Przedmiotem wynalazku jest urzadzenie do pomiaru metnosci i/lub klarownosci.Znane i stosowane sa precyzyjne urzadzenia laboratoryjne i przemyslowe do pomiaru metnosci i/lub klarownosci.Urzadzenia te mozna podzielic ze wzgledu na sposób pomiaru na dwie grupy: przyrzady wyznaczajace metnosc poprzez pomiar natezenia swiatla rozproszonego w badanym osrodku i urzadzenia bazujace na zwiazku metnosci osrodka ze wspólczynnikiem absorpcji swiatla.Konkretne rozwiazania produkowane przez poszczególne firmy róznia sie od siebie jedynie sposobem realizacji pomiaru, to znaczy wzajemnym polozeniem zródla swiatla i detektora.Prezentowane urzadzenie wedlug wynalazku nie dziala wedlug zadnego z powyzszych sposobów, tzn. pomiar metnosci nie odbywa sie ani przez pomiar absorpcji, ani przez pomiar rozproszenia.Natura fizyczna metnosci jest zwiazana z mikroniejednorodnosciami i narzucajacym sie sposobem pomiaru jest pomiar oparty na badaniu niejednorodnosci w mikroobjetosciach.Analiza swiatla odbitego lub przepuszczonego przez mikroobjetosci pozwala na skonstruowanie przyrzadu pracujacego na nowej zasadzie: równoczesnego pomiaru fluktuacji i wartosci sredniej natezenia swiatla przepusz¬ czonego lub odbitego. Fluktuacje natezenia sa wynikiem lokalnych zmian wspólczynnika zalamania w mikro¬ objetosciach. Fluktuacje te mozna rejestrowac przy odpowiedniej konstrukcji ukladu pomiarowego. W celu wyeliminowania wplywu szumów detektora i wzmacniacza korzystne jest stosowanie koincydencji fluktuacji z tej samej badanej mikroobjetosci dla dwóch lub wiecej róznych dlugosci fali. Dodatkowa zaleta stosowania koincydencji fluktuacji jest to, ze badanie mozna prowadzic przy malych gestosciach mocy promieniowania swietlnego, co moze byc warunkiem koniecznym w przypadku obiektów biologicznych.Celem wynalazku jest opracowanie urzadzenia konkurencyjnego do istniejacych urzadzen, pozwalajacego na pomiar metnosci i/lub klarownosci przy malych gestosciach mocy promieniowania swietlnego.Istota wynalazku jest to, ze uklad kolimujacy wiazke swiatla w badanym poruszajacym sie osrodku jest wspólogniskowy z ukladem odwzorowywujacym, za którym znajduje sie przeslona ograniczajaca wiazke swiatla, za nia usytuowany jest uklad dyspersyjny wraz z fotodetektorami, do których doprowadzone jest swiatlo o róznych dlugosciach fali, przy czym miara metnosci i/lub klarownosci jest pomiar stosunku fluktuacji2 124 131 do wartosci sredniej sygnalu na jednym z fotodetektorów przeprowadzony w chwili koincydencji fluktuacji na dwóch lub wiecej fotodetektorach.Zaleta wynalazku jest to, ze wynik pomiaru nie zalezy od zmian natezenia zródla swiatla, zanieczyszczenia elementów optycznych, zmian czulosci fotodetektorów, absorpcji nosnika oraz to, ze mozna prowadzic nienisz¬ czace badania zywych obiektów biologicznych przy malych gestosciach promieniowania.Przedmiot wynalazku jest uwidoczniony w przykladzie wykonania na rysunku, który przedstawia schemat urzadzenia.Urzadzenie wedlug wynalazku sklada sie z ukladów: kolimujacego, odwzorowywujacego oraz dyspersyjne¬ go z swiatlowodami 10 i 11 i detektorami 12 i 13. Uklad ko Iimujacy sklada sie ze zródla swiatla 1 i obiektywu kolimujacego 2. Skupia on wiazke swiatla na zawiesinie wodnej 3 w komórce 4. Obiektyw odwzorowywujacy 5 daje obraz fragmentu oswietlonej objetosci na przeslonie 6. Obiektyw 7, pryzmat 8 i obiektyw 9 daja obraz przeslony 6 w plaszczyznie ogniskowej obiektywu 9 dla dlugosci fal wysylanych przez zródlo swiatla 1.Uklad swiatlowodów 10 i 11 doprowadza swiatlo o wybranych dlugosciach fal do detektorów 12 i 13.Prad fotoelektryczny detektorów 12 i 13 zostaje wzmocniony przy pomocy wzmacniaczy szerokopasmowych 14 i 15. Stopien wzmocnienia wzmacniacza 15 jest tak dobrany, aby skladowa zmienna pradu fotoelektrycznego z detektora 13 byla równa skladowej zmiennej pradu fotoelektrycznego z detektora 12. Porównanie skladowych zmiennych ma miejsce w ukladzie 16. Uklad 17 przeprowadza koincydencje fluktuacji, a uklad 18 oblicza stosu¬ nek fluktuacji pradu fotoelektrycznego do wartosci sredniej. Stosunek fluktuacji pradu fotoelektrycznego do wartosci sredniej jest miara metnosci i/lub klarownosci.Urzadzenie wedlug wynalazku ma zastosowanie do pomiarów metnosci i/lub klarownosci gazów i cieczy, a w szczególnosci do badania metnosci zawiesin zywych obiektów biologicznych przy malych gestosciach mocy promieniowania swietlnego.Zastrzezenie patentowe Urzadzenie do pomiaru metnosci i/lub klarownosci zlozone ze zródla swiatla, ukladu kolimujacego, ukla¬ du odwzorowywujacego, przeslony oraz ukladu dyspersyjnego z fotodetektorami, znamienne tym, ze uklad koI imujacy wiazke swiatla w badanym poruszajacym sie osrodku jest wspólogniskowy z ukladem odwzo- rowywujacym, za którym znajduje sie ograniczajaca przeslona (6), za która usytuowany jest uklad dyspersyjny wraz z dwoma lub wiecej fotodetektorami (12, 13), do których doprowadzone jest swiatlo o róznych dlugo¬ sciach fal, przy czym miara metnosci i/lub klarownosci jest pomiar stosunku fluktuacji do wartosci sredniej sygnalu na jednym z fotodetektorów (12, 13) przeprowadzony w chwili koincydencji fluktuacji na dwóch lub wiecej fotodetektorach (12, 13) Pracowni*Poligraficzna UP PRL. Naklad 100cgz.Cent 100zl PL