Przedmiotem wynalazku jest uklad do klasyfika¬ cji materialów wedlug ich wlasnosci fizycznych.Przedmiotowy uklad jest ukladem elektronicz¬ nym i ma zastosowanie do mierzenia wlasnosci fizy¬ cznych zwlaszcza cial w stalym stanie skupienia.Dotychczas znane uklady do klasyfikacji materia¬ lów wedlug ich wlasnosci fizycznych umozliwiaja klasyfikacje na podstawie jednokrotnego pomiaru na danym polu pomiarowym. Uklady te wyposazone sa w jeden uklad pomiarowy i uklad klasyfikacji.Sa takze uklady wyposazone w dwa uklady pomia¬ rowe, jednakze uklady te dokonuja pomiaru na od¬ dzielnych polach pomiarowych. Znany z patentu nr 48628 uklad elektroniczny do pomiaru srednicy i owalnosci oraz selekcji przedmiotów cylindrycz¬ nych zwlaszcza pierscieni lozysk tocznych, zawiera dwa czujniki pelniace funkcje ukladów pomiaro¬ wych, jednakze czujniki te dokonuja pomiaru na dwóch róznych polach pomiarowych.Przy uzyciu znanych dotychczas ukladów,, klasyfi¬ kacja materialów na podstawie dwukrotnego, nie- jednoczesnego pomiaru jest bardzo utrudniona. Po¬ miary te nie stanowia dokladnego odwzorowania, nie eliminuja bledu pomiarowego i wymagaja duzego nakladu pracy osób obslugujacych urzadzenie po¬ miarowe.Celem wynalazku jest opracowanie ukladu klasy¬ fikujacego materialy wedlug wartosci sredniej, otrzymanej z podwójnego pomiaru charakteryzuja¬ cego dana wlasnosc fizyczna, przy czym podwójny 10 15 25 30 pomiar winien byc dokonywany na tym samym polu pomirowym. Równiez celem wynalazku jest opra¬ cowanie ukladu prostego w budowie niezawodnego w dzialaniu, charakteryzujacego sie duza dokladno¬ scia odwzorowania oraz minimalnymi stratami po¬ miarowymi.Cel powyzszy realizuje wykonany zgodnie z wy¬ nalazkiem uklad zawierajacy dwa uklady pomia¬ rowe w którym wyjscie ukladu pomiarowego (Ib) dolaczone jest do wejscia I ukladu usredniajacego (3) bezposrednio, natomiast wyjscie drugiego ukla¬ du pomiarowego (la) polaczone- jest poprzez uklad opózniajacy (2) z wejsciem II ukladu usredniajacego (3). Wyjscie ukladu usredniajacego (3) dolaczone jest do wejscia I ukladu klasyfikacji biezacej (4), zas wyjscie I ukladu klasyfikacji biezacej (4) dolaczone jest do wejscia I ukladu klasyfikacji koncowej (5).Wyjscie II ukladu klasyfikacji biezacej (4) i wyjscie I ukladu klasyfikacji koncowej (5) dolaczone sa do wejsc I i II ukladu ksztaltowania impulsów wy¬ konawczych (7).Do wejscia II ukladu klasyfikacji koncowej (5) i do wejscia II ukladu klasyfikacji biezacej (4) do¬ laczone sa wyjscia I i II ukladu programujacego (6).Do wejscia III ukladu klasyfikacji koncowej (5) do¬ laczone jest wyjscie II ukladu sterujacego (9), któ¬ rego I wyjscie dolaczone jest do III wejscia ukladu klasyfikacji biezacej (4), a III wyjscie ukladu ste¬ rujacego (9) dolaczone jest do II wejscia ukladu opózniajacego (2). 