Przedmiotem wynalazku jest przyrzad do porów¬ nywania charakterystyk diod i tranzystorów o do¬ wolnej mocy, wspólpracujacy z oscyloskopem ka¬ todowym, zawierajacy dzielnik pradu bazy, gene¬ rator przesuwu charakterystyk oraz generator na¬ piecia analizujacego, przeznaczony do stosowania w zakladach produkujacych lub naprawiajacych aparature elektroniczna, a zwlaszcza w przemysle elektronicznym.Znany jest z polskiego opisu patentowego fit 104 950 przyrzad do badania charakterystyk ele¬ mentów pólprzewodnikowych i lamp elektrono¬ wych, którego istota polega na tym, ze ma gene* rator osi wspólrzednych x, y z Wyjsciami polaczo¬ nymi poprzez przelacznik skalowania oraz poprzez odrebne dla kazdego z wyjsc regulacyjne rezysto¬ ry* z Wyjsciowymi zaciskami przyrzadu, przezna¬ czonymi do polaczenia z odpowiadajacymi im za¬ ciskami x, y katodowego oscyloskopu, natomiast do obu Wyjsc tego przelacznika, a przez regula¬ cyjne rezystory polaczone sa poprzez pomiarowy przelacznik, dwa Wyjscia odchylania generatora hapiecia analizujacego, przy czym przelaczniki te sa Wzajemnie wspólzalezne.Znany jest równiez z karty katalogowej firmy Philips przyrzad do pomiaru charakterystyk wej¬ sciowych i wyjsciowych elementów pólprzewodni¬ kowych z wbudowana lampa oscyloskopowa, wy¬ posazony w generator naipiecia schodkowego i ge¬ nerator napiecia sinusoidealnego wyprostowanego, 10 20 25 30 którego wyjscie jest polaczone popmzez uklad sprzezenia zwrotnego z wejsciem synchronizacji generatora napiecia schodkowego. Impulsy w ukla¬ dzie tym sa generowane w ten sposób, ze podczas podawania jednej polówki sinusoidy generowany jest jeden poziom napiecia przez generator schod¬ kowy, a podczas nastepnej polówki — nastepny wyzszy poziom. Dane liczbowe parametrów mierzo¬ nych elementów pólprzewodnikowych uzyskuje sie z przeliczen odczytów polozen pokretel czulosci od¬ chylenia poziomego i pionowego.Znany jest z polskiego opisu patentowego nr 53 047 sposób dobierania par tranzystorów W calym . zakresie czestotliwosci akustycznych W ukladzie ' najbardziej zblizonym dó ' Ukladu, W którym dobrana para tranzystorów bedzie pra¬ cowac* Tranzystory sterowane sa przebiegami zgod¬ nymi w fazie o równych amplitudach i czestotli¬ wosci* Jako kryterium praktycznej identycznosci - przyjmuje sie zanik napiecia na wspólnym obcia¬ zeniu.Znany jest z polskiego opisu patentowego nr 58 416 sposób dobierania par tranzystorów do wzmacniaczy róznicowych pradu stalego polegaja¬ cy na tym, ze jeden tranzystor sposród mierzonych przyjmuje sie za tranzystor odniesienia i umieszcza sie w jednej galezi wzmacniacza róznicowego, przy czym suma pradów emiterów tranzystorów umiesz¬ czonych w obydwu galeziach wzmacniacza jest nie¬ zalezna od parameti-ów tych tranzystorów. Nastep- 123 403I iza M 4 nie do wejscia wzmacniacza doprowadza sie rózni¬ cowy sygnal stalopradowy i równoczesnie mierzy sie róznicowy sygnal na wyjsciu wzmacniacza.Jako kryterium doboru pary tranzystorów przyj¬ muje sie wystepowanie jednakowych wyjsciowych sygnalów róznicowych w granicach zalozonych to¬ lerancji dla róznicowych sygnalów wejsciowych.Bnane jest z polskiego opisu patentowego nr 64 309 Urzadzenie do dobierania par tranzysto¬ rów malej mocy wyposazone w niedoskonaly prze¬ lacznik eletromechaniczny zbudowany z przekaz¬ ników kontraktromowych. Przelacznik elektrome¬ chaniczny j^st. klopotliwy do synchronizacji samego momentu przelaczenia badanych tranzystorów, wy¬ stepowania odbic styków. Wady te powoduja znie¬ ksztalcenia charakterystyk oraz obserwacje na os¬ cyloskopie.Znane jest z polskiego opisu patentowego nr 84 196 sposób dobierania par tranzystorów pra¬ cujacych w szerokim zakresie temperatur lub w wybranym zakresie temperatur. Dobierane tran¬ zystory poddaje sie zadanym zmianom temperatury w komorze klimatycznej wyposazonej w zespoly zacisków dla mierzonych elementów.Znany jest z polskiego opisu patentowego nr 87 049 uklad do pomiaru parametrów pary tran¬ zystorów pracujacych w ukladzie wzmacniacza róz¬ nicowego pradu stalego. Pomiar polega na porów¬ naniu odpowiednich parametrów w okreslonym punkcie pracy. Uklad pomiarowy wymaga utrzy¬ mywania z bardzo duza dokladnoscia wielkosci okreslajacych punkt pracy. \ Celem wynalazku jest zaprojektowanie