Przedmiotem wynalazku jest sposób pomiaru rzeczywistej powierzchni styku, zwlaszcza dwóch stykajacych sie powierzchni plas¬ kich.Stan techniki. Znane sa z publikacji pt. „Mier¬ nictwo elektroniczne w perspektywie rozwojowej" praca zbiorowa pod kierunkiem Zdzislawa Kar¬ kowskiego, WKL, sposoby pomiaru wielkosci nie¬ elektrycznych na przyklad powierzchni metodami elektrycznymi, które polegaja na niejednoczesnyrn porównaniu wielkosci baidanej i wielkosci wzorco¬ wej i uzyskaniu na wyjsciu obwodu porównujacego elektrycznego sygnalu pomiarowego, proporcjonal¬ nego do róznicy lub stosunku wielkosci' porówny¬ walnych. Podczas pomiaru elektryczny sygnal po¬ miarowy zalezy tylko od wielkosci mierzonej czyli podlega w ukladzie elektronicznym przeksztalceniu.W czasie dzialania miernika wielkosci wzorcowej dokonuje sie jego skalowania, a nastepnie pomiaru wielkosci mierzonej.Wada takich pomiarów jest koniecznosc przepro- wadizania operacji skalowania na mierniku wiel¬ kosci wzorcowej, co wydluza czas pomiaru oraz stwarza mozliwosc powstania bledu wskutek nie- jednoczesnego porównania wielkosci wzorcowej i mierzonej.Dotychczas znane metody wyznaczania rzeczy¬ wistej powierzchni styku stykajacych sie cial o po¬ wierzchniach plaskich, stanowiacych przewodniki elektryczne na przyklad metale, polegaja na bez- 10 15 20 25 30 posrednim pomiarze elektrycznym oporu kontakto¬ wego miedizy stykajacymi sie cialami.Do pomiaru rzeczywistej powierzchni styku po¬ miedzy dwoma cialami, gdy jedno z nich jest przezroczyste, stosowany jest sposób interferencji optycznej, który polega na tym, ze gladka przezro¬ czysta plyte umieszcza sie na polerowanej powierz¬ chni i wywoluje sie zjawisko interferencji optycz¬ nej na obszarze styku. Uzyskane interferogramy pozwalaja rniseanzyc grubosc warstwy powietrza znajdujacego sie pomiedzy badanymi powierzchnia¬ mi oraz rzeczywista powierzchnie styku.Wada tych sposobów jest to, ze wyznaczanie rzeczywistej powierzchni styku ograniczone jest tylko dla cial o okreslonych wlasnosciach to jest poprzez- zmiudne i pracochlonne pomiary elektrycz¬ nego oporu kontaktowego dla metali poprzez zja¬ wisko interferencja optycznej dla materialów prze¬ zroczystych ; ¦.-:'-i Istota wynalazku. Sposób zgodnie z wynalazkiem polega na tym, ze mierzy sie prad plynacy przez próbke wzorcowa uihiesaczona pomiedzy pierwsza elektroda polaczona ze zródlem pradowym i druga elektroda polaczona z uziemionym zaciskiem do ^uziemionego zacisku, nastepnie pomiedzy pierwsza elektroda i druga elektroda umieszcza sie próbke badana i mierzy sie prad plynacy przez pierwsza elektrode w obwodzie zamknietym, oraz prad ply¬ nacy przez próbke badana do uziemionego zacisku i ze stosunku pradu plynacego przez próbke ba- 130 267130 267 3 4 dana do pradu plynacego przez próbke wzorcowa wyznacza sie rzeczywista powierzchnie styku do powierzchni nominalnej próbki badanej.Korzystne jest jesli -próbka wzorcowa ma po¬ wierzchnie styku wypelnione materialem wiaza¬ cym o dobrym elektrycznym przewodnictwie wlas¬ ciwym.Korzystne skutki techniczne wynalazku. Sposób wedlug wynalazku umozliwia pomiar rzeczywistej powierzchni styku dla elementów wykonanych z materialów o róznych wlasnosciach, zwlaszcza przy pomiarach seryjnych na przyklad w kontroli technicznej. Dzieki