124 7893 124 789 4 Stwierdzono, ze dla dokonywania pomiarów w ru¬ chu ciaglym zwlaszcza w odniesieniu do materialów, na których wyrózniono wiecej pól pomiarowych ko¬ rzystnym jest dolaczenie do ukladu opózniajacego (2) ukladu przetwornika przesuniecie-czas (10). Uklad przetwornika przesuniecie-czas (10) wlaczony jest pomiedzy uklad sterujacy (9) i uklad opózniajacy (2) tak, iz wyjscie III ukladu sterujacego (9) dola¬ czone jest do wejscia I ukladu przetwornika przesu¬ niecie-czas (10), a wyjscie I ukladu przetwornika przesuniecie-czas (10) jest dolaczone do wejscia II ukladu opózniajacego (2). Wyjscie II ukladu prze¬ twornika przesuniecie-czas (10) dolaczone jest do wejscia I ukladu sterujacego (9). Przy badaniu znacznej ilosci sztuk, w róznych przedzialach czasu i w róznych seriach korzystniej jest jezeli uklad klasyfikacji koncowej (5) wyposazony jest w uklad liczników sklasyfikowanych sztuk (8), przy czym do wyjscia ukladu klasyfikacji koncowej (5) dola¬ czone jest wejscie ukladu liczników sklasyfikowa¬ nych sztuk (8).Rozwiazanie wedlug wynalazku cechuje przydat¬ nosc do mierzenia wielkosci odzwierciedlajacych wlasnosci fizyczne, zwlaszcza, gdy mierzona wiel¬ kosc obarczona jest bledem mozliwym do wyelimi¬ nowania na podstawie dwukrotnego, niejednoczes- nego pomiaru.Urzadzenie wedlug wynalazku zrealizowane w technice TTL zostalo zastosowane do ciaglego pomiaru sprezystosci tarcicy przy zginaniu, która to cecha jest podstawa klasyfikacji tarcicy konstruk¬ cyjnej. Badana deska jest umieszczona w ukladzie mechanicznym w ten sposób, ze jej srodek jest utwierdzony sztywno przez dwa zespoly rolek, a konce sa odgiete przez dwie napory w których zamontowane sa uklady pomiarowe do pomiaru sily reakcji tarcicy na zginanie. Kazdy z ukladów po¬ miarowych la i Ib sklada sie z tensometrycznego czujnika sily realizujacego przetwarzanie sila-na- piecie oraz przetwornika analogowo-cyfrowego, na którego wyjsciu pojawiaja sie cyklicznie skwanto- wane wartosci sily reakcji deski (w postaci cyfro¬ wej w kodzie BCD).Uklad pomiarowy la jest polaczony z ukladem opózniajacym 2 zrealizowanym na czterobitowych uniwersalnych rejestrach przesuwnych SN 7495, któ¬ ry dalej jest polaczony z ukladem usrednniajacym 3. Równolegle do ukladu usredniajacego dolaczone jest wyjscie drugiego ukladu pomiarowego Ib. Do¬ datkowo w urzadzeniu wykonanym wg wynalazku oba uklady pomiarowe la i Ib oraz uklad usrednia¬ jacy sa poprzez uklad przelaczników polaczone z wyswietlaczem cyfrowym, co umozliwia biezaca obserwacje wielkosci sil reakcji tarcicy na zginanie.Przetwornik przesuniecie-czas sklada sie z prze¬ twornika obrotowo-impulsowego CPPB-50, który dzieki mechanicznemu sprezeniu z ukladem nape¬ dowym urzadzenia generuje impulsy o czestotliwosci proporcjonalnej do predkosci posuwu deski, bramki NAND blokujacej przeplyw tych impulsów oraz dzielnika czestotliwosci, który determinuje zdolnosc rozdzielcza pomiaru w funkcji dlugosci deski.Wyjscie dzielnika czestotliwosci jest dolaczone do ukladu opózniajacego oraz poprzez uklad sterujacy 9 do ukladu klasyfikacji biezacej 4 i ukladu kla¬ syfikacji koncowej 5. Uklad sterujacy sklada sie z dwóch fotokomórek z ukladami spustowymi umieszczonych na skrajach rolek mocujacych oraz ukladu synchronizacji imipulsów sterujacych. Jedno 5 