora lub na monitorze przystosowanych do wykresla¬ nia charakterystyk za pomoca impulsowej metody pomiaru, znamienny tym, ze w przypadku pomiaru przyrzadu pólprzewodnikowego o charakterystyce niesymetrycznej ustala sie polaryzacje odpowiednia dla wykreslania jego charakterystyki wstecznej, natomiast w przypadku pomiaru przyrzadu o charakterystyce symetrycznej podaje sie na niego prze¬ mienny przebieg analizujacy, przy czym w czasie wykreslania charakterystyk przy pomocy rejestratora lub monitora jednoczesnie z podawaniem na mierzony przyrzad napiecia analizu¬ jacego o polaryzacji tylko dodatniej lub tylko ujemnej, do rejestratora lub monitora wykreslajacego charakterystyki pradowo-napieciowe doprowadza sie impulsy wyrózniajace wykreslana charakterystyke od charakterystyki wykreslanej w czasie podawania polaryzacji przeciwnej. 2. Urzadzenie do pomiaru niesymetrycznych i symetrycznych charakterystyk przyrzadów pólprzewodnikowych z automatycznym wyróznieniem polaryzacji zawierajace generator prze¬ biegu analizujacego o regulowanej rezystancji wewnetrznej, pobudzajacy badany przyrzad poprzez zespól sterowanyVkluczy elektronicznych i wyposazone w uklad rejestracji ze wzmacniaczem modulu pradu i napiecia, znamienne tym, ze posiada uklad wyróznia¬ nia/a/polaryzacji, pamieci i sterowania, którego wejscie polaczone jest z odpowiednim wyjs-132 847 5 ciem wzmacniacza modulu pradu/7/ polaczonego poprzez swoje odpowiednie wyjscie z wejscie- pradowym rejestratora lub monitora /6/, a poprzez wejscie z rezystorem pomocniczym' /4/ " który szeregowo jest wlaczony w obwód glówny lerzonego przyrzadu znajdujacego sie w ' glowicy /3/ polaczonej z wyjsciem zeapolu kluczy elektronicznych /2/, których wejscie polaczone jest z wyjsciem generatora przebiegu analizujacego /1/ o regulowanej rezystan- c i wewnetrznej, przy czym wyjscie napieciowe glowicy /3/ przylaczone jest do wejscia wzmac¬ niacza modulu napiecia /5/t polaczonego poprzez awoje wyjscie z wejsciem napieciowym rejes¬ tratora lub monitora /6/, natomiast jedno z wyjsc ukladu wyróznienia /8/ polaczone jeat ze sterujacym wejsciem zeapolu kluczy /2/, a drugie wyjscie polaczone jest z jednym z wejsc ukladu koniunkcji /10/, którego drugie wejscie polaczone jest z wejsciem ukladu synchronizacji /9/, podlaczonego do odpowiedniego wyjscia generatora przebiegu analizujacego /1/, przy cz~»" wyjscie ukladu koniunkcji /10/ polaczone jest z wejsciem generatora impulsów wygaszajacych" /1V, którego wyjscie polaczone jest z odpowiednim wejsciem rejestratora lub monitora /6/. PL

Claims (2)