takiego przyrzadu, który umozliwi dokonywanie jednoczes¬ nie pomiaru i porównywania charakterystyk dwóch badanych tranzystorów i diod tego samego rodza¬ ju, których charakterystyki ze wzgledu na prace powinny byc jednakowe.Istota wynalazku polega na tym, ze zespól diod polaczony jest poprzez przelacznik zmiany biegu¬ nowosci napiecia analizujacego z gniazdem pomia¬ ru porównywanych tranzystorów oraz z zespolem bramek diodowych, które poprzez przelacznik po¬ laczone sa z potencjometrem dla kanalu x oscylo¬ skopu, zas srodek uzwojenia wtórnego generatora napiecia analizujacego polaczony jest z zespolem rezystorów obciazenia i potencjometrem dla kana¬ lu y oscyloskopu, przy czym obwody baz porów¬ nywanych tranzystorów zasilane sa z generatora przesuwu charakterystyk poprzez rezystorowy dzielnik pr$dU.Przyrzad Wedlug Wynalazku umozliwia uzyski¬ wanie calej rodziny charakterystyk Wyjsciowych ófiz porównywanie charakterystyk Wyjsciowych tranzystorów i diod W Wymaganych bardzo szeró^ kich zakresach pradoWo-napieeioWych.Rozwiazanie Wedlug Wynalazku jest uWidocznio* fie W przykladzie Wykonania na rysunku, na któ¬ rym fig. 1 przedstawia blokowy schemat przyrza¬ du, a fig. 2 schemat ideowy polaczen przyrzadu.Przyir&ad wedlug wynalazku sklada sie z genera¬ tora 1 napiecia analizujacego polaczonego szerego¬ wo z zespolem 2 prostowników, gniazdem 3 po¬ miaru tranzystorów, dzielnikiem 4 rezysto'rowym i generatorem 5 przesuwu charakterystyk, zas rów¬ nolegle polaczonego z zespolem 6 rezystorów ob¬ ciazenia i dzielnikiem 7 napiecia kanalu y oraz z zespolem 8 bramek diodowych i dzielnikiem 9 napiecia kanalu x. Generator 1 zasila zespól 2 czterech ukladów prostowników. Oznaczenia Dl — Rl — D3 — R3 dotycza prostowników w ukladzie jednopolówkowym napiecia impulsowego o jedna¬ kowych amplitudach przesunietego wzgledem sie¬ bie o 180 stopni o znaku dodatnim i oznaczenia I2 — Rl — D4 — R2 o znaku ujemnym. Zespól 2 prostowników polaczony jest z przelacznikami PI i P2 zmiany znaku napiecia, które zasilaja ko¬ lektory badanych tranzystorów Tl i T2 w gniaz¬ dach 3 pomiarowych. Bazy badanych tranzystorów Tl i T2 polaczone sa z rezystorowym dzielnikiem 4 pradu, zlozonym z dwóch galezi rezystorów R7 i R8, który wspólpracuje z generatorem 5 przesu¬ wu charakterystyk o zmieniajacym sie w sposób liniowy napieciu od wartosci zero do maksymal¬ nej w ciagu kilkunastu sekund. Prady kolektorów badanej pary tranzystorów sa wyznaczane jako spadek napiecia na rezystorze R3 lub R4 ze9polu 6. Przelacznikiem P5 wlacza sie odpowiednia rezy¬ stancje obciazenia w obwód kolektorów badanych tranzystorów.Napiecie kolektor-emiiter dla kazdego z pary tranzystorów jest wyznaczone na rezystorze R6 dzielnika 9 napiecia kanalu x, poprzez bramki dio¬ dowe D5, 06, D7, D8-zespolu 8. Przelacznik P3 i P4 sprzezony z przelacznikiem PI i P2 umozli¬ wia pomiar tranzystorów o przewodnictwie PNP i NPN, zas potencjometrami dzielników 7 i 9 do¬ biera sie odpowiednia wielkosc sygnalów dla ka¬ nalów x i y oscyloskopu. Kolektory sa analizowa¬ ne napieciem przesunietym w fazie o 180 stopni, a czas pomiaru kazdego z tranzystorów wynosi okolo 20 milisekund.Zastrzezenie patentowe Przyrzad do porównywania charakterystyk diod i tranzystorów o dowolnej mocy, wspólpracujacy z oscyloskopem katodowym o Wejsciach x i y, za* opatrzony w dzielnik pradu bazy oraz gen&raió? napiecia analizujacego, znamienny tym* ze* zeSpol (2) diod polaczony jest poprzez przelacznik znils* ny biegunowosci napiecia analizujacego i gnisizd§n^ (3) pomiaru porównywanych tranzystorów 6M£ z zespolem (8) bramek diodowych* które* poprz©* przelacznik polaczone sa z potencjometrem" (9) dla kanalu x oscyloskopu* zas srodek Uzwojenia Wtór¬ nego gener&tora (1) napiecia analizujacego polaczo¬ ny jest z zespolem (6) rezystorów obciazenia i pó^ tencjometrern (7) dla kanalu y oscyloskopu* przy czym obwody b£z porównywanych tranzystorów zasilane sa z generatora (5) przesuwu charaktery¬ styk poprzez oporowy dzielnik (4) pradu. 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 Ód \123 403 Hg.1123 403 TR 220V' 7^- ¦^.a pi ~H^ —7 /2 Z_2_ $ I do oscyloskopu R2 R1 P2 D5 D6 07 "VI T1 T2 V v ^ 5 ¦ NPN ^ 8 OT ¦ PNP xl RS £ Fig. 2 R7 R8 4 PZG O/Piotrków 664 6.84 120 egz.Cena 100 zl PL