z wyjsc ukladu sterujacego 9 jest ponadto polaczone z drugim wejsciem bramki NAND blokujacej prze¬ plyw impulsów z przetwornika obrotowo impulso¬ wego. Na wyjsciu tym znajduje sie sygnal bedacy iloczynem logicznym stanów obu fotokomórek.Wyjscie ukladu klasyfikacji biezacej 4 skladajace¬ go sie z szesciu komparatorów 7485 jest polaczone z wejsciami przerzutników ukladu klasyfikacji kon¬ cowej 5, których wejscia zegarowe sa polaczone z ukladem sterujacym; 9. Wyjscia przerzutników ukladu klasyfikacji koncowej sa poprzez uklad se¬ lektora polaczone z ukladem ksztaltowania impul¬ sów wykonawczych 7, oraz bezposrednio z ukla¬ dem liczników sklasyfikowanych sztuk 8. Do ukladu ksztaltowania impulsów wykonawczych 8 dolaczone jest poprzez uklad selektora równiez wyjscie ukla¬ du klasyfikacji biezacej 4.* Uklad programujacy 6 sklada sie z dwóch czesci.Czesc pierwsza polaczona z ukladem klasyfikacji bie¬ zacej 4, zrealizowana na 10-pozycyjnych przelaczni¬ kach obrotowych „Contravers" umozliwia progra¬ mowanie granicznych wartosci sil reakcji tarcicy na zginanie odpowiadajacych trzem klasom jakosci.Druga czesc ukladu programujacego polaczona z ukladem klasyfikacji koncowej 5 posiada zakodo¬ wane kryterium klasyfikacji koncowej. W zrealizo¬ wanym przykladzie jest to kryterium minimalnej wartosci sredniej sily wzdluz calej deski.Po wlasciwym zamocowaniu przesuwajacej sie miedzy zespolami rolek mocujacych deski, jej czolo przeslania pierwsza fotokomórke i uklad sterujacy 9 wysyla impuls, który inicjuje generowanie impul¬ sów taktujacych w ukladzie przetwornika przesu¬ niecie-czas 10. Dzielnik czestotliwosci wysyla kolej¬ ne impulsy taktujace do ukladu opózniajacego 2, który opóznia wystepowanie przetworzonych infor¬ macji dotyczacych okreslonego odcinka deski o dlu¬ gosci 100,7 mm oraz do ukladu sterujacego 9, który opóznia rozpoczecie klasyfikacji biezacej.Informacje z pierwszego ukladu pomiarowego la sa opóznione o cztery takty, to jest o odleglosc 32 cm, która dzieli oba uklady pomiarowe la i Ib.W chwili, gdy na wyjsciu ukladu opózniajacego 2 pojawi sie informacja odpowiadajaca pierwszemu zginaniu danego odcinka pomiarowego, drugi uklad pomiarowy Ib przekazuje informacje o sile reakcji przy drugim zginaniu. Obie wartosci wprowadzane sa jednoczesnie do ukladu usredniajacego 3, na któ¬ rego wyjsciu otrzymuje sie srednia arytmetyczna wartosci sil reakcji. Srednia ta jest porównywana z dwiema zaprogramowanymi dla okreslonego sor¬ tymentu wartosciami granicznymi, odpowiadajacymi granicom klas jakosci tarcicy o danym przekroju i odcinek pomiarowy jest kwalifikowany do jednej z wyróznionych w nastepujacy sposób klas: granica dolna wartosc srednia — III klasa granica dolna < wartosc srednia < granica górna — II klasa wartosc srednia granica górna — I klasa 65 Informacje o wartosci sredniej sily reakcji dla 15 20 25 30 35 40 45 50 55124 789 5 6 badanego odcinka sa przekazywane do ukladu kla¬ syfikacji biezacej 4 w taktach wyznaczonych przez uklad przetwornika przesuniecie-czas 10 poprzez uklad sterujacy 9. Uklad