  1. Zastrzezenia patentowe 1. Sposób pomiaru niesymetrycznych i symetrycznych charakterystyk przyrzadów pól¬ przewodnikowych z automatycznym wyróznieniem polaryzacji, w którym stosowana jest impul¬ sowa metoda pomiaru charakterystyk pradowo-napieciowych charakteryzujaca sie tym, ze mierzony przyrzad pólprzewodnikowy pobudza sie przemiennym napieciem analizujacym poprze": rezystor ograniczajacy prad i konstroluje sie wartosc sygnalu proporcjonalnego do pradu bedacego odpowiedzia mierzonego przyrzadu na pobudzenie przy dwóch róznych plaryzacjach a zaprogramowany przebieg analizujacy o polaryzacji odpowiedniej dla mierzonego przyrzadu i jego charakterystyki pradowo-napieciowej podaje sie do badanego przyrzadu i sygnaly proporcjonalne do pobudzenia i odpowiedzi mierzonego przyrzadu rejestruje sie, uwzgled¬ niajac ich moduly przy pomocy rejestratora lub na monitorze przystosowanych do wykresla¬ nia charakterystyk za pomoca impulsowej metody pomiaru, znamienny tym, ze w przypadku pomiaru przyrzadu pólprzewodnikowego o charakterystyce niesymetrycznej ustala sie polaryzacje odpowiednia dla wykreslania jego charakterystyki wstecznej, natomiast w przypadku pomiaru przyrzadu o charakterystyce symetrycznej podaje sie na niego prze¬ mienny przebieg analizujacy, przy czym w czasie wykreslania charakterystyk przy pomocy rejestratora lub monitora jednoczesnie z podawaniem na mierzony przyrzad napiecia analizu¬ jacego o polaryzacji tylko dodatniej lub tylko ujemnej, do rejestratora lub monitora wykreslajacego charakterystyki pradowo-napieciowe doprowadza sie impulsy wyrózniajace wykreslana charakterystyke od charakterystyki wykreslanej w czasie podawania polaryzacji przeciwnej.
  2. 2. Urzadzenie do pomiaru niesymetrycznych i symetrycznych charakterystyk przyrzadów pólprzewodnikowych z automatycznym wyróznieniem polaryzacji zawierajace generator prze¬ biegu analizujacego o regulowanej rezystancji wewnetrznej, pobudzajacy badany przyrzad poprzez zespól sterowanyVkluczy elektronicznych i wyposazone w uklad rejestracji ze wzmacniaczem modulu pradu i napiecia, znamienne tym, ze posiada uklad wyróznia¬ nia/a/polaryzacji, pamieci i sterowania, którego wejscie polaczone jest z odpowiednim wyjs-132 847 5 ciem wzmacniacza modulu pradu/7/ polaczonego poprzez swoje odpowiednie wyjscie z wejscie- pradowym rejestratora lub monitora /6/, a poprzez wejscie z rezystorem pomocniczym' /4/ " który szeregowo jest wlaczony w obwód glówny lerzonego przyrzadu znajdujacego sie w ' glowicy /3/ polaczonej z wyjsciem zeapolu kluczy elektronicznych /2/, których wejscie polaczone jest z wyjsciem generatora przebiegu analizujacego /1/ o regulowanej rezystan- c i wewnetrznej, przy czym wyjscie napieciowe glowicy /3/ przylaczone jest do wejscia wzmac¬ niacza modulu napiecia /5/t polaczonego poprzez awoje wyjscie z wejsciem napieciowym rejes¬ tratora lub monitora /6/, natomiast jedno z wyjsc ukladu wyróznienia /8/ polaczone jeat ze sterujacym wejsciem zeapolu kluczy /2/, a drugie wyjscie polaczone jest z jednym z wejsc ukladu koniunkcji /10/, którego drugie wejscie polaczone jest z wejsciem ukladu synchronizacji /9/, podlaczonego do odpowiedniego wyjscia generatora przebiegu analizujacego /1/, przy cz~»" wyjscie ukladu koniunkcji /10/ polaczone jest z wejsciem generatora impulsów wygaszajacych" /1V, którego wyjscie polaczone jest z odpowiednim wejsciem rejestratora lub monitora /6/. PL
PL23435881A 1981-12-21 1981-12-21 Method of and apparatus for measurement of asymmetrical and symmetrical characteristics of semiconductor devices with automatic discrimination of polarization PL132847B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL23435881A PL132847B1 (en) 1981-12-21 1981-12-21 Method of and apparatus for measurement of asymmetrical and symmetrical characteristics of semiconductor devices with automatic discrimination of polarization

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PL23435881A PL132847B1 (en) 1981-12-21 1981-12-21 Method of and apparatus for measurement of asymmetrical and symmetrical characteristics of semiconductor devices with automatic discrimination of polarization

Publications (2)

Publication Number Publication Date
PL234358A1 PL234358A1 (en) 1983-07-04
PL132847B1 true PL132847B1 (en) 1985-04-30

Family

ID=20010965

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PL23435881A PL132847B1 (en) 1981-12-21 1981-12-21 Method of and apparatus for measurement of asymmetrical and symmetrical characteristics of semiconductor devices with automatic discrimination of polarization

Country Status (1)

Country Link
PL (1) PL132847B1 (pl)

Also Published As

Publication number Publication date
PL234358A1 (en) 1983-07-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA1158725A (en) Ultra high resolution josephson sampling technique
GB2000299B (en) Detecting metabolic activity
ES2120978T3 (es) Procedimiento para detectar defectos de aislamiento y comprobador de chispas para la realizacion de este procedimiento.
US4517511A (en) Current probe signal processing circuit employing sample and hold technique to locate circuit faults
PL132847B1 (en) Method of and apparatus for measurement of asymmetrical and symmetrical characteristics of semiconductor devices with automatic discrimination of polarization
US4090132A (en) Measurement of excess carrier lifetime in semiconductor devices
EP0117259B1 (en) A method for determining charged energy states of semiconductor or insulator materials by using deep level transient spectroscopy, and an apparatus for carrying out the method
Lomas et al. A sensitive method of Hall measurement
EP0077725A1 (en) Current probe signal processing circuit
SU773537A1 (ru) Устройство дл определени тока удержани силовых тиристоров
US3289081A (en) Test circuit for determining operating parameters of a gate turn-off solid state switch
PL132841B1 (en) Method of and system for measurement of current-voltage characteristics of semiconductor power devices with quasicurrent supply source
SU1269090A2 (ru) Измеритель временных интервалов
EP0216276B1 (en) Semiconductor logic tester with fast-recovery power supply
PL132825B1 (en) Method of and apparatus for measurement of reverse characteristic of semiconductor devices
Ellis et al. Measurement of the AC Kerr effect in conducting liquids
EP0012137A1 (en) Electrical conductor and short circuit locator
SU1283641A1 (ru) Феррозондовый дефектоскоп
SU758317A1 (ru) Способ определения термоэлектрической эффективности полупроводников 1
VALENTINO¹ et al. Magnetic field imaging of current distributions in IGBT power modules
SU951200A1 (ru) Устройство дл визуального контрол характеристик полупроводниковых диодов
SU401939A1 (ru) Устройство для измерения параметров транзисторов
Posada et al. Apparatus for the study of the kinetics of the destruction of superconductivity by a current
SU792191A1 (ru) Устройство дл геоэлектроразведки
SU673942A1 (ru) Устройство дл измерени параметров цепи управлени тиристоров