pomiarowi wielkosci wzorcowej a nastepnie wielkosci mierzonej i wyznaczeniu na ich podstawie stosunku tych wielkosci, który okresla wzgledna powierzchnie styku, uniezalez¬ niono sie podczas pomiaru od warunków zew¬ netrznych.Objasnienie rysunku. Sposób wedlug wynalazku jest blizej objasniany w oparciu o rysunek pozwa¬ lajacy lepiej zrozumiec proces jego stosowania, który na fig. 1 przedstawia uklad do pomiaru rze¬ czywistej powierzchna styku, zas na fig. 2 — próbke wzorcowa umieszczona pomiedzy elektrodami.Przyklad wykonania. Jak uwidoczniono na fig. 1 rysunku, uklad pomiarowy sklada sie ze zródla pradowego 1, w obwód którego wlaczone sa sze¬ regowo amperomierz 2, elektroda 3 i ampero¬ mierz 4. Pomiedzy elektroda 3 a elektroda 5 umiesz¬ czona jest próbka wzorcowa 6 lub próbka bada? na 7. Ponadto, elektroda 5 polaczona jest poprzez amperomierz 8 z uziemionym zaciskiem z.Na figurze 2 rysunku, przedstawiono próbke wzorcowa 6 umieszczona pomiedzy elektrodami 3 i 5 o powierzchniach pomiarowych styku wypel¬ nionych materialem wiazacym 9 stanowiacym paste grafitowa.Po wlaczeniu zródla pradowego 1, prad Io poply¬ nie ze zródla 1 poprzez amperomierz 2, elektrode 3, przy czym przy przejsciu przez elektrode 3 prad Io rozgalezia sie na prad Io', który plynie przez ampe¬ romierz 4 do zródla 1 oraz na prad Iz przeplywa- FIC.I ÓZGraf. Z.P. Dz-wó, Cena 1 jacy przez próbke wzorcowa 6, elektrode 5, ampe¬ romierz 8 do uziemionego zacisku z.Prad Iz plynacy przez próbke wzorcowa 6 wyzna¬ cza sie bezposrednio przez pomiar amperomierzem 8, lub tez wyznacza sie wedlug pierwszego prawa Kirchhoffa jako róznice pradów wskazywanych przez amperomierze 2 i 4, to jest zgodnie z zalez¬ noscia IZ := IO — IO*.Nastepnie pomiedzy elektroda 3 i elektroda 5 umieszcza sie próbke badana 7 i mierzy sie prad" Iz' plynacy przez próbke badana 7 do uziemionego zacisku z, lub tez wyznacza sie z pierwszego prawa Kitrchhoffa jako róznice pradów wskazywanych przez amperomierze 2 i 4, to jest zgodnie z zalez¬ noscia Iz* — Io — Io'.Ze stosunku pradu Iz* plynacego przez próbke badana 7 do pradu Iz plynacego przez próbke wzor¬ cowa 6 wyznacza sie rzeczywista powierzchnie sty¬ ku do powierzchni nominalnej próbki wzorcowej 6.Zastrzezenia patentowe 1. Sposób pomiaru nzeczywistej powierzchni sty¬ ku, zwlaszcza dwóch stykajacych sie powierzchni plaskich, polegajacy na miejednoczesnym porówna¬ niu wielkosci mierzonej i wielkosci wzorcowej, znamienny tym, ze mierzy sie prad (Iz) plynacy przez próbke wzorcowa (6) umieszczona pomiedzy pierwsza elektroda (3) polaczona ze zródlem pra¬ dowym (1) i druga elektroda (5) polaczona z uzie¬ mionym zaciskiem (z), do uziemionego zacisku (z), nastepnie pomiedzy pierwsza elektroda (3) i druga elektroda (5) umieszcza sie próbke badana (7) i mierzy sie prad (Iz*) plynacy przez próbke badana (7) do uziemionego zacisku (z) i ze stosunku pradu (Iz') plynacego przez próbke badana (7) do pradu (Iz) plynacego przez próbke wzorcowa (6) wyzna¬ cza sie rzeczywista powierzchnie styku do powierz¬ chni nominalnej próbki wzorcowej (6). 2. Sposób wedlug zaistrz. 1. znamienny tym, ze próbka wzorcowa (6) ma powierzchnie styku wy¬ pelnione materialem wiazacym (9) o dobrym elek¬ trycznym przewodnictwie wlasciwym.FIG 2 z. 663 (&5+15) 2.8« 18 zl PL