klasyfikacji biezacej 4 do¬ konuje klasyfikacji poszczególnych odcinków pomia¬ rowych. Informacje o klasie jakosci poszczególnych odcinków sa zapamietywane przez uklad klasyfika¬ cji koncowej 5 oraz przesylane biezaco do ukladu ksztaltowania impulsów wykonawczych 7, który steruje praca urzadzenia znakujacego deske przy pomocy natrysku farby odpowiedniego koloru. Po zakonczeniu cyklu pomiarów przez uklad pomiarowy la, gdy koniec deski odsloni druga fotokomórke, uklad sterujacy 9 generuje sygnal STOP, który po¬ woduje zadzialanie ukladu klasyfikacji koncowej 5, w sposób zalezny od ukladu programujacego 6. Im¬ puls klasyfikacji koncowej generowany przez uklad klasyfikacji koncowej 6 Jest przekazywany do ukla¬ du liczników sklasyfikowanych desek 8, który zlicza ilosc desek w poszczególnych klasach jakosci oraz do ukladu ksztaltowania impulsów wykonawczych 7, który formuje impulsy sterujace urzadzeniem zna¬ kujacym farba koniec deski oraz sterujace urzadze¬ niem sortujacym zrzucajacym deske z transportera do odpowiedniej kieszeni.Zastrzezenia patentowe 1. Uklad do klasyfiakcji materialów wedlug ich wlasnosci fizycznych zawierajacy dwa uklady po¬ miarowe, znamienny tym, ze wyjscie ukladu pomia¬ rowego (Ib) dolaczone jest do wejscia I ukladu usredniajacego (3) bezposrednio, natomiast wyjscie 10 15 20 ukladu pomiarowego (la) polaczone jest poprzez uklad opózniajacy (2) z wejsciem II ukladu usred¬ niajacego (3), a wyjscie ukladu usredniajacego (3) dolaczone jest do wejscia I ukladu klasyfikacji bie¬ zacej (4), przy czym wyjscie I ukladu klasyfikacji biezacej (4) dolaczone jest do wejscia I ukladu kla¬ syfikacji koncowej (5)„ zas wyjscie II ukladu klasy¬ fikacji biezacej (4) i wyjscie I ukladu klasyfikacji koncowej (5) dolaczone sa do wejsc I i II ukladu ksztaltowania impulsów wykonawczych (7), nato¬ miast do wejscia II ukladu klasyfikacji koncowej (5) i do wejscia II ukladu klasyfikacji biezacej (4) dolaczone sa wyjscia I i II ukladu programujacego (6), zas do wejscia III ukladu klasyfikacji koncowej (5) dolaczone jest wyjscie II ukladu sterujacego (9), którego I wyjscie dolaczone jest do III wejscia ukladu klasyfikacji biezacej (4), a III wyjscie ukla¬ du sterujacego (9) dolaczone jest do II wejscia ukla¬ du opózniajacego (2). 2. Uklad wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze po¬ miedzy uklad sterujacy (9) a uklad opózniajacy (2), wlaczony jest uklad przetwornika przesuniecie-czas (10) tak, iz wyjscie III ukladu sterujacego (9) dola¬ czone jest do wejscia I ukladu przetwornika prze¬ suniecie-czas (10) a wyjscie I ukladu przetwornika przesuniecie-czas (10) jest dolaczone do wejscia II ukladu opózniajacego (2), zas wyjscie II ukladu przetwornika przesuniecie-czas (10) dolaczone jest do wejscia I ukladu sterujacego (9). 3. Uklad wedlug zastrz. 1, znamienny tym, ze wyjscie II ukladu klasyfikacji koncowej (5) dola¬ czone jest do wejscia ukladu liczników sklasyfiko¬ wanych sztuk (8). 1b 1a * n ) \ i 10 n i i p 3 i r ^ s m T d \m fk Pr 7 a\ \—^ n \ A LJu 6 A c, i 7 1 ? v\ 8 A Tk J • PL